
книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа
..pdf7. |
A u s t i n |
|
A. E., |
R i c h a r d |
N. A., |
S с n w |
a r z C. M . ( |
X-rav |
||||||||||
|
Microscopy |
and Microanalysis, |
ed. Engstrom |
A. et al . , Amster |
||||||||||||||
8. |
dam, |
Elsevier, |
1960, |
p. |
401. |
Tech. |
|
Repts. |
Osaka |
Univ . |
||||||||
S h і m і z u |
R., |
S h і n о d a |
G., |
|
||||||||||||||
9. |
14, |
897 (1964). |
|
L . , |
X-ray |
Optics and |
X-ray |
Microanalysis, |
||||||||||
D і I s |
R., |
Z e i t z |
||||||||||||||||
10. |
ed. Pattee H . H . et al . , New York, Academic Press, 1963, p. 341. |
|||||||||||||||||
R e e d |
S. J . В., |
L o n g J . V . |
P., |
X-ray |
|
Optics and X-ray |
||||||||||||
|
Microanalysis |
(ed. |
Pattee |
H . H . et al.), |
New York, |
Academic |
||||||||||||
11. |
Press, |
1963, |
p. |
317. |
|
|
R. N . , Brit . |
J. |
Appl. |
Phys. |
||||||||
С о s s 1 e t t |
V . E., |
T h o m a s |
||||||||||||||||
12. |
15, |
1283 |
|
(1964). |
|
|
|
|
|
(1933). |
|
|
|
|||||
B e |
t h e |
H . A., |
Hand. d. Phys. 24, 519 |
|
|
(ed. |
||||||||||||
13. |
D u n с u m b |
P., |
X-ray |
Microscopy |
and |
|
Microanalysis |
|||||||||||
14. |
Engstrom A. et al.), Amsterdam, Elsevier, |
1960, p. 365. |
1206 |
|||||||||||||||
G r e e n |
M . , |
C o s s l e t t |
V . E . , Proc. |
Phys. |
Soc. |
78, |
||||||||||||
15. |
(1961). |
|
|
|
P., |
X-ray Optics and |
X-ray |
Microanalysis |
(ed. |
|||||||||
D u n с u m b |
||||||||||||||||||
|
Pattee |
H . H . , et |
al.), New |
York, Academic |
Press, |
1963, p. |
431. |
К ВОПРОСУ ОБ ИЗМЕРЕНИИ ЛИНЕЙНОГО РАЗРЕШЕНИЯ ПРИ РЕНТГЕНОВСКОМ МИКРОАНАЛИЗЕ
Т. Хеенкамп
При использовании рентгеноспектрального микроана лиза в аналитических целях, в особенности при получе нии концентрационных кривых с резким изменением кон центрации, важнейшим является вопрос о разрешающей способности, которая определяет, какие геометрические подробности различных сложных систем могут еще быть разрешены. Разрешающая способность зависит от диа метра пучка электронов на поверхности образца — диа метра электронного зонда. При уменьшении диаметра зонда до определенного предела, который зависит от та ких процессов как распространение электронов в об разце, обратное рассеяние электронов и расширение об ласти возбуждения рентгеновского излучения, разрешаю щая способность увеличивается приблизительно обратно пропорционально этому диаметру. Дальнейшее уменьшение диаметра электронного зонда не дает заметного вы игрыша, так как в этом случае разрешающая способность определяется только указанными выше процессами.
В настоящее время имеются различные способы приб лиженного определения диаметра электронного зонда при микроанализе, такие как «метод наползания на лезвие» и метод оптического измерения фокусного пятна (на флуо ресцирующем экране) или темного осадка (нагара). При этом разрешающая способность оценивается через при ближенное значение глубины проникновения электронов. Часто пользуются также измерением подъема кривой ин тенсивности при записи скачков концентрации. Посколь ку различные методы измерения диаметра излучающей области дают сильно различающиеся результаты, преж де всего необходима правильная оценка разрешающей способности. При этом в настоящей работе не будет под робно рассматриваться совокупность процессов, которые определяют диаметр излучающей области и разрешающую
способность в зависимости от различных условий созда ния зонда, состава и расположения образца. Многократ ными исследованиями было показано, что, приготовляя из различных чистых металлов плоские слои известной толщины в интервале 0,1—5 мкм, можно, хотя и при упро щенных, но наглядных условиях, непосредственно опре делить разрешающую способность и получить оценку дей ствительного диаметра излучающей области. Здесь преж де всего следует привести результаты по изучению слоев из меди и золота. Эти два металла были выбраны потому, что вследствие большой разницы их атомных номеров они обладают существенно различной способностью обратно рассеивать электроны, что позволяет проводить измере ния слоев с помощью как обратно рассеянных, так и по глощенных электронов. Измерение с помощью поглощен ных электронов является наилучшим способом определе ния приблизительного диаметра первичного электронного зонда, так как рентгеновское излучение обычно возбуж дается в значительно большей по объему области.
Приготовление образцов. Слои были приготовлены гальваническим способом. На отшлифованный и хорошо отполированный торец медного цилиндра диаметром приб лизительно 1 см в цианистых ваннах были нанесены чере дующиеся слои золота [1] и меди [2]. Толщины слоев в первом приближении определялись массой вещества, вы делившегося в процессе электролиза, которая рассчиты валась по закону Фарадея, исходя из количества прошед шего через электролит электричества и соответствующих электрохимических эквивалентов. Так как в процессе электролиза на катоде из желаемого металла, особенно в случае осаждения меди, также происходило выделение водорода, то качество такого способа определения толщины слоев зависело от точности знания величин к.п.д. электро химических эквивалентов. Эти величины для золота и ме ди были определены в специальных исследованиях. Для золота к.п.д. электрохимического эквивалента составлял приблизительно 60%, а длямеди — колебался от 12 до 18%, и в качестве среднего значения брали 15% . Использу емые для измерения диаметра излучающей области и раз решающей способности образцы приготовлялись при мед ленном непрерывном перемешивании электролита и малой плотности тока ~ (0,5—1) ма/см2. При этих условиях слои осажденных металлов получались равномерными и плот ными. Кроме того, необходимо было использовать доста-
точно плоский противоэлектрод из меди или соответствен но золота и хорошую полировку основания, которую в данном случае следовало повторять после осаждения каж дых двух слоев. В заключение образец было целесообраз но покрывать толстым слоем меди. После получения жела емых слоев цилиндр разрезали по длине перпендикулярно
к основанию, запрессовы вали в пластмассу и поли ровали. Схематическое изображение образца при ведено на рис. 1.
|
|
Приблизительно |
опре |
|||
|
|
деленные указанным |
вы |
|||
|
|
ше |
способом |
|
толщины |
|
|
|
осажденных |
слоев |
затем |
||
|
|
контролировались |
различ |
|||
|
|
ными |
способами. |
Полную |
||
ЗО'мгм |
0,Вшм (І,2мті блок |
толщину всех |
слоев и тол |
|||
|
Медь |
щины наиболее толстых от |
||||
Рис. 1. Схематическое расположение |
дельных слоев можно было |
|||||
|
слоев. |
определить с помощью оп |
тического микроскопа. Эти данные позволили провести сравнительные оценки и этало нировать микрозонд. Затем микрозонд был применен к изучению тонких слоев, которые непосредственно можно измерять только с помощью электронного микроскопа.
Для |
этого |
предварительно |
|
|
|
|
||||
травят |
|
один |
из компонентов |
|
Т а б л и ц а 1 |
|||||
(медь), так что на поверхно |
|
|
|
&Электрон- [ный мик роскоп |
||||||
сти образца-шлифа возникает |
|
|
£ s о |
|||||||
ступенька. |
Затем |
с |
такого |
Элемент |
Расчет |
|||||
образца |
снимают |
отпечаток |
|
g « к |
||||||
|
g S о |
|||||||||
(реплику), которая |
и |
изу |
|
|
О о о. |
|
||||
чается в электронном микро |
Золото |
|
к і - Р |
3,8 |
||||||
скопе. Как видно |
из |
табл . 1, |
4,0 |
3,9 |
||||||
определенные с помощью мик |
Медь |
0,20 |
— |
0,22 |
||||||
розонда |
и электронного |
мик |
|
0,60 |
— |
0,58 |
||||
роскопа толщины слоев |
нахо |
|
|
|
|
|||||
дятся |
в |
хорошем |
согласии. |
|
|
|
|
Оценка диаметра излучающей области и разрешающей способности. Прежде всего был приготовлен образец, который состоял из нанесенных на медную основу тонких слоев меди толщиной от 0,1 до 2 мкм, разделенных слоями золота приблизительно одинаковой толщины — 3—4 мкм.
В этом случае, как будет видно из следующих ниже рас суждений, приблизительное значение величины диаметра излучающей поверхности можно получить с помощью очень простой оценки. Если использовать для измерения слабо поглощающиеся электроны и исследовать слои, перемещая их под электронным пучком и измеряя ток проходящих электронов, то для меди получим большее значение тока, чем для золота, величина обратного рассеяния электронов для которого значительно больше. Если теперь с помощью осциллографа синхронно с перемещением образца запи сать изменение тока проходящих электронов, то для меди
получают |
величину |
интенсив |
|
|
|
|||||||
ности 1\, а для золота мень |
|
|
|
|||||||||
шую величину интенсивности/2 . |
|
|
|
|||||||||
Пусть |
электронный |
зонд имеет |
|
ю |
|
|||||||
диаметр d, а толщина слоя |
рав |
|
|
|||||||||
на |
Ь. Пусть, |
далее, |
толщина |
|
|
|
||||||
слоя, |
например, |
меди, |
меньше |
|
|
|
||||||
диаметра |
электронного |
зонда. |
|
|
|
|||||||
Тогда максимальная |
амплитуда |
|
|
|
||||||||
изменения |
тока, |
которая |
при |
"Г |
|
|
||||||
условии, |
что весь |
электронный |
|
|
||||||||
1_ |
|
|
||||||||||
зонд |
располагается |
на |
меди, |
|
|
|||||||
|
|
|
||||||||||
равна / 1 5 |
будет приближаться к |
Рис. 2. |
Изменение тока |
через |
||||||||
/ 2 |
— значению |
интенсивности |
образец при сканировании вдоль |
|||||||||
|
слоя. |
|
||||||||||
на |
толстых |
слоях |
золота. |
Это |
|
|
|
|||||
схематически |
показано |
на рис. 2. В верхней части ри |
||||||||||
сунка |
показан порядок |
расположения |
слоев, а в |
ниж |
ней — ожидаемое распределение интенсивности. Если А / 0 представляет собой разницу интенсивностей от широких слоев меди и золота, измеренную по току прошедших электронов, то величина А / позволит судить только о том,
меньше ли |
диаметр |
электронного |
зонда толщины слоя |
или больше |
ее. Если |
он больше, то |
А / начинает умень |
шаться. Если d достаточно велико, то с хорошей степенью точности часть площади электронного зонда, находящуюся на поверхности слоя, можно определить как db при усло вии, что полная площадь под электронным зондом равна
nd2/4. Тогда для |
интенсивности |
имеем |
|
А/ |
= Д / 0 ^ - ; d > |
b . |
(1) |
В том случае, когда применимо это очень упрощенное, чисто геометрическое рассмотрение, получают действи-




Отчетливо видно, что минимальный диаметр излучаю щей области уменьшается по мере уменьшения тока зон да. Проведенные параллельно измерения фокусного пят на на флуоресцирующем экране и диаметра пятна черного нагара на поверхности шлифа указывают на то, что, из меняясь одинаково в зависимости от тока зонда, эти спо собы дают существенно завышенные значения диаметра излучающей области.
Искажение вида слоев при сканировании в направле нии, перпендикулярном к слоям, позволяет также уста новить наличие астигматизма электронного зонда и изме рить его.
ЛИТЕРАТУРА |
|
|
|
1. |
Р а г k е г |
Е., |
Plating 38, 1134, 1156, 1256 (1951). |
2. |
S c h a f e r |
F „ |
Metallwaren und Galvanoteohnik 32, 408 (1934). |