книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа
..pdfФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО ЛОКАЛЬНОГО АНАЛИЗА
Перевод с английского, под редакцией И. Б. Боровского
ИЗДАТЕЛЬСТВО «НАУКА» ГЛАВНАЯ РЕДАКЦИЯ ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
М О С К В А 1 9 7 3
530.4 Ф 50
УДК 543.422.8
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, пер ев. с англ., под ред. И. В. Боровского, Главная редакция физико-мате матической литературы изд-ва «Наука», 1973.
Новый метод анализа вещества в микрообъе мах — рена-'еноспектральный анализ с помощью тонко сфокусированного электронного зонда — возник двадцать лет назад и в последнее десятилетие получил широкое распространение. Применение этого метода позволило достичь крупных успехов в физчке твердого тела, металловедении, электро нике, минералогии, биологии и во многих областях техники. Однако литература на русском языке, посвященная новому методу, еще чрезвычайно
скудна. Восполнить этот |
пробел предназначен, |
в частности, предлагаемый |
сбовник переводов, |
посвященный физическим основам локального рент геноспектрального анализа. В сборник включены наиболее важные работы, представленные на меж дународные конференции последних лет.
Таблиц 50. Рис. 155. Библ. назв. 289.
•.iw. / |
к д ї ? - : , *X?S ЛИЧНАЯ |
|
КАЯ |
|
b ^ l o f E K A СССР |
(Д |
ft- |
|
0234—1767 042(02)-73
СОДЕРЖАНИЕ
Предисловие |
редактора перевода |
|
|
|
|
5 |
||||||||
і . |
Поглощение |
энергии |
электронов |
в толстых |
мишенях. |
|
||||||||
|
В. Косслетт |
ч» |
|
|
|
|
|
|
|
11 |
||||
|
Прогресс в определении поправки на эффект атомного |
|
||||||||||||
|
номера. Д. Пул |
|
|
|
|
|
|
|
28 |
|||||
3- |
Методы |
расчета возбуждения рентгеновского излучения |
|
|||||||||||
|
электронами. |
Д. Браун |
|
|
|
|
|
69 |
||||||
4. |
Распределение |
по |
глубине |
характеристического рентге |
|
|||||||||
|
новского |
излучения. |
Р. Кастен, |
Ж. Энок |
|
85 |
||||||||
5. |
Вычисление проникновения электронов и возбуждения |
|
||||||||||||
|
рентгеновского излучения в толстых мишенях. Ґ. Бишоп |
92 |
||||||||||||
6. |
Экспериментальное определение поправки на обратное |
|
||||||||||||
|
рассеяние |
|
электронов. Ж. Дерьян, |
Р. Кастен . . . . |
101 |
|||||||||
7. |
Измерение |
обратного рассеяния электронов от толстых |
|
|||||||||||
|
мишеней. |
|
Г. Бишоп |
|
|
|
|
|
|
109 |
||||
8. |
Прогресс в вычислении тормозной способности и фактора |
|
||||||||||||
|
обратного |
|
рассеяния. П. Данкамб, |
С. Рид |
|
117 |
||||||||
9. |
Некоторые |
вопросы количественного рентгеноспектраль |
|
|||||||||||
|
ного локального анализа. Ж. Филибер, |
Р. Тиксъе . . . |
139 |
|||||||||||
" 1 |
Расчет влияния атомного номера и поглощения рентгенов |
|
||||||||||||
|
ских лучей на результаты микроанализа при помощи элек |
|
||||||||||||
|
тронных вычислительных машин. Г. Ранзепгпга, В. Скотт |
158 |
||||||||||||
Ч. |
Машинный расчет поправки на поглощение при рентгено- |
|
||||||||||||
|
спектральном |
|
микроанализе. |
Ц. Хелъгессон |
|
168 |
||||||||
|
Неопределенность во введении поправки на поглощение. |
179 |
||||||||||||
|
X. Яковиц, |
К. Гейнрих |
|
|
|
|
|
|||||||
>'. Таблицы |
|
коэффициентов |
поглощения |
для |
рентгенов |
|
||||||||
|
ского микроанализа. |
И. Адлер, Дж. Голдстейн . . . . |
198 |
|||||||||||
'•'t. Массовые |
|
коэффициенты |
поглощения рентгеновских |
|
||||||||||
|
лучей. |
Г. |
Хьюв, |
Дж. Вудхауз |
|
|
|
203 |
'..Флуоресцентное излучение от толстых и тонких мише
ней. В. Хинк |
212 |
1* 3
16. Неопределенность во введении поправки на флуорес |
|
ценцию. К. Гейнрах, X. Яковиц |
223 |
^17. Рентгеновская флуоресценция, возбужденная тормозным
|
спектром электронов. Ж. Энок |
|
235 |
j 18. |
Количественный рентгеноспектральный |
микроанализ |
|
|
сложных сплавов. Дж. Белк |
|
248 |
19. |
Метод анализа тонких пленок. Д. Маршалл, Т. |
Холл . 260 |
|
20. |
Пространственное разрешение при рентгеновском |
микро |
|
|
анализе. С. Рид |
|
269 |
21.К вопросу об измерении линейного разрешения при
рентгеновском микроанализе. Т. Хеенкамп |
288 |
22.Влияние изменения длины волны, обусловленного хими ческой связью, на результаты количественного рентге
носпектрального анализа. Д. |
Коффман, |
С. Молл, |
Д ж. Нортон |
|
297 |
23. Микроанализ с помощью анализа энергии электронов |
||
электронной спектроскопией. X. Ватанабе |
304 |
|
Примечание при корректуре |
|
310 |
ПРЕДИСЛОВИЕ РЕДАКТОРА ПЕРЕВОДА
Локальный рентгеноспектральний метод исследования и анализа химического состава в микрообъемах вещества зародился более 20 лет назад одновременно и независимо во Франции и в СССР. В настоящее время метод получил мировое признание и практически сейчас нельзя назвать область науки и техники, где бы он не применялся для решения фундаментальных и прикладных задач.
Уже состоялось шесть международных конференций, посвященных вопросам оптики рентгеновских лучей и ло кальному рентгеноспектральному анализу, созываемых раз в три года. С 1962 г. во Франции и США проходят ежегодные, а в СССР один раз в два года (с 1960 г.) сове щания, посвященные методам локального анализа и его применениям.
Число работающих установок — рентгеновских мик роанализаторов — также растет из года в год. В США, например, в 1971 г. находилось в постоянной эксплуата ции до 250 таких установок. Более-десятка фирм Фран ции, Англии, Японии и США производят микроанализато ры средней стоимостью 90 тыс. долларов каждый.
Можно смело утверждать, что области применения микроанализа и производство микроанализаторов будут расширяться, по крайней, мере в течение ближайших 40—50 лет.
Бурный рост сравнительно молодого метода исследо вания химического состава в микрообъемах вещества, очевидно, говорит о больших, еще не исчерпанных воз можностях метода, о важности получаемой с его помощью информации, которую невозможно получить с помощью других физических методов исследования. Исключитель но высокий темп развития метода и все расширяющиеся об ласти его применения приводят не только к важным в на учном й практическом отношении результатам, но также к ряду неизбежных отрицательных явлений, к попыткам переоценки его возможностей, к неправильному истол кованию получаемых при его помощи результатов.
S
Именно в этом свете отчетливо видна потребность в книге, которая могла бы оказать помощь научным ра ботникам, использующим новый метод анализа, в более квалифицированной оценке его возможностей и интер претации результатов измерений. Монографическая лите ратура, посвященная методу локального рентгеноспект рального анализа, крайне скудна: на русском языке издана лишь одна переводная монография Л. Биркса «Рентгеноспектральный анализ с помощью электрон ного зонда» (Металлургиздат, 1966 г.). Основная же масса работ, посвященных развитию метода, опубликована в за рубежных изданиях, главным образом в сборниках тру дов международных и национальных конференций.
Предлагаемый вниманию читателя сборник содержит переводы ряда докладов, прочитанных на I V Междуна родном конгрессе по оптике рентгеновских лучей и локаль ному рентгеноспектральному анализу, состоявшемся в Па риже в 1965 г. * ) , и на Международном теоретическом семинаре по рентгеноспектральному микроанализу, состо явшемся в Вашингтоне в 1967 г. * * ) . Эти доклады в основ ном посвящены методикам расчета количественного содер жания элементов на основе данных, получаемых новым методом анализа. Вкратце остановимся на возможностях и физической сущности этого метода.
С помощью нового метода можно проводить количе ственный химический анализ шлифов из сплавов, мине ралов, шлаков, органических и неорганических соедине ний на элементы от лития до урана с локальностью 1—2 мкм и исследовать распределение любого из обнару женных «в точке» элементов в произвольно выбранном на шлифе направлении. В объеме 0,3—2 мкм3 можно уста новить присутствие практически всех элементов перио дической системы при содержании их в пределах 0,02— 0,2 вес.% и через каждые 1—2 мкм следить за возможным изменением содержания. Это значит, что новый метод обладает очень высокой локальной чувствительностью _ 1 0 - і з — Ю - 1 5 Я ш
Сущность метода состоит в следующем. В специальной трубке с помощью системы электромагнитных (или элек тростатических) линз создается узкий пучок электронов,
*) I V Inieniational Congress on X-ray Optics and X-ray Micro analysis, Paris, Hermann, 1966.
**) Quantitative |
Electron Probe |
Microanalysis, K.F..T. Hoin- |
rich, в'-'.., NHS Spec. |
Publication No. |
298, Washington, 1968, |
сфокусированный в зонд диаметром 0,1—2 мкм. Электро ны этого пучка, ускоренные напряжением от одного кило
вольта до нескольких десятков киловольт, |
возбуждают |
||
в фокусе на аноде-шлифе характеристическое |
рентгенов |
||
ское излучение атомов. Это |
излучение |
разлагается в |
|
спектр с помощью изогнутого |
кристалла и |
регистрирует |
ся счетчиком квантов. При помощи специального микро скопа на исследуемом шлифе может быть выбрана любая
область для исследования, а |
также любое направление, |
в котором необходимо найти |
распределение элементов. |
В качестве стандартов при количественном рентгеноспектральном локальном анализе, как правило, выбирают ся чистые элементы. При измерениях находится отноше ние интенсивности линии характеристического спектра анализируемого элемента А к интенсивности той же ли нии от стандарта. Это отношение пропорционально весо вому содержанию элемента А в микрообъеме преследу емого вещества.
Однако между отношениями интенсивностей и весовой концентрацией элемента нет однозначного соответствия. Это связано с различным торможением электронов в ве ществе образца и стандарта, различным поглощением в них возбужденного характеристического излучения, влиянием вторичного возбуждения этого излучения.
Вследствие многократного рассеяния электронный пу чок, сфокусированный на поверхности образца в тонкий зонд, уже на глубине порядка 1 мкм приобретает сфери ческую симметрию, а часть электронов, отклонившихся от первоначального направления на угол, больший 90°, выходит из образца. Доля этих, обратно рассеянных, электронов растет с увеличением атомного номера. В про цессе рассеяния возникает угловое и энергетическое рас пределение в первоначально параллельном и моноэнерге тическом пучке электронов.
В сложном образце может содержаться элемент В, яркие линии характеристического спектра которого лежат с коротковолновой стороны от основного края пог лощения элемента А. Тогда это излучение будет дополни тельно возбуждать характеристическое излучение эле мента А. Такой же эффект дополнительного возбуждения связан с той частью тормозного спектра электронов, которая расположена в сторону коротких волн от основ ного края поглощения элемента А. Рассмотренные явле ния, нарушающие однозначное соответствие между
отношением интенсивностей и весовым содержанием элемента, необходимо учитывать количественно.
Решить эту проблему чисто теоретическим путем в на стоящее время не представляется возможным. Поэтому для установления однозначного соответствия между относительной интенсивностью линий и концентрацией используются полуэмпирические методы. При использо вании полуэмпирических формул необходимо располагать рядом численных параметров. Для получения последних необходимо тщательное экспериментальное изучение вза имодействия электронов с веществом, их углового и энер гетического распределений, определение численных значе ний коэффициентов фотоэлектрического поглощения для диапазона волн от —-1 до 259 А во всех элементах перио дической системы.
Большая часть статей настоящего сборника как раз посвящена обсуждению перечисленных выше вопросов.
В статьях Косслетта, Бишопа, Кастена и Энока, Дерьяна и Кастена экспериментально изучено изменение энер гии электронов при взаимодействии их с толстыми слоями вещества и связанное с ним изменение функций иониза ции с глубиной, распределение обратно рассеянных элек тронов по углам и по энергиям, а также описано приме нение расчета методом Монте-Карло характера проник новения электронов в толстые мишени.
В короткой, но обстоятельной статье Брауна |
дан |
обзор методов расчета распределения по глубине |
рент |
геновского излучения, возбужденного электронами, ко торое необходимо знать для понимания сложных физи ческих процессов, происходящих при взаимодействии электронов с атомами вещества. В работе Данкамба и Рида дан обзор работ, посвященных вычислению тор мозной способности и коэффициента обратного рассеяния электронов, и предложен хороший практический метод введения поправки на атомный номер при анализе эле ментов с атомными номерами, большими 12. Одной из лучших статей по методам введения поправки на эффект атомного номера является статья Пула. 13 ней на основа нии сравнения результатов расчетов с данными химиче ских анализов содержания элементов в стандартных образ цах выясняется точность и приемлемость теоретических формул, полученных различными авторами. В работе Филибера и Тиксье рассмотрены различные методы введе ния поправок, уточняются численные коэффициенты в
полученных ранее этими авторами формулах, приобрет ших в последнее время большую популярность. В рабо тах Ранзетты, Скотта и Хельгессона даны примеры машин ного расчета количественного содержания элементов в многокомпонентных сплавах. Большой фактический материал с подробным анализом ошибок при введении поправки на поглощение при количественном рентгеноспектральном анализе приведен в статье Гейнриха и Яковица. В статьях Хьюза и Вудхауза, а также Адлера и Голдстейна обсуждаются вопросы определения массовых коэффицентов поглощения.
В последующих статьях Хинка, Гейнриха и Яковица рассматриваются вопросы введения поправок за счет до полнительного возбуждения флуоресцентного спектра ана лизируемого элемента непрерывным излучением элемен тов, присутствующих в образце.
Две статьи, Рида и Хеенкампа, обсуждают одну из фундаментальных проблем метода — определение ло кальности микроанализа. Надо сказать, что материал этих двух статей полностью не охватывает содержание проблемы и поэтому относящиеся сюда вопросы будут рассмотрены также во втором, намечаемом к переводу, сборнике.
В краткой статье Коффмана и др. рассмотрено влияние
изменения |
длины волны, |
обусловленного химической |
|
связью, на |
результаты |
количественного анализа. По это |
|
му вопросу |
имеется |
очень |
большой материал. Однако |
в настоящий сборник включена лишь одна статья с целью обратить внимание исследователей на необходимость и важность учета этого явления.
Наконец, в статье Ватанабе рассмотрен метод микроанализа с помощью электронов, претерпевших ха рактеристические потери энергии, перспективный для опре деления легких элементов. Строго говоря, эти вопросы не относятся к тематике сборника. Однако оба метода явля ются новыми и существенно расширяют возможности микроанализа. Поэтому было сочтено целесообразным ознакомить специалистов по рентгеноспектральному микроанализу с состоянием дел в смежной области.
В заключение мы хотели бы отметить, что современ ное состояние теории количественного рентгеноспектраль ного локального анализа еще далеко от удовлетворитель ного. Каждый год появляются новые работы, уточняющие расчетные способы перехода от относительных интенсив-