- •Опорные конспекты лекций по дисциплине
- •Лектор: доц. Каф. Пр-1, к.Ф.- м.Н. Игорь Михайлович Колдаев.
- •Рекомендуемая литература:
- •Дополнительная литература:
- •Тема 1. Введение. Пассивные фотометирические методы.
- •1. Объект и предмет научного исследования; модели электромагнитного излучения
- •2. Научное исследование, его цели, задачи и этапы; принцип и метод научного исследования
- •3. Систематизация оптических методов исследований, критерии качества оптического метода
- •4 Взаимосвязь световых и энергетических параметров излучения.
- •5 Типовые погрешности оэип, погрешности косвенных измерений
- •6 Способы измерения основных фотометрических параметров. Светомерный шар
- •7 Способы измерения силы света удаленного источника и яркости объекта
- •8 Способы сравнения оптических параметров объекта с мерой
- •9 Фотоплетизмография в исследованиях медико-биологических объектов
- •Задачи к теме 1.
- •Тема 2. Активные фотометрические методы
- •10 Концентрационная колориметрия в исследованиях веществ
- •11 Оптическая плотность, ее аддитивность.
- •12 Спектрофотометрический анализ многокомпонентных систем
- •13 Оксигемометрия
- •14 Комбинированные методы: фото-каллориметрия, способы термо – оптические и оптико – акустические способы регистрации сигнала
- •15 Систематизация и классификация приборов фотометрии; визуальный фотометр, фотоэлектрические фотометры.
- •1 6. Влияние отклонений от закона Бугера - Бера – Ламберта на результаты колориметрических исследований
- •17 Нефелометрические методы исследований веществ и окружающей среды
- •18 Турбидиметрия в исследованиях дисперсных сред
- •19 Методы микроскопии в исследованиях рассеивающих сред
- •Задачи к теме 3
- •Тема 3 Спектральные методы научных исследований
- •20 Цели, задачи, классификация методов и областей спектрального анализа
- •21 Классификация спектральных элементов и приборов
- •22 Развитие атомно–эмиссионной спектроскопии
- •23 Естественная ширина спектральных линий
- •24 Приборы атомно - эмиссионной спектроскопии
- •25 Принципы атомно-абсорбционной спектроскопии
- •26 Приборы абсорбционной спектроскопии
- •27 Молекулярная спектроскопия
- •Задачи к теме 3
- •Тема 4 Люминесцентные и лазерные методы
- •28 Принципы люминесцентной спектроскопии, сравнение люминесцентных и спектральных методов.
- •29 Количественный люминесцентный анализ
- •30 Методы спектроскопии комбинационного рассеяния
- •31 Лазерные спектрометры, области лазерной спектроскопии
- •32 Лазерные методы исследования сверхбыстрых процессов на примере динамики белков
- •33 Принципы рефрактометрии; молекулярная рефракция, формула Лорентц - Лоренца.
- •34 Систематизация методов и приборов рефрактометрии
- •Способы определения направления луча:
- •35 Принципы интерферометрии и голографических исследований
- •36 Волоконно-оптические и интегрально-оптические интерферометрические датчики
- •37 Классические интерферометры в научных исследованиях
- •Задачи к теме 4
- •Тема 5 Поляризационные, эллипсометрические и квантовые методы
- •38 Систематизация поляризационных исследований
- •39 Поляриметрия
- •40 Спектрополяриметрический анализ; законе Био
- •41 Приборы на основе интерференционно-поляризационных явлений
- •42 Исследование двулучепреломляющих сред
- •43 Люминесцентно – поляризационный анализ
- •44 Эллипсометрия в исследованиях поверхностных слоев и пленок
- •45 Квантовые методы исследования нанообъектов
- •Задачи к теме 5
- •Экзаменационные вопросы
- •Объект и предмет научного исследования; модели электромагнитного излучения.
35 Принципы интерферометрии и голографических исследований
Интерференция основана на сложении векторов когерентных электромагнитных волн, что приводит к пространственно неоднородному распределению энергии суммарного электромагнтного поля.
Голография (от греческого holos – полный и gramma – запись) фиксирует совокупность волновых параметров: частоту, амплитуду и фазу.
Это возможно благодаря интерференционной картине, получаемой при наложении отражённого от объекта излучения и опорного сигнала.
Схема записи голограммы: .
При сложении двух когерентных волн складываются их поля, а не интенсивности.
Интенсивность излучения пропорциональна квадрату амплитуды:
, или
Из (23.1) следует, что интенсивность результирующего колебания максимальна, если ∆φ = 2πm, где m – любое целое число. Эта разность фаз соответствует максимуму интерференционной картины.
Если ∆φ= 2π(m+1/2), где m – любое целое число, то наблюдаются минимумы интерференционной картины.
Чтобы охарактеризовать интерференционную картину используется понятие оптической разности хода:
,
Здесь х – расстояние.
Если ΔL=mλ, где m – порядок интерференции, то наблюдается максимум интерференционной картины. В этом случае ∆φ=2π, тогда
I=I1+I2+ 2 I1I2.
Если ΔL=(2m+1)λ/2, то наблюдается минимум, тогда
I=I1+I2 - 2 I1I2.
В общем случае разность фаз сигналов:
Показатель преломления зависит от ряда факторов, например, от электрических и магнитных полей. Влияние магнитного поля на показатель преломления называется магнитооптическим эффектом. Зависимость показателя преломления от электрического поля называется электрооптическим эффектом.
Принципы интерферометрии определяются связью параметров внешнего воздействия с показателем преломления n2, от которого зависит вид интерференционной картины. Варианты внешних воздействий на интерференционный датчик:
Механическое: n = f(p),
где р – механическое напряжение.
Электрооптический эффект: n = f (Eвнеш.).
Магнитооптический эффект: n = f (B).
На аналогичных принципах построены голографические исследования. В случае голографических исследований параметрами, определяющим оптическую разность хода опорного и контролируемого лучей, являются пространственные неоднородности среды (например, элементы микроструктуры объекта).
Расшифровывая голографическую картину, вид которой определяется оптической разностью хода, которая, в свою очередь зависит от параметров объекта, добывается информация о микроструктуре объекта.
36 Волоконно-оптические и интегрально-оптические интерферометрические датчики
Выделяются три группы интерферометров:
классические: на основе зеркал и линз;
волоконно-оптические: на основе волоконных волноводов;
интегрально-оптические: на основе волноводов внутри кристаллов.
В интерферометрах I1 = I2.= I0/2.
1
3
Плечо интерферометра определяет путь луча; одно плечо является эталонным, а другое - измерительным.
1- источник когерентного излучения. 2- схема ввода излучения в волокно. 3- волокно.
4 – делитель,
5- сумматор,
6- приемник излучения.
7- чувствительная область волокна.
Оптическая разность хода:
∆L= l*n1-l*n2=l*∆n
Или разность фаз:
,
откуда следует .
Учитывая интенсивность: I∑= I0+I0 cos (∆φ), получим:
,
Откуда следует ,
или ,
Для фотоэлектрической регистрации:
Интегрально-оптические интерферометры изготавливаются внутри кристалла легированием его волноводных областей: n2- LiNbO3:Ti; n2> n1.
Схема интегрально-оптического интерферометра содержит:
1- источник; 2 – оптическая схема ввода излучения в волновод; 3 – волновод; 4 – делитель; 5 – плечи интерферометра; 6 – сумматор; 7 – волновод; 8 – приемник; 9 – схема обработки сигнала; 10 – область воздействия.
Принцип действия такой же, как в волоконно-оптических интерферометрах, с учетом того, что n2 – показатель преломления области 10, чувствительной к внешним воздействиям, а ∆Х – длина этой области.
Кроме того, если внешнее воздействие уменьшает n2, то получается датчик на основе потерь энергии, поскольку условия полного внутреннего отражения сигнала перестают выполняться.