- •Зиновьев в. Г., Карпов в. В., Фиалковский о, п. Процессы полупроводниковых производств
- •Часть I
- •Содержание
- •1. Общие вопросы полупроводникового производства
- •1.1. Области применения полупроводниковых материалов
- •Классификация полупроводниковых приборов
- •Преобразователи внешних воздействий:
- •1.2. Общие задачи, решаемые в технологии полупроводниковых материалов
- •Соблюдение производственной чистоты
- •Обеспечение микроклимата
- •Подготовка основных и вспомогательных материалов, используемых в полупроводниковом производстве. Требования к материалам
- •Параметры воды
- •2. Процессы кристаллизации
- •2.1. Гомогенная кристаллизация
- •2.2. Гетерогенная кристаллизация
- •3. Методы выращивания полупроводниковых монокристаллов
- •3.1. Методы выращивания объемных монокристаллов из расплава
- •3.1.1. Тигельные методы
- •Метод горизонтальной зонной плавки.
- •Метод вертикальной зонной плавки.
- •3.1.2. Форма кристаллов. Псевдограни.
- •3.1.3. Бестигельные методы получения монокристаллов
- •Метод Вернейля.
- •Метод гарниссажной плавки.
- •Метод вытягивания с пьедестала.
- •Бестигельная зонная плавка.
- •Метод плавки в холодном тигле.
- •3.2. Методы получения монокристаллов из растворов-расплавов
- •Метод зонной плавки в температурном градиенте.
- •3.3. Методы получения монокристаллов из газовой фазы
- •Метод сублимации - конденсации
- •Метод газового транспорта
- •Метод кристаллизации вещества, синтезированного в газовой фазе
- •3.4. Методы получения профилированных кристаллов
- •4. Распределение примесей в процессах кристаллизации
- •4.1. Равновесный коэффициент распределения
- •4.2. Эффективный коэффициент распределения
- •4.3. Особенности распределения примеси по длине кристалла, получаемого из расплава
- •4.3.1. Направленная кристаллизация
- •Равновесная кристаллизация (рис. 40,а).
- •Неравновесная кристаллизация (рис. 40,б).
- •Зонная плавка.
- •Список литературы
- •Часть I
-
Равновесная кристаллизация (рис. 40,а).
При равновесной кристаллизации составы твердой и жидкой фаз в любой момент времени должны определяться диаграммой состояния, а, следовательно, градиенты концентраций в любой из фаз в каждый момент времени отсутствуют. Значит, скорость кристаллизации должна быть настолько мала, чтобы успевала протекать выравнивающая диффузия в обеих фазах. По мере роста кристалла составы фаз будут в каждый момент времени определяться «правилом рычага»:
, (39)
где С0 – начальная концентрация примеси в расплаве.
Исходя из вышеизложенного, после того, как расплав полностью закристаллизуется, концентрация примеси в нем примет значение С0. Следовательно, добиться в кристалле концентрации отличной от С0 можно лишь тогда, когда в какой-то момент времени из системы будет удалена одна из фаз.
-
Неравновесная кристаллизация (рис. 40,б).
Распределение примеси по слитку, полученному в процессе направленной кристаллизации, выведем в рамках допущения Пфанна:
-
Диффузия примеси в твердой фазе пренебрежимо мала (Dтв. = 0),
-
Вне диффузионной области концентрация примеси в жидкой фазе постоянна (вне диффузионной области Dж. = ).
-
Объемные изменения при кристаллизации примеси отсутствуют.
-
Изменением состава жидкой фазы за счет взаимодействия с внешней средой можно пренебречь.
-
Коэффициент распределения примеси – величина постоянная.
Допустим, что:
-
– общее количество примеси в расплаве в начальный момент времени ;
-
– общее количество примеси в расплаве в момент времени ;
-
– исходная постоянная концентрация примеси в расплаве;
-
– концентрация примеси в кристалле на границе с расплавом.
В процессе роста кристалла объем и доля закристаллизовавшейся части расплава изменяются в пределах , соответственно. Тогда:
За время доля объема расплава изменяется на , общее количество примеси в расплаве изменяется на а, следовательно, текущее значение концентрации в твердой фазе составит (перенос вещества из жидкой фазы в твердую и движение фронта кристаллизации происходит в противоположных направлениях). Тогда, приравнивая , получим:
или . (40)
Проинтегрируем выражение(40):
(41)
После интегрирования получим:
или (42)
Потенцируя выражение (42) получим решение:
(43)
Выразим полученную зависимость через концентрации, предполагая постоянство поперечного сечения слитка по длине:
(44)
и т.к. , окончательно получим:
. (45)
Рис. 43. Распределение примеси по длине кристалла при различных значениях , полученное в результате направленной кристаллизации.
Уравнение (45) справедливо для объемных концентраций с учетом третьего допущения Пфанна, а так же для концентраций выраженных в мольных долях. Без учета третьего допущения Пфанна для объемных концентраций уравнение принимает вид:
, (46)
где ж. и тв. – плотности жидкой и твердой фаз, соответственно.
Как показано на рис. 43, чем больше отличается от единицы, тем больше неоднородность распределения примеси по длине кристалла.
При ,
а при (знак определяется величиной .)
Неоднородность распределения примеси можно использовать как для очистки полупроводникового материала, так и для получения более однородного распределения примеси о чем мы поговорим ниже.
При нарушении второго и четвертого приближений Пфанна распределение будет отличаться от приведенного концентрационного профиля, приведенного на рис. 43.
Принципиальным недостатком метода является его однократность. Для того чтобы очистить кристалл более чем в раз необходимо удалить загрязненную часть слитка и снова провести направленную кристаллизацию.