Литература / (тоже супер) физосновы для экз
.pdf
200 |
Р А З Д Е Л 2 |
квадратной формы (A = B) и a = b, чему соответствует оптимальное число звеньев меандра
nопт = (Kф/2)1/2, |
(2.1.32) |
которое округляют до ближайшего целого. Поэтому при расчетах, определив количе-
ство звеньев n меандра по (2.1.32), lср по (2.1.26) и t по (2.1.27), используя (2.1.28) и (2.1.29), вычисляют геометрические размеры меандра. На заключительной стадии определяют длину прямолинейного участка одного звена меандра
ln = |
R i −mиRи |
b, |
(2.1.33) |
|
|||
|
ρSn |
|
|
где mи — число изгибов; Rи = 2,55ρS — сопротивление прямоугольного изгиба (см. рис. 2.23б); Rи = 4ρS — сопротивление П-образного изгиба (см. рис. 2.23б); Rи = 0,68 lg(r2/r1) — сопротивление изгиба закругленной формы (см. рис. 2.23в).
Однако на практике не всегда удается использовать квадратную форму меандра, что обусловлено топологией всей платы. В этом случае, зная габаритную площадь Sг под резистор, задается один из размеров меандра (A или B), определяют второй размер (B = Sг/A или A = Sг/B) и число звеньев n меандра, используя (2.1.28) или (2.1.29), или (2.1.31).
Для машинного расчета геометрических размеров группы тонкопленочных резисторов из одного материала с различными значениями Kф можно воспользоваться программой. В качестве исходных данных в программе используют данные по электрическим, конструктивно-технологическим и эксплуатационным требованиям, а также параметры выбранной резистивной пленки. В результате расчета определяется топология резисторов, их геометрические размеры и суммарная площадь.
Проектирование подгоняемых резисторов.
При проектировании пленочных резисторов по-
Ф И З И Ч Е С К И Е Я В Л Е Н И Я И П Р О Ц Е С С Ы В П Л Е Н О Ч Н Ы Х С Т Р У К Т У РА Х |
201 |
вышенной точности применяют специальные конструкции (рис. 2.24), допускающие ступенчатую и плавную подгонку их сопротивлений. Конструкция резисторов для ступенчатой подгонки (рис. 2.24а–в) предусматривает две части: основную длиной l0 и дополнительную с подгоночными секциями длиной lс, причем шаг подгонки может быть постоянным (рис. 2.24а, в) и переменным (рис. 2.24б). Ступенчатая подгонка резисторов осуществляется удалением металлических перемычек в подгоночных секциях.
а |
б |
в |
г |
д |
е |
Рис. 2.24
Конфигурация пленочных резисторов со ступенчатой (а–в) и плавной (г–е) подгонкой
Проектирование подгоняемых резисторов сводится к определению длины и количества подгоночных секций. Методика расчета ступенчато подгоняемых резисторов с постоянным и переменным шагом подгонки основана на предположении, что погрешность сопротивления определяется в основном разбросом (невоспроизведением) удельного поверхностного сопротивления. При этом значение сопротивления резистора должно находиться в пределах поля допуска = Rmax – Rmin, которое больше поля рассеяния сопротивлений. Тогда при максимальном значении удельного поверхностного сопротивления ρS max сопротивление резистора Rmax должно определяться сопротивлением основной его части R0 (все перемычки замкнуты), т. е.
Rmax = R0 max = ρS max |
l0 |
. |
(2.1.34) |
|
|||
|
b |
|
|
202 |
Р А З Д Е Л 2 |
При минимальном удельном поверхностном сопротивлении ρS min требуемое значение сопротивления резистора должно находиться в пределах поля допуска и определяться суммой сопротивления R0 основной части и сопротивлений Rс i всех nс последовательно включенных подгоночных секций (все перемычки разомкнуты, см. рис. 2.24а, б):
|
|
|
|
nc |
|
|
|
Rmin ≤ R0 min + ∑Rс i |
≤ Rmax |
(2.1.35) |
|||||
|
|
|
|
i=1 |
|
|
|
или |
|
|
|
|
|
||
|
|
l |
|
nc |
lс i |
|
|
Rmin ≤ ρS min |
0 |
+ ∑ρS min |
|
≤ Rmax, |
|
||
b |
b |
|
|||||
|
|
|
i=1 |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
где lс i — длина i-й подгоночной секции. |
|
||||||
Если все nс секции одинаковые, то |
|
||||||
nc |
|
|
|
|
|
||
∑Rс i = ncRc = |
|
|
|||||
i=1 |
|
|
|
|
(2.1.36) |
||
= ρS min |
nclc |
≤ Rmin − R0 min. |
|
||||
|
|
||||||
|
|
b |
|
|
|
|
|
Максимальное значение сопротивления одной секции не должно превышать величину поля допуска, т. е.
Rc max ≈ ρS max |
lc |
≤ Rmax − Rmin. |
(2.1.37) |
|
b |
||||
|
|
|
Из (2.1.37) можно определить длину одной подгоночной секции, а при совместном решении уравнений (2.1.36) и (2.1.37) — количество однотипных секций
nc = |
Rmin − R0 min |
= |
|
|||
|
|
|
||||
|
|
Rс min |
||||
|
(2.1.38) |
|||||
= |
Rmin − R0 min ρS max |
|||||
|
|
|
. |
|||
Rmax − Rmin |
ρS min |
|||||
Ф И З И Ч Е С К И Е Я В Л Е Н И Я И П Р О Ц Е С С Ы В П Л Е Н О Ч Н Ы Х С Т Р У К Т У РА Х |
203 |
Порядок расчета следующий. По заданным значениям Ri, δR, ρS, δρS, Pi, P0, принимая δR = δρS,
определяют границы поля рассеяния
и Rmin :
Rmax |
= Rmax = Ri (1+ δρS ), |
(2.1.39) |
|||
|
1 |
− δρS |
|
||
Rmin |
= Rmin = Rmax |
|
|
. |
(2.1.40) |
1 |
+ δρS |
||||
Затем определяют ширину b резистора исходя из допустимой мощности рассеяния:
|
PρS max 1/2 |
|
|
b ≥ |
|
. |
(2.1.41) |
|
|||
|
P 0 Rmax |
|
|
Используя (2.1.34), определяют длину l0 основной части резистора, а по выражению (2.1.38) — количество секций nс. Полученное значение nс округляют до ближайшего большего целого числа. С помощью выражения (2.1.37) определяют длину подгоночной секции:
lc = |
(Rmax − Rmin )b |
. |
(2.1.42) |
|
|||
|
ρS max |
|
|
Полученное из (2.1.42) значение lс должно быть больше технологических ограничений lmin. Если условие lc ≥ lmin не выполняется, то принимают lc = lmin и рассчитывают ширину bс секции по выражению (2.1.37).
При проектировании резисторов с переменным шагом подгонки (используется с целью сокращения количества элементов подгонки) при-
меняют закон изменения шага подгонки в виде ряда lс1, lс2 = 21lс1, lс3 = 22 lс1, ..., lсn = 2nс −1lс1, соответствующего членам геометрической прогрес-
сии c знаменателем q = 2. В этом случае выражение (2.1.36) преобразуется к виду
204 |
Р А З Д Е Л 2 |
nc |
|
Rmin − R0 min = ρS min ∑lс i / b = |
(2.1.43) |
i=1 |
|
= (2nс − 1)Rс1min, |
|
где Rс1 min = ρS minlс1/b — минимальное сопротивление самой короткой секции. Максимальное сопротивление Rс1 max самой короткой секции должно равняться допуску:
Rс1 max = ρS maxlс1/b = Rmax – Rmin. (2.1.44)
Необходимое количество секций определяют из соотношений (2.1.44), (2.1.43):
Rmin − R0 min ρS max |
|
|
|||
nс ≥ 3,3lg |
|
|
|
+ 1 , |
(2.1.45) |
|
|
ρS min |
|||
Rmax − Rmin |
|
|
|
||
а длину самой короткой секции — из выражения (2.1.44).
На практике, когда известна точность δ′ воспроизведения резистора без подгонки, можно сначала определить общую длину области подгонки
nc
lп = ∑lс i = 2bKфδ′ и количество необходимых сек-
i=1
ций nc ≥ 1+log2(δ′/δ). Длину секций находят делением lп на 2, 4, 8 и т.д. в зависимости от значения nc.
При проектировании резисторов с плавной подгонкой производят расчет значения ширины bP резистора по (2.1.20) исходя из отсутствия локального перегрева и ρS min. В зависимости от отношения Ri/R0 min и ширины bP определяют максимальную глубину разреза tP max, с помощью которого сопротивление резистора подгоняется в границы поля допуска. Для этого используют выражение
Ri |
1 |
|
1 |
|
|
|
= |
|
ln |
|
. (2.1.46) |
Rmin |
tP max / b |
1 − tP max / b |
|||
Ф И З И Ч Е С К И Е Я В Л Е Н И Я И П Р О Ц Е С С Ы В П Л Е Н О Ч Н Ы Х С Т Р У К Т У РА Х |
205 |
На практике, как правило, пользуются графической зависимостью tP max/b = f (Ri/Rmin). Для определения ширины b и длины l резистора используют соотношения
b = bP/(1 – tP max/b), l = Rmaxb/ρS max.
В конструкции резисторов предусматривают места плавной подгонки (см. рис. 2.24г–е). Ступенчатая подгонка обеспечивает точность до единиц процентов, а плавная — до сотен долей процента.
Расчет толстопленочных резисторов. Расчет резисторов на основе толстых пленок осуществляют аналогично расчету тонкопленочных резисторов прямоугольной формы с той разницей, что в исходных данных отсутствуют данные по точности воспроизведения γ ρS , l, b (используется только погрешность изготовления резисторов до подгонки γR), а сам расчет геометрических размеров производят лишь с учетом конструктивнотехнологических ограничений и мощности рассеяния.
Поскольку в процессе производства толстопленочных резисторов трудно обеспечить приемлемую точность сопротивления резисторов без подгонки, расчет осуществляют с заведомо меньшим значением Ri. При этом все резисторы должны иметь прямоугольную форму с 0,2 ≤ Kф ≤ 6. Причем допускается в одной ИМС использование различных паст, но не более трех с одной стороны платы. Вначале все резисторы группируются по номинальным значениям сопротивлений и для каждой группы определяют ρS опт, по значению которого с помощью таблицы характеристик материалов пленочных резисторов выбирают резистивную пасту и определяют коэффициент формы Kф.
В случае, когда Kф ≥ 1, определяют ширину bрасч резистора из условия
206 |
Р А З Д Е Л 2 |
bрасч ≥ max{bтехн, bP}, |
(2.1.47) |
где bтехн = 0,8 мм, а |
|
bP = [(KPPi)/(P0Kф)]1/2. |
(2.1.48) |
Входящий в (2.1.48) коэффициент запаса |
|
мощности, учитывающий подгонку |
резистора, |
KP = 1 + γR/50 (при KP = 2, γR = 50). |
|
Расчетную длину резистора определяют как lрасч = bрасчKф. Полученные расчетные значения lрасч
иbрасч корректируют в сторону уменьшения Ri путем округления до значений, кратных шагу координатной сетки, с учетом масштаба чертежа топологии (значение bрасч корректируют в большую сторону, а lрасч — в меньшую).
На заключительной стадии определяют пол-
ную длину lполн резистивной полоски с учетом перекрытия с контактными площадками lполн = l + 2e
иплощадь, занимаемую резистором. Требуемое значение сопротивления достигается плавной лазерной подгонкой. При подгонке разрез формируют либо сначала поперек резистора, затем — вдоль резистора, либо под углом. Точность изготовления резисторов с подгонкой в условиях массового производства достигает 2%.
Для оптимального проектирования толстопленочных резисторов можно воспользоваться программой расчета на ЭВМ. Проектирование резисторов состоит в выборе материала (материалов) для контактных площадок и вычерчивания топологии резисторов с геометрическими размерами резистивных полосок, полученных в результате расчета, и контактных площадок с учетом рекомендаций и конструктивно-технологических ограничений. При проектировании топологии резисторов сложной формы контактные площадки необходимо располагать так, чтобы обеспечить отсутствие погрешности из-за неточности совмещения резистивных полосок и контактных площадок.
Ф И З И Ч Е С К И Е Я В Л Е Н И Я И П Р О Ц Е С С Ы В П Л Е Н О Ч Н Ы Х С Т Р У К Т У РА Х |
207 |
Задача 2.2. Расчет и проектирование пленочных конденсаторов. В некоторых типах ИМС наряду с резисторами наиболее распространенными пассивными элементами являются пленочные конденсаторы, которые во многом определяют схемотехнические и эксплуатационные характеристики ИМС. Так, качество и надежность большинства ИМС в значительной мере зависят от качества и надежности тонкопленочных конденсаторов, что определяется их конструкцией и технологией изготовления.
Конструктивно-технологические особенности и основные параметры. В ИМС применяют тонкопленочные и толстопленочные конденсаторы с простой прямоугольной (квадратной) и сложной формами (рис. 2.25). Пленочный конденсатор представляет собой многослойную структуру, нанесенную на диэлектрическую подложку. Для ее получения на подложку 1 последовательно наносят три слоя: проводящий 2, выполняющий роль нижней обкладки, слой диэлектрика 3 и проводящий слой 4, выполняющий роль верхней обкладки конденсатора.
Пленочные конденсаторы характеризуются совокупностью следующих параметров: номинальным значением емкости C; допуском на емкость ±δC; рабочим напряжением Up; добротностью Q или
а |
б |
в |
Рис. 2.25
Конструкция пленочных конденсаторов с обкладками прямоугольной формы (а), в виде пересекающихся проводников (б) и «гребенки» (в)
208 |
Р А З Д Е Л 2 |
тангенсом угла потерь tgδ; сопротивлением утечки Rут, коэффициентом остаточной поляризации Kп, температурным коэффициентом емкости TKC; коэффициентом старения Kст С; диапазоном рабочих частот f; интервалом рабочих температур T; надежностью и др.
Конкретные значения этих параметров зависят от выбора используемых материалов для диэлектрика и обкладок, технологического способа формирования самой структуры и конструкции. Конструкция конденсатора должна обеспечивать воспроизводимость параметров при минимальных габаритах в процессе изготовления и совместимость изготовления с другими элементами.
Конструкция (см. рис. 2.25а), в которой контур верхней обкладки вписывается в контур нижней обкладки, предназначена для реализации конденсаторов повышенной емкости (сотни тысячи пикофарад). Ее особенностью является то, что несовмещение контуров обкладок не сказывается на воспроизведении емкости (для устранения погрешности из-за площади вывода верхней обкладки предусмотрены компенсаторы 5), а распространение диэлектрика за контуры обеих обкладок гарантирует надежную изоляцию обкладок при их предельном несовмещении.
Для конденсаторов небольшой емкости (десятки пикофарад) целесообразна конструкция (рис. 2.25б) в виде пересекающихся проводников одинаковой ширины, разделенных слоем диэлектрика. Емкость конденсатора данной конструкции нечувствительна к смещению обкладок из-за неточности их совмещения.
Для реализации высокочастотных конденсаторов применяют гребенчатую конструкцию (рис. 2.25в), в которой обкладки имеют форму гребенчатых проводников, а диэлектрик является составным типом «подложка — воздух» или «подложка — диэлектрическое покрытие». Значение
Ф И З И Ч Е С К И Е Я В Л Е Н И Я И П Р О Ц Е С С Ы В П Л Е Н О Ч Н Ы Х С Т Р У К Т У РА Х |
209 |
емкости пленочного конденсатора определяют по известной формуле
C = εε0S/4πd = 0,0885εS/d, (2.2.1)
где ε — относительная диэлектрическая проницаемость диэлектрика; S — площадь перекрытия диэлектрика обкладками; d — толщина диэлектрика.
Для конденсаторов многослойной структуры, состоящей из последовательно нанесенных диэлектрических и проводящих слоев, емкость
C = 0,0885εnS/d,
где n — количество диэлектрических слоев. Подобно материалу резистивной пленки слой
диэлектрика, параметры ε и d которого определяют емкость конденсатора, с точки зрения технологичности, воспроизводимости и стабильности свойств характеризуется оптимальным отношением ε/d для каждого материала и способа его нанесения. Поэтому емкость C конденсатора удобно выражать через удельную емкость
C = C0S, |
(2.2.2) |
где C0 = 0,0885ε/d — постоянная величина для каждого материала.
Как следует из (2.2.2), для изготовления конденсаторов с малой занимаемой площадью необходимо применять материалы, характеризующиеся максимальным значением C0, т. е. материалы с максимальной диэлектрической проницаемостью ε и минимальной толщиной d. Однако минимальная толщина d диэлектрического слоя даже в случае выполнения требований по технологичности и воспроизводимости ограничена значением рабочего напряжения Up на конденсаторе.
Известно, что электрическая прочность кон-
денсатора определяется выражением |
|
Eпр = Uпр/d, |
(2.2.3) |
