Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа

..pdf
Скачиваний:
10
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
15.53 Mб
Скачать

предела. Уравнение

(16) дает

6-Ю-1

6-Ю4 sin •&

X

rl/P

Важная роль, которую играет угол выхода рентгенов­ ских лучей н- при определении точности электронно-зон- дового микроанализа, иллюстрируется рис. 4, где приве­

дена зависимость F m a x

от и./р образца для избранной ана­

литической

линии

при

 

 

 

 

гт =

15°

и

#

=

60°

со­

 

 

 

 

ответственно. Функция,

 

 

 

 

представленная

на рис.

 

 

 

 

4, мало чувствительна к

 

 

 

 

изменениям

 

 

критиче­

 

 

 

 

ского

потенциала

воз­

 

 

 

 

буждения Ус . Рис. 4 по­

 

 

 

 

казывает, что

для

каж­

 

 

 

 

дого

данного

[л/р уско­

 

 

 

 

ряющее

 

напряжение

 

 

 

 

приблизительно

может

 

 

 

 

быть удвоено, если угол

 

 

 

 

выхода

увеличивается

 

 

 

 

от 15 до 60°. Такое

уве­

 

 

 

 

личение

 

напряжения

 

обраща і для исследуемой лиши.)

дает

большую

 

скорость

 

 

 

 

 

 

счета

и

часто

лучшую

Рис. 4. Рассчитанные

для уравнения (17)

стабильность и меньшие

значения V * m a x (гее) в

зависимости от мас­

эффекты

загрязнения,

совых коэффициентов

поглощения образца

для любой исследуемой линии при углах

хотя

пространственное

выхода

рентгеновских

лучей 15 и 60°.

разрешение

анализа

в

большой степени

ухудшается.

С другой стороны, при данном ускоряющем напряже­

нии эффекты ошибок во

 

входных

параметрах и в выбран­

ном способе введения поправки уменьшаются с увеличением угла выхода. Необходимо рассмотреть теперь ситуацию, возникающую при анализе с помощью очень мягких рент­ геновских лучей, обсуждаемую Данкамбом и Мелфордом [10]. Эти авторы предложили «приближение тонких пле­ нок», основанное на том факте, что для очень больших зна­ чений х ( и , следовательно, у) все регистрируемые рентге­ новские фотоны можно рассматривать как возникшие на поверхности образца (в терминах электронного проник­ новения); следовательно, полная интенсивность испускае­ мого рентгеновского излучения равна Ф(0)Д(рг), где Ф (0) — относительная эмиссия рентгеновского излучения

при нулевой глубине и A (pz) — эффективная толщина излучающего слоя. Если это предположение справедливо как для образца, так и для эталона, концентрацию можно рассчитать так:

< - * № ) ( ^ ) -

Уравнение

(5),

таким

образом,

приобретает

форму

1 / / =

=

Ь%, где

Ъ — постоянная,

и

уравнение (6)

становится

таким: А///

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Дифференцирование

уравнения

(18)

дает

 

 

 

А с

г Д [Ф ( 0 ) ] э т

Д

(0)]

 

+

 

 

 

 

 

 

ф ( ° ) э т

 

 

Ф(0)сплспл

 

 

 

 

 

 

Г Д (Ц/р)0 щі

 

М[1/р).:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

( H / P W

 

 

Ш„

 

} +

[ Л # Э

Т C t g

^эт

~ М с п

л

C t g

°спл]-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(19)

Это уравнение показывает, что ошибка в массовых коэф­ фициентах поглощения дает в результате относительную ошибку той же величины (с измененным знаком), не счи­ тая угла выхода рентгеновских лучей. Влияние ошибок в угле выхода, однако, уменьшается с увеличением угла выхода. Тот факт, что относительная аналитическая ошиб­ ка равна (с измененным знаком) ошибке в массовых коэф­ фициентах поглощения, является разочаровывающим, ес­ ли не критическим, ввиду нашего слабого знания массо­ вых коэффициентов поглощения в области длинных волн. Следовательно, в настоящее время попытки провести ко­ личественный анализ большой точности в этой области рентгеновских лучей необходимо встретить скептически, если в качестве эталона не используется образец близкого состава.

Обсуждение и экспериментальные данные для бинар­

ной системы А1 — Mg . В этом разделе мы будем

рассмат­

ривать анализ бинарных сплавов системы

A l Mg,

чтобы иллюстрировать предыдущие рассуждения. Система A l Mg позволяет рассматривать поправку на поглоще­ ние отдельно, так что можно провести как эксперименталь­ ное исследование, так и теоретические расчеты.

Из поправок, которые нужно в рассматриваемом слу­ чае ввести, эффект атомного номера можно исключить, так как А1 и Mg являются близкими элементами в перио­ дической таблице и их соответствующие величины Z/A

почти равны. Mg /^а-линия возбуждается А1 ІІГа-линией. Следовательно, для Mg требуется поправка на флуорес­ ценцию так же, как и поправка на поглощение. Величи­ на необходимых поправок мала, так как коэффициенты поглощения для линии Mg Ка в А1 и Mg почти равны и так как выход ^-флуоресценции для Mg очень мал. Для введения поправок на поглощение использовалось выра­ жение Филибера — Данкамба, в то время как для поправ­

ки

на флуоресценцию

применялось выражение Кастена

[1].

Полная поправка,

рассчитанная для всех концентра­

ций Mg, была равна 1 % или меньше. Следовательно, Mg в системе А1 — Mg представляет собой близкий к идеаль­ ному случай, когда измеренное отношение интенсивностей равно концентрации во всем интервале составов.

Для А1 флуоресцентное возбуждение рентгеновских лу­ чей отсутствует. Однако требуется большая поправка на поглощение, так как массовый коэффициент поглощения ц./р для линии А1 Ка в Mg более чем на порядок больше,

чем р/р для линии А1 Ка в А1. Численная величина

для

ц/р линии А1 Ка в А1, записанная как р/р ( A l , А1 Ка),

бы­

ла принята равной 408 [9]. Имеется несколько опублико­ ванных значений для р/р (Mg, A l Ка), которые приводятся в табл. 2. Опубликованные величины р/р (Mg, Mg Ка)

и р/р ( A l , Mg Ка) даны в табл. 2 [11]. Величина

поправки

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

2

Массовые коэффициенты

поглощения Mg и A I для А1 Ка-

 

и Mg /Га-линий по различным данным

 

 

 

 

Источ­

Mg, А] Ка Mg. М.'Ка

А], МцКа

Источ­

Mg, А1К« М -,Mg Ка Al, М

Ка

ник

ник

данных

 

 

 

паяных

 

 

 

 

[И]

3797

 

 

[11]

4050

350

500

 

[17]

4100

340

643

[18]

4300

435

510

 

[8]

4377

464

615

[И]

3900

 

на поглощение для системы A l Mg не является исклю­ чительной для рассматриваемой области длин волн; ряд других систем, для которых была обнаружена даже боль­ шая поправка на поглощение (как, например. Mg в систе­ ме Си Mg), имеют практическую важность. Для рас­ четов были использованы величины Гейнриха.

о

Рис. 5. Влияние ошибок входных параметров на / в модели Филибера — Данкамба для А1 в сплаве 5 0 % А1 — 50 /о Mg при углах выхода рентгеновских лучей 15 и 60°. а) Влияние 9,3% ошибки на ц/р (сплав, А1 Ка). б) Влияние ошибки в уско­ ряющем напряжении, равной 0,25 кв. в) Влияние ошибки в угле выхода, равной 0,5°.

Чтобы показать влияние различных ошибок на величи­ н у / в согласии с моделью Филибера — Данкамба (урав­ нение (2)) при различных напряжениях, было предполо­ жено, что имеется сплав 50% А1 — 50% Mg для анализа А1 при 5, 10 и 20 кв соответ­ ственно. Рассматривались два угла выхода, 15 и 60°.

Что касается ошибок, то мы предположим величину А# = 0,5° для образца и эталона и величину AV = = 0,25 кв (или АЕ = 0,25 кэв). Установленные ошиб­

ки для

u./p (Mg, A l Ка)

= 4377

и

u./p ( A l , A l

Ка)

равны

10

и 2% соответ­

ственно.

Результаты под­

становки

в

уравнения

(10) — (13)

графически

представлены

на рис. 5,

а — в. Рис. 6 является гра­ фиком зависимости ctg Ь в радианах от величины Ф.

Если умножить эту величину на В Av), можно получить ошибку, обу­ словленную неопределен­ ностью в угле выхода.

Угол ЬыхоЫ. гра.3

Рис. 6. Влияние ошибки в угле выхода на функцию / в модели Филибера — Данкамба в зависимости от угла вы­ хода.

Ясно, что необходимо иметь лучшие величины ц./р, чтобы улучшить точность; однако переход к более низким напряжениям при большом угле выхода может дать при­ емлемые результаты (относительная ошибка 1—2%). Ошибка 0,5° при угле выхода 60° не является существен­ ной. Ошибку в напряжении можно уменьшить при помо­ щи калибровки питающих устройств, она не является слишком существенной при 60°.

Другим мешающим фактором является то, что влияние приготовления образца более очевидно при малых углах выхода. Таким образом, требуется максимальная пред­ осторожность при работе на приборах, имеющих малый угол выхода рентгеновских лучей. Это не подразумевает, что большой угол выхода позволяет ослабить критерий приготовления образца. Пайклсаймер [12] провел экспе­ римент, поставленный с целью показать количественно

влияние приготовления образца в их зависимости от угла выхода для сплава 50% N i н 50% Си в случае сильно травленной, слегка травленной и полированной поверх­ ностей и шлифованной на бумаге типа 3/0 А1 2 0 3 соответ­ ственно. Он использовал приборы с углом выхода рентге­ новских лучей 15,5 и 35°. Было обнаружено лишь слабое влияние на результаты в первых трех названных случаях приготовления поверхности для обеих величин г). При шли­ фовке на бумаге 3/0 не было обнаружено никаких изме­ нений при угле г'} = 35°, однако при использовании угла выхода 15.5° имело место изменение в 2—3%. После шли­ фовки на бумаге 3/0 имелись «ступеньки» в 2—4 мкм ме­ жду царапинами. В этой работе использовались только

относительно

жесткие /ІГа-линии Си и N i ; величины /

для

сплава были 0.96 и 0.91 при 35 и 15,5°

соответственно.

Следовательно, даже для случаев, когда

/ ^ 0 . 9 1 ,

т. е.

очень слабого

поглощения используемой

для анализа

линии, малый угол выхода рентгеновских лучей может привести к трудностям, если имеются ступеньки в 2—4 мкм на поверхности [12]. Еще в одном исследовании было экс­ периментально показано, что чем больше длина волны рентгеновской линии, тем большее влияние оказывают не­ ровности поверхности образца при данном напряжении [13]. Рассмотрим с этой точки зрения теоретические и экспери­ ментальные модели для /, используя в качестве примера опять случай анализа А1 в сплаве A l — Mg. В целях срав­ нения можно использовать экспериментальные данные Голдстейна и др. для сплавов A l — Mg [141.

Рассмотрим сплав, содержащий 50% А1 и 50% Mg. Сравним экспериментальные величины / Грина [15] и Кастена — Энока [16] и уравнение Филибера — Данкамба [5] с величинами к, определенными для А1 и Mg при 10, 15 и 20 кв; далее будет использован также расчет Бишопа при 10 кв. Зависимость величины / от % при 10, 15 и 20 кв показана на рис. 7. Расхождение при малых значениях / очевидно.

Чтобы показать взаимодействие ошибок из-за неопре­ деленностей в р/р и в модели расчета, были определены величины / для каждой модели и каждого значения р/р при угле # = 52,5° (см. табл. 2). Результаты приведены в табл. 3. Как и ожидалось, расхождение максимально при малых значениях /.

Используя табл. 3, можно рассчитать из уравнения (3) ожидаемые величины к для двух составляющих сплава.

 

Источник

 

Источник данных по /

 

Напря­

 

 

 

 

 

 

данных

 

 

 

 

 

 

жение,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

кв

по (WP)Mg

[11]

[17]

[8]

[11]

[18]

[И]

 

Значения / А 1

для сплава 50% А1 - 5 0 %

Mg

 

10

Бишоп

 

0,806

0,793

0,782

0,795

0,785

0,801

10

[15,

16]

0,740

0,723

0,710

0,725

0,714

0,734

10

Щ

 

0,715

0,700

0,686

0,704

0,691

0,711

15

[15,

16]

0,592

0,572

0,559

0,578

0,563

0,586

15

[4]

 

0,560

0,559

0,525

0,542

0,528

0,552

20

[15]

 

0,487

0,473

0,446

0,469

0,451

0,479

20

[16]

 

0,450

0,425

0,404

0,431

0,411

0,430

20

Щ

 

0,434

0,412

0,404

0,420

0,405

0,428

 

Значения / M g

для оплава 50% А1 -

50% Mg

 

10

Бишоп

 

 

0,947

0,943

0,953

0,949

 

10

[15,

16]

 

0,923

0,921

0,935

0,930

 

10

4]

 

 

0,908

0,904

0,919

0,914

 

15

[15,

16]

 

0,876

0,869

0,889

0,881

 

15

Г4]

 

 

0,841

0,832

0,856

0,850

 

20

[15]

 

 

0,800

0,790

0,820

0,810'

 

20

[16]

 

 

0,808

0,798

0,815

0,815[

 

20

[4]

 

 

0,773

0,761

0,799

0,785!і

 

Для Mg рассчитанная на основе метода Кастена поправ­ ка на флуоресценцию равна 1,1; 1,2 и 1,3% при 10, 15 и 20 кв соответственно. Величины к для Mg (табл. 4) были умножены на соответствующий фактор для сравнения с измеренной величиной. Результаты показаны в табл. 4 рядом с экспериментальными величинами к Голдстейна и др., которые были определены с точностью 1,5%. Спла­ вы были закалены и тщательно проанализированы на го­ могенность перед анализом [13]. Химический анализ был проведен с относительной точностью 0,4%. Рассмотрение данных табл. 4 показывает, что все результаты для Mg при всех напряжениях находятся в пределах эксперимен­ тальной ошибки; выбор модели расчета или массового коэффициента поглощения не приводит к большой разни­ це, так как / > 0,8. Однако для А1 почти все результаты

Напря­

Источник

Источник рассчитанных данных по к

Измерен­

 

 

 

 

 

 

данных

по

 

 

 

 

 

 

жение,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ные значе­

КЗ

Ct^Mg

 

[11]

[17]

[8]

[Н]

[18]

[11]

ния Н [14]

Значения АА 1 , рассчитанные

для

сплава 50%

А1 — 50% Mg

10

Бишоп

 

0,422

0,416

0,410

0,417

0,411

0,420

 

 

10

[15,

16]

0,394

0,385

0,378

0,386

0,381

0,391

 

0,387

10

[4]

 

 

0,387

0,379

0,371

0,381

0,374

0,385

J

 

15

[15,

16]

0,331

0,320

0,312

0,323

0,315

0,328

і

 

15

[4]

 

 

0,324

0,312

0,303

0,313

0,305

0,319

0,311

20

[15]

 

 

0,292

0,283

0,267

0,281

0,270

0,287

 

 

20

[16]

 

 

0,271

0,256

0,243

0,259

0,247

0,259

 

0,245

20

[4]

 

 

0,270

0,256

0,251

0,261

0,252

0,266

J

 

Значения

ftMg,

рассчитанные для сплава

50% Al — 5 0 % Mg

10

Бишоп

 

 

0,499

0,502

0,502

0,504

 

|

 

10

115, 16]

 

0,494

0,501

0,500

0,503

 

J

0,506

10

[4]|„

 

 

 

0,492

0,500

0,498

0,503

 

 

15

[15,16];

 

0,487

0,499

0,495

0,502

 

f

0,495

15

[4]

 

 

 

0,485

0,495

0,495

0,502

 

20

[15]

 

 

 

0,476

0,493

0,488

0,501

 

•і

 

20

[16]

 

 

 

0,480

0,495

0,491

0,501

 

 

0,499

20

Щ

 

 

 

0,471

0,490

0,487

0,497

 

>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

находятся вне пределов экспериментальной ошибки. Рас­ хождения, как и ожидалось, увеличиваются с увеличени­ ем напряжения. Это подтверждает наши заключения от­

носительно ошибок*во входных

параметрах.

 

Действительно, так как В можно брать равным у (см.

рис. 3) или, более точно,

— / ) , когда

/ < 0,8,

невозможно сделать правильного заключения относитель­ но выбора модели расчета или правильности выбора ком­ бинации ц./р, вопреки тому, что алюминий является ма­ териалом, для которого в настоящее время имеются наи­ более широкие исследования зависимости / от х- Для дру­ гих веществ, для которых соотношение / (%) менее извест­ но, необходимо, чтобы / было меньше 0,8.

Заключение. 1. Анализ "ошибок при введенииТпоправки на поглощение рентгеновских лучей показывает, что

7* 195

из-за неопределенности входных параметров могут воз­ никать существенные ошибки анализа.

2.Чтобы уменьшить влияние этих ошибок, необходимо добиваться выполнения условия, чтобы отношение х/о было < 0,25.

3.Как следствие, величина функции поглощения должна быть 0,7 или больше.

4. При / ) >

0,7

минимизируется также

влияние

за счет различия

между

разными моделями для

расчета

fix)-

5. Чтобы добиться выполнения этих условий экспери­ ментально, приборы должны давать стабильную, высокую скорость счета при низком отношении перенапряжения и иметь большой угол выхода рентгеновских лучей.

6.Для дальнейшего усовершенствования точности ло­ кального рентгеноспектрального анализа, в особенности для анализа элементов с малыми атомными номерами, тре­ буется более точное экспериментальное определение мас­ совых коэффициентов поглощения и функции / (%).

7.Получена одна обобщенная кривая при помощи изображения отношения %/ст в зависимости от / ( ^ о п р е ­ деленной согласно модели Филибера — Данкамба.

ЛИТЕРАТУРА

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1.

C a s t a i n g

R.,

Thesis,

University

of

Paris

(1951).

AERE - R

2.

T h o m a s

P. M . ,

 

U . K .

A t . Energy Auth.

Rept.

3.

4593,

16 (1964).

ASTM

Spec. Tech. Publ. 349, 128 (1963).

W і t t г у

D. В.,

4.

P h i l l i b e r t J . ,

X-ray

Optics

and

X-ray

Microanalysis

 

(Proc.

Third

I n t ' l .

Symp.,

Stanford

Unif . — H . H . Pattee,

 

V. E. Cosslett, A. Engstrom, eds.) Academic Press, New York,

5.

1963,

p.

379.

S h i e l d s P. K . , The Electron Microprobe

D u n c u m b P . ,

 

(Proc.

Symp.

Electrochem. Soc, Washington,

 

D. C.

1964 —

 

T. D. McKinley, K . F . J .

Heinrich

and

D. B.

W i t t r y , eds.),

 

Wiley,

New

York,

1966,

p.

284.

 

 

 

 

 

6. С 1 а у t о n D. В., Brit . J . Appl. Phys. 14, 117 (1963).

7. А г с h a r d G. D., M u 1 v e у Т., Brit . J , Appl. Phys. 14,

626(1963).

8.H e i n r i c h K . F. J . , The Electron Microprobe (Proc. Symp.

Electrochem. Soc,

Washington, D. C. 1964 — T. D. McKinley,

K. F. J . Heinrich

and D. B. Wittry, eds.)

Wiley, New

York,

1966,

p.

296.

W о о d h о u s e

G. D.,

Optique des

Ray­

9. H u g h e s

G . D . ,

ons

Xet Microanalyse (Proc. Fourth

I n t ' l .

Symp., Orsay — R.

Castaing, P. Descamps and J . Philibert, eds.), Editions Scientifiques, Hermann, Paris, 1966 — I n Press.

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ