- •Зиновьев в. Г., Карпов в. В., Фиалковский о, п. Процессы полупроводниковых производств
- •Часть I
- •Содержание
- •1. Общие вопросы полупроводникового производства
- •1.1. Области применения полупроводниковых материалов
- •Классификация полупроводниковых приборов
- •Преобразователи внешних воздействий:
- •1.2. Общие задачи, решаемые в технологии полупроводниковых материалов
- •Соблюдение производственной чистоты
- •Обеспечение микроклимата
- •Подготовка основных и вспомогательных материалов, используемых в полупроводниковом производстве. Требования к материалам
- •Параметры воды
- •2. Процессы кристаллизации
- •2.1. Гомогенная кристаллизация
- •2.2. Гетерогенная кристаллизация
- •3. Методы выращивания полупроводниковых монокристаллов
- •3.1. Методы выращивания объемных монокристаллов из расплава
- •3.1.1. Тигельные методы
- •Метод горизонтальной зонной плавки.
- •Метод вертикальной зонной плавки.
- •3.1.2. Форма кристаллов. Псевдограни.
- •3.1.3. Бестигельные методы получения монокристаллов
- •Метод Вернейля.
- •Метод гарниссажной плавки.
- •Метод вытягивания с пьедестала.
- •Бестигельная зонная плавка.
- •Метод плавки в холодном тигле.
- •3.2. Методы получения монокристаллов из растворов-расплавов
- •Метод зонной плавки в температурном градиенте.
- •3.3. Методы получения монокристаллов из газовой фазы
- •Метод сублимации - конденсации
- •Метод газового транспорта
- •Метод кристаллизации вещества, синтезированного в газовой фазе
- •3.4. Методы получения профилированных кристаллов
- •4. Распределение примесей в процессах кристаллизации
- •4.1. Равновесный коэффициент распределения
- •4.2. Эффективный коэффициент распределения
- •4.3. Особенности распределения примеси по длине кристалла, получаемого из расплава
- •4.3.1. Направленная кристаллизация
- •Равновесная кристаллизация (рис. 40,а).
- •Неравновесная кристаллизация (рис. 40,б).
- •Зонная плавка.
- •Список литературы
- •Часть I
-
Подготовка основных и вспомогательных материалов, используемых в полупроводниковом производстве. Требования к материалам
К исходным материалам предъявляются повышенные требования по чистоте.
-
Основные материалы: металлы и неметаллы (сами полупроводниковые материалы, легирующие элементы, входящие в их состав, производятся на специальных предприятиях).
Применяются материалы ОСЧ (особой степени чистоты), получаемые комплексными методами очистки (дистилляция, экстракция, ректификация, электролитическое рафинирование, вакуумная переплавка и др.). Пример: Ga особой степени чистоты содержит не более 10-5 масс. %.
Для контроля чистоты материалов используются методы нейтронно-активационного, масс-спектрального анализа, а на производстве – методы электрофизических измерений.
-
Вспомогательные материалы включают в себя: контейнерные материалы, газы, воду, реактивы.
Контейнерные – материалы тиглей, ампул, лодочек и других элементов технологической оснастки. К ним предъявляются требования повышенной химической инертности, чистоты и механической стойкости. Применяются в основном кварц и графит.
-
Кварц может использоваться в окислительных и восстановительных средах, обладает низким коэффициентом термического расширения (КТР) и позволяет проводить процессы до 13000С (размягчается), а в случае поддержки – до 15000С, выдерживает резкие перепады температур. Химически инертен по отношению ко многим полупроводниковым материалам, растворим в плавиковой кислоте.
Недостатки:
-
загрязняет расплав полупроводникового материала кислородом и кремнием, хотя, расплавы Ge, InSb не взаимодействуют с SiO2;
-
хорошо смачивается расплавами полупроводников и поэтому требует покрытия элементов оснастки, находящихся в контакте с расплавом, тонким слоем пиролитического углерода.
-
Графит позволяет проводить процессы вплоть до 25000С, легко обрабатывается (возможно изготовление изделий сложной конфигурации).
Недостатки:
-
не все расплавы выдерживают контакт с графитом без загрязнения (химическая активность при повышенных температурах);
-
имеет развитую пористость (высокая адсорбционная способность);
-
требует дегазации перед использованием, т.к. при нагревании с поверхности выделяются адсорбированные газы, загрязняющие рабочую атмосферу установок. Не применяется в кислородосодержащих средах.
Марки применяемого графита: МПГ-7, МПГ-8 (плотный мелкозернистый графит). Для закрытия пор графит покрывают слоем пироуглерода.
-
Новые контейнерные материалы: AlN, BN Si3N4. Имеют высокие температуры плавления, химически инертны, прочны.
Недостатки:
-
высокие температуры получения материалов ограничивают их чистоту;
-
высокая стоимость.
Для ликвидации недостатков, связанных с использованием контейнеров применяют, где это возможно, бесконтейнерные технологии.
-
Вода является одним из основных вспомогательных материалов, и к ней предъявляются повышенные требования. Используется для приготовления травильных растворов, отмывки поверхностей кристаллов и т.д.
Основными показателями качества воды являются:
-
удельное сопротивление;
-
окисляемость (характеризует содержание растворимых в ней органических веществ). Оценивается по количеству О2 для их окисления;
-
содержание кремниевой кислоты;
-
содержание микрочастиц диаметром более 1мкм;
-
содержание микроорганизмов.
По этим показателям вода маркируется литерами А, Б, В (табл. 4.).
Таблица 4.