книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа
..pdfпредела. Уравнение |
(16) дает |
6-Ю-1 |
6-Ю4 sin •& |
X |
rl/P |
Важная роль, которую играет угол выхода рентгенов ских лучей н- при определении точности электронно-зон- дового микроанализа, иллюстрируется рис. 4, где приве
дена зависимость F m a x |
от и./р образца для избранной ана |
||||||||||
литической |
линии |
при |
|
|
|
|
|||||
гт = |
15° |
и |
# |
= |
60° |
со |
|
|
|
|
|
ответственно. Функция, |
|
|
|
|
|||||||
представленная |
на рис. |
|
|
|
|
||||||
4, мало чувствительна к |
|
|
|
|
|||||||
изменениям |
|
|
критиче |
|
|
|
|
||||
ского |
потенциала |
воз |
|
|
|
|
|||||
буждения Ус . Рис. 4 по |
|
|
|
|
|||||||
казывает, что |
для |
каж |
|
|
|
|
|||||
дого |
данного |
[л/р уско |
|
|
|
|
|||||
ряющее |
|
напряжение |
|
|
|
|
|||||
приблизительно |
может |
|
|
|
|
||||||
быть удвоено, если угол |
|
|
|
|
|||||||
выхода |
увеличивается |
|
|
|
|
||||||
от 15 до 60°. Такое |
уве |
|
|
|
|
||||||
личение |
|
напряжения |
|
обраща і для исследуемой лиши.) |
|||||||
дает |
большую |
|
скорость |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|||||||
счета |
и |
часто |
лучшую |
Рис. 4. Рассчитанные |
для уравнения (17) |
||||||
стабильность и меньшие |
значения V * m a x (гее) в |
зависимости от мас |
|||||||||
эффекты |
загрязнения, |
совых коэффициентов |
поглощения образца |
||||||||
для любой исследуемой линии при углах |
|||||||||||
хотя |
пространственное |
выхода |
рентгеновских |
лучей 15 и 60°. |
|||||||
разрешение |
анализа |
в |
большой степени |
ухудшается. |
|||||||
С другой стороны, при данном ускоряющем напряже |
|||||||||||
нии эффекты ошибок во |
|
входных |
параметрах и в выбран |
ном способе введения поправки уменьшаются с увеличением угла выхода. Необходимо рассмотреть теперь ситуацию, возникающую при анализе с помощью очень мягких рент геновских лучей, обсуждаемую Данкамбом и Мелфордом [10]. Эти авторы предложили «приближение тонких пле нок», основанное на том факте, что для очень больших зна чений х ( и , следовательно, у) все регистрируемые рентге новские фотоны можно рассматривать как возникшие на поверхности образца (в терминах электронного проник новения); следовательно, полная интенсивность испускае мого рентгеновского излучения равна Ф(0)Д(рг), где Ф (0) — относительная эмиссия рентгеновского излучения
при нулевой глубине и A (pz) — эффективная толщина излучающего слоя. Если это предположение справедливо как для образца, так и для эталона, концентрацию можно рассчитать так:
< - * № ) ( ^ ) -
Уравнение |
(5), |
таким |
образом, |
приобретает |
форму |
1 / / = |
|||||||
= |
Ь%, где |
Ъ — постоянная, |
и |
уравнение (6) |
становится |
||||||||
таким: А/// |
= |
— |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Дифференцирование |
уравнения |
(18) |
дает |
|
|
|
||||||
А с |
г Д [Ф ( 0 ) ] э т |
Д |
[Ф |
(0)] |
|
+ |
|
|
|
|
|
||
|
ф ( ° ) э т |
|
|
Ф(0)сплспл |
|
|
|
|
|
||||
|
Г Д (Ц/р)0 щі |
|
М[1/р).: |
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
( H / P W |
|
|
Ш„ |
|
} + |
[ Л # Э |
Т C t g |
^эт |
~ М с п |
л |
C t g |
°спл]- |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
(19) |
Это уравнение показывает, что ошибка в массовых коэф фициентах поглощения дает в результате относительную ошибку той же величины (с измененным знаком), не счи тая угла выхода рентгеновских лучей. Влияние ошибок в угле выхода, однако, уменьшается с увеличением угла выхода. Тот факт, что относительная аналитическая ошиб ка равна (с измененным знаком) ошибке в массовых коэф фициентах поглощения, является разочаровывающим, ес ли не критическим, ввиду нашего слабого знания массо вых коэффициентов поглощения в области длинных волн. Следовательно, в настоящее время попытки провести ко личественный анализ большой точности в этой области рентгеновских лучей необходимо встретить скептически, если в качестве эталона не используется образец близкого состава.
Обсуждение и экспериментальные данные для бинар
ной системы А1 — Mg . В этом разделе мы будем |
рассмат |
ривать анализ бинарных сплавов системы |
A l — Mg, |
чтобы иллюстрировать предыдущие рассуждения. Система A l — Mg позволяет рассматривать поправку на поглоще ние отдельно, так что можно провести как эксперименталь ное исследование, так и теоретические расчеты.
Из поправок, которые нужно в рассматриваемом слу чае ввести, эффект атомного номера можно исключить, так как А1 и Mg являются близкими элементами в перио дической таблице и их соответствующие величины Z/A
почти равны. Mg /^а-линия возбуждается А1 ІІГа-линией. Следовательно, для Mg требуется поправка на флуорес ценцию так же, как и поправка на поглощение. Величи на необходимых поправок мала, так как коэффициенты поглощения для линии Mg Ка в А1 и Mg почти равны и так как выход ^-флуоресценции для Mg очень мал. Для введения поправок на поглощение использовалось выра жение Филибера — Данкамба, в то время как для поправ
ки |
на флуоресценцию |
применялось выражение Кастена |
[1]. |
Полная поправка, |
рассчитанная для всех концентра |
ций Mg, была равна 1 % или меньше. Следовательно, Mg в системе А1 — Mg представляет собой близкий к идеаль ному случай, когда измеренное отношение интенсивностей равно концентрации во всем интервале составов.
Для А1 флуоресцентное возбуждение рентгеновских лу чей отсутствует. Однако требуется большая поправка на поглощение, так как массовый коэффициент поглощения ц./р для линии А1 Ка в Mg более чем на порядок больше,
чем р/р для линии А1 Ка в А1. Численная величина |
для |
ц/р линии А1 Ка в А1, записанная как р/р ( A l , А1 Ка), |
бы |
ла принята равной 408 [9]. Имеется несколько опублико ванных значений для р/р (Mg, A l Ка), которые приводятся в табл. 2. Опубликованные величины р/р (Mg, Mg Ка)
и р/р ( A l , Mg Ка) даны в табл. 2 [11]. Величина |
поправки |
|||||||
|
|
|
|
|
|
Т а б л и ц а |
2 |
|
Массовые коэффициенты |
поглощения Mg и A I для А1 Ка- |
|
||||||
и Mg /Га-линий по различным данным |
|
|
|
|
||||
Источ |
Mg, А] Ка Mg. М.'Ка |
А], МцКа |
Источ |
Mg, А1К« М -,Mg Ка Al, М |
Ка |
|||
ник |
ник |
|||||||
данных |
|
|
|
паяных |
|
|
|
|
[И] |
3797 |
|
|
[11] |
4050 |
350 |
500 |
|
[17] |
4100 |
340 |
643 |
[18] |
4300 |
435 |
510 |
|
[8] |
4377 |
464 |
615 |
[И] |
3900 |
— |
— |
|
на поглощение для системы A l — Mg не является исклю чительной для рассматриваемой области длин волн; ряд других систем, для которых была обнаружена даже боль шая поправка на поглощение (как, например. Mg в систе ме Си — Mg), имеют практическую важность. Для рас четов были использованы величины Гейнриха.
о
Рис. 5. Влияние ошибок входных параметров на / в модели Филибера — Данкамба для А1 в сплаве 5 0 % А1 — 50 /о Mg при углах выхода рентгеновских лучей 15 и 60°. а) Влияние 9,3% ошибки на ц/р (сплав, А1 Ка). б) Влияние ошибки в уско ряющем напряжении, равной 0,25 кв. в) Влияние ошибки в угле выхода, равной 0,5°.
Чтобы показать влияние различных ошибок на величи н у / в согласии с моделью Филибера — Данкамба (урав нение (2)) при различных напряжениях, было предполо жено, что имеется сплав 50% А1 — 50% Mg для анализа А1 при 5, 10 и 20 кв соответ ственно. Рассматривались два угла выхода, 15 и 60°.
Что касается ошибок, то мы предположим величину А# = 0,5° для образца и эталона и величину AV = = 0,25 кв (или АЕ = 0,25 кэв). Установленные ошиб
ки для |
u./p (Mg, A l Ка) |
— |
|
= 4377 |
и |
u./p ( A l , A l |
Ка) |
равны |
10 |
и 2% соответ |
ственно. |
Результаты под |
|
становки |
в |
уравнения |
(10) — (13) |
графически |
|
представлены |
на рис. 5, |
а — в. Рис. 6 является гра фиком зависимости ctg Ь в радианах от величины Ф.
Если умножить эту величину на В Av), можно получить ошибку, обу словленную неопределен ностью в угле выхода.
Угол ЬыхоЫ. гра.3
Рис. 6. Влияние ошибки в угле выхода на функцию / в модели Филибера — Данкамба в зависимости от угла вы хода.
Ясно, что необходимо иметь лучшие величины ц./р, чтобы улучшить точность; однако переход к более низким напряжениям при большом угле выхода может дать при емлемые результаты (относительная ошибка 1—2%). Ошибка 0,5° при угле выхода 60° не является существен ной. Ошибку в напряжении можно уменьшить при помо щи калибровки питающих устройств, она не является слишком существенной при 60°.
Другим мешающим фактором является то, что влияние приготовления образца более очевидно при малых углах выхода. Таким образом, требуется максимальная пред осторожность при работе на приборах, имеющих малый угол выхода рентгеновских лучей. Это не подразумевает, что большой угол выхода позволяет ослабить критерий приготовления образца. Пайклсаймер [12] провел экспе римент, поставленный с целью показать количественно
влияние приготовления образца в их зависимости от угла выхода для сплава 50% N i н 50% Си в случае сильно травленной, слегка травленной и полированной поверх ностей и шлифованной на бумаге типа 3/0 А1 2 0 3 соответ ственно. Он использовал приборы с углом выхода рентге новских лучей 15,5 и 35°. Было обнаружено лишь слабое влияние на результаты в первых трех названных случаях приготовления поверхности для обеих величин г). При шли фовке на бумаге 3/0 не было обнаружено никаких изме нений при угле г'} = 35°, однако при использовании угла выхода 15.5° имело место изменение в 2—3%. После шли фовки на бумаге 3/0 имелись «ступеньки» в 2—4 мкм ме жду царапинами. В этой работе использовались только
относительно |
жесткие /ІГа-линии Си и N i ; величины / |
для |
|
сплава были 0.96 и 0.91 при 35 и 15,5° |
соответственно. |
||
Следовательно, даже для случаев, когда |
/ ^ 0 . 9 1 , |
т. е. |
|
очень слабого |
поглощения используемой |
для анализа |
линии, малый угол выхода рентгеновских лучей может привести к трудностям, если имеются ступеньки в 2—4 мкм на поверхности [12]. Еще в одном исследовании было экс периментально показано, что чем больше длина волны рентгеновской линии, тем большее влияние оказывают не ровности поверхности образца при данном напряжении [13]. Рассмотрим с этой точки зрения теоретические и экспери ментальные модели для /, используя в качестве примера опять случай анализа А1 в сплаве A l — Mg. В целях срав нения можно использовать экспериментальные данные Голдстейна и др. для сплавов A l — Mg [141.
Рассмотрим сплав, содержащий 50% А1 и 50% Mg. Сравним экспериментальные величины / Грина [15] и Кастена — Энока [16] и уравнение Филибера — Данкамба [5] с величинами к, определенными для А1 и Mg при 10, 15 и 20 кв; далее будет использован также расчет Бишопа при 10 кв. Зависимость величины / от % при 10, 15 и 20 кв показана на рис. 7. Расхождение при малых значениях / очевидно.
Чтобы показать взаимодействие ошибок из-за неопре деленностей в р/р и в модели расчета, были определены величины / для каждой модели и каждого значения р/р при угле # = 52,5° (см. табл. 2). Результаты приведены в табл. 3. Как и ожидалось, расхождение максимально при малых значениях /.
Используя табл. 3, можно рассчитать из уравнения (3) ожидаемые величины к для двух составляющих сплава.
|
Источник |
|
Источник данных по / |
|
||||
Напря |
|
|
|
|
|
|
||
данных |
|
|
|
|
|
|
||
жение, |
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
кв |
по (WP)Mg |
[11] |
[17] |
[8] |
[11] |
[18] |
[И] |
|
|
Значения / А 1 |
для сплава 50% А1 - 5 0 % |
Mg |
|
||||
10 |
Бишоп |
|
0,806 |
0,793 |
0,782 |
0,795 |
0,785 |
0,801 |
10 |
[15, |
16] |
0,740 |
0,723 |
0,710 |
0,725 |
0,714 |
0,734 |
10 |
Щ |
|
0,715 |
0,700 |
0,686 |
0,704 |
0,691 |
0,711 |
15 |
[15, |
16] |
0,592 |
0,572 |
0,559 |
0,578 |
0,563 |
0,586 |
15 |
[4] |
|
0,560 |
0,559 |
0,525 |
0,542 |
0,528 |
0,552 |
20 |
[15] |
|
0,487 |
0,473 |
0,446 |
0,469 |
0,451 |
0,479 |
20 |
[16] |
|
0,450 |
0,425 |
0,404 |
0,431 |
0,411 |
0,430 |
20 |
Щ |
|
0,434 |
0,412 |
0,404 |
0,420 |
0,405 |
0,428 |
|
Значения / M g |
для оплава 50% А1 - |
50% Mg |
|
||||
10 |
Бишоп |
|
|
0,947 |
0,943 |
0,953 |
0,949 |
|
10 |
[15, |
16] |
|
0,923 |
0,921 |
0,935 |
0,930 |
|
10 |
4] |
|
|
0,908 |
0,904 |
0,919 |
0,914 |
|
15 |
[15, |
16] |
|
0,876 |
0,869 |
0,889 |
0,881 |
|
15 |
Г4] |
|
|
0,841 |
0,832 |
0,856 |
0,850 |
|
20 |
[15] |
|
|
0,800 |
0,790 |
0,820 |
0,810' |
|
20 |
[16] |
|
|
0,808 |
0,798 |
0,815 |
0,815[ |
|
20 |
[4] |
|
|
0,773 |
0,761 |
0,799 |
0,785!і |
|
Для Mg рассчитанная на основе метода Кастена поправ ка на флуоресценцию равна 1,1; 1,2 и 1,3% при 10, 15 и 20 кв соответственно. Величины к для Mg (табл. 4) были умножены на соответствующий фактор для сравнения с измеренной величиной. Результаты показаны в табл. 4 рядом с экспериментальными величинами к Голдстейна и др., которые были определены с точностью 1,5%. Спла вы были закалены и тщательно проанализированы на го могенность перед анализом [13]. Химический анализ был проведен с относительной точностью 0,4%. Рассмотрение данных табл. 4 показывает, что все результаты для Mg при всех напряжениях находятся в пределах эксперимен тальной ошибки; выбор модели расчета или массового коэффициента поглощения не приводит к большой разни це, так как / > 0,8. Однако для А1 почти все результаты
Напря |
Источник |
Источник рассчитанных данных по к |
Измерен |
||||||||
|
|
|
|
|
|
||||||
данных |
по |
|
|
|
|
|
|
||||
жение, |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ные значе |
|
КЗ |
Ct^Mg |
|
[11] |
[17] |
[8] |
[Н] |
[18] |
[11] |
ния Н [14] |
||
Значения АА 1 , рассчитанные |
для |
сплава 50% |
А1 — 50% Mg |
||||||||
10 |
Бишоп |
|
0,422 |
0,416 |
0,410 |
0,417 |
0,411 |
0,420 |
|
|
|
10 |
[15, |
16] |
0,394 |
0,385 |
0,378 |
0,386 |
0,381 |
0,391 |
|
0,387 |
|
10 |
[4] |
|
|
0,387 |
0,379 |
0,371 |
0,381 |
0,374 |
0,385 |
J |
|
15 |
[15, |
16] |
0,331 |
0,320 |
0,312 |
0,323 |
0,315 |
0,328 |
і |
|
|
15 |
[4] |
|
|
0,324 |
0,312 |
0,303 |
0,313 |
0,305 |
0,319 |
0,311 |
|
20 |
[15] |
|
|
0,292 |
0,283 |
0,267 |
0,281 |
0,270 |
0,287 |
|
|
20 |
[16] |
|
|
0,271 |
0,256 |
0,243 |
0,259 |
0,247 |
0,259 |
|
0,245 |
20 |
[4] |
|
|
0,270 |
0,256 |
0,251 |
0,261 |
0,252 |
0,266 |
J |
|
Значения |
ftMg, |
рассчитанные для сплава |
50% Al — 5 0 % Mg |
||||||||
10 |
Бишоп |
|
|
0,499 |
0,502 |
0,502 |
0,504 |
|
| |
|
|
10 |
115, 16] |
|
0,494 |
0,501 |
0,500 |
0,503 |
|
J |
0,506 |
||
10 |
[4]|„ |
|
|
|
0,492 |
0,500 |
0,498 |
0,503 |
|
|
|
15 |
[15,16]; |
|
0,487 |
0,499 |
0,495 |
0,502 |
|
f |
0,495 |
||
15 |
[4] |
|
|
|
0,485 |
0,495 |
0,495 |
0,502 |
|
||
20 |
[15] |
|
|
|
0,476 |
0,493 |
0,488 |
0,501 |
|
•і |
|
20 |
[16] |
|
|
|
0,480 |
0,495 |
0,491 |
0,501 |
|
|
0,499 |
20 |
Щ |
|
|
|
0,471 |
0,490 |
0,487 |
0,497 |
|
> |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
находятся вне пределов экспериментальной ошибки. Рас хождения, как и ожидалось, увеличиваются с увеличени ем напряжения. Это подтверждает наши заключения от
носительно ошибок*во входных |
параметрах. |
|
Действительно, так как В можно брать равным у (см. |
||
рис. 3) или, более точно, |
— / ) , когда |
/ < 0,8, |
невозможно сделать правильного заключения относитель но выбора модели расчета или правильности выбора ком бинации ц./р, вопреки тому, что алюминий является ма териалом, для которого в настоящее время имеются наи более широкие исследования зависимости / от х- Для дру гих веществ, для которых соотношение / (%) менее извест но, необходимо, чтобы / было меньше 0,8.
Заключение. 1. Анализ "ошибок при введенииТпоправки на поглощение рентгеновских лучей показывает, что
7* 195
из-за неопределенности входных параметров могут воз никать существенные ошибки анализа.
2.Чтобы уменьшить влияние этих ошибок, необходимо добиваться выполнения условия, чтобы отношение х/о было < 0,25.
3.Как следствие, величина функции поглощения должна быть 0,7 или больше.
4. При / (х ) > |
0,7 |
минимизируется также |
влияние |
за счет различия |
между |
разными моделями для |
расчета |
fix)-
5. Чтобы добиться выполнения этих условий экспери ментально, приборы должны давать стабильную, высокую скорость счета при низком отношении перенапряжения и иметь большой угол выхода рентгеновских лучей.
6.Для дальнейшего усовершенствования точности ло кального рентгеноспектрального анализа, в особенности для анализа элементов с малыми атомными номерами, тре буется более точное экспериментальное определение мас совых коэффициентов поглощения и функции / (%).
7.Получена одна обобщенная кривая при помощи изображения отношения %/ст в зависимости от / ( ^ о п р е деленной согласно модели Филибера — Данкамба.
ЛИТЕРАТУРА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
1. |
C a s t a i n g |
R., |
Thesis, |
University |
of |
Paris |
(1951). |
AERE - R |
|||||
2. |
T h o m a s |
P. M . , |
|
U . K . |
A t . Energy Auth. |
Rept. |
|||||||
3. |
4593, |
16 (1964). |
ASTM |
Spec. Tech. Publ. 349, 128 (1963). |
|||||||||
W і t t г у |
D. В., |
||||||||||||
4. |
P h i l l i b e r t J . , |
X-ray |
Optics |
and |
X-ray |
Microanalysis |
|||||||
|
(Proc. |
Third |
I n t ' l . |
Symp., |
Stanford |
Unif . — H . H . Pattee, |
|||||||
|
V. E. Cosslett, A. Engstrom, eds.) Academic Press, New York, |
||||||||||||
5. |
1963, |
p. |
379. |
S h i e l d s P. K . , The Electron Microprobe |
|||||||||
D u n c u m b P . , |
|||||||||||||
|
(Proc. |
Symp. |
Electrochem. Soc, Washington, |
|
D. C. |
1964 — |
|||||||
|
T. D. McKinley, K . F . J . |
Heinrich |
and |
D. B. |
W i t t r y , eds.), |
||||||||
|
Wiley, |
New |
York, |
1966, |
p. |
284. |
|
|
|
|
|
6. С 1 а у t о n D. В., Brit . J . Appl. Phys. 14, 117 (1963).
7. А г с h a r d G. D., M u 1 v e у Т., Brit . J , Appl. Phys. 14,
626(1963).
8.H e i n r i c h K . F. J . , The Electron Microprobe (Proc. Symp.
Electrochem. Soc, |
Washington, D. C. 1964 — T. D. McKinley, |
|||||
K. F. J . Heinrich |
and D. B. Wittry, eds.) |
Wiley, New |
York, |
|||
1966, |
p. |
296. |
W о о d h о u s e |
G. D., |
Optique des |
Ray |
9. H u g h e s |
G . D . , |
|||||
ons |
Xet Microanalyse (Proc. Fourth |
I n t ' l . |
Symp., Orsay — R. |
Castaing, P. Descamps and J . Philibert, eds.), Editions Scientifiques, Hermann, Paris, 1966 — I n Press.