Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа

..pdf
Скачиваний:
10
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
15.53 Mб
Скачать

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО ЛОКАЛЬНОГО АНАЛИЗА

Перевод с английского, под редакцией И. Б. Боровского

ИЗДАТЕЛЬСТВО «НАУКА» ГЛАВНАЯ РЕДАКЦИЯ ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

М О С К В А 1 9 7 3

530.4 Ф 50

УДК 543.422.8

Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, пер ев. с англ., под ред. И. В. Боровского, Главная редакция физико-мате­ матической литературы изд-ва «Наука», 1973.

Новый метод анализа вещества в микрообъе­ мах — рена-'еноспектральный анализ с помощью тонко сфокусированного электронного зонда — возник двадцать лет назад и в последнее десятилетие получил широкое распространение. Применение этого метода позволило достичь крупных успехов в физчке твердого тела, металловедении, электро­ нике, минералогии, биологии и во многих областях техники. Однако литература на русском языке, посвященная новому методу, еще чрезвычайно

скудна. Восполнить этот

пробел предназначен,

в частности, предлагаемый

сбовник переводов,

посвященный физическим основам локального рент­ геноспектрального анализа. В сборник включены наиболее важные работы, представленные на меж­ дународные конференции последних лет.

Таблиц 50. Рис. 155. Библ. назв. 289.

•.iw. /

к д ї ? - : , *X?S ЛИЧНАЯ

 

КАЯ

 

b ^ l o f E K A СССР

ft-

 

0234—1767 042(02)-73

СОДЕРЖАНИЕ

Предисловие

редактора перевода

 

 

 

 

5

і .

Поглощение

энергии

электронов

в толстых

мишенях.

 

 

В. Косслетт

ч»

 

 

 

 

 

 

 

11

 

Прогресс в определении поправки на эффект атомного

 

 

номера. Д. Пул

 

 

 

 

 

 

 

28

3-

Методы

расчета возбуждения рентгеновского излучения

 

 

электронами.

Д. Браун

 

 

 

 

 

69

4.

Распределение

по

глубине

характеристического рентге­

 

 

новского

излучения.

Р. Кастен,

Ж. Энок

 

85

5.

Вычисление проникновения электронов и возбуждения

 

 

рентгеновского излучения в толстых мишенях. Ґ. Бишоп

92

6.

Экспериментальное определение поправки на обратное

 

 

рассеяние

 

электронов. Ж. Дерьян,

Р. Кастен . . . .

101

7.

Измерение

обратного рассеяния электронов от толстых

 

 

мишеней.

 

Г. Бишоп

 

 

 

 

 

 

109

8.

Прогресс в вычислении тормозной способности и фактора

 

 

обратного

 

рассеяния. П. Данкамб,

С. Рид

 

117

9.

Некоторые

вопросы количественного рентгеноспектраль­

 

 

ного локального анализа. Ж. Филибер,

Р. Тиксъе . . .

139

" 1

Расчет влияния атомного номера и поглощения рентгенов­

 

 

ских лучей на результаты микроанализа при помощи элек

 

 

тронных вычислительных машин. Г. Ранзепгпга, В. Скотт

158

Ч.

Машинный расчет поправки на поглощение при рентгено-

 

 

спектральном

 

микроанализе.

Ц. Хелъгессон

 

168

 

Неопределенность во введении поправки на поглощение.

179

 

X. Яковиц,

К. Гейнрих

 

 

 

 

 

>'. Таблицы

 

коэффициентов

поглощения

для

рентгенов­

 

 

ского микроанализа.

И. Адлер, Дж. Голдстейн . . . .

198

'•'t. Массовые

 

коэффициенты

поглощения рентгеновских

 

 

лучей.

Г.

Хьюв,

Дж. Вудхауз

 

 

 

203

'..Флуоресцентное излучение от толстых и тонких мише­

ней. В. Хинк

212

1* 3

16. Неопределенность во введении поправки на флуорес­

 

ценцию. К. Гейнрах, X. Яковиц

223

^17. Рентгеновская флуоресценция, возбужденная тормозным

 

спектром электронов. Ж. Энок

 

235

j 18.

Количественный рентгеноспектральный

микроанализ

 

сложных сплавов. Дж. Белк

 

248

19.

Метод анализа тонких пленок. Д. Маршалл, Т.

Холл . 260

20.

Пространственное разрешение при рентгеновском

микро­

 

анализе. С. Рид

 

269

21.К вопросу об измерении линейного разрешения при

рентгеновском микроанализе. Т. Хеенкамп

288

22.Влияние изменения длины волны, обусловленного хими­ ческой связью, на результаты количественного рентге­

носпектрального анализа. Д.

Коффман,

С. Молл,

Д ж. Нортон

 

297

23. Микроанализ с помощью анализа энергии электронов

электронной спектроскопией. X. Ватанабе

304

Примечание при корректуре

 

310

ПРЕДИСЛОВИЕ РЕДАКТОРА ПЕРЕВОДА

Локальный рентгеноспектральний метод исследования и анализа химического состава в микрообъемах вещества зародился более 20 лет назад одновременно и независимо во Франции и в СССР. В настоящее время метод получил мировое признание и практически сейчас нельзя назвать область науки и техники, где бы он не применялся для решения фундаментальных и прикладных задач.

Уже состоялось шесть международных конференций, посвященных вопросам оптики рентгеновских лучей и ло­ кальному рентгеноспектральному анализу, созываемых раз в три года. С 1962 г. во Франции и США проходят ежегодные, а в СССР один раз в два года (с 1960 г.) сове­ щания, посвященные методам локального анализа и его применениям.

Число работающих установок — рентгеновских мик­ роанализаторов — также растет из года в год. В США, например, в 1971 г. находилось в постоянной эксплуата­ ции до 250 таких установок. Более-десятка фирм Фран­ ции, Англии, Японии и США производят микроанализато­ ры средней стоимостью 90 тыс. долларов каждый.

Можно смело утверждать, что области применения микроанализа и производство микроанализаторов будут расширяться, по крайней, мере в течение ближайших 40—50 лет.

Бурный рост сравнительно молодого метода исследо­ вания химического состава в микрообъемах вещества, очевидно, говорит о больших, еще не исчерпанных воз­ можностях метода, о важности получаемой с его помощью информации, которую невозможно получить с помощью других физических методов исследования. Исключитель­ но высокий темп развития метода и все расширяющиеся об­ ласти его применения приводят не только к важным в на­ учном й практическом отношении результатам, но также к ряду неизбежных отрицательных явлений, к попыткам переоценки его возможностей, к неправильному истол­ кованию получаемых при его помощи результатов.

S

Именно в этом свете отчетливо видна потребность в книге, которая могла бы оказать помощь научным ра­ ботникам, использующим новый метод анализа, в более квалифицированной оценке его возможностей и интер­ претации результатов измерений. Монографическая лите­ ратура, посвященная методу локального рентгеноспект­ рального анализа, крайне скудна: на русском языке издана лишь одна переводная монография Л. Биркса «Рентгеноспектральный анализ с помощью электрон­ ного зонда» (Металлургиздат, 1966 г.). Основная же масса работ, посвященных развитию метода, опубликована в за­ рубежных изданиях, главным образом в сборниках тру­ дов международных и национальных конференций.

Предлагаемый вниманию читателя сборник содержит переводы ряда докладов, прочитанных на I V Междуна­ родном конгрессе по оптике рентгеновских лучей и локаль­ ному рентгеноспектральному анализу, состоявшемся в Па­ риже в 1965 г. * ) , и на Международном теоретическом семинаре по рентгеноспектральному микроанализу, состо­ явшемся в Вашингтоне в 1967 г. * * ) . Эти доклады в основ­ ном посвящены методикам расчета количественного содер­ жания элементов на основе данных, получаемых новым методом анализа. Вкратце остановимся на возможностях и физической сущности этого метода.

С помощью нового метода можно проводить количе­ ственный химический анализ шлифов из сплавов, мине­ ралов, шлаков, органических и неорганических соедине­ ний на элементы от лития до урана с локальностью 1—2 мкм и исследовать распределение любого из обнару­ женных «в точке» элементов в произвольно выбранном на шлифе направлении. В объеме 0,32 мкм3 можно уста­ новить присутствие практически всех элементов перио­ дической системы при содержании их в пределах 0,02— 0,2 вес.% и через каждые 1—2 мкм следить за возможным изменением содержания. Это значит, что новый метод обладает очень высокой локальной чувствительностью _ 1 0 - і з — Ю - 1 5 Я ш

Сущность метода состоит в следующем. В специальной трубке с помощью системы электромагнитных (или элек­ тростатических) линз создается узкий пучок электронов,

*) I V Inieniational Congress on X-ray Optics and X-ray Micro­ analysis, Paris, Hermann, 1966.

**) Quantitative

Electron Probe

Microanalysis, K.F..T. Hoin-

rich, в'-'.., NHS Spec.

Publication No.

298, Washington, 1968,

сфокусированный в зонд диаметром 0,1—2 мкм. Электро­ ны этого пучка, ускоренные напряжением от одного кило­

вольта до нескольких десятков киловольт,

возбуждают

в фокусе на аноде-шлифе характеристическое

рентгенов­

ское излучение атомов. Это

излучение

разлагается в

спектр с помощью изогнутого

кристалла и

регистрирует­

ся счетчиком квантов. При помощи специального микро­ скопа на исследуемом шлифе может быть выбрана любая

область для исследования, а

также любое направление,

в котором необходимо найти

распределение элементов.

В качестве стандартов при количественном рентгеноспектральном локальном анализе, как правило, выбирают­ ся чистые элементы. При измерениях находится отноше­ ние интенсивности линии характеристического спектра анализируемого элемента А к интенсивности той же ли­ нии от стандарта. Это отношение пропорционально весо­ вому содержанию элемента А в микрообъеме преследу­ емого вещества.

Однако между отношениями интенсивностей и весовой концентрацией элемента нет однозначного соответствия. Это связано с различным торможением электронов в ве­ ществе образца и стандарта, различным поглощением в них возбужденного характеристического излучения, влиянием вторичного возбуждения этого излучения.

Вследствие многократного рассеяния электронный пу­ чок, сфокусированный на поверхности образца в тонкий зонд, уже на глубине порядка 1 мкм приобретает сфери­ ческую симметрию, а часть электронов, отклонившихся от первоначального направления на угол, больший 90°, выходит из образца. Доля этих, обратно рассеянных, электронов растет с увеличением атомного номера. В про­ цессе рассеяния возникает угловое и энергетическое рас­ пределение в первоначально параллельном и моноэнерге­ тическом пучке электронов.

В сложном образце может содержаться элемент В, яркие линии характеристического спектра которого лежат с коротковолновой стороны от основного края пог­ лощения элемента А. Тогда это излучение будет дополни­ тельно возбуждать характеристическое излучение эле­ мента А. Такой же эффект дополнительного возбуждения связан с той частью тормозного спектра электронов, которая расположена в сторону коротких волн от основ­ ного края поглощения элемента А. Рассмотренные явле­ ния, нарушающие однозначное соответствие между

отношением интенсивностей и весовым содержанием элемента, необходимо учитывать количественно.

Решить эту проблему чисто теоретическим путем в на­ стоящее время не представляется возможным. Поэтому для установления однозначного соответствия между относительной интенсивностью линий и концентрацией используются полуэмпирические методы. При использо­ вании полуэмпирических формул необходимо располагать рядом численных параметров. Для получения последних необходимо тщательное экспериментальное изучение вза­ имодействия электронов с веществом, их углового и энер­ гетического распределений, определение численных значе­ ний коэффициентов фотоэлектрического поглощения для диапазона волн от —-1 до 259 А во всех элементах перио­ дической системы.

Большая часть статей настоящего сборника как раз посвящена обсуждению перечисленных выше вопросов.

В статьях Косслетта, Бишопа, Кастена и Энока, Дерьяна и Кастена экспериментально изучено изменение энер­ гии электронов при взаимодействии их с толстыми слоями вещества и связанное с ним изменение функций иониза­ ции с глубиной, распределение обратно рассеянных элек­ тронов по углам и по энергиям, а также описано приме­ нение расчета методом Монте-Карло характера проник­ новения электронов в толстые мишени.

В короткой, но обстоятельной статье Брауна

дан

обзор методов расчета распределения по глубине

рент­

геновского излучения, возбужденного электронами, ко­ торое необходимо знать для понимания сложных физи­ ческих процессов, происходящих при взаимодействии электронов с атомами вещества. В работе Данкамба и Рида дан обзор работ, посвященных вычислению тор­ мозной способности и коэффициента обратного рассеяния электронов, и предложен хороший практический метод введения поправки на атомный номер при анализе эле­ ментов с атомными номерами, большими 12. Одной из лучших статей по методам введения поправки на эффект атомного номера является статья Пула. 13 ней на основа­ нии сравнения результатов расчетов с данными химиче­ ских анализов содержания элементов в стандартных образ­ цах выясняется точность и приемлемость теоретических формул, полученных различными авторами. В работе Филибера и Тиксье рассмотрены различные методы введе­ ния поправок, уточняются численные коэффициенты в

полученных ранее этими авторами формулах, приобрет­ ших в последнее время большую популярность. В рабо­ тах Ранзетты, Скотта и Хельгессона даны примеры машин­ ного расчета количественного содержания элементов в многокомпонентных сплавах. Большой фактический материал с подробным анализом ошибок при введении поправки на поглощение при количественном рентгеноспектральном анализе приведен в статье Гейнриха и Яковица. В статьях Хьюза и Вудхауза, а также Адлера и Голдстейна обсуждаются вопросы определения массовых коэффицентов поглощения.

В последующих статьях Хинка, Гейнриха и Яковица рассматриваются вопросы введения поправок за счет до­ полнительного возбуждения флуоресцентного спектра ана­ лизируемого элемента непрерывным излучением элемен­ тов, присутствующих в образце.

Две статьи, Рида и Хеенкампа, обсуждают одну из фундаментальных проблем метода — определение ло­ кальности микроанализа. Надо сказать, что материал этих двух статей полностью не охватывает содержание проблемы и поэтому относящиеся сюда вопросы будут рассмотрены также во втором, намечаемом к переводу, сборнике.

В краткой статье Коффмана и др. рассмотрено влияние

изменения

длины волны,

обусловленного химической

связью, на

результаты

количественного анализа. По это­

му вопросу

имеется

очень

большой материал. Однако

в настоящий сборник включена лишь одна статья с целью обратить внимание исследователей на необходимость и важность учета этого явления.

Наконец, в статье Ватанабе рассмотрен метод микроанализа с помощью электронов, претерпевших ха­ рактеристические потери энергии, перспективный для опре­ деления легких элементов. Строго говоря, эти вопросы не относятся к тематике сборника. Однако оба метода явля­ ются новыми и существенно расширяют возможности микроанализа. Поэтому было сочтено целесообразным ознакомить специалистов по рентгеноспектральному микроанализу с состоянием дел в смежной области.

В заключение мы хотели бы отметить, что современ­ ное состояние теории количественного рентгеноспектраль­ ного локального анализа еще далеко от удовлетворитель­ ного. Каждый год появляются новые работы, уточняющие расчетные способы перехода от относительных интенсив-

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ