Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Оптические свойства и методы исследования

.pdf
Скачиваний:
25
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
12.31 Mб
Скачать

Т а б л и ц а

V I . 10.

Характеристики узкополосных фильтров для области

 

560—590

км, полученных

испарением в вакууме ZnS

и Na;jAIF(j [52]

 

 

 

 

 

 

6K,

HM

 

 

С х е м а п о к р ы т и я

 

 

 

 

 

T э к с п е р и ­

 

 

 

 

р а с ч е т н о е

э к с п е р и м е н ­

м е н т а л ь н о е ,

 

 

 

 

 

 

т а л ь н о е

%

SxBH

втв

нв .

HBS2

 

1,38

1,50

55

 

о

 

о

 

 

 

 

 

SiBH

о

 

о

 

 

 

 

 

BH20BHB .

HBS2

 

0,66

. 0,8

45

 

о

 

о

 

 

 

 

 

SiBH

о

 

о

 

 

 

 

 

В Я 2 В

НВ .

HBS2

 

1,0

1,1

55

 

10

 

10

 

 

 

 

 

SyBH

внюв

нв

.

HBS2

 

0,38

0,62

40

 

10

 

10

 

 

 

 

 

SxBH

ВН20В

НВ

 

HBS2

.

0,23

0,40

35

 

10

 

10

 

 

 

 

 

SxBH

. ВН2В

НВ .

.

HBS2

 

0,35

0,42

50

 

12

 

12

 

 

 

 

 

S^H

. ВНЮВНВ .

.

HBS2

 

0,13

0,157

15

 

12

 

12

 

 

 

 

 

SxBH

ВН2В

НВ .

.

HBS2

 

0,14-

0,26

15

 

14

 

14

 

 

 

 

 

целесообразно наносить на подложки, где неровности — не выше

0,01 от Лг а а х .

Светофильтры высоких порядков имеют побочные полосы про­ пускания в количестве (k — 1) при порядке фильтра к. Эти полосы обычно убираются с помощью дополнительного фильтра с более ши­

рокой полосой пропускания и более низкого порядка

например

с помощью фильтра, характеризуемого =- 5ч-7 нм при

Т — 80ч-

--90%.

 

Как и у всех интерференционных покрытий,, оптические харак­ теристики светофильтров изменяются при увеличении угла падения света (гл. IV). Это приводит к смещению спектральной кривой светопропускания в сторону уменьшения длины волны. Величина смеще­ ния меньше у покрытий с высоким показателем преломления, а по­ тому у фильтров с разделяющим слоем 2В зависимости Хшх, ЬК и Ттах от угла падения меньше, чем у фильтров с разделяющим слоем 2Н (рис. V I . 13).

Два фильтра (рис. V I . 13) имеют следующие характеристики: 1) 17-слойный фильтр 2-го порядка с разделяющим слоем (4В) из ZnS; 2) 19-слойный фильтр с разделяющим слоем Na 3 AlF 6 первого порядка (2Н). Длина волны А,ш ах у обоих фильтров практически не

меняется в пределах угла падения ф = 3°. У фильтров с разделяющим

слоем 2Н наблюдается более сильная

зависимость

характеристик

фильтра Хтах,

Т т

а х

и 8Х от угла падения, чем у фильтров с

разделяю­

щим слоем 4В.

 

 

 

 

 

 

 

•.ИМ;Тт

 

 

 

бкнм

 

На

рис. V I . 14

показано

 

изме­

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

нение

спектрального

светопропу-

530

 

 

 

 

 

 

 

скания фильтра (А,т а х

=

500

 

нм и

 

 

 

 

 

 

 

 

ёХ — 0,2 нм)

при различных

 

углах

 

\

<М/4Ю^>

 

 

 

падения

[104],

характерное

для

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

интерференционных

 

фильтров.

520

 

 

 

 

 

 

Приведенные

экспериментальные

 

 

 

 

 

 

 

 

данные

 

получены

при

измерении

 

 

 

 

 

 

 

 

в параллельном пучке при угле

510

 

 

 

 

 

1,0

 

расхождения около 1°. Характери­

 

 

 

 

 

 

стики

фильтра

не

очень

сильно

 

 

 

 

 

 

 

 

изменяются

при

углах

падения

 

 

 

 

 

 

 

 

меньших 10°. У более узкополос­

500

50 ,

 

 

 

 

 

 

ных фильтров с увеличением

угла

'

2 4

в

12

16

20

Ф. град

падения

сильно

снижается

пропу­

Рис. VI. 13.

Зависимость Хг

 

и

скание

 

уже

при

углах

падения

дХ узкополосного

 

 

maxi * шах

 

 

фильтра

от угла па­

более нескольких

градусов.

 

 

 

дения

света

 

 

 

Фильтры, не содержащие добавочных абсорбционных фильтров (цветное стекло), менее чувствительны к возрастанию угла падения. Добавочные фильтры часто изменяют вид кривых пропускания, осо-

500 Х,НМ

Рис. VI. 14. Зависимость спектрального светопропускания фильтра от угла падения света

бенно в ультрафиолетовой области. Абсорбционные фильтры могут вызывать уменьшение ширины полосы при возрастании угла падения.

Смещение полосы пропускания может иметь место также в резуль­ тате изменения температуры (рис. V I . 15). В основном, при пониж'е-

нии температуры смещение полосы происходит в направлении корот­

коволновой области, при повышении — в

направлении

длинновол­

новой [40, 54, 62]. Смещение ктах вызвано

изменением

показателе^

преломления и толщины слоев при изменении температуры и носит обратимый характер. Такими обратимыми свойствами обладают све­ тофильтры, подвергнутые термообработке, или полученные осажде­ нием вещества на подогретую подложку. Из графика видно, что тем­

пература оказывает влияние

на положение Хтах, но мало изменяет

интенсивность пропускания

в максимуме.

У фильтров, полученных нанесением пленок на подложку без подогрева, последующее нагревание приводит к смещению Хтах в на-

63Щ

635

636

637

638 Л,нм

Рис. VI. 15. Зависимость спектрального светопропускания фильтра от температуры

правлении коротковолновой части спектра, что продолжается после охлаждения фильтра [62]. Такое явление указывает на отсутствие стабилизации покрытия и в результате термических воздействий наблюдаются структурные превращения в пленках. Эти факторы говорят о необходимости контроля температуры пространства, где используются интерференциойные фильтры.

Для получения интерференционных фильтров, отвечающих высо­ ким требованиям к положению, ширине и максимуму полосы про­ пускания, необходимы точные методы контроля. В настоящее время разработке этих методов уделяется большое внимание [60]. Однако, несмотря на наличие методов контроля, получение хорошей воспро­ изводимости изготовляемых узкополосных фильтров требует серьез­ ного внимания. Готовые узкополосные фильтры часто обладают различными дефектами. Так, например, при исследовании фильтров, выпускаемых некоторыми зарубежными фирмами [104], было обна­

ружено,

что

у фильтров с Ктах

=

330,0 нм и = 4,2 нм встре­

чаются неровности по поверхности

порядка 10,0 нм. У фильтра для

области

Хтах

= 500 нм и 6А, =

2,0 нм наблюдаются вариации коэф­

фициента

пропускания по поверхности в пределах 56—60%.

Большие затруднения при изготовлении светофильтров испаре­ нием веществ в вакууме вносит так называемый «уход» длины волны А,ш а х , наблюдаемый при впуске воздуха в камеру, а также в течение первых часов и дней пребывания фильтра в атмосфере воздуха. Смещение происходит в направлении длинноволновой области и

составляет в среднем около 0,002 А т а х .

При изготовлении

фильтров

обычно вносится необходимая поправка, например

контроль

слоев

второго высокоотражающего покрытия

проводится

при длине

волны

X = 0,998Аг а а х [54].

Аналогично приходится учитывать

смещение

^тах в результате заклейки интерференционного фильтра защитным

стеклом или склейки

его с абсорбционным фильтром. Один

из спо­

собов сохранения параметров светофильтра, полученного испарением веществ в вакууме, — это его герметизация.

Интерес представляет вопрос влияния ошибок в толщинах от­ дельных слоев высокоотражающих зеркал и в толщине разделяющего слоя на оптические характеристики узкополосного интерференцион­ ного фильтра. Анализ основных зависимостей и рассмотрение ряда практических примеров позволяет сделать следующие выводы.

Наибольшее влияние на положение максимума пропускания ока­ зывают ошибки в среднем слое и в слоях, прилегающих к нему. По мере удаления от среднего слоя влияние ошибок становится менее чувствительным. Небольшие ошибки в толщине разделяющего слоя, в пределах 10 нм, иногда допустимы и существенно не ухудшают оптических характеристик фильтра (SA. и Т). Если ошибки в слоях имеют противоположный знак, то их влияние на положение экстре­ мума соответственно компенсируется. Ошибки в толщинах слоев первого высокоотражающего покрытия и толщине среднего слоя вполне могут быть компенсированы ошибками в слоях второго мно­ гослойного покрытия, составляющего фильтр. Возможность коррек­ тировки фильтров в процессе их изготовления повышает выход год­ ных изделий.

При строгом соблюдении разработанного технологического про­ цесса можно до некоторой степени снизить требования постоянного контроля и получить хорошую воспроизводимость результатов. Примером могут служить интерференционные светофильтры, полу­ чаемые нанесением покрытий из растворов [21„ 55, 56], например фильтров для ультрафиолетовой области спектра (табл. VI.9). Пред­ варительный контроль проводится на отдельных слоях, которые на­ носятся на опытные образцы. Из них выбираются те, которые удо­ влетворяют необходимым требованиям по толщине и показателю преломления. Последующий контроль осуществляется уже при пятислойном покрытии с целью проверки правильности положения Аш а х . Контроль толщины отдельных слоев в процессе их нанесения из растворов невозможен. Он осуществляется только соблюдением стандартной концентрации растворов и других технологических тре­ бований.

Практика показывает возможность получения достаточно больших партий необходимых фильтров для разных значений А,ш а х

11*

.

16з

в области 250—400 нм. Здесь необходимо отметить также хорошую стабильность фильтров, получаемых нанесением из гидролизующихся

растворов. Они годами сохраняют исходные характеристики, и поло­

жение Х т а х

не меняется при склейке любым оптическим клеем [33].^

Наравне с описанными в табл. VI.6— VI. 10 фильтрами,

пропус­

кающими

узкие области спектра, последнее время появились

интер­

ференционные фильтры, избирательно отражающие достаточно уз­

кие

участки

спектра.

 

Их

преимущество — это

отсутствие

фона,

Т а б л и ц а

VI.11.

Максимальный

вследствие

чего

величина

- ^ т а х

 

 

 

коэффициент

отражения R

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Н min

 

 

 

многослойных

покрытий

для

может

иметь высокие

значения

 

 

 

 

различных

значений

An

порядка

60 000

[63].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R

%)

д л я An

 

 

Обычное

многослойное

по­

Ч и с л о

 

 

 

 

 

 

 

 

 

крытие

 

из

слоев

оптической

с л о е в

 

 

0,55

0,35

 

 

0,15

0,05

 

 

х

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

толщиной -j-

представляет

со­

 

11

 

 

94

 

 

' —

бой

простейший

 

отражающий

 

 

 

 

 

фильтр. Однако наличие

побоч­

 

15

 

 

98

94

 

 

70

32

 

 

 

 

 

ных

максимумов

снижает

его

 

19

 

100

97

 

 

77

38

качество.

 

Показано

[63,

64],

 

25

 

 

-

99,5

 

89

45

что

при многократном

отраже­

 

31

 

 

 

 

92

нии от таких покрытий интен­

 

41

 

 

 

 

97

сивность

побочных

максимумов

 

 

 

 

 

снижается значительно быстрее,

 

51

 

 

 

 

99,5

71

 

 

 

 

 

чем интенсивность

основной по­

101

 

 

 

 

95

 

 

 

 

лосы. При восьмикратном

отра­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

жении

от

двух

 

параллельных

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

пластин

с

покрытиями, на

ко­

торые свет падает под углом 30",

можно

достигнуть

 

значительного

снижения

побочных

 

максимумов по сравнению с основным.

Узкие полосы высокого отражения можно получить при много­

кратном

отражении

от двух

многослойных

покрытий

 

из слоев, тол-

 

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

щиною -j-

с

несколько

сдвинутыми спектральными

 

характеристи­

ками

[64]. С помощью двух зеркал, у которых области высокого от­

ражения

 

совпадают

в

 

достаточно

узком

спектральном

интервале,

можно

значительно

 

уменьшить

эффективную

ширину

полосы

(рис. V I .

16).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В п. 13 было показано, что для получения узкой спектральной полосы высокого отражения необходимо использовать или покрытия

оптической толщиной

более высоких порядков, или слои

с

малой

разницей

показателей

преломления, у которых отношение

п н

 

—2- при-

ближается

к

единице.

 

п в

 

 

 

 

Покрытия,

содержащие слои оптической толщиной более

высо­

ких порядков, можно получить, пользуясь различными схемами,

например [64,

65]:

 

 

SXBHB

ЗН BHBS2

и

SLBHBHB BHBHBS2.

У такого 11-слойного покрытия переход толщины среднего слоя от

3

5

j l . к

дает возможность сузить полосу отражения с 140 до

93 нм.

Возможности получения фильтров, отражающих узкие спект­ ральные участки, иллюстрируются табицами V I . 11 и V I . 12. С учетом этих возможностей изготовлены [65] образцы узкополосных отражаю­ щих фильтров различных порядков для области спектра 225—250 нм нанесением' слоев из растворов Th (N03 )4 , Si (ОС2 Н5 )4 и их смесей. Покрытия, состоящие из 9—25 слоев с малой разницей показателей преломления An [смеси (Th02 —Si02 ) и SiO a ] уже в первом порядке дают полосу отражения шириною порядка 20 нм. При двукратном отражении от двух параллельно установленных пластин с 11-слой- ными покрытиями 12-го порядков можно получить фильтр, отра­

жающий

70% в области 230 нм, при ширине полосы порядка 10 нм

и фоне

5• 10~3 % (рис. V I . 16, б). С возрастанием числа

отражений

ширина

полосы и фон соответственно будут уменьшаться.

При трех­

кратном

отражении от двух 11-слойных зеркал фильтр

отражает

60% в полосе шириною 12 нм. При четырехкратном отражении полоса сужается до 10 нм и фон уменьшается до 10~5 %.

Такие фильтры могут иметь различную конструкцию. Иностран­ ные фирмы [105] предлагают монохроматические отражающие фильтры для ультрафиолетовой области под индексом UV = R = = 250, 280 и 310 нм для указанных длин волн. Фильтры имеют раз­

меры от 40x30 мм2

до 80X30 мм%.

Покрытия

наносятся на одной

стороне

или с двух

сторон

черной

 

стеклянной

пластины

толщиною

 

Т а б л и ц а V I . 12.

Ширина полосы отражения 6А.0,5

многослойных

покрытий при различных значениях

коэффициента

 

отражения

R,

разности

 

 

показателей

преломления

An

и порядка покрытий k

 

Ч и с л о

 

6 V S

6 Х 0, 5 ( В

" м) при % (в

нм)

An

R, %

500

 

 

 

300

 

с л о е в

я

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k = 1 k = 2 к = 1 k = 2 k = 3

0,9

11

99

0,41

205

103

123

62

41

0,75

11

98

0,37

185

 

93

111

56

37

0,65

11

97

0,33

165

 

83

99

50

33

0,55

11

94

0,31

155

 

78

93

47

31

0,45

11

90

0,27

135

 

68

81

41

27

0,35

и

81

0,23

115

 

58

69

35

23

0,25

11

65

0,20

100

 

50

60

30

20

0,15

11

41

0,7

 

85

 

43

35

18

12

0,65

7

0,42

250

125

126

63

42

0,40

15

0,2

 

120

 

60

60

30

20

0,20

19

0,15

90

 

45

45

23

15

60

40

го

о

* 5

Х,нм

Рис. VI. 16. Спектральные характеристики узкополосных отражающих фильтров 3: а — в результате шестикратного отражения от многослой­ ных систем 1 и 2 со сдвинутыми максимумами; б — в результате дву­ кратного отражения от многослойных систем 1 ж 2 разного порядка

в 1 мм. Максимальное отражение составляет более 70%; ширина по­ лосы отражения 30—50 нм. Положение длины волны максимума отражения обеспечено с точностью ± 10 нм. Готовые фильтры пред­ ставляют собою системы из нескольких различно ориентированных пластин, как это показано на рис. V I . 17.

29. ПРИМЕНЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОКРЫТИЙ ДЛЯ РАЗДЕЛЕНИЯ УЧАСТКОВ СПЕКТРА

Зеркало иллюминатора флуоресцентного микроскопа. Получению достаточной яркости изображения во флуоресцентном микроскопе препятствует то, что только небольшая часть энергии, падающей на препарат, идет на возбуждение флуоресценции. Применение ин­ терференционных зеркал в опак-иллюминаторе флуоресцентного микроскопа дает возможность удачно использовать свойственную зеркалам дихроичность, поскольку излучение, падающее на препа­ рат, и возбуждаемое излучение флуоресценции имеют разные длины

волн, по отношению к которым зеркала

ведут себя

различно

[66].

Н а р и с . VI.18

приведены спектральное

отражение

и

пропускание

используемого зеркала, которые практически дополняют

друг

друга. Схема

работы интерференционного

зеркала

показана на

рис. V I . 19. Лучи

/, возбуждающие

флуоресценцию,

идут от освети­

теля 2 и, попадая

на зеркало 3, разделяются на две части. Одна из

них — лучи

4,

длинноволновой

части

спектра

 

(кривая

7\,

рис. V I . 18), проходят сквозь зеркало 3, не попадая в объектив. Лучи

коротковолновые 5 отражаются зеркалом (кривая

Rk,

рис. V I . 18)

вниз на препарат

6 и возбуждают

более длинноволновое излучение

флуоресценции 7, которое свободно проходит обратно через зеркало и окуляр в глаз наблюдателя. Коротковолновое излучение, отражен­ ное препаратом и линзами объектива, задерживается зеркалом и после отражения направляется обратно к источнику 2, не попадая в глаз наблюдателя. Помимо повышения яркости изображения, на­ блюдается заметное усиление контрастности. Коэффициент исполь­ зования света прибором при этом достигает 90%, что в 4—5 раз выше,

чем в опак-иллюминаторе

с обычным, неселективным отражателем.

Аналогичное

повышение

контраст­

ности и яркости изображения в флуо­

ресцентном

микроскопе

можно

полу­

чить, используя покровные стекла с ин­

терференционным

покрытием, характе­

ризуемым

кривыми рис.

V I . 18.

На

обычные покровные стекла с одной сто­

роны нанесено многослойное

покрытие,

отражающее падающее излучение с дли-

RxJx% ,

100т

ВО

60

?0

0.

300

Ґ

/

1/

/

//

/

500

 

too

600 Лмм

Рис. VI. 18. Спектральные кривые R ^ H ТХ

Рис. VI. 19. Схема опак-иллю­

интерференционного зеркала опак-иллю­

минатора с интерференционным

минатора

зеркалом

ной волны меньше 450 нм и свободно пропускающее длинноволновое излучение (рис. V I . 18). Покровное стекло кладется интерференцион­ ным слоем к препарату, освещаемому снизу. Интерференционный слой задерживает коротковолновое излучение, возбуждающее флу­ оресценцию, не пропускает его в глаз наблюдателя, а отражает обратно на препарат, заставляя его возбуждать флуоресценцию последнего. Свечение флуоресценции с большей длиной волны интер­ ференционное покрытие свободно пропускает в глаз наблюдателя. Это повышает яркость и контрастность и дает возможность применять менее мощные осветители.

Покровные стекла с интерференционными покрытиями были получены из растворов (п. 23). Устойчивые покрытия наносились на обычную пластину стекла, которая затем подвергалась распи­ ловке, шлифовке и полировке для придания образцам нужных раз­ меров и толщины. Интерференционное покрытие предварительно защищалось толстым слоем ацетонового или другого лака.

Светоделительные узлы. Эффективно применение интёрферен^ ционных покрытий для разделения двух соседних участков спек­ тра, когда используются приемники различной спектральной чув­ ствительности. В качестве примера на рис. VI.20 приведена схема светоделительной призмы, направляющей падающий белый свет по трем каналам. Каналы I и I I служат для визуальных наблюдений; канал / / / снабжен приемником радиации с максимумом чувстви­ тельности в области 800 нм. При нанесении прозрачных пленок се­ ребра на две заклеенные грани призмы в канал / отражается порядка 48% падающего света, в канал / / — около 18%, а в канал / / / после прохождения призмы попадает не более 5—7% падающего излучения.

\\

 

\

80%;\е*800нм

I

111

л

 

50%,1<*550нм

20%,\^550нм

-

Рис. VI.20. Схема

светоделительной призмы

Использование интерференционных покрытий, обладающих свой­ ством селективного отражения, значительно повышает выход света в рассматриваемой системе, в основном в канале / / / . Так, дихроическое зеркало с максимумом отражения в области 550 нм направ­ ляет в канал / около 50% падающей световой энергии. При этом излу­ чение с длиной волны 800 нм достаточно свободно проходит сквозь покрытие. Второе покрытие, аналогичное первому, отражает в ка­ нал / / о к о л о 20% падающего излучения видимой области и пропус­ кает длинноволновое. Расчет и измерение показали, что в канал / / /

попадает около 80% падающей энергии, характеризуемой длиной волны X = 800ч-850 нм.

Фильтры-монохроматоры. Набор интерференционных фильтров можно в некоторых случаях заменить фильтром-монохроматором, в котором используются интерференционные покрытия переменной толщины.

При прохождении света через участки интерференционного по­ крытия различной оптической толщины, как и у монохроматора, обеспечивается возможность плавного изменения длины волны. Так,

например, пластинка стекла размером 20x76

мм, на которую на­

несена система слоев переменной толщины,

охватывает область

длин волн 400—750 нм [105, 106 3.

 

При передвижении на 1 мм длина волны фильтра монохроматора изменяется на 5 нм. Фильтр дает возможность выделять участки спектра шириною порядка 12 нм при пропускании в максимуме около

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ