Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Тарушкина Л.Т. Статистическая оценка параметров управляемых систем с помощью ЦВМ

.pdf
Скачиваний:
2
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
7.09 Mб
Скачать

В этом случае правило окончательного решения сводится к определению доверительной области (1.66) для неизвестного

параметра

qi =

Mq*.

 

 

 

 

 

 

Например, если для выборки объема Л 10 выборочное сред­

нее и стандартное отклонение выборки соответственно

равны

1,58

и

1,67,

то

доверительные

пределы

для

неизвестного

параметра

qc

=

Mq]

равны

1,58 ±

0,389^.

Для

доверительного уровня

р =

5%

получается доверительный

интервал 0,70 <

т <

2,46.

Оценка величины массива статистических данных одновременно обрабатываемого с помощью ЦВМ. Дадим оценку минимальному объему величины массива статистических данных, вводимого одновременно в память ЦВМ, при последовательном способе обработки. Для простоты будем считать, что все массивы R^ (X = = 1, Л) обрабатываются с помощью одного и того же составного решения, т. е. d x = d% — • • • = dA — d.

Предположим, что правило d дает состоятельную оценку для неизвестного параметра q, тогда значения'корреляционной функ­ ции Кц (^ - I , ^2 ) определяются величиной одновременно обрабаты­ ваемого массива данных.

Рассмотрим функционал

 

 

 

h

= t

£

\Кц(КЩ

 

 

или

функционал более

частного вида

 

 

 

 

 

 

Я=1 (=1

 

 

 

Если

массивы

статистических

данных R x

{к =

1, Л) таковы,

что

<

(i =

1, 2),

где

/ £

— некоторое

число, характеризу­

ющее допустимое

значение

для

функционала

 

тогда величина

объема массива

Rx выбрана правильно. В противном случае

следует

либо увеличить

величину

объема массива

R^, либо сни­

зить

требования

к точности

оценки параметра q.

 

Глава I I

СТАТИСТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ОЦЕНИВАНИЯ МОМЕНТОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ СЛУЧАЙНЫХ ПРОЦЕССОВ И ПОЛЕЙ

6. ОЦЕНИВАНИЕ МАТЕМАТИЧЕСКОГО ОЖИДАНИЯ и к о р р е л я ц и о н н о й ФУНКЦИИ СТАЦИОНАРНОГО СЛУЧАЙНОГО ПРОЦЕССА

Постановка задачи. Пусть X (t) — {Хг (t), . . ., Xl (t)) — из­ меряемая координата системы управления за время Т = [О, Т],

причем Xi (t) (i = 1, /) — стационарные и стационарно связан­ ные случайные процессы, обладающие свойством эргодичности.

Моменты распределения первых двух порядков процесса X (t) неизвестны. Обозначим через m.v = (tnlt . . ., tn^ неизвестный параметр' математического ожидания процесса X (t), /п,- =

=MXt (t); ql 7 неизвестный параметр, входящий в аналитиче­

скую структуру корреляционной функции

Ки

(г) = М [Xi (t +

г) -

mt]

[X, (t) -

m,l

 

 

Измеряемый

процесс

X It]

реальном

масштабе

времени

представляет собой одну реализацию процесса за время Т.

Таким образом,

известны:

 

 

 

 

 

 

1) реализация процесса X (f),

/ 6 Т;

 

 

 

 

2) аналитическая структура корреляционных функций Кц (т).

Требуется:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1) оценить параметры mA ., q,-; (i, j =

1, /), тем самым

опреде­

лить моменты распределения процесса

X (t);

 

 

 

2) дать оценку точности оценивания неизвестных параметров;

3) разработать

метод

оценивания

неизвестных

параметров

и на его основании построить алгоритм, обладающий

необходимой

точностью и предъявляющий к памяти ЦВМ минимальные тре­ бования.

Специфика в определении моментов распределения стационар­ ного процесса с помощью ЦВМ. Обработка стационарного про­ цесса X (f), обладающего свойством эргодичности, сводится к вы­

числению в ЦВМ следующих

интегралов: .

 

 

 

т

 

 

m) =

±r\Х^)<и,

'

(ИЛ)

т

 

о

 

 

 

 

 

 

* 1 / ( т ) = - И [XtV

+

4)-nt]

[XjM-m^dt,

(II.2)

о

 

 

 

 

41

где mi — несмещенная, состоятельная оценка для математиче­ ского ожидания пи; Kij (т) — асимптотически несмещенная, со­ стоятельная оценка для корреляционной функции Кп- (т) (i, / =

=hi)-

За время Т массив данных о процессе X (t) может оказаться столь большим, что одновременное введение его в память ЦВМ

для

вычисления интегралов

(II.2) предъявит к объему памяти

ЦВМ

неоправданно высокие

требования. Сократить

требования

к памяти ЦВМ можно либо получением рекуррентных

алгоритмов

обработки, либо разработкой методов последовательной обработки статистических данных (см. п. 5).

Суть

метода

последовательной

обработки

данных

состоит

в том, что в ЦВМ

вместо

интегралов

( I I . 1),

(II.2)

вычисляются

интегралы

 

 

 

 

 

тх

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Г Я - 1

 

 

 

 

 

 

*^ =

 

 

\

I х <

« +

- m i ]

 

i x i w - « , ]

dt.

 

 

 

 

Г Я - 1

 

 

 

 

 

 

 

где Тк =

[Tk_lt Т})

— промежуток

времени

поступления

в ЦВМ

массива

RK; Tt,

 

Tf

(i

j)

— непересекающиеся

промежутки

времени,

причем

Т =

Е

Т\.

 

 

 

 

 

 

 

Введем

следующие

обозначения:

 

 

 

 

 

 

 

 

_ ,

 

]

V.

 

 

,

 

 

 

 

 

Ш;ч

=

- = — V

(7\ — 7 \ _ i )

'Па,

 

 

 

Тогда

(II . 3)

Формулы (II.3) дают возможность рекуррентным способом получить в ЦВМ оценки m*iA, Kij а соответственно-для моментов

Рассмотрим методы оценивания неизвестных параметров кор­ реляционной функции Кц (т), т =f О (t, / = 1, /).

42

Применение преобразования Фурье к реализации измеряемого процесса. Обозначим через s,7 (со) спектральную плотность про­ цесса Хс (/), через S[j (со) — взаимную спектральную плотность для X,- (/), Xj (t). Так как аналитическая структура корреляцион­

ной функции

Ки

(т) известна, то известна

и аналитическая струк­

тура функций sn (со), sti (со).

 

 

 

 

 

 

 

 

Введем в

рассмотрение

спектральные

функции

 

 

 

 

 

 

 

 

 

со

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5 , / N

=

J s ^ K l d c o j .

 

 

 

 

(П.4)

 

 

 

 

 

 

 

—со

 

 

 

 

 

 

 

Известно

[11, 24], что для любых двух точек соъ

со2 , в которых

функция

Su

(со)

непрерывна,

имеет место

соотношение

 

 

 

 

со.

г

-

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

со,

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Покажем, что

имеет место более общее равенство

 

 

 

 

 

 

СО. г

 

 

г

 

 

 

 

 

 

 

l i m - g j L - Re J j е - 7 0 '*, . (/) dt J е - 1 ' 5 а Х / (s) ds dto =

 

7

' > r o

 

 

co,0

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

= S I / K ) - S i / ( < o 1 ) ,

 

 

 

 

(II.5)

где Re означает действительную часть.

 

 

 

 

 

 

Для этого рассмотрим

функцию

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

со

т

 

 

г

 

 

 

 

 

SijT

(со) =

- J L - Re J J е - ' " % (Q Л

{ Х,

(s) ds dco.

 

 

 

 

 

—со

0

 

 

0

 

 

 

 

 

Пусть

т — фиксированное

число, причем

|т| <

Т.

Тогда

 

 

со

 

 

 

 

Т—Т

 

 

 

 

 

 

 

 

j e ' W T d S , y r ( © ) = - ! -

J ХДг +

т ) * ^ ) * .

 

 

 

 

—со

 

 

 

 

О

 

 

 

 

 

 

 

При Т —> оо

в силу

эргодичности

процесса

X

(/)

получаем

Г - т

 

 

 

 

 

 

Г - т

 

 

 

 

 

l i m 4 г [ Х( . (/ + т) X; (0 Л = l i m -=-!— f Xt

(t + т) X,- (0 Л =

 

 

 

 

 

 

 

CO

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

/Ct ; (x) = J e " e T d S f /

( a ) ) .

 

 

 

 

Отсюда следует, что коэффициенты Фурье

функции

SiiT

(со) при

Т —> оо сходятся

к

коэффициентам Фурье

функции Su- (со), т. е.

во всех точках непрерывности функции Sn- (со) имеет место схо­

димость функции

SijT

 

(со) к функции

(со).

 

 

 

 

'

43

Для конечного

времени

наблюдения

оценка

 

 

 

(о,

 

т

 

 

 

 

 

~р-

Re J erttaXt(f)

dt j

ell»Xf

(s) ds dco

=

 

 

ш,

 

о

 

 

 

 

 

 

= s ; /

K ) - s * / ( C O 1 )

 

.6)

является

асимптотически

несмещенной

и

состоятельной [6, 21 ]

для спектральных

функций

Sn- (со2 ) —

Su

(coj).

 

Обозначим

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.

«•*

тх

 

 

Ч

 

F*

, со2> ©j) = Re

J

J e~'/ B X( . (t) dt J e ' s % ( s ) ds,

 

 

л

 

_

 

 

 

 

 

S ^* (X,

co2, со,) =

(v,

coa.cox), 1 =

v < A . .

 

?.=i

 

 

 

 

 

 

Тогда имеем следующее рекуррентное соотношение для обработки

массивов

R v (v =

1,

Л):

 

 

 

 

 

 

 

 

F* (v,

со2,- со,) =

Z7* (v —

1, co2,

со,) +

F* (v, co2)

coj.),

(II.7)

при этом

оценка

(11.6)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S],

(co2) -

S*,- (со,) =

 

 

Г (Л, co2) со,).

 

(II.8)

Алгоритм вычисления спектральной плотности сводится к сле­

дующему.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1. Зададим полосу частот

[ Я х ,

Я 2

] , в которой

рассматривается

спектральная плотность st / (со) (/,

i

=

l,

I).

 

 

 

2. Разобьем промежуток

[Я,,

Я 2 ]

точками

дробления

 

 

Я 1 ^ с о ч 1 < с о 2 < - - - < с о Л / ^ й 2 .

 

 

 

Если априорные сведения о спектральной плотности

s(/- (со)

ограничиваются 'знанием ее аналитической структуры,

тогда

точки со,- берутся равномерно по

всему промежутку

[ Я 2 ,

Q , ] .

Общее число точек

ak

(k — 1, N)

должно

быть

не меньше, чем

размерность неизвестного параметра, входящего в спектральную

плотность

S/j (со),

максимальное их число-определяется допусти­

мым временем решения задачи на ЦВМ.

 

 

 

3.

На

каждом

массиве Rv (v =

1, Л) для

каждой

пары ча­

стот сой,

в

ЦВМ вычисляются функции

F*

(v,

соА, С0А_Х ),

F* (v,

соА,

C O ^ j ) .

 

 

 

 

 

4.

Обработав

последовательно

все массивы

статистических

данных Rv (v =

1, Л), составим функционал

 

 

 

 

 

N

 

' ША

 

 

 

 

 

Л=1

 

 

 

 

44

где спектральная плотность sn (со) представляется в виде ее ана­ литической структуры и, следовательно, содержит в себе неизвест­ ный многомерный параметр. Для определенности будем считать,

что q,;- =

х,

.

. .,

ar)

— неизвестный

параметр

спектральной

плотности

Sjj (со)

и

ат£.

Ат—область

допустимого

изменения

параметра

ат

(in —

1,

г].

 

 

 

Найдем минимальное значение функционала (II.9)

Vm по всем

значениям ат£_ А,п

 

 

 

 

 

Пусть

Vm

<

е,

где

е > 0 — заданное число,

характеризу­

ющее допустимую точность в определении параметров,

входящих

в спектральную плотность s{/- (со), и пусть

Vm достигается при зна­

чениях параметров ат

=

Ьт. Тогда наилучшими оценками в смысле

среднего квадратического для неизвестных параметров спектраль­ ной плотности будут значения ат = Ьт = 1, г).

Пусть Vm > е. Тогда либо допустимая точность в определении параметров завышена, либо время наблюдения Т мало. Если точность уменьшить нельзя, следует увеличить время наблюдения.

Отметим следующие особенности алгоритма.

1. Алгоритм вычисления упрощается, если аналитическая структура спектральной плотности s,.;- (со) определена так, что

интеграл

J sn-

(со) с/со вычисляется аналитически.

 

2. То,

(0,

в ' алгоритме промежутки частот

(.со,-, со1 + 1 ),

что

(coy, соу-+1) ({ =f })

не пересекаются, не является принципиальным.

Основным преимуществом данного метода является

рекуррент­

ность процедур вычисления относительно массивов статистических данных. Вместе с тем, в памяти ЦВМ требуется хранить массив

величин F (v, coft, со^) (k

= 1, ./V).

 

Другим

методом оценки

спектральной плотности

s(/- (со), при­

меняющим

преобразование

Фурье к реализации

измеряемого

процесса X (t), является метод периодограмм, согласно которому при последовательной обработке массивов статистических данных

на каждом массиве

Rx

(Я =

1, Л) требуется вычислить

статистику

 

 

тх

тх

 

 

t l x Й

=

~ k r J

е "''ш 'х < Wd t 1

& d s '

<п- 1 0 )

 

 

TX-i

TX-i

 

 

являющуюся асимптотически несмещенной, но не состоятельной оценкой для спектральной плотности [24].

Оценка

(11.10)

получена дифференцированием оценки

(П.6)

тю частоте

со2 . В

[11] указывается на недопустимость

такой

процедуры, там же приведены примеры, при которых оценка (11.10) не дает должного результата. Однако оценкой (11.10) широко пользуются [24]. Для улучшения статистики (11.10) используются весовые функции w (со).

45

Обозначим

''1 Я=1

Тогда в качестве оценки спектральной плотности s(/- (со) пред­ лагается взять оценку [24]

 

s ir/ И

=

I а; (со —

сох) /

•/ К )

d(o b

где весовыми функциями

являются:

 

 

для

«усеченной

оценки»

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.

s m -

 

 

 

 

 

до (со)

••

 

 

для

видоизмененной

оценки

Бартлетта

 

w И

= nJm

i ( т + ^

) и ~

( r -

T

J 1 0

c o s c o ^ + 2 s i n w ^ ) ;

для

оценки Хэмминга

 

 

 

 

 

 

до (со)

= 0,54 smaTx

0,46

со sin со 7\

 

 

2 л

о

 

 

 

Заметим, что данный метод эквивалентен предыдущему в смысле требований, предъявляемых к памяти ЦВМ.

Метод неканонических разложений процессов при оценке спек­ тральных плотностей. Неканонические разложения стационар­ ного процесса X,- (t) определяются разложением (1.41)

Xt (1) = ml + vu cos (Hjt -f- vu sin со/ . •

Заметим, что при рассмотрении одномерного стационарного процесса число случайных величин, входящих в неканоническое разложение, может быть сокращено до двух [31 ] : v u = vn.

Нетрудно видеть, что процессы XL (t), Xj (t) являются ста­ ционарно связанными в том и только в том случае, если выпол­ няются следующие условия

 

 

МьиУц =

Mv2iVojt

 

 

МьииЛ1 = 0, М^ьц — О I

(11.11)

с

вероятностью 1

(»' Ф /),

 

 

 

 

 

 

 

со. = щ/ =

а>.

( П . 12)

 

Для стационарных

и стационарно связанных процессов Xt (t),

Xj

(t) корреляционная

функция

 

 

 

К и (г) = MvuvuM

cos сот.

(П.13)

46

Значения моментов mlt Кц (0) вычисляются в ЦВМ по форму­

лам

(П.З).

 

 

 

 

 

 

Аналогично соотношению (1-42) имеет место более общее соот­

ношение

 

 

 

 

 

 

 

 

sti(<*) =

Ku(0)p(<o)

(i, /

=

177),

(11.14)

где

р (со) —

плотность

распределения

случайной

величины со,

обладающая

свойством

четности

р (со) =

р (—со),

при этом

 

 

р(со)

2 я а 7 / 1*

КцЮ е

 

асо.

(11.15)

Из условия (11.14) следует, что аналитическая структура спек­ тральной плотности stj (со) определяется аналитической струк­

турой

плотности

распределения

р (со).

 

Рассмотрим аналитическую структуру наиболее часто встре­

чающихся

плотностей

распределения,

удовлетворяющих усло­

вию

(11.15).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1.

Нормальное

распределение

 

 

(0 =

 

 

 

 

 

 

 

 

р (со) = У 2л. а

 

(11.16)

 

 

 

 

 

 

 

• 2а-'

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

ст2 — Мсо2 —-неизвестный

момент

распределения.

2.

Равномерное

распределение

в

симметричном

относительно

начала промежутке

[—с,

с]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

при

co«s; с,

 

 

 

 

 

р (со):

 

 

при

C<COs

(11.17)

 

 

 

 

 

 

 

0

 

при

с о > с ,

 

 

 

где Мсо = 0 ,

Мсо2

=

 

 

 

неизвестный момент распределения,

определяемый

значением

параметра

с.

 

 

3.

Распределение

Симпсона

в

промежутке [—2с,

2с]

 

 

 

 

 

(

 

0

 

при

со ;=> —-2с,

 

 

 

 

 

 

 

2с - f со

при

— 2 с < с о ^ 0 ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(11.18)

 

 

 

р(со) =

 

со

при

0 <

со < 2с,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

при

со>-2б',

 

где

Мсо =

0,

/И со2

=

 

 

— неизвестный момент

распределе­

ния, определяемый значением параметра с.

 

4.

Распределение

Стьюдента

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k+l\

 

 

 

 

 

* + i

 

 

 

 

Р(С0):

 

V

kn

 

 

 

 

 

(k>2),

(11.19)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

47

где Г — гамма-функция; Мсо = 0; Мсо3 = k _ 2 — неизвестный

момент распределения, определяемый значением параметра /е. Таким образом, для всех перечисленных плотностей распре­ деления (а они являются основными) неизвестным параметром плотности распределения р (со) является значение момента Мсо2 , вычислив который определим из соотношения (11.14) спектральную

плотность S/j (со).

Допустим, что X,- (t) — дифференцируемый процесс и XI (t) —

его производная.

Тогда

 

 

 

MX?(t)

=

MX Г (0) = Mvh Мсо2 = Ки (О)'Мсо2.

Если процесс

X '

(t) является

эргодическим, то

 

 

 

 

г

 

 

MX'\i)

= l i m - j r

\x?(i)dt.

 

 

 

Г->со

о

 

При конечном времени

наблюдения

интеграл

 

 

 

 

т

 

 

 

M*X?(t)

= -T

о

\x?(t)dt

 

 

 

 

 

является асимптотически несмещенной и состоятельной оценкой для момента M X ; 2 (t).

Таким образом, если аналитическая структура функции опре­

деляется одним из соотношений

(11.16)—(11.19), то, вычислив

в ЦВМ значения величин MX? (t),

Ка (0), получим значение для

момента Мсо2 , а тем самым и значение для спектральной плотности

процесса

X j (/). Момент

MX? (t)

вычисляется в ЦВМ по рекур­

рентным

соотношениям,

поэтому требования, предъявляемые

к памяти

ЦВМ, минимальны.

 

Данный алгоритм является частным случаем более общего

алгоритма. Пусть спектральная

плотность s/y- (со) определяется

*соотношением (ПЛ4), в котором аналитическая структура функ­ ции р (со) содержит п неизвестных параметров. Предположим, что

существуют конечные моменты Мсо2 " порядка 2и, где и — 1, п: Для оценки параметров спектральной плотности su (со) вычислим в ЦВМ интегралы

гг

~\xk(t)dt,

 

-^\xi(l)Xj(t)dl,

о

о

 

г

 

 

^\Х}Г)

(t)X\s)

(t)dt,

о

 

 

где г + s

и.

48

 

Используя соотношение

 

 

 

 

 

 

MX\r) (t) X J S )

(t) =

Кц (0) MoT < r + s ) ,

 

определим

момент Ma2

(r+s).

 

 

 

 

 

'Так как

 

 

оо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

M o r (

r + s ) =

J

co2 ( r + s ) p(co)dco,

 

то

отсюда

получаем

 

—от

для

определения

неизвестных

уравнения

параметров функции р (со).

 

 

 

 

 

Отметим, что

метод

неканонических

разложений

предъявляет

к

памяти

ЦВМ

минимальные требования, однако требует доста­

точной гладкости процесса X (t).

Оценка параметров корреляционной функции по значениям выбросов случайных процессов. Рассмотрим метод оценки пара­ метров корреляционной функции Кх (т) одномерного стационар­ ного процесса X (t), имеющего нормальный закон распределения.

Представим корреляционную

функцию

в виде

 

 

 

 

 

 

 

 

Кх

(т) =

Кх (0) р (т),

 

 

 

где

р (0) =

1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Предположим, что процесс X (f) можно дифференцировать.

Тогда существует момент р" (0).

 

 

 

 

 

 

Аналитическую

структуру

функции

р (т)

зададим в виде от­

резка

ряда

Маклорена. Учитывая, что

р' (0)

= 0,

имеем

 

 

 

 

 

 

 

р(т) =

1 + ~ р " ( 0 ) ,

 

 

 

{

р" (0) — неизвестный

параметр.

 

 

 

 

 

где

 

 

 

 

 

 

Так как

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Kl(0)=Kx(0)p"(0)

 

=

MX'2(t),

 

 

то,

оценив

значения моментов Кх (0),

MX'2

(t),

определим

зна­

чение неизвестного параметра р" (0). Однако процедуру вычисле­

ния

момента MX'2

(t),

связанную

с дифференцированием

про­

цесса

X (t),

можно обойти. Рассмотрим среднее число положи­

тельных выбросов процесса X (t) за время Т над уровнем с. За­

метим, что выброс процесса X

(t) над уровнем с в точке tL считается

положительным,

если

производная

X'

>

0.

Согласно

[30 ]

имеем, что

среднее

число положительных выбросов п+ (с)

равно

 

 

 

" +

(с) =

in

К - Р " ( 0 )

<T~^W

 

 

(11.20)

Подсчитав с помощью ЦВМ по реализации процесса X (t) число выбросов за время Тх для одного или нескольких уровней с, получим статистику nf (с). После обработки всех массивов ста-^

4

Л . Т. Тарушкин|а

49

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ