Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Физика. Ч.3. Развернутый конспект лекций

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
08.09.2026
Размер:
2 Мб
Скачать
☆
91
3. Объясните, что такое фононы. Какой статистикой описыва-
ется поведение этих частиц?
4. Объясните, как возникают зоны энергий в кристалле.
5. В чем заключается отличие зонных схем металлов, полупро-
водников и диэлектриков?
6. Дайте краткую характеристику приближений, которыми
пользуются для описания движения электрона в кристалле.
7. Что называется функцией Блоха?
8. Что называется зонами Бриллюэна?
92
E
F
E
dk
d
dk
dE
1
dt
dk
dEF
dt
dk
dt
d
Г
dt
dk
dk
Ed
2
2
1
F
dk
Ed
2
2
2
1
Лекция № 10
10.1 Движение электронов в кристалле под действием электрического поля. Эффективная масса
При приложении к кристаллу внешнего электрического по-
ля напряженности
 e
(здесь e 1,610
на электроны действуют силы этого поля
19
Кл – элементарный заряд) и силы
периодического поля кристаллической решетки.
Скорость движения электрона в кристалле определяется
групповой скоростью распространения электронных волн:
Г
, (10.1)
где E ħ. Наличие групповой скорости вытекает из соотно­шения неопределенности (электрон в кристалле хотя бы ча­стично локализован в пространстве), то есть центр группы волн задает наиболее вероятное положение электрона при его дви­жении.
За время dt внешняя сила F совершит работу по перемеще-
нию электрона, которая численно будет равна изменению его энергии:
dEF
dt
Г
. (10.2)
В результате:
F ħ
. (10.3)
С другой стороны ускорение электрона равно
a
, (10.4)
и, объединяя с (10.3), получаем
a
. (10.5)
93
22
2
E/dkd
22
2
E/dkd
E(k)
k
Г
(k)
0 k
m*(k)
0 k
Рис. 10.1
/a 0 /a
Соотношение (10.5) представляет собой второй закон Нью-
тона, если сомножитель
су, характеризующую электрон. Эта масса получила название
эффективной:
электрона (если поле решетки совпадает по направлению с внешним электрическим полем, m* me, если наоборот, то
m* me), а по знаку принимать как положительные, так и отри-
цательные значения. Эффективная масса является параметром данного материала. Общая ситуация показана на рис. 10.1.
представить как некую мас-
m*
. (10.6)
Ранее мы уже упоминали об ис-
кусственности применения к кван­томеханическим объектам понятий силы и ускорения. Тем не менее, соотношение (10.5) очень полезно для некоторых расчетов, так как позволяет заменить действие сил внешнего и кристаллического по­лей действием сил одного внешне­го поля. То есть, электрон в перио­дическом поле кристалла двигается под действием силы внешнего электрического поля в среднем так, как передвигался бы под действи­ем силы внешнего поля свободный электрон, обладающий введенной эффективной массой.
Эффективная масса не дает представления об инерционных или гравитационных свойствах электро­на. Это искусственный параметр, который может быть больше или меньше массы me покоящегося
94
10.2 Понятие о дырках
Электроны валентной зоны под действием ряда факторов
(электрическое поле, тепловая энергия и т.д.) могут переходить в близлежащую свободную зону или занимать свободные со­стояния внутри валентной зоны, если таковые имеются. На месте ушедшего электрона формируется вакантное состояние, которое получило название «дырки». Образующееся вакантное состояние может замещаться соседними электронами валент­ной зоны, и дырка как бы перемещается по кристаллу. Если приложить внешнее электрическое поле, появится дырочный ток (если цепь замкнута).
Таким образом, дырки – это квазичастицы, которые очень
удобны для описания различных кинетических явлений в твёр­дых телах. Дырки являются вакансией электрона, поэтому их энергию отсчитывают от потолка валентной зоны вниз. Со­гласно принципу «минимизации» энергии, основным состояни­ем дырки является потолок валентной зоны.
Дырка, подобно электрону обладает эффективной массой,
которая положительна и по абсолютной величине равна эффек­тивной массе электрона, ранее занимавшего данное вакантное состояние. Заряд дырки равен 1,610
19
Кл.
10.3 Основные типы энергетических уровней в кристаллах
Любые кристаллы всегда содержат точечные дефекты (соб-
ственные или примесные), которые создают локальные энерге­тические уровни. Эти уровни локальны, так как точечных де­фектов намного меньше, чем атомов основного вещества. Они могут располагаться как в разрешённой, так и в запрещенной зонах кристалла, существенно влияя на его оптические и элек­трофизические свойства.
10.3.1 Донорные уровни
Донорные уровни образуют точечные дефекты, имеющие
лишний электрон (или электроны), который не участвует в
95
Si Si Si
Si As Si
Si Si Si
EC Ed
E
V
Полупроводник n-типа
Рис. 10.2
связях для образования решетки. Энергетический уровень та­кого электрона обычно находится около дна свободной зоны. Примером может служить примесь мышьяка (As) в германии (Ge) или кремнии (Si), рис. 10.2.
В кристаллической решетке кремния каждый атом окружен четырьмя ближайшими соседями, образуя с ними прочные ва­лентные связи. Примесь мышьяка (донорная примесь замеще­ния) имеет пять валентных электронов (V группа периодиче­ской таблицы), четыре из них будут находиться в химической связи с соседними атомами кремния, а пятый в образовании
такой связи не участвует. Этот «лишний» электрон слабо свя­зан с ядром и изображается на зонной схеме кремния локаль­ным энергетическим уровнем, заполненным электроном и рас­положенным вблизи свободной зоны, рис. 10.2. При сообщении электронам таких донорных уровней совсем небольшой энер­гии Ed (в нашем примере Ed 0,05 эВ) они переходят в свобод­ную зону, которая из-за их появления, превращается в зону проводимости. Образующиеся при этом положительные заряды локализуются на неподвижных атомах примеси и в электро­проводности не участвуют.
96
Si Si Si
Si In Si
Si Si Si
EC
E
a
E
V
дырка Полупроводник p-типа
Рис. 10.3
10.3.2 Акцепторные уровни
Акцепторный уровень создает точечный дефект (акцептор), у которого не хватает электронов для осуществления всех свя­зей в кристаллической решетке. Примером может служить примесь индия (In) в германии или кремнии, рис. 10.3.
Для образования связи с четырьмя ближайшими атомами кремния у индия не хватает одного электрона. В результате на зонной схеме кремния образуется пустой локальный энергети­ческий уровень (акцепторный уровень), расположенный вблизи валентной зоны, рис. 10.3. При сообщении кристаллам кремния достаточно низкой энергии Ea (в нашем примере Еа 0,16 эВ) электроны валентной зоны переходят на свободные локализо­ванные акцепторные состояния. В валентной зоне образуются дырки, и может наблюдаться дырочная проводимость, при этом атомы индия превращаются в отрицательно заряженные ионы.
Возможна ситуация, когда доноры и акцепторы присут­ствуют одновременно, тип проводимости (электронная или дырочная) в этом случае зависит от соотношения концентрации доноров и акцепторов и положения их энергетических уровней в запрещенной зоне.
97
Рис. 10.4
EC
E
V
Рис. 10.5
EC
E
V
10.3.3 Центры рекомбинации
При достаточно высокой тем-
пературе возможен переход электронов из валентной зоны в свободную, что при малой кон­центрации точечных дефектов задает так называемую собствен­ную проводимость. Возможны и обратные переходы (из свобод­ной зоны в валентную), что при­ведет к соединению электрона с дыркой (их рекомбинации). В равновесных условиях скорость
генерации таких электронно-дырочных пар (число переходов в единицу времени в единице объема) равна скорости их реком­бинации. Рекомбинация может происходить и через локальные уровни (обычно глубокие), образованные точечными дефекта­ми в запрещенной зоне (рис. 10.4).
Эти дефекты в этом случае называются центрами рекомби- нации носителей заряда.
10.3.4 Уровни прилипания
В промежутках времени меж­ду генерацией и рекомбинацией электрон (и дырка) может захва­титься на уровни прилипания (ловушки), время пребывания на которых зависит от их располо­жения в запрещенной зоне, рис.10.5.
98
n
E
E
EdnC)(
10.3.5 Экситоны
Электрон зоны проводимости и дырка валентной зоны при близком пространственном расположении могут образовывать связанную кулоновскими силами временно существующую систему, которая получила название – экситон. В предположе­нии слабого взаимодействия, когда размеры экситона велики по сравнению с постоянной решетки кристалла, экситон можно представить как электрон и дырку, связанные кулоновскими силами и медленно двигающимися по большим орбитам отно­сительно их центра масс. В такой модели экситон ведет себя аналогично атому позитрония и имеет водородоподобную схе­му расположения энергетических уровней, которые иногда изображают в запрещенной зоне кристалла.
10.4 Распределение электронов по энергетическим уровням
10.4.1 Собственный полупроводник
Рассмотрим сначала собственный полупроводник. Электро­ны подчиняются статистике Ферми-Дирака, поэтому перенесем основные выкладки, которые были получены для газа фермио­нов, к нашей ситуации, рис. 10.6.
Поскольку концентрация электронов, обладающих энергией в интервале E, E dE определяется выражением
dn(E) f(E)g(E)dE, (10.7)
то концентрация электронов в зоне проводимости равна
n
. (10.8)
При обычных температурах энергия электронов в зоне про­водимости не превышает kT, поэтому они в основном сосредо­точены в нижней части этой зоны. В таких условиях уравнение (10.8) можно переписать в виде (начало отсчета по шкале энер­гий ЕC 0):
99
0
)(Edn
1
1
F
kTEE
e
kT
E
kT
E
ee
F
kT
E
* e
kT
E
kT
E
*
e
ekT)m
h
dEEeem
h
F
2
3
3
2
1
0
F
2
3
3
(2
2
)(2
4
*
e
m
2
3
*
3
)(22kTm
h
e
E
g(E)
kT
dE
dn
f(E)g(E)
EF f(E)
f(E) 1 0,5 0
Рис. 10.6
g(E) 0
dE
dn
En
EC
E
V
n
. (10.9)
У нас EC EF  kT (как увидим, в дальнейшем EF в соб­ственном полупроводнике находится примерно посередине
запрещенной зоны) или E EF  kT, поэтому функция распре­деления Ферми-Дирака f(E) в уравнении (10.7) перейдет в клас­сическую функцию Максвелла-Больцмана
f(E)
Объединяя уравнения (6.22), (10.8) и (10.10), получаем
n
где
– эффективная масса электрона, а выражение вида
NC называют эффективной плотностью числа
. (10.10)
, (10.11)
100
kT
EE
e
FC
kT
EE
e
VF
2
3
*
3
)(22kTm
h
p
*
p
m
kT
EE
e
FC
C
V
N
N
kT
EE
e
VF
)(
4
3
2
)(
22
VC
C
VVC
* e
*
p
m
m
kTln
EE
N
N
ln
kT
EE
2
VC
EE
2
E
*
*
p
m
*
e
m
состояний. Принимая за начало отсчёта уровень энергии Е
0,
C
выражение (10.11) обычно переписывают в виде
n N
C
. (10.12)
Уравнение (10.12) выглядит так, как будто мы работаем только с одним уровнем энергии EC и число состояний, соот­ветствующих этой энергии, равно NC (при температуре
T300К, N
 2,510
C
19
см3).
Вернемся к рассмотрению положения уровня Ферми в соб­ственном полупроводнике, которому соответствует условие n p, где р – концентрация дырок.
Вводя, по аналогии с (10.12) уравнение
где
p N
V
– эффективная масса дырки, и, учитывая условие n p,
, NV
, (10.13)
получаем:
. (10.14)
Логарифмируя (10.14) и преобразуя полученное выражение, переходим к формуле для расчёта положения уровня Ферми
EF
. (10.15)
Из (10.15) следует, что при T0К равновесный уровень Ферми в собственном полупроводнике находится посередине запрещённой зоны*, то есть
EF
, (10.16)
где Е – ширина запрещенной зоны. В результате
С повышением температуры уровень Ферми немного подни-
мается, так как обычно
. Но для подавляющего боль-
шинства полупроводников это смещение при обычных темпера­турах мало, и им можно пренебречь.
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]