![](/user_photo/2706_HbeT2.jpg)
- •7.092501 “Автоматизоване управління технологічними процесами”
- •7.092502 “Комп'ютерно-інтегровані технологічні процеси і виробництва”
- •1.2. Поняття системи фв та їхніх одиниць
- •1.3. Основні характерстики якості проведених вимірювань
- •1.4. Класифікація вимірювань
- •1.5. Принципи та методи вимiрювань фiзичних величин
- •1.6. Способи вимірювань
- •Розділ 2. Засоби вимiрювань.
- •2.1. Загальні поняття
- •2.2. Основні метрологічні характеристики зв
- •2.3. Основні види засобів вимірювання
- •2.4. Структурні схеми засобів вимірювання
- •2.5. Державна система приладів та засобів автоматизації
- •2.6. Агрегатні комплекси
- •2.7. Метрологiчне забезпечення та повірка зв
- •Розділ 3. Похибки результатів та засобів вимірювання
- •3.1. Розподіл та принципи оцінювання похибок
- •Принципи оцінювання похибок.
- •3.2. Класифікація складових похибки вимірювань
- •3.3. Похибки зв та їхні нормовані значення. Клас точності зв
- •3.4. Методи нормування похибок зв та правила їхніх округлень
- •Правила округлення значень похибок
- •3.5. Похибки прямих вимірювань
- •Похибки непрямих вимірювань.
- •3.6.Систематична складова похибки та методи її усунення особливості систематичної складової похибоки
- •Визначення систематичної складової похибки (ссп)
- •Методи усунення систематичної складової похибки
- •3.7. Випадкова складова похибки та її визначення загальні положення. Поняття ймовірності
- •Iнтегральний закон розподiлу
- •Диференцiйний закон розподiлу
- •Призначення числових характеристик розподілу
- •Математичне сподiвання та його суть
- •Моменти розподілу
- •Основний закон теорії похибок
- •Нормальний закон розподілу
- •Квантільна оцінка випадкової похибки
- •Розподіл стьюдента
- •Критерії оцінки промахів.
- •3.8. Додавання похибок та визначення сумарної похибки зв та івс
- •Додавання випадкових складових похибки
- •Визначення сумарної похибки івс
- •Визначення сумарної похибки зв
- •Форми запису кінцевого результату вимірювань
- •3.9. Оптимальний вибір точності зв
- •Контрольні запитання до розділу 3
- •Розділ 4 вимірювання температури
- •4.1. Загальні положення. Температурні шкали.
- •4.2. Класифікація методів та засобів вимірювання температури
- •4.3. Термометри опору
- •4.4. Термометри розширення
- •4.6. Термоелектричні термометри
- •Установка контактних термометрів
- •4.7. Пірометри
- •Контрольні запитання до розділу 4
- •Розділ 5. Вимірювання тиску
- •5.1. Загальні положення. Види та одиниці вимірювання тиску
- •Одиниці вимірювання тиску.
- •5.2. Класифікація методів та зв зв та вимірювання тиску
- •5.3. Рідинні манометри
- •5.4. Вагопоршневі манометри
- •5.5. Деформаційні манометри (дм)
- •5.6. Електричні манометри
- •Контрольні запитання до розділу 5
- •Розділ 6
- •6.1. Загальні положення. Класифікація рівнемірів.
- •6.2. Поплавкові та буйкові рівнеміри.
- •6.3. Гідростатичні та п’єзометричні рівнеміри.
- •6.4. Ємнісні рівнеміри
- •6.5. Акустичні та ультразвукові рівнеміри
- •6.6. Радарні (радіохвильові) рівнеміри
- •Резонансні рівнеміри
- •Адеструктивні рівнеміри
- •Радіолокаційні (радарні) рівнеміри
- •6.7. Радіоізотопні рівнеміри
- •6.8. Кондуктометричні сигналізатори рівня.
- •6.9. Особливості використання рівнемірів
- •6.10. Визначення рівня сипких матеріалів
- •Розділ 7. Вимірювання витрати та кількості речовин
- •7.1. Класифікація витратомірів.
- •7.2. Методи вимірювання витрати і маси сипких матеріалів
- •7.4. Витратоміри змінного та постійного перепаду тиску
- •7.5. Індукційні витратоміри
- •Розділ 8 контроль фізичних властивостей речовин
- •8.1.Вимірювання густини рідин. Класифікація та характеристика густиномірів
- •8.2. Вимірювання в'язкості речовинн
- •8.3. Методи вимірювання вологості
- •Контрольні запитання до розділу 8
- •Розділ 9 аналізатори складу рідин та газів
- •9.1. Класифікація аналізаторів складу рідин
- •9.2. Кондуктометричні аналізатори
- •9.3. Потенціометричний метод
- •9.4. Оптичні методи. Загальні поняття.
- •9.5. Колориметричний метод аналізу
- •9.6. Нефелометричні методи аналізу
- •9.7. Рефрактометричні методи аналізу
- •9.8. Поляриметричний метод аналізу
- •9.9.Титрометричний матод аналізу
- •9.10. Акустичні прилади контролю складу рідин
- •9.11. Прилади контролю параметрів якості газів
- •9.12. Хімічні та об'ємопоглинальні газоаналізатори
- •9.13. Теплові газоаналізатори
- •9.14. Магнітні газоаналізатори
- •Контрольні запитання до розділу 9
- •Література Основна
-
9.7. Рефрактометричні методи аналізу
Грунтується на зміні показника заломлення світлових променів на межі розподілу двох оптичних середовищ. Абсолютний показник заломлення N – є відношення швидкості розповсюдження світла С1 у вакуумі до швидкості С2 розповсюдження світла у досліджуємому середовищі:
N =C1/C2 і завжди >1, так як швидкість світла С1 у вакуумі найбільша.
Відношення швидкостей може бути замінена на відношення синусів кутів падіння та кут заломлення , то тоді абсолютний показник заломлення:
N=sin / sin =C1/C2 .
Так як С1 > С2, то кут > кута .
Відповідно, проходження світлового променя в любих середовищах характеризується відносним показником заломлення n=C1/C2,
де С1 та С2 – швидкості світла в середовищах.
Вимірюючи показник заломлення n рідин, можна визначити концентрацію розчину, прозорість рідини, провести аналіз суміші, яка має декілька компонентів. Концентрація розчину в залежності від показника заломлення n має залежність:
Cx = Ce *[( - no)/( nе -nо)], (9.18)
де Cx- вимірювана концентрація розчину; Ce - концентрація еталонного розчину; nx - показник заломлення досліджуємого розчину; no - показник заломлення розчинника; nе - показник заломлення еталонного розчину.
Відповідно об’єм розчиненої речовини у розчиннику дорівнює:
V1=V*[( n - n1)/( n2 -n1)], (9.19)
де V-об’єм розчину, а n, n1, n2 - показники заломлення відповідно розчину, розчиненої речовини та розчинника.
При вимірюванні рефрактометричного показника заломлення, необхідно компенсувати вплив температури та тиску в навколишньому середовищі.
Метод використовується для визначення відсоткового складу сухих речовин в цукровій та консервній галузях.
Принцип будови рефрактометрів грунтується на:
а) залежності показника заломлення світлового променя при його переході з одного середовища в інше (спектрометричний метод).
б) широко використовується метод повного внутрішнього відбиття (або метод межового кута), коли за зміни концентрації розчину змінюється межа світлотіні і порушується рівність світлових потоків на фотодатчиках.
Об’єднання “Мир” (м. Москва) випускає рефрактометричні датчики типу АІ-Ед-2р, з діапазоном від 0 до 30 і 20-50% сухих речовин у розчині. Рефрактометр типу АІІ-ЕРО. Прилади використовуються в молочній і спиртовій промисловості.
Київський завод аналітичних приладів випускає прилад типу АМ-2 для визначення у молоці вмісту білка, сахарози, лактози. Клас 0,2.
Авто метричний рефрактометр УкрНДІ спиртової промисловості використовується в системах керування автоматичного приготування розсировки в бродильному цеху спиртового виробництва.
Сучасним представником таких аналізаторів є комплекс УЛСЕ для визначення цукристості буряків (КБ “Луч”, м. Київ).Діапазон вимірювання 0-20 і 45-75%, клас – 0,2. Температурний діапазон 0-90. Цифрова індикація і уніфікований сигнал 4-20.
Спектрометричний метод – суть його в тому, що показник заломлення визначається по куту найменшого відхилення світлового променя в скляній призмі, що заповнена аналізуємою рідиною.
Показник заломлення: nx=(sin(f+E)/2)/(sin(f/2),
де f –кут між площинами в призмі.
Вимірювання кута Е пов’язане з великими труднощами, тому в промислових рефрактометрах використовується дифракційні вимірювальні кювети (призми) із двох частин, в одній – еталонна рідина, в іншій нейтральна. Така диференціальна вимірювальна кювета забезпечує залежність зміни складу аналізуючої рідини і відхилення променя, що проходить через неї. Використовується для аналізу прозорих і напівпрозорих рідин.
Діапазон вимірювання Δn=nx-ne визначається розмірами кювети та ne. Перевага – забезпечують температурну компенсацію резільтатів вимірювань, при умові, що еталонні та аналізуючи рідини мають однакову температуру.
Рис. 11.20. Схема автоматичного рефрактометра з диференціальною кювєтою.
Автоматичний
рефрактометр з диференціальною кювєтою
(рис.11.20) працює наступним чином. Лінза
- фокусує зображення щілини на
диференціальні фотоприймачі, що
складаються із однакових фоторезисторів.
Якщо ne=
nx,
то
сигнали обох фоторезисторів одинакові,
обидві половини фотоприймача сприймають
симетричне зображення щілини. Сигнал
розбалансування дорівнює 0. При ne
nx
, то
на половини фотоприймача падають
неодинакові світлові потоки, що веде
до розбалансування схеми і РД зміщує
фотоприймач в нове положення балансу.
Схема автоматичного рефрактометра повного внутрішнього відбиття
приведена на рис.11.21.
Рис.11.21. Схема автоматичного рефрактора повного внутрішнього відбиття
В трубопровід вмонтована лінза 4, на яку надходить поток світла від джерела 1 через світлофільтр 2 та коліматор 4. Попадаючи на межу розподілу світловий потік відбивається і надходить в оптичний розсіювач 5. Після нього попадає на фотоелемент ФЕ1, та через дзеркало 6 на ФЕ2. Сигнал небалансу через ЕП та РД повертає дзеркало до тих пір, поли відбите від нього світло не зрівноважить світловий потік ФЕ1. Випускаються типи РАР, РД-Е, РАС з похибкою +/- 0,5 – 1,5% сухих речовин.