- •Прочтите перед началом работы!
- •Обратная связь
- •Комплект пользовательской документации
- •Оглавление
- •Содержание
- •1. Основные сведения
- •1.1. Устройство
- •1.1.1. Блок подвода и сканирования
- •1.1.2. Сменные держатели образца
- •1.1.3. Сменные сканеры
- •1.1.4. Измерительные головки
- •1.1.4.1. Универсальная измерительная головка
- •1.1.4.2. Сканирующая измерительная головка
- •1.1.4.3. СТМ головка
- •1.1.5. Защитный колпак
- •1.1.6. Система управления
- •1.2. Правила безопасности
- •1.3. Условия эксплуатации
- •1.4. Правила хранения и транспортирования
- •2. Ввод в эксплуатацию
- •2.1. Установка интерфейсной платы
- •2.2. Установка программного обеспечения
- •2.3. Подключение электромеханических узлов
- •2.4. Порядок включения/выключения прибора
- •3. Подготовка прибора к работе по методам АСМ
- •3.1. Основные операции, выполняемые при подготовке прибора к работе
- •3.2. Электромеханическое конфигурирование
- •3.2.1. Сканирование образцом
- •3.2.2. Сканирование зондом
- •3.2.3. Особенности подключения при работе с эквивалентом сканера
- •3.2.4. Отключение осей сканирования
- •3.2.5. Особенности подключения для Solver PRO-M
- •3.3. Включение прибора
- •3.4. Загрузка калибровочных параметров сканера
- •3.5. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование образцом»
- •3.5.1. Начальная подготовка универсальной измерительной головки
- •3.5.2. Установка зондового датчика
- •3.5.3. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.1. Включение лазера
- •3.5.3.2. Окно настройки оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.5.3.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.4. Наведение лазерного луча на кантилевер
- •3.5.3.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.5.3.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.5.4. Предварительная установка измерительной головки
- •3.5.5. Подготовка и установка образца
- •3.5.6. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.5.7. Установка защитного колпака
- •3.6. Подготовка прибора для конфигурации «Сканирование зондом»
- •3.6.1. Установка зондового датчика
- •3.6.2. Настройка оптической системы регистрации изгибов кантилевера
- •3.6.2.1. Включение лазера
- •3.6.2.2. Окно настройки оптической системы
- •3.6.2.3. Общая информация о наведении лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.4. Процедура наведения лазерного луча на кантилевер
- •3.6.2.5. Настройка положения фотодиода при помощи индикатора сигналов фотодиода
- •3.6.2.6. Подстройка положения лазерного луча
- •3.6.3. Подготовка и установка образца
- •3.6.3.1. Установка образцов небольших размеров
- •3.6.4. Установка сканирующей измерительной головки
- •3.6.4.1. Установка измерительной головки на блок подвода
- •3.6.4.3. Предварительный подвод образца к зонду
- •4. Контактная атомно-силовая микроскопия
- •4.1. Метод Постоянной Силы
- •4.1.1. Основные операции при работе по методам контактной микроскопии
- •4.1.2. Переключение прибора для работы по контактным методам
- •4.1.3. Установка начального уровня сигнала DFL
- •4.1.4. Подвод образца к зонду
- •4.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •4.1.6. Установка параметров сканирования
- •4.1.7. Сканирование
- •4.1.8. Сохранение полученных данных
- •4.1.9. Завершение работы
- •4.2. Метод Латеральных Сил
- •4.2.1. Краткая характеристика метода
- •4.2.2. Подготовка к измерениям
- •4.2.3. Сканирование
- •4.3. Метод Постоянной Высоты
- •4.3.1. Краткая характеристика метода
- •4.3.2. Подготовка к измерениям
- •4.3.3. Настройка параметров
- •4.3.4. Сканирование
- •4.4. Метод Отображения Сопротивления Растекания
- •4.4.1. Краткая характеристика метода
- •4.4.2. Подготовка к измерениям
- •4.4.3. Настройка параметров
- •4.4.4. Сканирование
- •4.4.5. Способы улучшения изображения
- •4.5. Метод Модуляции Силы
- •4.5.1. Краткая характеристика метода
- •4.5.2. Подготовка к измерениям
- •4.5.3. Настройка параметров
- •4.5.4. Сканирование
- •4.5.5. Способы улучшения изображения
- •4.6. Контактный Метод Рассогласования
- •4.6.1. Краткая характеристика метода
- •4.6.2. Подготовка к измерениям
- •4.6.3. Настройки параметров
- •4.6.4. Сканирование
- •4.7. Спектроскопия
- •4.7.1. Силовая спектроскопия (DFL(Height))
- •4.7.1.1. Введение: исходное состояние, основные операции при работе с методикой спектроскопии
- •4.7.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •4.7.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •4.7.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •4.7.1.5. Задание прочих параметров
- •4.7.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •4.7.1.7. Запуск измерений
- •4.7.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •4.7.1.9. Вычисление силы адгезии
- •5. Полуконтактная атомно-силовая микроскопия
- •5.1. Полуконтактный метод
- •5.1.1. Основные операции при работе по методам полуконтактной микроскопии
- •5.1.2. Переключение прибора для работы по полуконтактным методам
- •5.1.3. Установка рабочей частоты пьезогенератора
- •5.1.4. Подвод образца к зонду
- •5.1.5. Установка рабочего уровня коэффициента усиления обратной связи
- •5.1.6. Установка параметров сканирования
- •5.1.7. Сканирование
- •5.1.8. Сохранение полученных данных
- •5.1.9. Завершение работы
- •5.2. Полуконтактный Метод Рассогласования
- •5.2.1. Краткая характеристика метода
- •5.2.2. Подготовка к измерениям
- •5.2.3. Настройка параметров
- •5.2.4. Сканирование
- •5.3. Метод отображения фазы
- •5.3.1. Краткая характеристика метода
- •5.3.2. Подготовка к измерениям
- •5.3.3. Настройка параметров
- •5.3.4. Сканирование
- •5.3.5. Способы улучшения изображения
- •5.4. Спектроскопия
- •5.4.1. Амплитудная спектроскопия (Mag(Height))
- •5.4.1.1. Основные операции при спектроскопических измерениях
- •5.4.1.2. Переход в окно спектроскопии
- •5.4.1.3. Установка вида измеряемой зависимости
- •5.4.1.4. Установка интервала изменения аргумента
- •5.4.1.5. Задание прочих параметров
- •5.4.1.6. Выбор точек спектроскопии
- •5.4.1.7. Запуск измерений
- •5.4.1.8. Просмотр данных спектроскопии
- •5.4.1.9. Калибровка амплитуды колебаний кантилевера
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
3.6.3. Подготовка и установка образца
Прибор (в данной конфигурации) позволяет исследовать образцы, имеющие линейные размеры в плоскости до 100 мм и толщину до 15 мм.
3.6.3.1.Установка образцов небольших размеров
Стандартные подложки для крепления образцов
Образцы, имеющие небольшие размеры (менее 10-12 мм), рекомендуется закреплять на подложке, устанавливаемой на держателе образца.
В качестве подложек для крепления образца рекомендуется использовать стандартную подложку (Рис. 3-76), которая изготовлена из поликристаллического сапфира и имеет размеры 24х19х0.5 мм.
Образцы, имеющие размеры более 10-15 мм но менее 40-50 мм рекомендуется закреплять на специальной переходной подложке (Рис. 3-77). Можно также использовать стандартную подложку с наклеенной на нее переходной пластиной, толщиной около 2 мм. Толщина пластины должна быть достаточной, чтобы приподнять образец над клипсами держателя, а ширина должна быть меньше расстояния между клипсами. Образец закрепляется на переходную пластину.
Для закрепления образцов на подложках можно использовать двустороннюю липкую ленту.
Рис. 3-76 |
Рис. 3-77 |
Если необходимо обеспечить электрическое соединение образца с элементами прибора, рекомендуется использовать специальную подложку с пружинным контактом (Рис. 3-47).
Рис. 3-78
68
Глава 3. Подготовка прибора к работе по методам АСМ
При использовании специальной подложки электрическое соединение образца с прибором обеспечивается пружинным контактом, который соединительным проводом со штекером подключается к соответствующему гнезду, находящемуся на блоке подвода. На блоке подвода имеются два гнезда (Рис. 3-48): универсальное гнездо 1 для подачи заданного напряжения смещения (BV) или заземления образца, а также гнездо заземления 2.
*ВНИМАНИЕ! При работе с контроллером модели BL022MTM (BL022MRM), который используется в приборе Solver PRO-M, нельзя использовать гнездо BV для заземления образца, так как сигнал BiasVoltage подается одновременно на держатель зондового датчика и гнездо BV.
Рис. 3-79 1 – гнездо для подачи напряжения смещения на образец;
2 – гнездо заземления
Держатель образца:
Для установки образцов небольших размеров имеется специальный предметный столик (Рис. 3-80, Рис. 3-81), основание которого изготовлено из ферромагнитного материала.
Рис. 3-80
Предметный столик устанавливается на магнитный фиксатор (Рис. 3-82), расположенный на фланце держателя образца. Такая конструкция позволяет
69
СЗМ Solver PRO. Руководство пользователя. Основная часть
поворачивать предметный столик относительно вертикальной оси на любой угол, что обеспечивает установку любой необходимой ориентации образца в плоскости X,Y.
Рис. 3-81 |
Рис. 3-82 |
Подложка с закрепленным образцом устанавливается на предметный столик держателя образца. При установке подложка вдвигается сбоку под клипсы со стороны двух шариков (Рис. 3-83) таким образом, чтобы клипсы прижимали подложку, а нижняя поверхность подложки опиралась на три опорных шарика.
Рис. 3-83 |
Рис. 3-84 |
3.6.3.2.Установка образцов больших размеров
70