- •Методическое руководство по выполнению лабораторных работ
- •Фокальные плоскости и фокусы
- •Главные плоскости и точки. Узловые точки
- •Формула оптической системы
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Метод определения кардинальных точек сложной оптической системы
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов эксперимента
- •Расчёт погрешностей
- •Вопросы для подготовки к отчёту
- •Моделирование оптических приборов и определение их увеличения
- •Основные теоретические положения
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы Моделирование зрительных труб Кеплера и Галилея
- •Моделирование микроскопа
- •Расчёт погрешностей
- •Вопросы для подготовки к отчёту
- •Определение расстояния между щелями в опыте юнга
- •Основные теоретические положения
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Пространственная когерентность
- •Объем когерентности
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Дифракция Фраунгофера на щели
- •Дифракция Фраунгофера на двух щелях
- •Одномерная дифракционная решётка
- •Теорема Бабине. Дополнительные экраны
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы с объектом мол-01 Определение длины волны излучения дифракционным методом на двумерной квадратной дифракционной решётке. Определение ширины щели
- •Дифракция на щели и двух щелях одинаковой ширины
- •Дифракция на круглом отверстии. Теорема Бабине
- •Дифракция на круглом отверстии. Увеличение разрешающей способности при экранировании центра
- •Порядок выполнения работы с объектом мол-02 Определение длины волны излучения дифракционным методом на щели и одномерной решётке
- •Одномерная дифракционная решётка
- •Дифракция на двух и более щелях (переход к диф. Решётке). Кратность величин bиd.
- •Дифракция на круглом отверстии. Теорема Бабине
- •Дифракция на круглом отверстии. Увеличение разрешающей способности при экранировании центра
- •Дифракция на прямоугольном отверстии
- •Порядок расчета погрешностей
- •Вопросы для подготовки к отчёту
- •Исследование явления дифракции света методом Френеля
- •Основные теоретические положения
- •Принцип Гюйгенса-Френеля
- •Метод Зон Френеля. Дифракция на круглом отверстии
- •Дифракция Френеля на диске. Пятно Пуассона
- •Зонная пластинка.
- •Экспериментальная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок расчета погрешностей
- •Вопросы для подготовки к отчёту
- •Исследование спектров поглощения и пропускания
- •Основные теоретические положения
- •Характеристики фильтров оптического излучения
- •Экспериментальная установка и методика измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Внимание:
- •Обработка результатов эксперимента
- •Расчёт погрешностей Ошибки при спектрофотометрических измерениях
- •Вопросы для подготовки к отчёту
- •Литература
- •Приложение
- •Вычисление случайной погрешности прямых измерений.
- •Метод наименьших квадратов
- •Вычисление полной погрешности измерений
Характеристики фильтров оптического излучения
По принципу действия фильтры могут быть разделены на поглощающие (абсорбционные) светофильтры, при этом световая энергия в основном переходит во внутреннюю; и фильтры, в которых происходит перераспределение излучения за счет дисперсии, отражения, рассеивания, дифракции, интерференции.
По виду спектральной характеристики фильтры делятся на полосовые (пропускающие излучение в узкой полосе длин волн (рис. 7.2 (а)) и отрезающие (пропускающие волны длиннее данной граничной волны (рис. 7.2(б)).
Рис.7.2 Спектральные характеристики полосового (а) и отрезающего (б) фильтров. |
Параметрами полосового фильтра являются прозрачность в максимуме Imax, рабочая длина волныо, ширина полосына половине максимальной прозрачности, прозрачность за пределами полосы (фон)Ioи контрастность, определяемая соотношениемImax/Io.
Параметр =o/называется добротностью фильтра (разрешающей способностью спектрального прибора), в простейших случаях это величина порядка 10 – 100.
Параметрами отрезающего фильтра является длина волны перехода от прозрачности к непрозрачности, крутизна спектральной характеристики K=I/.
Коэффициент пропускания среды толщиной d(см) при учете потерь на поглощение:
= (1–)d, (7.9)
для стекла = 0,01.
Экспериментальная установка и методика измерения
Установка состоит из следующих узлов (рис. 7.3): 1 – монохроматор МУМ; 2 – узел светодиодного излучателя; 3 – кюветное отделение; 4 – фотоприемный узел; 5 – блок обработки сигнала; 6 – мультиметр.
Рис. 7.3 Вид установки. |
В узле излучателя (2) установлен специальный светодиод белого света, излучающий в диапазоне 400 – 700 нм. Узел излучателя закреплен непосредственно перед входной щелью монохроматора (1) на его корпусе. За входной щелью установлен объектив, формирующий параллельный пучок, проходящий кюветное отделение и попадающий на фотодиод фотоприемного узла (4). Электрический сигнал, пропорциональный интенсивности прошедшего излучения регистрируется с помощью мультиметра.
В качестве объектов для исследования прилагаются абсорбционные светофильтры из цветного оптического стекла.
Рис. 7.4 Оптическая схема установки. |
Оптическая схема монохроматора приведена на рис. 7.4. Принцип действия данного монохроматора основан на использовании в качестве фокусирующего диспергирующего элемента дифракционной решетки. Излучение от светодиода 1через конденсор2попадает на входную щель3и посредством зеркала4попадает на дифракционную решетку5. Дифракционная решетка имеет переменный шаг нарезки и криволинейные штрихи, что дает возможность значительно скомпенсировать расфокусировку и другие аберрации. Зеркало6позволяет направлять дифрагированное решеткой излучение на входную щель7или щель8.
Щели на выходе и входе монохроматора сменные, постоянной ширины. В настоящей работе на входе и выходе монохроматора могут быть установлены щели шириной 0,5 или 1,0 мм.
Сканирование спектра осуществляется поворотом решетки 5вокруг оси на уголв пределах отдо. Это осуществляется с помощью системы зубчатых передач, которая связана с ручкой на передней стенке прибора и механическим счетчиком, непосредственно отсчитывающим длины волн в диапазоне 200 – 800 нм с точностью0,2 нм.
Исследуемый образец помещают в тубус с закрывающейся крышкой.