Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Трусов Л.И. Островковые металлические пленки

.pdf
Скачиваний:
9
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
13.57 Mб
Скачать

б) сильные поля:

е F b

А Ф =

“у ~ > k T ,

 

 

 

 

при этом током

/ 2 і можно пренебречь и

 

 

 

 

 

А ф

е F Ь

 

 

 

,

r

 

к Т

2 k T

 

 

 

(245)

'тэл =

70 е

«

 

 

 

 

 

Если

поле очень велико и понижение барьера,

вызванное

им,

сравнимо по величине

с эффектом перекрытия сил изображения

(Дер

Дср'), то выражение (243) неприменимо и для определения ис­

тинной

высоты

барьера

необходимо учитывать оба

эффекта

[267,

268]. Наконец, при ДфСАф' имеет место шотшовская эмиссия:

 

 

 

 

e’/s Y T

 

 

 

 

 

 

 

кТ

 

 

 

(246)

 

Іа е

 

 

 

 

Мостовеч и Водар [230] считают, что проводимость островковых слоев определяется исключительно термо­

электронной

эмиссией. Действие ноля они объясняют

понижением

потенциального барьера

в результате эф­

фекта Шоттки.

__

Наклон кривых в координатах 1g R у F , вычислен­ ный теоретически с учетом эффекта Шоттки, по поряд­ ку величины совпадает с наклоном соответствующих экспериментальных зависимостей.

В работах Минна [227] и Стѳнсила [182] термо­ электронной эмиссии также отводится ведущая роль в процессе проводимости.

Камень преткновения гипотезы, основанной на тер­ моэлектронной эмиссии,— это затруднение, связанное с объяснением малых величин энергии активации, полу­ ченных из эксперимента (сотые —десятые доли электронвольт), которые на один-два порядка меньше ра­ боты выхода массивных металлов.

Стенсил, ссылаясь на работу [282], указывает, что работа выхода из металла в изолятор гораздо меньше, чем работа выхода из металла в вакуум, и ее значение

может лежать в интервале 0,5—1 эв.

Учитывая, что эта

величина может быть

еще ниже вследствие эффекта

перекрытия

сил изображения

(Дер),

он

предполагает,

что реальная

высота

барьера

<р'т

при

проводимости

через изолятор может быть порядка величин, наблюда­ емых в эксперименте.

201

зависит от параметров контакта, Ь,

Нифонтов [270] проводит подробное сравнение про­ водимости, обусловленной туннельным эффектом и тер­ моэлектронной эмиссией.

Проводимость при туннельном эффекте относительно слабо зависит от температуры. Здесь основную роль играют параметры, определяющие форму потенциаль­ ного барьера: работа выхода, ширина барьера. Термо­ электронная эмиссия, помимо зависимости от высоты потенциального барьера, определяется температурой.

Сопоставляя два семейства теоретических кривых в координатах lg/ — 1gU для туннельного эффекта и тер­ моэлектронной эмиссии, построенных для серебра, и, предполагая различные значения фо и Ь(Г=300°К), автор указывает, что эти кривые подобны. При слабых полях имеется прямолинейный участок с наклоном, равным -единице, отвечающий закону Ома. При некото­ ром значении поля трафик начинает отклоняться от прямой. Это значение при туннельном эффекте зависит от величин ф и Ь, а при термоэлектронной эмиссии — от температуры Т. На рис, 54 указаны области, в кото-

Э

Рис. 54. Соотношение туннельного эффекта (область 1) и термоэлект­ ронной эмиссии (область 2) для различных значений ф0 и Я при 7’=300°К по данным работы [270]

рых преобладает каждый из эффектов, в зависимости от величины ф и b при комнатной температуре. С пони­ жением температуры кривая сдвигается вправо*. Теоре­ тические кривые lg/? — lg/ для туннельного эффекта и термоэлектронной эмиссии имеют три характерные об­ ласти: область слабых токов, в которой lg/? практи­ чески равен постоянной величине lg/?0 (омическая ха­ рактеристика); область сильных токов, в которой зави­ симость асимптотически приближается к прямой с от­ рицательным наклоном а ( а = —1); промежуточную область.

Величина /?о

202

фо и температуры Г, причем при изменении одного из параметров и постоянстве остальных механизм прово­ димости должен определяться либо туннельным эф­ фектом, либо термоэлектронной эмиссией.

Сравнение экспериментальных кривых lg/?—lg/ для островковых пленок (по данным работ [239]) исоответ­

ствующих теоретических кривых для

одного

несовер­

шенного контакта (представляющего

собой

два

элект­

рода

с узким зазором

между ними)

показывает,

что

если в последнем случае при больших токах наклон

(а)

будет

порядка — 0,76,

то опыт дает

для

алюминия

—0,4Д>а> —0,75, а для серебра—0,3> а >

—0,6. Таким

образом, наклон экспериментальных .кривых меньше тео­ ретических и несущественно изменяется при больших токах. Это расхождение Нифонтов объясняет тем, что островковая пленка представляет собой множество несо­ вершенных контактов, соединенных последовательно и параллельно, причем их параметры b и ф характеризу­ ются некоторым случайным распределением. Построе­ ние теоретической кривой суммарного сопротивления группы последовательно соединенных контактов имею­ щих гауссовское распределение величин b и <рт , свиде­ тельствует о том, что при больших токах ее наклон мень­ ше, чем для кривой, соответствующей единому эквива­ лентному контакту.

Симмонс также провел сравнение туннельного и термоэлектронного токов [277]. Он пришел к выводу, что для барьеров, превышающих 1,25 эв, плотность об­ щего тока при комнатной температуре очень мала. На рис. 55 показаны плотности /тун и /тэл, рассчитанные для комнатной температуры в зависимости от напряже­

ния для различных зданий b и ф ери

ег= 3 . Сплошные

линии относятся к термоэлектронной

эмиссии, а

пунк­

тирные— к туннельному эффекту.

Для зазора

b 1

О

Д 40 А термоэлектронный ток пренебрежимо мал по сравнению с туннельным.

В изложенных выше гипотезах проводимости Френ­ келя, Мостовеча и Водара, Минна и Нифонтова [227; 230; 264-268; 239, с. 1634; 269—271] предполагается, что проводимость осуществляется благодаря переходу электрона через вакуумный зазор по механизму термо­ электронной эмиссии «ли туннельного эффекта. При

203

этом островки рассматриваются как два массивных ме­ таллических электрода, уровни Ферми которых опреде­ ляются только приложенным полем.

Было показано также, что если зазор заполнен диэлектриком, то высота потенциального барьера ниже

на величину электронного сродства диэлектрика.

Сле­

довательно,

можно

предположить,

что

проводимость

5

островковой

пленке

осуществляется

преимущественно

через

диэлектрическую

подложку,

а

 

не через вакуум­

 

 

 

 

 

 

ные зазоры между ост­

 

 

 

 

 

 

ровками. В пользу это­

 

 

 

 

 

 

го

предположения

го­

 

 

 

 

 

 

ворит

 

также

следую­

 

 

 

 

 

 

щее

 

 

соображение

 

 

 

 

 

 

[272].

 

Возможность

 

 

 

 

 

 

туннелирования

 

ха­

 

 

 

 

 

 

рактеризуется

пере­

 

 

 

 

 

 

крытием

 

волновых

 

 

 

 

 

 

функций электронов

в

 

 

 

 

 

 

соседних

островках.

 

 

 

 

 

 

Степень

перекрытия

 

 

 

 

 

 

качественно

опреде­

 

 

 

 

 

 

ляется

боровскими

ра­

 

 

 

 

 

 

диусами

а0 соответст­

 

 

 

 

 

 

вующих

электронных

 

 

 

 

 

 

состояний,

которые

за­

 

 

 

 

 

 

висят

 

от

диэлектриче­

 

 

 

 

 

 

ской

 

проницаемости

е

 

 

 

 

 

 

и эффективной

массы

0,6

0,8

1,0 1,2

/,U

1,6

^носителей

/те*:

 

 

 

 

 

и%(бЩ

 

 

 

 

 

т

 

Он,

(247)

Рис. 55. Сравнение плотностей туннельно­

 

 

 

‘эф

 

 

 

 

 

 

 

го тока (-------- ) и тока термоэлектронной

пде

ап— боровский ра­

эмиссии (-------)

в зависимости

от

напря­

жения при е = 3

(по данным работы [277])

диус

электрона

водо­

 

 

 

 

 

 

рода.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Значения

е для

ти­

пичных диэлектриков в несколько раз больше, чем

для

вакуума. Кроме того, эффективная

масса

электрона

в

зоне проводимости полупроводников и ионных изолято­ ров меньше истинной массы /те [278]. Следовательно, перекрытие волновых функций электронов в диэлектри­ ке больше, чем в вакууме, что позволяет сделать пред­

204

ложение о преобладающей роли туннелирования через подложку.

С другой стороны, высота барьера повышается с ро­ стом диэлектрической проницаемости е вследствие уменьшения перекрытия сил изображения (рис. 52).

Таким образом, закономерности проводимости в ост­ ровковых пленках трудно объяснить туннельным эф­ фектом в классическом виде, описанном выше, посколь­ ку его температурная зависимость гораздо слабее, чем экспериментально наблюдаемая. Экспоненциальная зави­ симость тока от температуры хорошо объясняется тер­ моэлектронной эмиссией, однако теоретическая величина потенциального барьера значительно больше, чем полу­ ченные из эксперимента значения энергии активации проводимости, даже с учетом поправок на перекрытие сил изображения, величину электронного сродства и т. д.

4. Некоторые теоретические модели проводимости, учитывающие малый размер островков

Размер островков колеблется в широких пределах и зависит от толщины пленки, тугоплавкости и химичес­ кой активности металла, параметров конденсации и т. д. При осаждении на холодную подложку пленок относи­ тельно небольшой толщины величина островков может составлять всего несколько десятков ангстрем и менее. При этом число свободных электронов в каждом из них будет невелико. Например, в островке серебра в виде куба со стороной I, количество свободных электронов

п = 0,Об/3 и для 1— 20А, п = 500 [239, с. 1634]. Энергетическая структура электронных состояний в

таких островках может существенно отличаться от мас­

сивного металла. В частности, это проявляется

в диск­

ретности энергетических уровней. Холлэнд [283]

пока­

зал, что для частиц достаточно малого размера

(менее

О

Ш0 А) элѳктірон-фоіномное взаимодействие должно быть существенно подавлено, и это должно изменить кинети­ ку релаксационных процессов. Кубо [219, 284] также отмечает особый характер этих процессов в частицах малых размеров.

В работе [285] при исследовании электронного спи­ нового резонанса в островковых пленках золота со

205

средним размером островков 30 А экспериментально подтверждено предположение об уменьшении злектронфононного взаимодействия вследствие дискретности элект­ ронных энергетических уровней.

В пятидесятые годы появились две важные работы, в которых были заложены физические основы, развитые в последующих теориях проводимости островковых метал­ лических пленок. Речь идет о работах Гортера [286] и Дармуа [247, с. 210]. В них положено начало новому подходу к рассмотрению явления проводимости, осно­ ванному яа изучении энергетических изменений, ко­ торыми сопровождается перенос зарядов между ост­ ровками. При этом учитывались специфические черты процесса, связанные не только с дискретным расположе­ нием островков, но и с их микроскопически малыми раз­ мерами.

Гортер указывает, что при переходе электрона с одно­ го нейтрального островка на другой, независимо от способа перехода, образуется пара разноименных заря­ дов, при удалении которых друг от друга требуется энергия для преодоления их электростатического притя­ жения. Необходимо подчеркнуть, что эта энергия возни­ кает помимо потенциала изображения, который появля­ ется в результате взаимодействия удаляющегося элект­ рона с фиктивным зарядом, учитывающим электростати­ ческую поляризацию островка. С потенциалом сил изо­ бражения связано формирование обычного барьера ме­

жду двумя массивными электродами, описанное выше. С другой стороны, потенциал, возникающий вследствие разделения двух образовавшихся разноименных заря­ дов, накладывается на потенциал сил изображения, что приводит к модификации как барьера между островка­

ми, так и энергетического

спектра

электронов

в

них.

Этот

дополнительный

потенциал

является

специфичес­

кой

особенностью взаимодействия

зарядов

в изолиро­

ванных металлических частицах.

 

 

 

 

 

 

Гортер указывает, что при наложении

поля

только

те заряды смогут внести вклад

в

электрический

ток,

которые

освободятся от электростатического

притяже­

ния своего «партнера».

В слабых полях число зарядов,

оторванных друг от друга, мало, но их количество

воз­

растает с

усилением поля

и повышением

температуры.

206

При взаимодействии точечных зарядов (приближе­ ние малых островков, достаточно удаленных друг от друга) электростатическая анергия равна (случай 1)\

Qi = - J - ,

(248)

где I — расстояние между зарядами.

С другой стороны, крупные островки с зазорами в ви­ де каналов равной ширины можно представить эквива­ лентной электрической схемой из плоских конденсаторов,

соединенных

в

серии

последовательно

и

параллельно,

при этом (случай 2)

 

 

 

 

 

Q2 =

- f

ln - f

,

 

 

 

 

 

(249)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где Іо — отношение поверхности плоского

 

конденсатора

 

 

 

к его ширине.

 

 

 

 

 

 

При наложении однородного поля напряженностью F

в направлении / для электростатической

энергии

полу­

чаются следующие выражения:

 

 

 

Q i = - f

- e l F ,

 

 

 

 

 

(250)

Qi — —

ln —-----e IF.

 

 

 

 

(251)

 

 

 

to

 

 

 

 

 

 

 

 

Эти выражения соответствуют кривой с максимумом,

положение которого

легко

рассчитать.

Для случая 1:

*х =

e4'F~4\

 

 

 

 

 

 

(252)

Qml = - 2

e h F4\

 

 

 

 

(253)

Для случая 2:

 

 

 

 

 

 

 

Іщ2

 

^ F

 

А) »

 

 

 

 

 

(254)

 

-

 

;H

; J

•]•

 

 

 

(255)

 

 

 

 

 

 

 

Гортер полагает, что вероятность отрыва зарядов друг

от друга

в

поле F пропорциональна ехр

^

и>

следовательно, сопротивление:

 

 

 

_

=

.

 

 

I

2 e't* Г '!*

\

 

 

(256)

 

А (Т) ехр

(-----—

J.

 

 

 

207

 

 

 

 

е2

 

 

 

 

 

 

К» = Л ( Л

(

~ ~

у

кТ

 

 

 

 

(257)

Оценка

показывает, что при F = 1 в/см lmі=

3,8 мкм

И при /о= 10 М К М ,

/ m 2

=

1,4 ЛЛЖ

 

 

 

 

В работе [239, с. 1634] дается приближенный расчет

межостровковой

емкости.

Если

а2— «эквивалентная»

поверхность

в

О

 

элементарного

 

конденсатора,

А)

 

/= &!« — его

толщина,

е — диэлектрическая проницае­

мость, то

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

С = — 0,9-10~21 (ф ).

 

 

 

 

 

 

Если конденсатор имеет заряд в один

 

электрон, то

разность

потенциалов

АС/= 0,2

в

(при

&i=0,25;

 

 

О

 

 

 

такого конденсатора

Ег —

е= 4; ß0= 5 0 A ). Энергия

= 1,4-10

 

д ж ,

 

что для комнатной

температуры

 

 

в а

 

 

 

 

 

 

 

 

равно 4,5 kT.

Дармуа рассматривает работу выхода электрона из металлической сферы очень малого размера в зависимо­ сти от заряда этой сферы. Он отмечает, что если на сфере первоначально находился один избыточный элект­ рон, то при его удалении из островка возникают только силы изображения. Если же сфера первоначально нейт­ ральна, то после ухода электрона она остается положи­ тельно заряженной и работа выхода возрастает на ве­ личину

А Q = — ,

(258)

е а

 

где а — поперечный размер сферы.

Результат, полученный Дармуа, не противоречит фор­ муле Гортера (248). По Гортеру энергия активации про­ водимости Q соответствует энергии, необходимой для удаления на бесконечное расстояние двух точечных за­ рядов, находящихся на расстоянии I друг от друга. Дармуа же рассматривает добавочную энергию при уда­ лении с поверхности сферы размером а электрона, ко­ торый оставляет на сфере равный себе положительный заряд. Фактически это эквивалентно удалению в бееко-

208

ценность друг от друга двух точечных зарядов, располо­ женных на расстоянии а.

Нейгебауэр и Вэбб [246; 6, с. 13; 87, с. 45; 12, с. 579] используют аналогичные представления для построения модели активированного туннелирования. Согласно этой модели, заряды, участвующие в проводимости, тер­ мически возбуждаются над уровнем Ферми до энергии, превышающей величину электростатического барьера е2/й (258). После этого, благодаря туннельному эффек­ ту, происходит дрейф этих зарядов через зазоры между островками, сквозь барьеры, обусловленные силами изо­ бражения. Поскольку последний процесс не является ак­ тивированным, перемещение зарядов под действием по­ ля осуществляется сравнительно легко.

Равновесное число термически возбужденных носи­

телей тока определяется выражением

 

п = п0 exp

,

(259)

где щ — общее число частиц пленки.

как вследствие

Энергия

Q размывается в спектр

взаимодействия между дрейфующими зарядами, так и в результате разброса размеров частиц. При Qx>kT взаи­ модействие зарядов мало, поскольку в этом случае мала их плотность.

Вероятность туннелирования электрона с отрицательно заря­ женной частицы 2 (рис. 56) на нейтральную частицу 3 пропорцио-

Рис. 56. Энергетическая схема трех частиц в поле (к модели Нейгебауэра и Вэбба [246])

налы-іа плотности заполненных состояний в частице

2 и плотности

незаполненных состояний в частице 3:

 

00

 

Р = j

Dr f2 (1 - } 3) d E ,

(260)

00

 

где

f — функция Ферми.

 

209

В обычном уравнении туннелирования (230) содержится фактор 2—Ы, который по существу определяется разностью двух членов, соответствующих прямому туннелированию с частицы 2 на частицу 3, т. е. /2 (1—h) и обратному туннелированию с частицы 3 на части­ цу 2, т. е. h (1—[2 ) • Таким образом

/ . (1 — /з) — (1 — /* ) = /* —

 

 

(261)

Нейгебауэр и Вэбб используют только первую часть

этой раз­

ности, обосновывая это тем, что в случае

туннелирования

между

двумя островками 2 к

3 (рис. 56) вероятность обратного туннелиро­

вания пренебрежимо мала, поскольку при этом образуется

положи­

тельно заряженный островок 3 и двукратно отрицательно

заряжен­

ный островок 2.

 

 

 

 

В отсутствие поля

происходит хаотическое движение

 

зарядов.

Если в направлении х

разность потенциалов

между двумя

 

частица­

ми —U, то уровни Ферми соседних частиц смещаются на величину eU. Электрический ток пропорционален разности вероятностей (Р) пе­ ремещения заряда вдоль поля Р+ѵ и против поля Р - и . Для перехо­

да 2 -*

3 имеем:

 

 

 

 

 

со

 

 

 

 

 

Р+и »

DT j'

f {E ) ( \ - f ( E - e U)) d E.

(262)

Для перехода 2-* 1 имеем:

 

 

 

 

со

 

 

 

 

 

P - U ~ D T j

f ( E) ( 1

- f ( E - e U ) ) d E

(263)

 

00

 

 

 

 

 

DT

 

eU

+

e U

 

DT eU переходовҢсм2 ■сек).

 

e U

eU

 

 

 

k T

 

k T

 

(264)

Вероятность перехода

между

островками,

площадь поперечного се­

чения которых а2, равна:

 

 

 

Po = DT а? е U переходов/сек.

 

 

(265)

Подвижность

и носителей заряда

в поле

Ujb равна:

u = DT е а? b2'

 

 

 

 

(266)

Если равновесное

число

носителей определяется соотношением

(259), то проводимость выражается следующим образом:

 

1

 

/

е2

\

(267)

1 = е п и = •—

b2 е2 Dr exp ( — — -— .

 

Cl

 

\

CL К Т J

 

Электростатическая энергия, необходимая для удаления заряда на конечное расстояние х от донорного островка, меньше величины

AQ, определенной в выражении (258) [246]:

 

е2

е2

(268)

еа

в (а + х)

 

210

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ