- •Зиновьев в. Г., Карпов в. В., Фиалковский о, п. Процессы полупроводниковых производств
- •Часть I
- •Содержание
- •1. Общие вопросы полупроводникового производства
- •1.1. Области применения полупроводниковых материалов
- •Классификация полупроводниковых приборов
- •Преобразователи внешних воздействий:
- •1.2. Общие задачи, решаемые в технологии полупроводниковых материалов
- •Соблюдение производственной чистоты
- •Обеспечение микроклимата
- •Подготовка основных и вспомогательных материалов, используемых в полупроводниковом производстве. Требования к материалам
- •Параметры воды
- •2. Процессы кристаллизации
- •2.1. Гомогенная кристаллизация
- •2.2. Гетерогенная кристаллизация
- •3. Методы выращивания полупроводниковых монокристаллов
- •3.1. Методы выращивания объемных монокристаллов из расплава
- •3.1.1. Тигельные методы
- •Метод горизонтальной зонной плавки.
- •Метод вертикальной зонной плавки.
- •3.1.2. Форма кристаллов. Псевдограни.
- •3.1.3. Бестигельные методы получения монокристаллов
- •Метод Вернейля.
- •Метод гарниссажной плавки.
- •Метод вытягивания с пьедестала.
- •Бестигельная зонная плавка.
- •Метод плавки в холодном тигле.
- •3.2. Методы получения монокристаллов из растворов-расплавов
- •Метод зонной плавки в температурном градиенте.
- •3.3. Методы получения монокристаллов из газовой фазы
- •Метод сублимации - конденсации
- •Метод газового транспорта
- •Метод кристаллизации вещества, синтезированного в газовой фазе
- •3.4. Методы получения профилированных кристаллов
- •4. Распределение примесей в процессах кристаллизации
- •4.1. Равновесный коэффициент распределения
- •4.2. Эффективный коэффициент распределения
- •4.3. Особенности распределения примеси по длине кристалла, получаемого из расплава
- •4.3.1. Направленная кристаллизация
- •Равновесная кристаллизация (рис. 40,а).
- •Неравновесная кристаллизация (рис. 40,б).
- •Зонная плавка.
- •Список литературы
- •Часть I
1.2. Общие задачи, решаемые в технологии полупроводниковых материалов
Задачи определяются требованиями к материалам, используемым для производства приборов.
-
Обеспечение высокой степени чистоты получаемых материалов. Чтобы материал обладал свойствами собственного полупроводника суммарное содержание примесей не должно превышать 10-7 ÷ 10-8 масс. %. На практике при получении легированных материалов содержание «неконтролируемых» примесей снижают до 10-5 ÷ 10-6 масс. %.
Высокая степень чистоты обеспечивается:
-
созданием высоко гигиеничных условий производства;
-
использованием основных и вспомогательных материалов высокой чистоты;
-
высокой квалификацией инженерно-технического персонала.
-
Обеспечение требуемых физических характеристик материала с высокой степенью однородности свойств достигается:
-
использованием легирующих примесей;
-
применением специальных технологических приемов, обеспечивающих высокую однородность распределения этих примесей в объеме получаемых кристаллов.
-
Обеспечение высокого структурного совершенства получаемых полупроводниковых материалов достигается:
-
созданием необходимых тепловых условий роста кристалла и его охлаждения;
-
применением специальных технологических приемов, обеспечивающих стехиометрию получаемого соединения и т.д.
Высокая степень чистоты полупроводниковых материалов обеспечивается: соблюдением производственной чистоты; обеспечением микроклимата; подготовкой основных и вспомогательных материалов, используемых в полупроводниковом производстве.
-
Соблюдение производственной чистоты
Исходя из вышеперечисленных задач, все операции с полупроводниковыми материалами должны проводиться в производственных помещениях, отвечающих жестким требованиям по чистоте и микроклимату. Известно, что в городе концентрация пыли в воздухе составляет более 105 л-1. Пыль обладает высокой адсорбционной способностью и при повышении температуры выделяет адсорбированные вещества. Поэтому при организации производства необходимо обеспечить правильное расположение, как самого производства, так и правильный выбор конструкции производственных помещений, и их взаимное расположение. Полупроводниковые предприятия удобно размещать в зеленых зонах. Конструкция здания должна обеспечивать герметизацию производственного помещения.
По категории чистоты производственные помещения разделены на 5 классов. Для полупроводникового производства пригодны помещения первых трех классов (табл. 2.).
-
Обеспечение микроклимата
Помещения по микроклимату для каждого класса чистоты должны отвечать определенным требованиям (табл.3.).
Для осуществления ответственных технологических операций с полупроводниковыми материалами на предприятиях организуются гермозоны (помещения 2 класса чистоты и 2 категории микроклимата) в которые подается очищенный воздух с избыточным давлением Pизб.=20÷50 Па. Создаваемый подпор чистого воздуха предотвращает подсос грязного воздуха в помещение.
Таблица 2.
Классы чистоты производственных помещений полупроводниковых предприятий
Класс чистоты |
Содержание пылинок размером d>0,5мкм, л-1 |
1 (особо чистое производство) |
4 |
2 |
35 |
3 |
350 |
4 |
3500 |
5 |
По санитарным нормам |
Таблица 3.
Климатические нормы для помещений разных классов чистоты
Категория микроклимата |
Температура, 0С |
Относительная влажность, % |
|
Зима |
Лето |
||
1 |
211 |
231 |
455 |
2 |
202 |
232 |
4515 |
3 |
По санитарным нормам |
Температурно-влажностный режим обеспечивается кондиционированием воздуха, подаваемого в помещение.
Подаваемый в гермозону воздух проходит три ступени очистки:
-
грубая очистка – в месте забора воздуха;
-
тонкая очистка;
-
специальная очистка (электростатическая, сорбционная).
Вход в гермозону осуществляется по специальным пропускам. Персонал снимает общезаводскую одежду в помещении 1, проходит по тамбуру 2 в комнату личной гигиены с душем 3, потом в помещении 4 надевает чистую одежду и по обдуваемому тамбуру 5 направляется в чистую комнату 6. Дверь между помещениями 5 и 6 раздвижная. Выход осуществляется в обратном порядке.
Поскольку в гермозонах из-за их большой площади не удается создать необходимые условия для помещений 1 класса чистоты, то внутри гермозоны создаются чистые комнаты (помещения 1 класса чистоты) (рис. 2,а) от остального пространства они также отделены системой вспомогательных помещений, аналогичной системе изоляции гермозоны. Основное отличие – отсутствие душа в комнате личной гигиены. В чистых комнатах производятся самые ответственные операции (загрузка и выгрузка пластин в технологические установки, фотолитография и т.п.). Через чистую комнату продувается очищенный воздух. Режим движения воздушных потоков должен быть ламинарным, а их скорость 0,2-0,5 м/с. В чистой комнате давление воздуха несколько выше, чем в окружающем помещении для предотвращения подсоса из него.
В чистой комнате воздухообмен организуется по схеме, представленной на рис. 2,б.
Фальшпол выполняется в виде перфорированной поверхности.
Конструкционные материалы чистых комнат должны быть пылеотталкивающими, пожаро- и водостойкими и т.д.
Иногда экономичнее организовать в гермозоне «чистые места», используя пылезащитные камеры или скафандры (оформленные по принципу чистой комнаты), при этом оператор находится вне «чистого места», и через специальные шлюзы вводит в него только руки.
В производственных помещениях проводятся влажные уборки – мытье полов (1 раз в смену) и стен (1 раз в неделю).
Рис. 2. Чистая комната: а – расположение чистой комнаты в гермозоне (вид сверху), б – организация в ней вентиляции и в – внешний вид чистой комнаты. Гардеробы для общезаводской (1) и чистой (4) спецодежды, 2,5 – обдуваемые сверху тамбуры, 3 – комната личной гигиены, 6 – рабочее помещение чистой комнаты, 7 – тамбуры связи для подачи материалов, 8 – фильтры тонкой очистки воздуха в фальшпотолке, 9 – рециркуляционный насос, 10 – окно для пристыковки оборудования, 11 – фальшпол, 12 – окно для выхода воздуха.