- •Прочтите перед началом работы!
- •Обратная связь
- •Комплект пользовательской документации
- •Оглавление
- •Содержание
- •1. Основные сведения
- •1.1. Устройство
- •1.1.1. Блок подвода и сканирования
- •1.1.2. Сменные держатели образца
- •1.1.3. Сменные сканеры
- •1.1.4. Измерительные головки
- •1.1.4.1. Универсальная измерительная головка
- •1.1.4.2. Сканирующая измерительная головка
- •1.1.4.3. СТМ головка
- •1.1.5. Защитный колпак
- •1.1.6. Система управления
- •1.2. Правила безопасности
- •1.3. Условия эксплуатации
- •1.4. Правила хранения и транспортирования
- •2. Ввод в эксплуатацию
- •2.1. Установка интерфейсной платы
- •2.2. Установка программного обеспечения
- •2.3. Подключение электромеханических узлов
- •2.4. Порядок включения/выключения прибора
- •3. Подготовка прибора к работе по методам АСМ
- •3.1. Основные операции, выполняемые при подготовке прибора к работе
- •3.2. Электромеханическое конфигурирование
- •3.2.1. Сканирование образцом
- •3.2.2. Сканирование зондом
- •3.2.3. Особенности подключения при работе с эквивалентом сканера
- •3.2.4. Отключение осей сканирования
- •3.2.5. Особенности подключения для Solver PRO-M
- •3.3. Включение прибора
- •3.4. Загрузка калибровочных параметров сканера
- •3.5. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование образцом»
- •3.5.1. Начальная подготовка универсальной измерительной головки
- •3.5.2. Установка зондового датчика
- •3.5.3. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.1. Включение лазера
- •3.5.3.2. Окно настройки оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.4. Наведение лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.5.3.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.5.4. Предварительная установка измерительной головки
- •3.5.5. Подготовка и установка образца
- •3.5.6. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.5.7. Установка защитного колпака
- •3.6. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование зондом»
- •3.6.1. Установка зондового датчика
- •3.6.2. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.6.2.1. Включение лазера
- •3.6.2.2. Окно настройки оптической системы
- •3.6.2.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.4. Процедура наведения лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.6.2.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.6.3. Подготовка и установка образца
- •3.6.3.1. Установка образцов небольших размеров
- •3.6.4. Установка сканирующей измерительной головки
- •3.6.4.1. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.6.4.3. Предварительный подвод образца к зонду
- •4. Контактная атомно-силовая микроскопия
- •4.1. Метод Постоянной Силы
- •4.1.1. Основные операции при работе по методам контактной микроскопии
- •4.1.2. Переключение прибора для работы по контактным методам
- •4.1.3. Установка начального уровня сигнала DFL
- •4.1.4. Подвод образца к зонду
- •4.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •4.1.6. Установка параметров сканирования
- •4.1.7. Сканирование
- •4.1.8. Сохранение полученных данных
- •4.1.9. Завершение работы
- •4.2. Метод Латеральных Сил
- •4.2.1. Краткая характеристика метода
- •4.2.2. Подготовка к измерениям
- •4.2.3. Сканирование
- •4.3. Метод Постоянной Высоты
- •4.3.1. Краткая характеристика метода
- •4.3.2. Подготовка к измерениям
- •4.3.3. Настройка параметров
- •4.3.4. Сканирование
- •4.4. Метод Отображения Сопротивления Растекания
- •4.4.1. Краткая характеристика метода
- •4.4.2. Подготовка к измерениям
- •4.4.3. Настройка параметров
- •4.4.4. Сканирование
- •4.4.5. Способы улучшения изображения
- •4.5. Метод Модуляции Силы
- •4.5.1. Краткая характеристика метода
- •4.5.2. Подготовка к измерениям
- •4.5.3. Настройка параметров
- •4.5.4. Сканирование
- •4.5.5. Способы улучшения изображения
- •4.6. Контактный Метод Рассогласования
- •4.6.1. Краткая характеристика метода
- •4.6.2. Подготовка к измерениям
- •4.6.3. Настройки параметров
- •4.6.4. Сканирование
- •4.7. Спектроскопия
- •4.7.1. Силовая спектроскопия (DFL(Height))
- •4.7.1.1. Введение: исходное состояние, основные операции при работе с методикой спектроскопии
- •4.7.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •4.7.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •4.7.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •4.7.1.5. Задание прочих параметров
- •4.7.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •4.7.1.7. Запуск измерений
- •4.7.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •4.7.1.9. Вычисление силы адгезии
- •5. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия
- •5.1. Полуконтактный метод
- •5.1.1. Основные операции при работе по методам полуконтактной микроскопии
- •5.1.2. Переключение прибора для работы по полуконтактным методам
- •5.1.3. Установка рабочей частоты пьезогенератора
- •5.1.4. Подвод образца к зонду
- •5.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •5.1.6. Установка параметров сканирования
- •5.1.7. Сканирование
- •5.1.8. Сохранение полученных данных
- •5.1.9. Завершение работы
- •5.2. Полуконтактный Метод Рассогласования
- •5.2.1. Краткая характеристика метода
- •5.2.2. Подготовка к измерениям
- •5.2.3. Настройка параметров
- •5.2.4. Сканирование
- •5.3. Метод отображения фазы
- •5.3.1. Краткая характеристика метода
- •5.3.2. Подготовка к измерениям
- •5.3.3. Настройка параметров
- •5.3.4. Сканирование
- •5.3.5. Способы улучшения изображения
- •5.4. Спектроскопия
- •5.4.1. Амплитудная спектроскопия (Mag(Height))
- •5.4.1.1. Основные операции при спектроскопических измерениях
- •5.4.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •5.4.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •5.4.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •5.4.1.5. Задание прочих параметров
- •5.4.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •5.4.1.7. Запуск измерений
- •5.4.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •5.4.1.9. Калибровка амплитуды колебаний кантилевера
Глава 5. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия
5.4. Спектроскопия
В данном разделе рассматривается проведение спектроскопических измерений для случая колеблющегося зонда. Такие измерения обычно предваряют сканирование поверхности с использованием полуконтактных методик. В качестве примера рассматривается измерение зависимости амплитуды колебаний зонда A (сигнал Mag) от расстояния зонд-образец Z (сигнал Height) при подводе и отводе зонда от поверхности образца.
Измерение других зависимостей производится подобным образом, лишь с тем отличием, что вместо сигналов Mag и Height выбираются другие сигналы (о выборе зависимости см. п. 5.4.1.3 на стр. 148).
5.4.1. Амплитудная спектроскопия (Mag(Height))
При амплитудной спектроскопии измеряется зависимость амплитуды от расстояния зонд-образец, т.е. зависимости Mag(Height).
Mag – сигнал, пропорциональный амплитуде колебаний кантилевера.
Cигнал Hieght соответствует изменению расстояния между зондом и образцом, при условии, что прибор имеет верные калибровки и зонд не находится в постоянном контакте с образцом.
Используя зависимость амплитуды от расстояния, на которое выдвинута пьезотрубка, можно произвести калибровку амплитуды колебаний кантилевера.
5.4.1.1.Основные операции при спектроскопических измерениях
К выполнению спектроскопических измерений можно приступать после того, как:
−произведен подвод к образцу по полуконтактному методу (см. п. 5.1.4 «Подвод образца к зонду» на стр. 126);
−сканер откалиброван (см. книгу «Программное обеспечение для СЗМ»,
часть 2, п.2.2.7. «Calibration»).
Основные операции:
Процедура измерения зависимости включает следующие основные операции:
1.Переход в окно спектроскопии (см. стр. 148).
2.Установка вида измеряемой зависимости, т.е. выбор аргумента и функции
(в рассматриваемом примере аргумента Height и функции Mag) (см. стр. 148).
3.Установка интервала изменения аргумента (см. стр. 149).
4.Задание прочих параметров (см. стр. 151).
147
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
5.Выбор точек спектроскопии (см. стр. 152).
6.Запуск измерений (см. стр. 154).
7.Просмотр данных спектроскопии и работа с ними (см. стр. 154).
Ниже приводится более подробное описание перечисленных выше основных операций.
5.4.1.2.Переход в окно спектроскопии
Перед началом проведения процедуры спектроскопии перейдите в окно Curves (закладка Curves на панели закладок основных операций) (Рис. 5-46).
Рис. 5-46
5.4.1.3.Установка вида измеряемой зависимости
1.Выберите аргумент зависимости в поле выбора a (поле выбора аргумента зависимости находится на панели управления, см. Рис. 5-47). В рассматриваемом примере аргументом является сигнал Height.
Рис. 5-47
#ПРИМЕЧАНИЕ.
В качестве изменяемого параметра может быть выбран один из следующих сигналов:
Height – сигнал, соответствующий расстоянию, на которое выдвинут пьезосканер в направление Z;
SetPoint – сигнал, характеризующий колебания и состояние кантилевера (амплитуда колебаний, фаза, СКВ отклонение, средний изгиб), подаваемый на вход цепи обратной связи;
BiasVoltage – напряжение смещения, подаваемое либо на зонд, либо на образец в зависимости от типа прибора и настроек схемы.
148
Глава 5. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия
2.Установите сигнал, соответствующий измеряемой величине, в поле выбора f1(a). В рассматриваемом примере измеряемым сигналом является Mag
(Рис. 5-48).
Рис. 5-48
#ПРИМЕЧАНИЕ. Для каждого аргумента имеется свой набор сигналов, которые можно использовать в качестве измеряемого сигнала f1(a).
5.4.1.4.Установка интервала изменения аргумента
Установите интервал изменения аргумента: минимальное и максимальное значения. (Рис. 5-49).
Рис. 5-49
Минимальное значение (по абсолютной величине) это расстояние, на которое пьезосканер увеличит свою длину, то есть приблизит образец к зонду.
Максимальное значение – это расстояние, на которое пьезосканер уменьшит свою длину, т.е. отодвинет образец от зонда.
Отсчет значений производится от текущего положения пьезосканера.
#ПРИМЕЧАНИЕ. Изменение величины Height происходит по следующей схеме. Сначала резким скачком она достигает максимального значения, указанного в поле Max. Затем линейно уменьшается до значения, указанного в поле Min и линейно возрастает до значения, указанного в поле Max. Потом величина Height возвращается к исходному значению
(Рис. 5-50).
149
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
Рис. 5-50
Рекомендации по повышению качества измерений
В силу того, что пьезокерамика обладает инерционностью, помните, что реальное перемещение пьезосканера не соответствует изменению величины Height.
Реальное значение можно получить, если использовать измерительную головку с емкостными датчиками. Настройка емкостных датчиков подробно описана в п. «Подготовка прибора к работе по методам АСМ». Их включение производится кнопкой Closed-Loop (Рис. 5-51).
Рис. 5-51
Если используемый сканер не содержит емкостных датчиков, уменьшить влияние инерционности пьезокерамики можно увеличив время снятия зависимости, т.е. увеличив значение параметра Curve Time (см. стр. 151).
150