- •Прочтите перед началом работы!
- •Обратная связь
- •Комплект пользовательской документации
- •Оглавление
- •Содержание
- •1. Основные сведения
- •1.1. Устройство
- •1.1.1. Блок подвода и сканирования
- •1.1.2. Сменные держатели образца
- •1.1.3. Сменные сканеры
- •1.1.4. Измерительные головки
- •1.1.4.1. Универсальная измерительная головка
- •1.1.4.2. Сканирующая измерительная головка
- •1.1.4.3. СТМ головка
- •1.1.5. Защитный колпак
- •1.1.6. Система управления
- •1.2. Правила безопасности
- •1.3. Условия эксплуатации
- •1.4. Правила хранения и транспортирования
- •2. Ввод в эксплуатацию
- •2.1. Установка интерфейсной платы
- •2.2. Установка программного обеспечения
- •2.3. Подключение электромеханических узлов
- •2.4. Порядок включения/выключения прибора
- •3. Подготовка прибора к работе по методам АСМ
- •3.1. Основные операции, выполняемые при подготовке прибора к работе
- •3.2. Электромеханическое конфигурирование
- •3.2.1. Сканирование образцом
- •3.2.2. Сканирование зондом
- •3.2.3. Особенности подключения при работе с эквивалентом сканера
- •3.2.4. Отключение осей сканирования
- •3.2.5. Особенности подключения для Solver PRO-M
- •3.3. Включение прибора
- •3.4. Загрузка калибровочных параметров сканера
- •3.5. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование образцом»
- •3.5.1. Начальная подготовка универсальной измерительной головки
- •3.5.2. Установка зондового датчика
- •3.5.3. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.1. Включение лазера
- •3.5.3.2. Окно настройки оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.4. Наведение лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.5.3.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.5.4. Предварительная установка измерительной головки
- •3.5.5. Подготовка и установка образца
- •3.5.6. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.5.7. Установка защитного колпака
- •3.6. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование зондом»
- •3.6.1. Установка зондового датчика
- •3.6.2. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.6.2.1. Включение лазера
- •3.6.2.2. Окно настройки оптической системы
- •3.6.2.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.4. Процедура наведения лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.6.2.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.6.3. Подготовка и установка образца
- •3.6.3.1. Установка образцов небольших размеров
- •3.6.4. Установка сканирующей измерительной головки
- •3.6.4.1. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.6.4.3. Предварительный подвод образца к зонду
- •4. Контактная атомно-силовая микроскопия
- •4.1. Метод Постоянной Силы
- •4.1.1. Основные операции при работе по методам контактной микроскопии
- •4.1.2. Переключение прибора для работы по контактным методам
- •4.1.3. Установка начального уровня сигнала DFL
- •4.1.4. Подвод образца к зонду
- •4.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •4.1.6. Установка параметров сканирования
- •4.1.7. Сканирование
- •4.1.8. Сохранение полученных данных
- •4.1.9. Завершение работы
- •4.2. Метод Латеральных Сил
- •4.2.1. Краткая характеристика метода
- •4.2.2. Подготовка к измерениям
- •4.2.3. Сканирование
- •4.3. Метод Постоянной Высоты
- •4.3.1. Краткая характеристика метода
- •4.3.2. Подготовка к измерениям
- •4.3.3. Настройка параметров
- •4.3.4. Сканирование
- •4.4. Метод Отображения Сопротивления Растекания
- •4.4.1. Краткая характеристика метода
- •4.4.2. Подготовка к измерениям
- •4.4.3. Настройка параметров
- •4.4.4. Сканирование
- •4.4.5. Способы улучшения изображения
- •4.5. Метод Модуляции Силы
- •4.5.1. Краткая характеристика метода
- •4.5.2. Подготовка к измерениям
- •4.5.3. Настройка параметров
- •4.5.4. Сканирование
- •4.5.5. Способы улучшения изображения
- •4.6. Контактный Метод Рассогласования
- •4.6.1. Краткая характеристика метода
- •4.6.2. Подготовка к измерениям
- •4.6.3. Настройки параметров
- •4.6.4. Сканирование
- •4.7. Спектроскопия
- •4.7.1. Силовая спектроскопия (DFL(Height))
- •4.7.1.1. Введение: исходное состояние, основные операции при работе с методикой спектроскопии
- •4.7.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •4.7.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •4.7.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •4.7.1.5. Задание прочих параметров
- •4.7.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •4.7.1.7. Запуск измерений
- •4.7.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •4.7.1.9. Вычисление силы адгезии
- •5. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия
- •5.1. Полуконтактный метод
- •5.1.1. Основные операции при работе по методам полуконтактной микроскопии
- •5.1.2. Переключение прибора для работы по полуконтактным методам
- •5.1.3. Установка рабочей частоты пьезогенератора
- •5.1.4. Подвод образца к зонду
- •5.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •5.1.6. Установка параметров сканирования
- •5.1.7. Сканирование
- •5.1.8. Сохранение полученных данных
- •5.1.9. Завершение работы
- •5.2. Полуконтактный Метод Рассогласования
- •5.2.1. Краткая характеристика метода
- •5.2.2. Подготовка к измерениям
- •5.2.3. Настройка параметров
- •5.2.4. Сканирование
- •5.3. Метод отображения фазы
- •5.3.1. Краткая характеристика метода
- •5.3.2. Подготовка к измерениям
- •5.3.3. Настройка параметров
- •5.3.4. Сканирование
- •5.3.5. Способы улучшения изображения
- •5.4. Спектроскопия
- •5.4.1. Амплитудная спектроскопия (Mag(Height))
- •5.4.1.1. Основные операции при спектроскопических измерениях
- •5.4.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •5.4.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •5.4.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •5.4.1.5. Задание прочих параметров
- •5.4.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •5.4.1.7. Запуск измерений
- •5.4.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •5.4.1.9. Калибровка амплитуды колебаний кантилевера
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
1. Основные сведения
1.1. Устройство
Основными функциональными устройствами, входящими в состав прибора, являются:
−измерительный блок:
−блок подвода и сканирования;
−измерительная головка;
−сканер;
−система управления:
−СЗМ контроллер;
−компьютер с интерфейсной платой;
−система виброизоляции;
−эквивалент сканера;
−система видеонаблюдения;
−защитный колпак.
Общий вид прибора Solver PRO показан на Рис. 1-1.
10
Глава 1. Основные сведения
Рис. 1-1. Общий вид Solver PRO
1 – блок подвода и сканирования, 2 – измерительная головка, 3 – эквивалент сканера; 4 – виброизолирующая платформа, 5 – система видеонаблюдения
В сканирующем зондовом микроскопе Solver PRO реализован принцип модульности. Такой подход позволяет настраивать прибор для проведения измерений характеристик широчайшего круга объектов – от атомной структуры нанотрубок до качества лакокрасочного покрытия. Широта применения обеспечивается не созданием дорогостоящего и громоздкого измерительного комбайна, а возможностью выбора пользователем наиболее подходящей для его круга задач приборной конфигурации.
Фактически Solver PRO представляет блок подвода и СЗМ контроллер с широким набором механических, электромеханических и электронных модулей, блоков и узлов, на основе которых может быть достаточно просто скомпонован СЗМ, сконфигурированный под решение конкретной задачи.
Подобное устройство прибора обеспечивает его универсальность и позволяет работать практически во всех известных методах зондовой микроскопии.
11
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
1.1.1. Блок подвода и сканирования
Блок подвода и сканирования (далее – блок подвода) является базовым устройством прибора. Основное функциональное назначение блока - подвод (отвод) и позиционирование образца.
На блок подвода устанавливаются измерительные головки, сменные сканеры, держатели образца, термостолики, ячейки и т.п.
На Рис. 1-2 показан общий вид и основные элементы блока подвода.
Рис. 1-2. Блок подвода и сканирования
1– платформа, 2 – опорная планшайба, 3 – стойки, 4 – универсальное основание, 5 – винт ручного подвода, 6 – позиционер, 7 – держатель образца, 8 – штуцер
Блок подвода установлен на массивной платформе 1 на трех стойках 3. Весь узел блока подвода базируется на опорной планшайбе 2. Снизу планшайбы, под кожухом, находится механизм подвода образца к зонду. Сверху расположены универсальное основание 4 и позиционер 6, а также ответные части разъёмов. Кроме того, на опорной планшайбе имеется штуцер 8, который используется при работе с защитным колпаком для подачи газа либо откачки воздуха.
12
Глава 1. Основные сведения
Принцип работы механизма подвода
Устройство механизма подвода схематично показано на Рис. 1-3.
Рис. 1-3. Устройство механизма подвода 1 – шаговый двигатель, 2 – винт подачи, 3 – гайка, 4 – подвижной цилиндр,
5 – статичный цилиндр, 6 –позиционер, 7 – образец, 8 – винт ручного подвода, 9 – стопор, 10 – опорная планшайба
Шаговый двигатель 1 вращает винт подачи 2. Гайка 3, перемещается по винту подачи и двигает подвижный цилиндр 4, на котором закреплен позиционер 6. Подвижный цилиндр посажен в статичном цилиндре 5, который закреплен на планшайбе 10. Для предотвращения проворачивания гайки 3 предусмотрен стопор 9. Винт ручного подвода 8 предназначен для грубого подвода образца к зонду.
В процессе автоматического подвода, как только образец вступает во взаимодействие с зондом, и сигнал обратной связи достигает заданного значения («Set Point»), шаговый двигатель автоматически делает несколько шагов в обратную сторону. Гайка выходит из соприкосновения с верхней стенкой подвижного цилиндра. Двигатель останавливается, а подвижный цилиндр за счет трения остаётся на месте. Величина хода реверса задаётся программно в файле параметров. Таким образом, устраняется механический контакт между приводом подвода и сканером во время проведения измерений.
13
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
Универсальное основание и позиционер
Универсальное основание закреплено на опорной планшайбе блока подвода, а позиционер установлен на подвижном цилиндре механизма подвода.
Рис. 1-4. Универсальное основание и |
Рис. 1-5. Позиционер |
позиционер |
1 – микрометрические винты, |
1, 2 – посадочные гнезда для установки |
2 – пружинные упоры |
измерительных головок; 3 – стойки для |
|
установки зеркала; 4 - позиционер |
|
На универсальном основании имеются посадочные гнезда для установки измерительных головок (см. поз. 1, 2 на Рис. 1-4), а также стойки (см. поз. 3 на Рис. 1-4) для установки вспомогательного зеркала при работе с системой видеонаблюдения.
В позиционер устанавливают держатель образца, сканер, или другое устройство, на котором закрепляется образец. Позиционирование по осям XY осуществляется с помощью микрометрических винтов 1 (Рис. 1-5). Напротив микрометрических
винтов расположены пружинные |
упоры |
2, |
которые фиксируют устройство |
|
с образцом в позиционере, прижимая |
его |
к микрометрическим |
винтам. |
|
Диапазон позиционирования по |
осям |
XY |
составляет 5х5 мм. |
Точность |
позиционирования – 5 мкм. |
|
|
|
|
14