- •Елена Осиповна Федосеева Галина Павловна Федосеева основы электроники и микроэлектроники
- •Роль и значение электроники
- •Классификация электронных приборов
- •Краткий исторический обзор развития электроники
- •Раздел 1. Полупроводниковые приборы
- •Глава 1.1. Электропроводность полупроводников
- •Строение и энергетические свойства кристаллов твердых тел
- •Электропроводность беспримесных полупроводников
- •Электропроводность примесных полупроводников
- •1.1.4. Дрейфовый и диффузионный токи в полупроводниках
- •Глава 1.2. Электронно-дырочный переход
- •Электронно-дырочный переход при отсутствии внешнего напряжения
- •Электронно-дырочный переход при прямом напряжении
- •Электронно-дырочный переход при обратном напряжении
- •Полупроводниковые диоды
- •Устройство полупроводниковых диодов
- •Принцип действия, характеристики и параметры выпрямительных диодов
- •Стабилитроны
- •Импульсные диоды
- •Варикапы
- •Глава 1.4. Биполярные транзисторы
- •Устройство и принцип действия транзисторов
- •Схемы включения и статические характеристики транзисторов
- •Параметры транзисторов
- •Типы транзисторов и система их обозначений
- •Глава 1.5.
- •Глава 1.6.
- •Симметричные тиристоры
- •Параметры и типы тиристоров
- •Глава 1.7.
- •Вольт-амперная характеристика опт
- •Раздел 2. Электронные лампы
- •Глава 2.1.
- •2.1.2. Виды электронной эмиссии
- •Движение электрона в электрическом поле
- •Глава 2.2.
- •Параметры триода
- •Глава 2.3.
- •6 Рис. 2.11. Условное графическое обозначение тетрода (а) и схема ёго включения (б)
- •0 Первичные элентроны
- •Лучевой тетрод
- •Раздел 3.
- •Глава 3.1.
- •Электроннолучевая трубка с электростатическим управлением
- •Принцип получения изображения на экране осциллографической трубки
- •Электроннолучевая трубка с магнитным управлением
- •Параметры и система обозначений электроннолучевых трубок
- •Передающие телевизионные электроннолучевые трубки
- •Глава 3.2.
- •Виды фотоэффекта. Фотоэлектронная эмиссия
- •Vo тавив сюда значе]
- •Законы фотоэлектронной эмиссии и характеристики фотокатода
- •Фотоумножитель. Устройство и принцип действия
- •Характеристики однокаскадного фотоумножителя
- •Глава 3.3.
- •Фоторезисторы и фотогальванические элементы
- •Фотодиоды
- •Фототранзисторы и фототиристоры
- •Глава 3.4.
- •3.4.3. Типы светодиодов и их применение
- •Раздел 4. Газоразрядные приборы
- •Глава 4.1.
- •Раздел 5.
- •Глава 5.1.
- •Глава 5.2.
- •5.2.1 Основные понятия микроэлектроники
- •Глава 5.3.
- •Глава 5.4.
Глава 5.2.
ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
5.2.1 Основные понятия микроэлектроники
Микроэлектроника представляет собой современное направление электроники, которое охватывает проблемы, связанные с исследованием, разработкой, изготовлением и применением микроэлектронных устройств, т. е. электронных изделий с высокой степенью микроминиатюризации.
Главная особенность микроэлектроники — отказ от применения дискретных электрорадиодеталей. Вместо отдельных диодов, транзисторов, резисторов и др. в микроэлектронике используется принцип интеграции, т. е. объединения всех элементов и соединяющих их проводников в едином групповом технологическом процессе изготовления функциональных узлов и устройств микроэлектронной аппаратуры. Эти изделия микроэлектроники носят название интегральных микросхем.
Интегральная микросхема (ИМС) выполняет определенную функцию преобразования сигнала и представляет собой единое целое с точки зрения изготовления, упаковки, транспортировки и эксплуатации. Все ее элементы и соединительные проводники формируются в процессе изготовления в микрообъеме твердого тела — полупроводникового кристалла — или на поверхности подложки и имеют общую герметизацию и защиту от внешних механических воздействий и влаги. Количество элементов, или степень интеграции, в микросхеме может составлять тысячи и сотни тысяч в одном кристалле.
Микроэлектроника позволяет решить задачу создания максимально надежных элементов и устройств при одновременном уменьшении массы и габаритов, снижении потребляемой энергии и стоимости.
Надежность микроэлектронной аппаратуры повышается за счет специальной полупроводниковой технологии изготовления микросхем с применением особо чистых материалов и создания условий, исключающих всякое загрязнение. Надежность обеспечивается также за счет герметизации элементов и их межсоединений, уменьшения количества соединений, автоматизации процесса изготовления и снижения вероятности отказа отдельных элементов.
Уменьшение габаритов и массы микроэлектронной аппаратуры достигается за счет малых размеров микросхем, элементы которых в кристалле измеряются долями микрометра. При этом они работают в облегченном режиме при низких напряжениях питания и потребляют небольшую энергию, что повышает экономичность аппаратуры и ее надежность.
Основные направления микроэлектроники: интегральные микросхемы, функциональная микроэлектроника и конструктивновспомогательные изделия в микроминиатюрном исполнении. Важным разделом функциональной микроэлектроники стала оптоэлектроника.
Т д|т д|т д R Т R T|R Т |
т Д R Т |
т д[т д|тд R Tie т|й Т |
т д R Т |
т Д|Т д|т д1 R Т R Т R Т FjtTд|7Н1 R t|r t|r т |
тд R Т Т д R Т |
имс т д
R Т
а
Рис. 5.2. Иллюстрация группового метода изготовления полупроводниковых интегральных микросхем: а—полупроводниковая пластина с элементами большого числа ИМС; б — отдельный кристалл ИМС после разрезания пластины; в — электрическая схема соединения элементов ИМС; г — ИМС в корпусе с присоединенными внешними выводами и снятой крышкой
Развитие микроэлектроники базируется на новейших достижениях ряда наук и технических направлений. В частности, физики, химии, математики, биологии, радиотехники, металлургии, приборостроения, машиностроения и других.
Групповой метод изготовления полупроводниковых интегральных микросхем, позволяющий снизить их стоимость, заключается в том, что на небольшой пластине полупроводника (диаметром до 40 мм) одновременно формируется несколько сотен микросхем; множество таких пластин одновременно обрабатывается (рис. 5.2).
Пластину разрезают на части, в каждой из которых получается микросхема в виде кристалла, содержащего комплекс элементов и их соединений в соответствии с требуемой электрической схемой изделия.
Каждый такой кристалл помещают в герметичный корпус, и соединяют его контактные площадки с внешними выводами корпуса.
Кристаллом в полупроводниковой технике принято назы-
г
1 вать готовый полупроводниковый прибор (транзистор, диод) или
микросхему без внешних выводов и корпуса.
Интегральная микросхема содержит элементы и компоненты.
Элементом интегральной микросхемы называют ее часть, которая выполняет функцию какого-либо одного электрорадиоэлемента, например транзистора, диода, резистора, и не может быть отделена от ИМС как самостоятельное изделие. Элемент нельзя отдельно испытать, упаковать и эксплуатировать, так как он изготовляется неразрывно с кристаллом ИМС.
Компонентом интегральной микросхемы также называют часть ИМС, выполняющую функцию какого-либо электрорадиоэлемента, но эта часть перед монтажом является самостоятельным комплектующим изделием в специальной упаковке и может быть отдельно испытана и принята, а затем установлена в изготовляемую ИМС. Компонент в принципе может быть выделен из изготовленной ИМС (например, бескорпусный транзистор в гибридной микросхеме).
Функциональная сложность схемы, показывающая уровень развития интегральной техники, характеризуется степенью интеграции.
Степень интеграции микросхемы — это показатель сложности ИМС, определяемый числом содержащихся в ней элементов и компонентов. Суммарное число элементов и компонентов N, входящих в ИМС, называют уровнем интеграции. Степень интеграции k вычисляется как десятичный логарифм от уровня интеграции N, округленный до ближайшего большего целого числа: k=\g N.
Например, ИМС первой степени интеграции содержит до 10 элементов и компонентов включительно, второй степени — от 11 до 100 включительно, третьей степени — от 101 до 1000, четвертой — от 1001 до 10000 и т. д.
Сложность интегральной микросхемы характеризуют еще следующим образом: при 10 (k^ 1) ИМС называют простой; при N от 11 до 100 — средней; при N от 101 до 10000 — большой интегральной схемой (БИС); при N> 10000 (fe>4) — сверхбольшой (СБИС).
Иногда в качестве критерия сложности и микроминиатюризации ИМС применяют термин «плотность упаковки». Плотностью упаковки называют количество элементов, обычно транзисторов, на единицу объема или площади кристалла. В настоящее время она может превышать 104 элементов/мм2.
Элементы любых электронных схем делят на активные и пассивные.
Активным элементом называют элемент, обладающий свойством преобразования электрической энергии — выпрямления,
усиления, генерирования, управления. К ним относятся, например, диоды, транзисторы и т. д.
Пассивными элементами являются резисторы, конденсаторы, катушки индуктивности.
Классификация интегральных микросхем
Интегральные микросхемы можно классифицировать по разным признакам: по конструктивно-технологическому исполнению, по функциональному назначению, по степени интеграции, по физическому принципу работы активных элементов и др.
По конструктивно-технологическому признаку ИМС могут быть полупроводниковыми, пленочными, гибридными и совмещенными.
Полупроводниковая интегральная микросхема — это ИМС, все активные и пассивные элементы которой и межэлементные соединения выполнены в объеме и на поверхности монокристалла полупроводника в общем технологическом процессе. Кристалл полупроводника, в котором формируются элементы, называют активной подложкой.
В полупроводниковых ИМС в качестве исходного материала используют кристалл кремния. Выбор кремния обусловлен тем, что он допускает более высокую рабочую температуру и мощность рассеяния, чем германий, а также имеет большую, чем германий, ширину запрещенной зоны и позволяет получить больший диапазон сопротивлений при создании на его основе резисторов микросхемы.
Изготовление полупроводниковой микросхемы в конечном счете сводится к образованию системы электронно-дырочных переходов в кристалле кремния; при этом формируются локальные области кристалла, эквивалентные электрорадиодеталям обычных электронных схем и их соединениям. Изоляция этих областей, т. е. элементов ИМС, осуществляется с помощью р-п переходов, смещенных в обратном направлении, или двуокиси кремния, являющейся диэлектриком. Двуокись кремния также защищает поверхность кристалла от загрязнения. Размеры участка кристалла, занимаемого одним элементом, измеряются микрометрами, а площадь одной микросхемы — единицами и долями квадратного миллиметра.
Готовый кристалл с созданными элементами и межсоединениями представляет собой монолитную структуру, которая после присоединения к ней внешних выводов и герметизации может быть использована в качестве блока электронной аппаратуры.
Пленочной интегральной микросхемой называют ИМС, все элементы и межэлементные соединения которой выполнены только в виде пленок различных материалов, нанесенных на общее основание. По технологии изготовления различают тонкопленочные и толстопленочные ИМС. Интегральные микросхемы с толщиной пленок до 1 мкм относят к тонкопленочным, а микросхемы с толщиной пленок более 1 мкм — к толстопленочным. Пленки наносят на диэлектрическую подложку, называемую пассивной (стекло, керамика, пластмасса).
Пленочные интегральные микросхемы содержат обычно только пассивные элементы — резисторы, конденсаторы, высокочастотные катушки индуктивности — и их соединения. Это вызвано большими затруднениями, имеющимися в настоящее время в области создания пленочных транзисторов и диодов с достаточно стабильными и устойчивыми характеристиками. Ведутся исследования по созданию пленочных активных элементов, удовлетворяющих современным требованиям.
При изготовлении тонкопленочных интегральных микросхем пассивные элементы в виде тонких пленок токопроводящих и изоляционных материалов создаются путем предварительного нагрева и испарения требуемого материала с последующим осаждением его на более холодную подложку. Это осуществляется в вакууме через специальные трафареты, так что пленки имеют определенную конфигурацию в соответствии с заданным расположением элементов микросхемы.
При изготовлении толстопленочных ИМС на керамическую подложку через трафареты наносятся различные пасты: резистивные и проводящие — для получения резисторов, соединительных проводников и контактов, а также обкладок конденсаторов и индуктивностей; диэлектрические — для изоляции элементов и создания диэлектриков конденсаторов. Пассивные пленочные ИМС как самостоятельные изделия не получили широкого применения.
Гибридная интегральная микросхема представляет собой ИМС, в составе которой имеются пленочные пассивные элементы, выполненные на диэлектрической подложке, и навесные микроминиатюрные активные компоненты, изготовленные как дискретные транзисторы и диоды (обычно в бескорпусном исполнении) и вмонтированные в подложку. В составе гибридных микросхем могут быть не только простые навесные компоненты (транзисторы и диоды), а и сложные — бескорпусные ИМС.
Более сложные ИМС явились результатом совмещения двух основных технологий изготовления интегральных микросхем — пленочной и полупроводниковой. Такие схемы называют совмещенными.
Совмещенная интегральная микросхема — это ИМС, в которой активные элементы выполнены в кристалле полупроводника, а пассивные элементы и межсоединения — в виде пленок. При этом используются два способа сочетания технологии полупро
водниковых и пленочных микросхем. Первый способ состоит в том, что в активной полупроводниковой подложке формируются транзисторы и диоды, как в полупроводниковой ИМС, затем на поверхности этого кристалла создается изолирующая пленка путем окисления кремния, а на нее наносятся пленочные резисторы, конденсаторы и межсоединения. В другом варианте совмещенной микросхемы, как в гибридных схемах, пассивные элементы и часть межсоединений создают в виде пленок на ди-
Рис.
5.3. Конструкции интегральных микросхем:
а
— тонкопленочные; б — гибридные;
в,
г
— полупроводниковые; / — в корпусе; 2
— со снятым корпусом
а
Рис.
5.4. Расположение выводов микросхем: а
— типа К.140УД2; б — типа К553УД2; в
— типа К174УН7 '
электрической подложке, а активные элементы и основные соединения формируются по технологии полупроводниковых ИМС в кремниевом кристалле, который монтируется на этой подложке.
Технология совмещенных интегральных микросхем позволяет использовать преимущества пленочных и полупроводниковых ИМС и создавать как активные, так и пассивные элементы с требуемыми параметрами и стабильными характеристиками.
По способу герметизации для защиты от внешних воздействий различают корпусные интегральные микросхемы, помещенные в специальный корпус или опрессованные в пластмассу (вакуумная
герметизация), и бескорпусные — покрытые эпоксидным защитным лаком. Интегральные микросхемы в различном конструктивном исполнении показаны на рис. 5.3, а расположение выводов — на рис. 5.4.
По характеру функционального назначения интегральные микросхемы делят на аналоговые, цифровые и комбинированные — аналого-цифровые.
Аналоговые (линейные) ИМС предназначены для генерирования и усиления гармонических сигналов, а также для детектирования, модулирования и т. д.
Цифровые (логические) ИМС используют для цифровой обработки информации, т. е. электрических сигналов, соответствующих двоичному или другому цифровому коду, в вычислительной технике, цифровых измерительных приборах, устройствах автоматики.
По выполняемой функции все микросхемы подразделяют на подгруппы; например, усилители, генераторы, фильтры, детекторы, логические элементы ЭВМ и др. Каждую подгруппу делят на виды; например, усилители низкой частоты, усилители высокой частоты, усилители постоянного тока и т. д.
Классификация по физическому принципу работы зависит от типа создаваемых в микросхеме основных и наиболее сложных элементов — транзисторов. На их структуре базируется формирование и других элементов. В полупроводниковых интегральных микросхемах применяют как биполярные транзисторы, так и полевые МДП-транзисторы.
В гибридных интегральных микросхемах в качестве навесных компонентов применяют биполярные бескорпусные транзисторы.
Контрольные вопросы
Чем занимается микроэлектроника?
Что представляет собой интегральная микросхема?
Что называют элементом и компонентом интегральной микросхемы?
Что показывает степень интеграции микросхемы?
Назовите виды интегральных микросхем и объясните, что представляет собой
каждый из этих видов.