Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа

..pdf
Скачиваний:
17
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
15.53 Mб
Скачать

7.

A u s t i n

 

A. E.,

R i c h a r d

N. A.,

S с n w

a r z C. M . (

X-rav

 

Microscopy

and Microanalysis,

ed. Engstrom

A. et al . , Amster­

8.

dam,

Elsevier,

1960,

p.

401.

Tech.

 

Repts.

Osaka

Univ .

S h і m і z u

R.,

S h і n о d a

G.,

 

9.

14,

897 (1964).

 

L . ,

X-ray

Optics and

X-ray

Microanalysis,

D і I s

R.,

Z e i t z

10.

ed. Pattee H . H . et al . , New York, Academic Press, 1963, p. 341.

R e e d

S. J . В.,

L o n g J . V .

P.,

X-ray

 

Optics and X-ray

 

Microanalysis

(ed.

Pattee

H . H . et al.),

New York,

Academic

11.

Press,

1963,

p.

317.

 

 

R. N . , Brit .

J.

Appl.

Phys.

С о s s 1 e t t

V . E.,

T h o m a s

12.

15,

1283

 

(1964).

 

 

 

 

 

(1933).

 

 

 

B e

t h e

H . A.,

Hand. d. Phys. 24, 519

 

 

(ed.

13.

D u n с u m b

P.,

X-ray

Microscopy

and

 

Microanalysis

14.

Engstrom A. et al.), Amsterdam, Elsevier,

1960, p. 365.

1206

G r e e n

M . ,

C o s s l e t t

V . E . , Proc.

Phys.

Soc.

78,

15.

(1961).

 

 

 

P.,

X-ray Optics and

X-ray

Microanalysis

(ed.

D u n с u m b

 

Pattee

H . H . , et

al.), New

York, Academic

Press,

1963, p.

431.

К ВОПРОСУ ОБ ИЗМЕРЕНИИ ЛИНЕЙНОГО РАЗРЕШЕНИЯ ПРИ РЕНТГЕНОВСКОМ МИКРОАНАЛИЗЕ

Т. Хеенкамп

При использовании рентгеноспектрального микроана­ лиза в аналитических целях, в особенности при получе­ нии концентрационных кривых с резким изменением кон­ центрации, важнейшим является вопрос о разрешающей способности, которая определяет, какие геометрические подробности различных сложных систем могут еще быть разрешены. Разрешающая способность зависит от диа­ метра пучка электронов на поверхности образца — диа­ метра электронного зонда. При уменьшении диаметра зонда до определенного предела, который зависит от та­ ких процессов как распространение электронов в об­ разце, обратное рассеяние электронов и расширение об­ ласти возбуждения рентгеновского излучения, разрешаю­ щая способность увеличивается приблизительно обратно пропорционально этому диаметру. Дальнейшее уменьшение диаметра электронного зонда не дает заметного вы­ игрыша, так как в этом случае разрешающая способность определяется только указанными выше процессами.

В настоящее время имеются различные способы приб­ лиженного определения диаметра электронного зонда при микроанализе, такие как «метод наползания на лезвие» и метод оптического измерения фокусного пятна (на флуо­ ресцирующем экране) или темного осадка (нагара). При этом разрешающая способность оценивается через при­ ближенное значение глубины проникновения электронов. Часто пользуются также измерением подъема кривой ин­ тенсивности при записи скачков концентрации. Посколь­ ку различные методы измерения диаметра излучающей области дают сильно различающиеся результаты, преж­ де всего необходима правильная оценка разрешающей способности. При этом в настоящей работе не будет под­ робно рассматриваться совокупность процессов, которые определяют диаметр излучающей области и разрешающую

способность в зависимости от различных условий созда­ ния зонда, состава и расположения образца. Многократ­ ными исследованиями было показано, что, приготовляя из различных чистых металлов плоские слои известной толщины в интервале 0,1—5 мкм, можно, хотя и при упро­ щенных, но наглядных условиях, непосредственно опре­ делить разрешающую способность и получить оценку дей­ ствительного диаметра излучающей области. Здесь преж­ де всего следует привести результаты по изучению слоев из меди и золота. Эти два металла были выбраны потому, что вследствие большой разницы их атомных номеров они обладают существенно различной способностью обратно рассеивать электроны, что позволяет проводить измере­ ния слоев с помощью как обратно рассеянных, так и по­ глощенных электронов. Измерение с помощью поглощен­ ных электронов является наилучшим способом определе­ ния приблизительного диаметра первичного электронного зонда, так как рентгеновское излучение обычно возбуж­ дается в значительно большей по объему области.

Приготовление образцов. Слои были приготовлены гальваническим способом. На отшлифованный и хорошо отполированный торец медного цилиндра диаметром приб­ лизительно 1 см в цианистых ваннах были нанесены чере­ дующиеся слои золота [1] и меди [2]. Толщины слоев в первом приближении определялись массой вещества, вы­ делившегося в процессе электролиза, которая рассчиты­ валась по закону Фарадея, исходя из количества прошед­ шего через электролит электричества и соответствующих электрохимических эквивалентов. Так как в процессе электролиза на катоде из желаемого металла, особенно в случае осаждения меди, также происходило выделение водорода, то качество такого способа определения толщины слоев зависело от точности знания величин к.п.д. электро­ химических эквивалентов. Эти величины для золота и ме­ ди были определены в специальных исследованиях. Для золота к.п.д. электрохимического эквивалента составлял приблизительно 60%, а длямеди — колебался от 12 до 18%, и в качестве среднего значения брали 15% . Использу­ емые для измерения диаметра излучающей области и раз­ решающей способности образцы приготовлялись при мед­ ленном непрерывном перемешивании электролита и малой плотности тока ~ (0,5—1) ма/см2. При этих условиях слои осажденных металлов получались равномерными и плот­ ными. Кроме того, необходимо было использовать доста-

точно плоский противоэлектрод из меди или соответствен­ но золота и хорошую полировку основания, которую в данном случае следовало повторять после осаждения каж­ дых двух слоев. В заключение образец было целесообраз­ но покрывать толстым слоем меди. После получения жела­ емых слоев цилиндр разрезали по длине перпендикулярно

к основанию, запрессовы­ вали в пластмассу и поли­ ровали. Схематическое изображение образца при­ ведено на рис. 1.

 

 

Приблизительно

опре­

 

 

деленные указанным

вы­

 

 

ше

способом

 

толщины

 

 

осажденных

слоев

затем

 

 

контролировались

различ­

 

 

ными

способами.

Полную

ЗО'мгм

0,Вшм (І,2мті блок

толщину всех

слоев и тол­

 

Медь

щины наиболее толстых от­

Рис. 1. Схематическое расположение

дельных слоев можно было

 

слоев.

определить с помощью оп­

тического микроскопа. Эти данные позволили провести сравнительные оценки и этало­ нировать микрозонд. Затем микрозонд был применен к изучению тонких слоев, которые непосредственно можно измерять только с помощью электронного микроскопа.

Для

этого

предварительно

 

 

 

 

травят

 

один

из компонентов

 

Т а б л и ц а 1

(медь), так что на поверхно­

 

 

 

&Электрон- [ный мик­ роскоп

сти образца-шлифа возникает

 

 

£ s о

ступенька.

Затем

с

такого

Элемент

Расчет

образца

снимают

отпечаток

 

g « к

 

g S о

(реплику), которая

и

изу­

 

 

О о о.

 

чается в электронном микро­

Золото

 

к і - Р

3,8

скопе. Как видно

из

табл . 1,

4,0

3,9

определенные с помощью мик­

Медь

0,20

0,22

розонда

и электронного

мик­

 

0,60

0,58

роскопа толщины слоев

нахо­

 

 

 

 

дятся

в

хорошем

согласии.

 

 

 

 

Оценка диаметра излучающей области и разрешающей способности. Прежде всего был приготовлен образец, который состоял из нанесенных на медную основу тонких слоев меди толщиной от 0,1 до 2 мкм, разделенных слоями золота приблизительно одинаковой толщины — 3—4 мкм.

В этом случае, как будет видно из следующих ниже рас­ суждений, приблизительное значение величины диаметра излучающей поверхности можно получить с помощью очень простой оценки. Если использовать для измерения слабо поглощающиеся электроны и исследовать слои, перемещая их под электронным пучком и измеряя ток проходящих электронов, то для меди получим большее значение тока, чем для золота, величина обратного рассеяния электронов для которого значительно больше. Если теперь с помощью осциллографа синхронно с перемещением образца запи­ сать изменение тока проходящих электронов, то для меди

получают

величину

интенсив­

 

 

 

ности 1\, а для золота мень­

 

 

 

шую величину интенсивности/2 .

 

 

 

Пусть

электронный

зонд имеет

 

ю

 

диаметр d, а толщина слоя

рав­

 

 

на

Ь. Пусть,

далее,

толщина

 

 

 

слоя,

например,

меди,

меньше

 

 

 

диаметра

электронного

зонда.

 

 

 

Тогда максимальная

амплитуда

 

 

 

изменения

тока,

которая

при

 

 

условии,

что весь

электронный

 

 

1_

 

 

зонд

располагается

на

меди,

 

 

 

 

 

равна / 1 5

будет приближаться к

Рис. 2.

Изменение тока

через

/ 2

— значению

интенсивности

образец при сканировании вдоль

 

слоя.

 

на

толстых

слоях

золота.

Это

 

 

 

схематически

показано

на рис. 2. В верхней части ри­

сунка

показан порядок

расположения

слоев, а в

ниж­

ней — ожидаемое распределение интенсивности. Если А / 0 представляет собой разницу интенсивностей от широких слоев меди и золота, измеренную по току прошедших электронов, то величина А / позволит судить только о том,

меньше ли

диаметр

электронного

зонда толщины слоя

или больше

ее. Если

он больше, то

А / начинает умень­

шаться. Если d достаточно велико, то с хорошей степенью точности часть площади электронного зонда, находящуюся на поверхности слоя, можно определить как db при усло­ вии, что полная площадь под электронным зондом равна

nd2/4. Тогда для

интенсивности

имеем

 

А/

= Д / 0 ^ - ; d >

b .

(1)

В том случае, когда применимо это очень упрощенное, чисто геометрическое рассмотрение, получают действи-

Отчетливо видно, что минимальный диаметр излучаю­ щей области уменьшается по мере уменьшения тока зон­ да. Проведенные параллельно измерения фокусного пят­ на на флуоресцирующем экране и диаметра пятна черного нагара на поверхности шлифа указывают на то, что, из­ меняясь одинаково в зависимости от тока зонда, эти спо­ собы дают существенно завышенные значения диаметра излучающей области.

Искажение вида слоев при сканировании в направле­ нии, перпендикулярном к слоям, позволяет также уста­ новить наличие астигматизма электронного зонда и изме­ рить его.

ЛИТЕРАТУРА

 

 

1.

Р а г k е г

Е.,

Plating 38, 1134, 1156, 1256 (1951).

2.

S c h a f e r

F „

Metallwaren und Galvanoteohnik 32, 408 (1934).

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ