- •Прочтите перед началом работы!
- •Обратная связь
- •Комплект пользовательской документации
- •Оглавление
- •Содержание
- •1. Основные сведения
- •1.1. Устройство
- •1.1.1. Блок подвода и сканирования
- •1.1.2. Сменные держатели образца
- •1.1.3. Сменные сканеры
- •1.1.4. Измерительные головки
- •1.1.4.1. Универсальная измерительная головка
- •1.1.4.2. Сканирующая измерительная головка
- •1.1.4.3. СТМ головка
- •1.1.5. Защитный колпак
- •1.1.6. Система управления
- •1.2. Правила безопасности
- •1.3. Условия эксплуатации
- •1.4. Правила хранения и транспортирования
- •2. Ввод в эксплуатацию
- •2.1. Установка интерфейсной платы
- •2.2. Установка программного обеспечения
- •2.3. Подключение электромеханических узлов
- •2.4. Порядок включения/выключения прибора
- •3. Подготовка прибора к работе по методам АСМ
- •3.1. Основные операции, выполняемые при подготовке прибора к работе
- •3.2. Электромеханическое конфигурирование
- •3.2.1. Сканирование образцом
- •3.2.2. Сканирование зондом
- •3.2.3. Особенности подключения при работе с эквивалентом сканера
- •3.2.4. Отключение осей сканирования
- •3.2.5. Особенности подключения для Solver PRO-M
- •3.3. Включение прибора
- •3.4. Загрузка калибровочных параметров сканера
- •3.5. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование образцом»
- •3.5.1. Начальная подготовка универсальной измерительной головки
- •3.5.2. Установка зондового датчика
- •3.5.3. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.1. Включение лазера
- •3.5.3.2. Окно настройки оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.4. Наведение лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.5.3.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.5.4. Предварительная установка измерительной головки
- •3.5.5. Подготовка и установка образца
- •3.5.6. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.5.7. Установка защитного колпака
- •3.6. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование зондом»
- •3.6.1. Установка зондового датчика
- •3.6.2. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.6.2.1. Включение лазера
- •3.6.2.2. Окно настройки оптической системы
- •3.6.2.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.4. Процедура наведения лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.6.2.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.6.3. Подготовка и установка образца
- •3.6.3.1. Установка образцов небольших размеров
- •3.6.4. Установка сканирующей измерительной головки
- •3.6.4.1. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.6.4.3. Предварительный подвод образца к зонду
- •4. Контактная атомно-силовая микроскопия
- •4.1. Метод Постоянной Силы
- •4.1.1. Основные операции при работе по методам контактной микроскопии
- •4.1.2. Переключение прибора для работы по контактным методам
- •4.1.3. Установка начального уровня сигнала DFL
- •4.1.4. Подвод образца к зонду
- •4.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •4.1.6. Установка параметров сканирования
- •4.1.7. Сканирование
- •4.1.8. Сохранение полученных данных
- •4.1.9. Завершение работы
- •4.2. Метод Латеральных Сил
- •4.2.1. Краткая характеристика метода
- •4.2.2. Подготовка к измерениям
- •4.2.3. Сканирование
- •4.3. Метод Постоянной Высоты
- •4.3.1. Краткая характеристика метода
- •4.3.2. Подготовка к измерениям
- •4.3.3. Настройка параметров
- •4.3.4. Сканирование
- •4.4. Метод Отображения Сопротивления Растекания
- •4.4.1. Краткая характеристика метода
- •4.4.2. Подготовка к измерениям
- •4.4.3. Настройка параметров
- •4.4.4. Сканирование
- •4.4.5. Способы улучшения изображения
- •4.5. Метод Модуляции Силы
- •4.5.1. Краткая характеристика метода
- •4.5.2. Подготовка к измерениям
- •4.5.3. Настройка параметров
- •4.5.4. Сканирование
- •4.5.5. Способы улучшения изображения
- •4.6. Контактный Метод Рассогласования
- •4.6.1. Краткая характеристика метода
- •4.6.2. Подготовка к измерениям
- •4.6.3. Настройки параметров
- •4.6.4. Сканирование
- •4.7. Спектроскопия
- •4.7.1. Силовая спектроскопия (DFL(Height))
- •4.7.1.1. Введение: исходное состояние, основные операции при работе с методикой спектроскопии
- •4.7.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •4.7.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •4.7.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •4.7.1.5. Задание прочих параметров
- •4.7.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •4.7.1.7. Запуск измерений
- •4.7.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •4.7.1.9. Вычисление силы адгезии
- •5. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия
- •5.1. Полуконтактный метод
- •5.1.1. Основные операции при работе по методам полуконтактной микроскопии
- •5.1.2. Переключение прибора для работы по полуконтактным методам
- •5.1.3. Установка рабочей частоты пьезогенератора
- •5.1.4. Подвод образца к зонду
- •5.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •5.1.6. Установка параметров сканирования
- •5.1.7. Сканирование
- •5.1.8. Сохранение полученных данных
- •5.1.9. Завершение работы
- •5.2. Полуконтактный Метод Рассогласования
- •5.2.1. Краткая характеристика метода
- •5.2.2. Подготовка к измерениям
- •5.2.3. Настройка параметров
- •5.2.4. Сканирование
- •5.3. Метод отображения фазы
- •5.3.1. Краткая характеристика метода
- •5.3.2. Подготовка к измерениям
- •5.3.3. Настройка параметров
- •5.3.4. Сканирование
- •5.3.5. Способы улучшения изображения
- •5.4. Спектроскопия
- •5.4.1. Амплитудная спектроскопия (Mag(Height))
- •5.4.1.1. Основные операции при спектроскопических измерениях
- •5.4.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •5.4.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •5.4.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •5.4.1.5. Задание прочих параметров
- •5.4.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •5.4.1.7. Запуск измерений
- •5.4.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •5.4.1.9. Калибровка амплитуды колебаний кантилевера
SOLVER
SCANNING PROBE MICROSCOPE
СЗМ Solver PRO
Р у к о в о д с т в о пользователя Основная часть
Россия, 124460, Москва,
НИИФП, ЗАО “НТ-МДТ” т.: +7(495) 535-03-05
ф.: +7(495) 535-64-10 e-mail: spm@ntmdt.ru h t t p : / / w w w. n t m d t . c o m
Сканирующий зондовый микроскоп
Solver PRO
Руководство пользователя Основная часть
Copyright © «НТ-МДТ», 2006
Сайт: http://www.ntmdt.com
Общие вопросы: spm@ntmdt.ru
Тех.поддержка: support@ntmdt.ru
ЗАО «Нанотехнология-МДТ» 124460,Москва, Зеленоград, корп.167
Тел.: 8-(495) 535-03-05, 535-83-69, Факс: 8-(495) 535-64-10
Прочтите перед началом работы!
Соблюдайте правила безопасности работы с приборами, содержащими источник лазерного излучения. Предупреждающие ярлыки расположены на измерительных АСМ головках (Рис. 1), на лазерных источниках.
Рис. 1
Перед началом работы внимательно ознакомьтесь с правилами безопасности и условиями эксплуатации прибора!
Начинающим пользователям рекомендуем ознакомиться с основными методами зондовой микроскопии, например, в объеме книги «Основы сканирующей зондовой микроскопии», автор В.Л. Миронов. Книгу можно скачать из интернета: http://ru.ntmdt.ru/Techsupport/.
Обратная связь
Если в процессе |
работы у |
Вас возникнут дополнительные |
вопросы, |
не освещенные в |
описаниях, |
свяжитесь со службой сервиса |
компании |
(support@ntmdt.ru) и наши специалисты максимально подробно ответят на любые Ваши вопросы. Также для связи со специалистами компании в онлайне удобно воспользоваться услугой онлайн поддержки.
Комплект пользовательской документации
В комплект пользовательской документации входят следующие описания:
−Руководство пользователя – практическое руководство по подготовке прибора и оборудования и работе по различным методам Сканирующей Зондовой Микроскопии. В зависимости от комплекта поставки прибора набор Руководств пользователя может быть различным.
−Программное обеспечение для СЗМ. Справочное руководство – описание интерфейса программы управления, всех команд и функций меню, а также описание модуля обработки изображений (Image Analysis) и макроязыка
«Nova PowerScript».
−Управляющая электроника. Справочное руководство – справочник по управляющей электронике прибора.
Некоторое оборудование, упомянутое в описаниях, может не входить в комплект поставки прибора. Обратитесь к спецификации контракта за более точной информацией.
Описания обновляются регулярно. Последнюю версию описаний можно найти на сайте компании, в разделе «Тех.поддержка» (http://ru.ntmdt.ru/Techsupport/).
Оглавление
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
Оглавление
1. |
ОСНОВНЫЕ СВЕДЕНИЯ .................................................................................................................... |
10 |
2. |
ВВОД В ЭКСПЛУАТАЦИЮ................................................................................................................ |
29 |
3. |
ПОДГОТОВКА ПРИБОРА К РАБОТЕ ПО МЕТОДАМ АСМ...................................................... |
34 |
4. |
КОНТАКТНАЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ............................................................ |
74 |
5. |
ПОЛУКОНТАКТНАЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ.............................................. |
119 |
6. |
СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ И СПЕКТРОСКОПИЯ..................... |
157 |
ПРИЛОЖЕНИЯ......................................................................................................................................... |
192 |
|
1. |
СКАНЕРЫ С ЕМКОСТНЫМИ ДАТЧИКАМИ И ЭКВИВАЛЕНТ СКАНЕРА........................ |
192 |
2. |
СИСТЕМА ВИДЕОНАБЛЮДЕНИЯ................................................................................................ |
217 |
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. |
|
|
Основная часть |
|
|
Содержание |
|
|
1. ОСНОВНЫЕ СВЕДЕНИЯ.................................................................................................................... |
10 |
|
1.1. УСТРОЙСТВО ....................................................................................................................................... |
10 |
|
1.1.1. Блок подвода и сканирования................................................................................................ |
12 |
|
1.1.2. |
Сменные держатели образца............................................................................................... |
15 |
1.1.3. |
Сменные сканеры................................................................................................................... |
16 |
1.1.4. |
Измерительные головки........................................................................................................ |
17 |
|
1.1.4.1. Универсальная измерительная головка................................................................................... |
17 |
|
1.1.4.2. Сканирующая измерительная головка.................................................................................... |
21 |
|
1.1.4.3. СТМ головка.............................................................................................................................. |
24 |
1.1.5. |
Защитный колпак .................................................................................................................. |
25 |
1.1.6. |
Система управления.............................................................................................................. |
25 |
1.2. ПРАВИЛА БЕЗОПАСНОСТИ ................................................................................................................... |
26 |
|
1.3. УСЛОВИЯ ЭКСПЛУАТАЦИИ.................................................................................................................. |
27 |
|
1.4. ПРАВИЛА ХРАНЕНИЯ И ТРАНСПОРТИРОВАНИЯ ................................................................................... |
28 |
|
2. ВВОД В ЭКСПЛУАТАЦИЮ................................................................................................................ |
29 |
|
2.1. УСТАНОВКА ИНТЕРФЕЙСНОЙ ПЛАТЫ.................................................................................................. |
29 |
|
2.2. УСТАНОВКА ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ...................................................................................... |
29 |
|
2.3. ПОДКЛЮЧЕНИЕ ЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИХ УЗЛОВ............................................................................... |
30 |
|
2.4. ПОРЯДОК ВКЛЮЧЕНИЯ/ВЫКЛЮЧЕНИЯ ПРИБОРА................................................................................. |
32 |
|
3. ПОДГОТОВКА ПРИБОРА К РАБОТЕ ПО МЕТОДАМ АСМ...................................................... |
34 |
|
3.1. ОСНОВНЫЕ ОПЕРАЦИИ, ВЫПОЛНЯЕМЫЕ ПРИ ПОДГОТОВКЕ ПРИБОРА К РАБОТЕ................................. |
34 |
|
3.2. ЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКОЕ КОНФИГУРИРОВАНИЕ ................................................................................ |
34 |
|
3.2.1. |
Сканирование образцом........................................................................................................ |
35 |
3.2.2. |
Сканирование зондом............................................................................................................ |
36 |
3.2.3. Особенности подключения при работе с эквивалентом сканера..................................... |
37 |
|
3.2.4. |
Отключение осей сканирования........................................................................................... |
38 |
3.2.5. Особенности подключения для Solver PRO-M .................................................................... |
38 |
|
3.3. ВКЛЮЧЕНИЕ ПРИБОРА......................................................................................................................... |
38 |
|
3.4. ЗАГРУЗКА КАЛИБРОВОЧНЫХ ПАРАМЕТРОВ СКАНЕРА.......................................................................... |
39 |
|
3.5. ПОДГОТОВКА ПРИБОРА ДЛЯ КОНФИГУРАЦИИ «СКАНИРОВАНИЕ ОБРАЗЦОМ».................................... |
41 |
|
3.5.1. Начальная подготовка универсальной измерительной головки........................................ |
41 |
|
3.5.2. |
Установка зондового датчика............................................................................................. |
43 |
3.5.3. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера............................. |
45 |
|
|
3.5.3.1. Включение лазера..................................................................................................................... |
45 |
|
3.5.3.2. Окно настройки оптической системы регистрации изгибов кантилевера........................... |
46 |
|
3.5.3.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер.......................................... |
47 |
|
3.5.3.4. Наведение лазерного луча на кантилевер............................................................................... |
48 |
|
3.5.3.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода.............. |
51 |
|
3.5.3.6. Подстройка положения лазерного луча.................................................................................. |
52 |
3.5.4. Предварительная установка измерительной головки ....................................................... |
52 |
|
3.5.5. Подготовка и установка образца........................................................................................ |
55 |
|
3.5.6. Установка измерительной головки на блок подвода.......................................................... |
57 |
|
3.5.7. |
Установка защитного колпака............................................................................................ |
57 |
3.6. ПОДГОТОВКА ПРИБОРА ДЛЯ КОНФИГУРАЦИИ «СКАНИРОВАНИЕ ЗОНДОМ» ....................................... |
58 |
|
3.6.1. |
Установка зондового датчика............................................................................................. |
59 |
3.6.2. |
Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера............................. |
61 |
3.6.2.1. Включение лазера..................................................................................................................... |
61 |
3.6.2.2. Окно настройки оптической системы..................................................................................... |
61 |
3.6.2.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер.......................................... |
62 |
|
Содержание |
|
|
3.6.2.4. Процедура наведения лазерного луча на кантилевер............................................................. |
63 |
|
3.6.2.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода............... |
66 |
|
3.6.2.6. Подстройка положения лазерного луча................................................................................... |
67 |
3.6.3. Подготовка и установка образца........................................................................................ |
68 |
|
|
3.6.3.1. Установка образцов небольших размеров............................................................................... |
68 |
|
3.6.3.2. Установка образцов больших размеров .................................................................................. |
70 |
3.6.4. Установка сканирующей измерительной головки.............................................................. |
71 |
|
|
3.6.4.1. Установка измерительной головки на блок подвода.............................................................. |
71 |
|
3.6.4.2. Проверка параллельности плоскости основания СЗМ головки и плоскости образца......... |
71 |
|
3.6.4.3. Предварительный подвод образца к зонду.............................................................................. |
72 |
3.6.5. |
Установка защитного колпака............................................................................................ |
72 |
4. КОНТАКТНАЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ............................................................ |
74 |
|
4.1. МЕТОД ПОСТОЯННОЙ СИЛЫ............................................................................................................... |
74 |
|
4.1.1. Основные операции при работе по методам контактной микроскопии......................... |
74 |
|
4.1.2. Переключение прибора для работы по контактным методам........................................ |
75 |
|
4.1.3. Установка начального уровня сигнала DFL ........................................................................ |
75 |
|
4.1.4. Подвод образца к зонду......................................................................................................... |
77 |
|
4.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи............................ |
80 |
|
4.1.6. |
Установка параметров сканирования................................................................................. |
81 |
4.1.7. |
Сканирование ......................................................................................................................... |
85 |
4.1.8. |
Сохранение полученных данных............................................................................................ |
89 |
4.1.9. |
Завершение работы............................................................................................................... |
89 |
4.2. МЕТОД ЛАТЕРАЛЬНЫХ СИЛ ................................................................................................................ |
91 |
|
4.2.1. |
Краткая характеристика метода ...................................................................................... |
91 |
4.2.2. |
Подготовка к измерениям..................................................................................................... |
92 |
4.2.3. |
Сканирование ......................................................................................................................... |
93 |
4.3. МЕТОД ПОСТОЯННОЙ ВЫСОТЫ .......................................................................................................... |
94 |
|
4.3.1. |
Краткая характеристика метода ...................................................................................... |
94 |
4.3.2. |
Подготовка к измерениям..................................................................................................... |
95 |
4.3.3. |
Настройка параметров........................................................................................................ |
96 |
4.3.4. |
Сканирование ......................................................................................................................... |
97 |
4.4. МЕТОД ОТОБРАЖЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ РАСТЕКАНИЯ .................................................................... |
98 |
|
4.4.1. |
Краткая характеристика метода ...................................................................................... |
98 |
4.4.2. |
Подготовка к измерениям..................................................................................................... |
98 |
4.4.3. |
Настройка параметров........................................................................................................ |
99 |
4.4.4. |
Сканирование ....................................................................................................................... |
100 |
4.4.5. |
Способы улучшения изображения...................................................................................... |
100 |
4.5. МЕТОД МОДУЛЯЦИИ СИЛЫ............................................................................................................... |
101 |
|
4.5.1. |
Краткая характеристика метода .................................................................................... |
101 |
4.5.2. |
Подготовка к измерениям................................................................................................... |
101 |
4.5.3. |
Настройка параметров...................................................................................................... |
102 |
4.5.4. |
Сканирование ....................................................................................................................... |
105 |
4.5.5. |
Способы улучшения изображения...................................................................................... |
105 |
4.6. КОНТАКТНЫЙ МЕТОД РАССОГЛАСОВАНИЯ...................................................................................... |
106 |
|
4.6.1. |
Краткая характеристика метода .................................................................................... |
106 |
4.6.2. |
Подготовка к измерениям................................................................................................... |
106 |
4.6.3. |
Настройки параметров...................................................................................................... |
107 |
4.6.4. |
Сканирование ....................................................................................................................... |
108 |
4.7. СПЕКТРОСКОПИЯ............................................................................................................................... |
108 |
|
4.7.1. |
Силовая спектроскопия (DFL(Height)) .............................................................................. |
109 |
|
4.7.1.1. Введение: исходное состояние, основные операции при работе с методикой |
|
|
спектроскопии......................................................................................................................... |
109 |
|
4.7.1.2. Переход в окно спектроскопии.............................................................................................. |
109 |
|
4.7.1.3. Установка вида измеряемой зависимости............................................................................. |
110 |
|
4.7.1.4. Установка интервала изменения аргумента.......................................................................... |
111 |
|
4.7.1.5. Задание прочих параметров.................................................................................................... |
112 |
|
4.7.1.6. Выбор точек спектроскопии................................................................................................... |
113 |
|
4.7.1.7. Запуск измерений.................................................................................................................... |
115 |
|
4.7.1.8. Просмотр данных спектроскопии.......................................................................................... |
116 |
|
4.7.1.9. Вычисление силы адгезии...................................................................................................... |
117 |
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
5. ПОЛУКОНТАКТНАЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ.............................................. |
119 |
|
5.1. ПОЛУКОНТАКТНЫЙ МЕТОД ............................................................................................................... |
119 |
|
5.1.1. |
Основные операции при работе по методам полуконтактной микроскопии............... |
119 |
5.1.2. |
Переключение прибора для работы по полуконтактным методам .............................. |
120 |
5.1.3. |
Установка рабочей частоты пьезогенератора............................................................... |
120 |
5.1.4. |
Подвод образца к зонду....................................................................................................... |
126 |
5.1.5. |
Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи.......................... |
129 |
5.1.6. |
Установка параметров сканирования............................................................................... |
130 |
5.1.7. |
Сканирование....................................................................................................................... |
134 |
5.1.8. |
Сохранение полученных данных.......................................................................................... |
138 |
5.1.9. |
Завершение работы............................................................................................................. |
138 |
5.2. ПОЛУКОНТАКТНЫЙ МЕТОД РАССОГЛАСОВАНИЯ............................................................................. |
139 |
|
5.2.1. |
Краткая характеристика метода.................................................................................... |
139 |
5.2.2. |
Подготовка к измерениям................................................................................................... |
140 |
5.2.3. |
Настройка параметров...................................................................................................... |
141 |
5.2.4. |
Сканирование....................................................................................................................... |
142 |
5.3. МЕТОД ОТОБРАЖЕНИЯ ФАЗЫ............................................................................................................. |
143 |
|
5.3.1. |
Краткая характеристика метода.................................................................................... |
143 |
5.3.2. |
Подготовка к измерениям................................................................................................... |
143 |
5.3.3. |
Настройка параметров...................................................................................................... |
144 |
5.3.4. |
Сканирование....................................................................................................................... |
146 |
5.3.5. |
Способы улучшения изображения...................................................................................... |
146 |
5.4. СПЕКТРОСКОПИЯ............................................................................................................................... |
147 |
|
5.4.1. |
Амплитудная спектроскопия (Mag(Height)) ..................................................................... |
147 |
|
5.4.1.1. Основные операции при спектроскопических измерениях................................................. |
147 |
|
5.4.1.2. Переход в окно спектроскопии.............................................................................................. |
148 |
|
5.4.1.3. Установка вида измеряемой зависимости............................................................................. |
148 |
|
5.4.1.4. Установка интервала изменения аргумента.......................................................................... |
149 |
|
5.4.1.5. Задание прочих параметров................................................................................................... |
151 |
|
5.4.1.6. Выбор точек спектроскопии .................................................................................................. |
152 |
|
5.4.1.7. Запуск измерений.................................................................................................................... |
154 |
|
5.4.1.8. Просмотр данных спектроскопии.......................................................................................... |
154 |
|
5.4.1.9. Калибровка амплитуды колебаний кантилевера.................................................................. |
155 |
6. СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ И СПЕКТРОСКОПИЯ..................... |
157 |
|
6.1. ВВЕДЕНИЕ.......................................................................................................................................... |
157 |
|
6.2. ПОДГОТОВКА К РАБОТЕ ПО МЕТОДАМ СТМ..................................................................................... |
157 |
|
6.2.1. |
Основные операции, выполняемые при подготовке прибора к работе.......................... |
157 |
6.2.2. |
Электромеханическое конфигурирование......................................................................... |
158 |
6.2.3. |
Загрузка калибровочных параметров сканера.................................................................. |
159 |
6.2.4. |
Изготовление зонда............................................................................................................. |
160 |
6.2.5. |
Установка зонда.................................................................................................................. |
162 |
6.2.6. |
Центрирование сканера...................................................................................................... |
163 |
6.2.7. |
Подготовка и установка образца...................................................................................... |
164 |
6.2.8. |
Установка измерительной головки.................................................................................... |
166 |
6.2.9. |
Предварительный подвод образца к зонду........................................................................ |
167 |
6.2.10. Установка защитного колпака.......................................................................................... |
167 |
|
6.2.11. Включение прибора.............................................................................................................. |
168 |
|
6.3. СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ................................................................................. |
169 |
|
6.3.1. |
Метод Постоянного Тока................................................................................................... |
169 |
|
6.3.1.1. Переключение прибора для работы методами туннельной микроскопии......................... |
169 |
|
6.3.1.2. Подвод образца к зонду.......................................................................................................... |
170 |
|
6.3.1.3. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи............................... |
173 |
|
6.3.1.4. Переключение сигнала обратной связи................................................................................. |
174 |
|
6.3.1.5. Установка параметров сканирования.................................................................................... |
175 |
|
6.3.1.6. Сканирование.......................................................................................................................... |
178 |
|
6.3.1.7. Сохранение полученных данных........................................................................................... |
181 |
|
6.3.1.8. Завершение работы................................................................................................................. |
181 |
6.3.2. |
Метод Постоянной Высоты. Получение атомарного разрешения на графите........... |
182 |
|
Содержание |
6.4. СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ............................................................................. |
186 |
6.4.1. I(V) спектроскопия.............................................................................................................. |
186 |
6.4.2. Модуляционная методика Сканирующей Туннельной Спектроскопии. Отображение |
|
Работы Выхода.................................................................................................................... |
188 |
6.4.2.1. Установка СЗМ метода........................................................................................................... |
188 |
6.4.2.2. Установка рабочей частоты пьезогенератора....................................................................... |
189 |
6.4.2.3. Сканирование .......................................................................................................................... |
191 |
ПРИЛОЖЕНИЯ......................................................................................................................................... |
192 |
|
1. СКАНЕРЫ С ЕМКОСТНЫМИ ДАТЧИКАМИ И ЭКВИВАЛЕНТ СКАНЕРА........................ |
192 |
|
1.1. ВВЕДЕНИЕ.......................................................................................................................................... |
192 |
|
1.2. СКАНЕРЫ С ЕМКОСТНЫМИ ДАТЧИКАМИ ПЕРЕМЕЩЕНИЯ.................................................................. |
194 |
|
1.3. ЭКВИВАЛЕНТ СКАНЕРА...................................................................................................................... |
195 |
|
1.4. ПОДГОТОВКА К РАБОТЕ СКАНЕРОВ С ДАТЧИКАМИ............................................................................ |
196 |
|
1.4.1. Загрузка калибровочных параметров сканера.................................................................. |
196 |
|
1.4.2. Включение/выключение XY обратной связи....................................................................... |
199 |
|
1.4.3. |
Устранение генерации......................................................................................................... |
200 |
1.5. ПОДГОТОВКА СКАНЕРА К РАБОТЕ С ЭКВИВАЛЕНТОМ ....................................................................... |
202 |
|
1.5.1. Формирование файла параметров сканера при работе с эквивалентом....................... |
202 |
|
1.5.2. Калибровка перемещения сканера по оси Z ....................................................................... |
206 |
|
1.6. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБСЛУЖИВАНИЕ........................................................................................................ |
208 |
|
1.6.1. Проверка настройки емкостных датчиков...................................................................... |
208 |
|
1.6.2. |
Подстройка емкостных датчиков..................................................................................... |
212 |
1.6.3. |
Калибровка сканера............................................................................................................. |
212 |
|
1.6.3.1. Калибровка перемещения сканера по осям X, Y .................................................................. |
213 |
|
1.6.3.2. Калибровка перемещения сканера по оси Z.......................................................................... |
215 |
2. СИСТЕМА ВИДЕОНАБЛЮДЕНИЯ................................................................................................ |
217 |
|
2.1. НАЗНАЧЕНИЕ ..................................................................................................................................... |
217 |
|
2.2. ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ..................................................................................................... |
217 |
|
2.3. УСТРОЙСТВО...................................................................................................................................... |
217 |
|
2.3.1. |
Позиционирующий штатив................................................................................................ |
219 |
2.3.2. |
Вспомогательное зеркало ................................................................................................... |
221 |
2.4. ПОДГОТОВКА К ЭКСПЛУАТАЦИИ....................................................................................................... |
224 |
|
2.4.1. |
Монтаж................................................................................................................................ |
224 |
2.4.2. |
Юстировка системы видеонаблюдения............................................................................ |
230 |
2.4.3. Настройка видеосистемы по глубине резкости............................................................... |
231 |
|
2.5. ПОДГОТОВКА К РАБОТЕ ..................................................................................................................... |
233 |
|
2.5.1. |
Смена рабочих позиций ....................................................................................................... |
233 |
2.5.2. Наблюдение по нормали к поверхности............................................................................. |
236 |
|
|
2.5.2.1. Конфигурация «сканирование образцом»............................................................................. |
236 |
|
2.5.2.2. Конфигурация «сканирование зондом»................................................................................. |
237 |
2.5.3. |
Наблюдение под малым углом к поверхности образца .................................................... |
241 |