- •А.А. Лукин з.С. Лукина
- •Введение
- •1. Сплошной спектр рентгеновских лучей
- •2. Характеристический спектр рентгеновских лучей
- •3. Поглощение рентгеновских лучей
- •4. Ослабление первичного рентгеновского излучения
- •5. Рассеивание рентгеновских лучей кристаллической решеткой (монокристаллом)
- •6. Интерференция в поликристаллических веществах
- •7. Основные методы исследования структуры
- •7.1. Метод неподвижного монокристалла (метод Лауэ)
- •7.2. Метод вращающегося монокристалла
- •7.3. Метод порошка
- •8. Дифрактометрия
- •8.1. Рентгеновские дифрактометры
- •8.2. Юстировка дифрактометра
- •8.3. Приставки к дифрактометру для высокотемпературных (гпвт-1500) и низкотемпературных (урнт-180) исследований
- •9. Текстура. Полюсные фигуры
- •9.1. Понятия текстуры
- •9.2. Разновидности текстур
- •9.2.1. Систематизация по Вайссенбергу
- •9.2.2. Волокнистые (аксиальные) текстуры
- •9.2.3. Простые аксиальные текстуры
- •9.2.4. Спиральная и кольцевая аксиальные структуры
- •9.3. Стереографическая проекция
- •10. Методы исследования и классификация текстур
- •10.1. Основные положения, используемые для описания текстурообразования при деформации
- •10.2. Текстуры протяжки
- •10.3. Текстуры прокатки
- •10.3.1. Текстуры прокатки металлов с о. Ц. К. Решеткой
- •10.3.2. Рассеяние текстуры прокатки металлов с о. Ц. К. Решеткой
- •10.3.3. Текстуры прокатки металлов с г. Ц. К. Решеткой
- •10.3.4. Рассеяние текстуры прокатки металлов с г. Ц. К. Решеткой
- •11. Методы съемки текстур
- •11.1. Рентгеновский метод
- •11.2. Фотографический метод
- •11.3. Метод съемки на просвет
- •11.4. Построение полюсных фигур по рентгенограммам
- •11.5. Приготовление образцов
- •Контрольные вопросы
- •Заключение
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •8.1. Рентгеновские дифрактометры………………..……71
- •394026 Воронеж, Московский просп., 14
11.5. Приготовление образцов
Для исследования текстуры проката требуется вырезать образец из целого листа. Для съемки на отражение образец изготавливают сравнительно просто механическим способом; его поверхность обтачивают, шлифуют и травят на ту же глубину, на которой должна изучаться текстура. Для изучения текстуры на поверхности рекомендуется подвергнуть образец кратковременному травлению только для удаления окисной пленки. При изготовлении образцов также применяют удаление поверхностного слоя электролитическим способом. Образцы для съемки на отражение должны иметь по возможности гладкую поверхность, поскольку из-за неровностей могут получаться искажения. Кроме того, поверхность должна быть плоской, иначе при вращении произойдет дефокусировка. Следует отметить, что при подготовке образцов направление прокатки должно остаться заметным благодаря маркировке, чтобы можно было правильно провести обработку результатов.
Контрольные вопросы
1. Какие два механизма взаимодействия быстролетящих электронов с веществом приводят к возникновению рентгеновского излучения и какие спектры излучения при этом получаются?
2. Какой источник электронов используется в электронных рентгеновских трубках?
3. Назовите элементы конструкции электронной рентгеновской трубки и объясните их назначение.
4. Что называется фокусом трубки и как определить его размеры?
5. Чем определяется выбор электрического режима работы трубки при получении характеристического спектра рентгеновских лучей?
6. Что называется потенциалом возбуждения К-серии?
7.Какой вид зависимостей имеют характеристики трубки:
IT=f(IH) и IT=f(UA)?
8.Назовите основные узлы рентгеновского аппарата УРС-2.0 и объясните их значение.
9.Каков порядок включения и выключения рентгеновского аппарата УРС-2.0?
10.Назовите источники опасности и правила техники безопасности при работе с рентгеновскими установками.
11.Какие блоки входят в измерительную счётную стойку дифрактометра ССД, их назначение?
12.Какие методы регистрации рентгеновских лучей используются в дифрактометре?
Заключение
Созданием определенной текстуры можно улучшить пластичность металлов (бериллий), а также повысить значение модуля упругости вдоль определенных направлений в изделии (пружинные сплавы ХН50, К40НХМ и т.д.). Текстура металлических покрытий повышает стойкость против коррозии и действия агрессивных сред. Она определяет смачиваемость, химическую активность, электрические свойства.
Авторы надеются, что при усвоении материала учебного пособия студенты не только внимательно изучили теоретический материал, но и не игнорировали предложенные вопросы. Если студенты успешно справились со всеми вопросами, то можно считать, что цель, поставленная авторами в процессе работы над пособием, достигнута.
Библиографический список
Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ / С.С. Горелик, Л.Н. Расторгуев, Ю.А.Скаков. – М.: Металлургия, 1971. С. 7-21.
Рентгенотехника: Справочник / под ред. В.В.Клюева. – М.: Машиностроение, 1980. Т. 2. С. 36-42
Беликов А.М. Структурные и спектральные методы исследований / А.М. Беликов, А.Т. Косилов, В.Б. Шепилов. – Воронеж: ВПИ, 1984. С. 5-15, 27-51.
Кудрявцев И.П. Текстуры в металлах и сплавах / И.П. Кудрявцев– М.: Металлургия, 1965. – 292 с.
Вассерман Г. Текстуры металлических материалов. Г. Вассерман, И. Гревен. – М.: Металлургия, 1969. – 655 c.
Рентгенография металлов: учебник для вузов / А.А. Русаков М.: Атомиздат, 1977. 480 с.
Уманский Я.С. Рентгенография металлов и полупроводников / Я.С. Уманский. – М.: Металлургия, 1969.