- •Опорные конспекты лекций по дисциплине
- •Лектор: доц. Каф. Пр-1, к.Ф.- м.Н. Игорь Михайлович Колдаев.
- •Рекомендуемая литература:
- •Дополнительная литература:
- •Тема 1. Введение. Пассивные фотометирические методы.
- •1. Объект и предмет научного исследования; модели электромагнитного излучения
- •2. Научное исследование, его цели, задачи и этапы; принцип и метод научного исследования
- •3. Систематизация оптических методов исследований, критерии качества оптического метода
- •4 Взаимосвязь световых и энергетических параметров излучения.
- •5 Типовые погрешности оэип, погрешности косвенных измерений
- •6 Способы измерения основных фотометрических параметров. Светомерный шар
- •7 Способы измерения силы света удаленного источника и яркости объекта
- •8 Способы сравнения оптических параметров объекта с мерой
- •9 Фотоплетизмография в исследованиях медико-биологических объектов
- •Задачи к теме 1.
- •Тема 2. Активные фотометрические методы
- •10 Концентрационная колориметрия в исследованиях веществ
- •11 Оптическая плотность, ее аддитивность.
- •12 Спектрофотометрический анализ многокомпонентных систем
- •13 Оксигемометрия
- •14 Комбинированные методы: фото-каллориметрия, способы термо – оптические и оптико – акустические способы регистрации сигнала
- •15 Систематизация и классификация приборов фотометрии; визуальный фотометр, фотоэлектрические фотометры.
- •1 6. Влияние отклонений от закона Бугера - Бера – Ламберта на результаты колориметрических исследований
- •17 Нефелометрические методы исследований веществ и окружающей среды
- •18 Турбидиметрия в исследованиях дисперсных сред
- •19 Методы микроскопии в исследованиях рассеивающих сред
- •Задачи к теме 3
- •Тема 3 Спектральные методы научных исследований
- •20 Цели, задачи, классификация методов и областей спектрального анализа
- •21 Классификация спектральных элементов и приборов
- •22 Развитие атомно–эмиссионной спектроскопии
- •23 Естественная ширина спектральных линий
- •24 Приборы атомно - эмиссионной спектроскопии
- •25 Принципы атомно-абсорбционной спектроскопии
- •26 Приборы абсорбционной спектроскопии
- •27 Молекулярная спектроскопия
- •Задачи к теме 3
- •Тема 4 Люминесцентные и лазерные методы
- •28 Принципы люминесцентной спектроскопии, сравнение люминесцентных и спектральных методов.
- •29 Количественный люминесцентный анализ
- •30 Методы спектроскопии комбинационного рассеяния
- •31 Лазерные спектрометры, области лазерной спектроскопии
- •32 Лазерные методы исследования сверхбыстрых процессов на примере динамики белков
- •33 Принципы рефрактометрии; молекулярная рефракция, формула Лорентц - Лоренца.
- •34 Систематизация методов и приборов рефрактометрии
- •Способы определения направления луча:
- •35 Принципы интерферометрии и голографических исследований
- •36 Волоконно-оптические и интегрально-оптические интерферометрические датчики
- •37 Классические интерферометры в научных исследованиях
- •Задачи к теме 4
- •Тема 5 Поляризационные, эллипсометрические и квантовые методы
- •38 Систематизация поляризационных исследований
- •39 Поляриметрия
- •40 Спектрополяриметрический анализ; законе Био
- •41 Приборы на основе интерференционно-поляризационных явлений
- •42 Исследование двулучепреломляющих сред
- •43 Люминесцентно – поляризационный анализ
- •44 Эллипсометрия в исследованиях поверхностных слоев и пленок
- •45 Квантовые методы исследования нанообъектов
- •Задачи к теме 5
- •Экзаменационные вопросы
- •Объект и предмет научного исследования; модели электромагнитного излучения.
33 Принципы рефрактометрии; молекулярная рефракция, формула Лорентц - Лоренца.
Рефрактометрия – это оптический метод, основанный на определении параметров вещества по показателю преломления.: .
Ввиду того, что показатель преломления воздуха мало отличается от единицы, при исследованиях атмосферных явлений часто используется величина (n – 1), называемая индексом рефракции.
В научных исследованиях распространен параметр, называемый коэффициентом молекулярной рефракции (R). Коэффициент молекулярной рефракции для газов или разбавленных растворов определяется из формулы Лорентц – Лоренца:
,
где R – коэффициент молекулярной рефракции; μ – молекулярная масса вещества; ρ – плотность вещества; n – показатель преломления.
Свойства молекулярной рефракции R:
R зависит от природы вещества
R величина аддитивная:
,
где Ri – молекулярные рефракции каждого из веществ, входящих в смесь, содержащую n компонент, ωi – молярные доли веществ в растворе.
Рассмотрим метод анализа структуры вещества по коэффициенту рефракции. В исследовательской практике распространен анализ структуры вещества по алгоритмам, опирающимся на аддитивность коэффициента рефракции.
Ввиду большого числа переменных параметров этот вид анализа проводится на вычислительной технике, входящий в состав измерительного прибора.
34 Систематизация методов и приборов рефрактометрии
Оптическим параметром, определяющим величину рефракции, является показатель преломления. Этот параметр определяет направление оптического луча, которое, в большинстве случаев, определяется одним из двух основных способов.
Способы определения направления луча:
прямой – регистрация положения луча в измерительной плоскости
компенсационный – вводится специальный элемент, меняющий направление луча
Гониометрический метод основан на определении угла преломления путем регистрации направления преломленного луча. Измерение углов осуществляется гониометром, откуда и вытекает название метода.
Пример хода лучей при реализации данного метода представлен схемой
1 – источник света; 2- оптика;
3 – входная диафрагма;
4 – измерительная кювета;
5 – устройство для измерения угла преломления.
Искомый показатель преломления nX может быть определен исходя из угла преломления α2, который измеряется гониометром, и угла α1, определяемого геометрическими параметрами кюветы.
.
Метод, основанный на регистрации угла Брюстера. Плоскость поляризации отраженного под углом Брюстера луча перпендикулярна плоскости падения (ТЕ-поляризация). Физически явление связано с особенностями пространственной ориентации диполей сред и рассматривается в курсе общей физики. Данный метод относится к комбинированным: в состав прибора входят поляризационные элементы.
Метод, основанный на регистрации угла полного внутреннего отражения. Измерения проводятся по контрасту освещения экрана отраженным лучом. Схема измерения показана на рис.
Контраст обнаруживается при α = α(0). Это дает возможность определять показатель преломления объекта относительно эталона:
nХ = nЭТ sin α(0).
Интерференционные методы. Основаны на связи оптической разности хода ∆L с показателями преломления веществ n1 и n2. По оптической разности хода определяется искомый показатель преломления.
Оптическая разность хода: ∆L= l∙n1-l∙n2
Разность фаз: , Откуда следует