- •Лабораторная работа № 41 Определение фокусных расстояний линз методом Бесселя
- •5.1. Теоретическое введение
- •Разрешающая способность микроскопа.
- •Световая микроскопия
- •Метод Бесселя
- •5.2 Описание лабораторной установки
- •5.3 Самостоятельная работа студентов: Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Задания для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 42 Измерение угла клина по интерференционной картине полос равной толщины и определение расстояния между щелями в опыте Юнга
- •5.1. Теоретическое введение
- •5.2 Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Задания для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 43 Определение основных характеристик дифракционной решетки
- •5.1. Теоретическое введение
- •5.2 Описание лабораторной установки
- •5.3 Самостоятельная работа студентов: Подготовка к работе
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Задания для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 44 Исследование закона Малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку
- •1. Цель занятия
- •5.1. Теоретическое введение
- •Эллиптическая поляризация света
- •Закон Малюса
- •Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
- •5.2 Описание лабораторной установки
- •5.3 Самостоятельная работа студентов: Порядок выполнения работы
- •Исследование закона Малюса.
- •II. Работа с фазовой пластинкой.
- •Задания для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 45 Исследования спектров поглощения и пропускания.
- •5.1. Теоретическое введение
- •Абсорбция света.
- •Спектральные характеристики стекол.
- •5.2 Описание лабораторной установки
- •5.3 Самостоятельная работа студентов:
- •Задания для самоконтроля
Контрольные вопросы
-
Объясните явление интерференции света?
-
Каким образом разность фаз колебаний связана с оптической разностью хода лучей?
-
Запишите условие максимумов и минимумов при интерференции.
-
Какими условиями определяется когерентность волн?
-
Опишите медико-биологические методы, основанные на интерференции волн.
Задания для самоконтроля
1. Интерференция наблюдается при сложении таких волн, у которых:.
а) разность фаз Δφ принимает случайные значения;
б) среднее значение cos Δφ равно нулю;
в) разность фаз Δφ постоянна во времени;
г) среднее значение cos Δφ= const.
2. Что называется шириной интерференционной полосы? Расстояние между:
а) соседними максимумами и минимумами;
б) соседними максимумами или минимумами;
в) максимумом нулевого порядка и первым минимумом интенсивности;
г) среди ответов а, б, в нет правильного.
-
Как изменится ширина полос в опыте Юнга, если одновременно уменьшить в 2 раза расстояние между щелями и увеличить в 2 раза расстояние до экрана?
а) не изменится;
б) увеличится в 2 раза;
в) увеличится в 4 раза;
г) уменьшится в 4 раза.
4. По какой из формул определяется ширина Δx полосы на экране в опыте Юнга, если d - расстояние между когерентными источниками, L - расстояние от источников до экрана, λ- длина волны?
а) ;
б) ;
в) ;
г) .
5. На поверхности стали при закалке возникла окисная пленка синего цвета (длина волны 416 нм, n=1,6). Выберите все возможные значения толщины пленки, если известно, что наблюдается интерференция не более, чем второго порядка, а фаза волны при отражении от металла меняется на 180°:
а) 0,130 мкм;
б) 0,208 мкм;
в) 0,260 мкм;
г) 0,520 мкм;
д) 0,832 мкм.
Лабораторная работа № 43 Определение основных характеристик дифракционной решетки
1. Цель работы: исследование явления дифракции света, определение периода, числа штрихов на один миллиметр, угловой дисперсии и разрешающей способности дифракционной решетки.
2. Вид занятия: лабораторное занятие.
3. Продолжительность: 3 академических часа (135 мин.)
4. Оборудование: осветитель ламповый, коллиматор, дифракционная решетка в оправе, зрительная труба.
5. Содержание занятия: теоретическое введение; описание установки; контроль исходного уровня знаний; самостоятельная работа студентов; контроль степени усвоения материала по тестам; подведение итогов занятия.
5.1. Теоретическое введение
Рис.1 |
Рассмотрим действие прозрачной дифракционной решетки. Пусть на решетку нормально к ее поверхности падет параллельный пучок белого света (рис. 1). На щелях (штрихах) решетки, соизмеримых с длиной волны света, происходит явление дифракции, определенное как отклонение волн от прямолинейного распространения при взаимодействии их с препятствием. В результате за решеткой лучи пойдут под разными углами во все стороны от каждой точки щели. Эти лучи можно сгруппировать в пучки параллельных между собой лучей. Установим за решеткой положительную линзу. Каждый пучок параллельных лучей соберется в задней фокальной плоскости линзы в одной точке (точка А для лучей, дифрагировавших под углом φ к нормали решетки). Параллельные лучи других углов дифракции линза собирает в других точках фокальной плоскости. В этих точках произойдет интерференция световых волн, исходящих от разных щелей решетки. Если в разности хода между соответствующими лучами укладывается целое число длин волн монохроматического света, то в точке встречи лучей возникает максимум интенсивности света для данной длины волны, то есть
Δ = k λ, k = 0, ±1, ±2,….
Из рис. 1 видно, что разность хода Δ между двумя параллельными лучами, выходящими из соответствующих точек соседних щелей, равна:
Δ = (a+b) sin φ = d sin φ,
где а -ширина щели; b - ширина непрозрачного промежутка между щелями.
Величина d = a + b называется периодом, или постоянной, дифракционной решетки. Следовательно, условие возникновения главных интерференционных максимумов решетки имеет вид:
d sin φ = Δ = k λ (1)
В фокальной плоскости линзы для лучей, не испытавших дифракции, наблюдается центральный белый максимум нулевого порядка (φ = 0, k = 0), вправо и влево от которого располагаются цветные максимумы (спектральные линии) первого, второго и последующих порядков интерференции (см. рис. 1). Интенсивность максимумов сильно уменьшается с ростом их порядка, то есть с увеличением угла дифракции.
Уравнение (1) позволяет рассчитать период дифракционной решетки d, если измерен угол дифракции φ, соответствующий спектральной линии, для которой известны ее длина волны и порядок спектра.
Зная период решетки, легко рассчитать число штрихов, нанесенных на один миллиметр ширины решетки:
(2)
Одной из основных характеристик дифракционной решетки является ее угловая дисперсия. Угловой дисперсией решетки называется величина, определяемая приращением угла дифракции при изменении длины волны на единицу,
(3)
Дисперсия определяет угловое расстояние dφ между направлениями двух спектральных линий, отличающихся по длине волны на 1 нм (dλ = 1 нм), и характеризует степень растянутости спектра вблизи данной длины волны. Формула для расчета угловой дисперсии решетки может быть получена при дифференцировании уравнения, определяющего положение главных максимумов d sin φ = k λ, откуда
(4)
Из этого выражения следует, что угловая дисперсия решетки тем больше, чем больше порядок спектра. Этим объясняется расширение спектра одного порядка у решеток с ростом порядка.
Рис. 2 |
В спектроскопии принято считать, что оптический прибор разрешил две линии спектра, если изображения этих линий в спектре, полученном с помощью данного прибора, видны раздельно. Если изображения двух линий сливаются в одну, то говорят, что прибор их не разрешил. Одни и те же линии спектра могут быть разрешены одним прибором и не разрешены другим. Это связано с шириной максимумов интенсивности этих линий.
По предложению Рэлея, подтвержденному и проверенному опытом, принято считать разрешение полным, когда максимум интенсивности одной из линий совпадает с минимумом другой (рис. 2). Если максимумы располагаются ближе, чем показанные на рис.2, изображения линий λ1 и λ2 сливаются в одну - линии не разрешаются. Когда максимумы разнесены дальше, линии уверенно разрешены.
Разрешающей способностью (или разрешающей силой) принято называть способность решетки дать увидеть раздельно на экране в области длин волн λ две длины волны, отличных друг от друга на Δλ. Разрешающая способность является величиной безразмерной. Чем она больше, тем более близкие по длине волны линии способен разрешить прибор. По критерию Релея разрешающая способность дифракционной решетки определяется порядком спектра и полным числом штрихов решетки N :
R = k N (5)
Метод, основанный на дифракции монохроматических рентгеновских лучей на атомах кристаллической решетки, широко применяют в рентгеноструктурном анализе биологических молекул и систем для установления структуры вещества. В значительной мере с помощью рентгеноструктурного анализа была установлена структура многих макромолекул белков, входящих в состав живых тканей (коллаген, миозин, гемоглобин и др.).
При распространении ультразвуковых волн также возможны явления дифракции, интерференции и отражения. Дифракция имеет место тогда, когда длина ультразвуковой волны сравнима (или больше) с размерами находящегося на пути препятствия.
Голография – метод записи и восстановления объемного изображения, основанный на интерференции и дифракции волн позволяет фиксировать и воспроизводить более полные сведения об объекте с учетом амплитуд и фаз волн, рассеянных предметом. Голограмму, образованную невидимыми электромагнитными волнами (ультрафиолетовыми, инфракрасными и рентгеновскими), можно восстановить видимым светом. Так как условия отражения и поглощения электромагнитных волн телами зависят, в частности, от длины волны, то эта особенность голографии позволяет использовать ее как метод внутривидения, или интроскопии. На основе гелий-неонового лазера с использованием волоконной оптики разработаны гастроскопы, которые позволяют голографически формировать объемное изображение внутренней полости желудка.