- •Глава 1
- •1.2 Характеристики ядерного распада
- •1.2.1 Процессы ядерного распада. Общие сведения
- •1.2.2 Альфа-распад
- •1.2.3 Бета-распад
- •1.3 Образование рентгеновского излучения
- •1.3.1 Модель атома Бора
- •1.3.2 Процессы образования рентгеновского излучения
- •1.4.1 Типичные спектры
- •1.4.2 Основные характеристики гамма-излучения, используемые для анализа ядерных материалов
- •1.4.3 Гамма-излучение продуктов деления
- •1.4.4 Радиационный фон
- •1.5.1 Тормозное излучение
- •Глава 2
- •2.1 Введение
- •2.2 Экспоненциальное ослабление
- •2.2.1 Основной закон ослабления гамма-излучения
- •2.2.2 Массовый коэффициент ослабления
- •2.3 Процессы взаимодействия
- •2.3.1 Фотоэлектрическое поглощение
- •2.3.2 Комптоновское рассеяние
- •2.3.3 Образование пар
- •2.3.4 Полный массовый коэффициент ослабления
- •2.4 Фильтры
- •2.5 Защита
- •Глава 3
- •3.1 Введение
- •3.2 Типы детекторов
- •3.2.1 Газонаполненные детекторы
- •3.2.2 Сцинтилляционные детекторы
- •3.2.3 Твердотельные детекторы
- •3.3 Характеристики регистрируемых спектров
- •3.3.1 Общий отклик детектора
- •3.3.2 Спектральные характеристики
- •3.3.3 Разрешение детектора
- •3.3.4 Эффективность детектора
- •3.4 Выбор детектора
- •Глава 4
- •4.1 Введение
- •4.2 Выбор детектора
- •4.3 Высоковольтные источники напряжения смещения
- •4.4 Предусилитель
- •4.5 Усилитель
- •4.5.1 Схема "полюс-ноль"
- •4.5.2 Цепь восстановления базового уровня
- •4.5.3 Цепь режекции наложений
- •4.5.4 Усовершенствование схемы усилителей
- •4.6 Одноканальный анализатор
- •4.8 Многоканальный анализатор
- •4.8.1 Аналого-цифровой преобразователь
- •4.8.2 Стабилизаторы спектра
- •4.8.3 Память многоканального анализатора, дисплей и анализ данных
- •4.9 Вспомогательное электронное оборудование
- •4.10 Заключительные замечания
- •Глава 5
- •5.1 Энергетическая градуировка и определение положения пика
- •5.1.1 Введение
- •5.1.2 Линейная энергетическая градуировка
- •5.1.3 Определение положения пика (центроиды)
- •5.1.4 Визуальное определение положения пика
- •5.1.5 Графическое определение положения пика
- •5.1.6 Определение положения пика методом первых моментов
- •5.1.7 Определение положения пика с помощью метода пяти каналов
- •5.1.8 Определение положения пика с помощью подгонки линеаризованной функцией Гаусса
- •5.1.9 Определение положения пика с использованием подгонки параболаризованной функцией Гаусса
- •5.1.10 Определение положения пика с помощью сложных программ подгонки спектра
- •5.2 Измерения разрешения детектора
- •5.2.1 Введение
- •5.2.3 Графическое определение ширины пика
- •5.2.4 Определение ширины пика с помощью аналитической интерполяции
- •5.2.5 Определение ширины пика с помощью метода вторых моментов
- •5.2.6 Определение ширины пика с помощью подгонки линеаризованной функцией Гаусса
- •5.2.7 Определение ширины пика с помощью подгонки параболаризованной функцией Гаусса
- •5.3 Определение площади пика полного поглощения
- •5.3.1 Введение
- •5.3.2 Выбор рассматриваемых областей
- •5.3.3 Вычитание линейного комптоновского фона
- •5.3.4 Вычитание сглаженной ступеньки комптоновского фона
- •5.3.5 Вычитание комптоновского фона при использовании единственной рассматриваемой области фона
- •5.3.6 Вычитание комптоновского фона с помощью процедуры двух стандартных образцов
- •5.3.7 Использование сумм числа отсчетов в рассматриваемых областях для измерения площадей пиков
- •5.3.8 Использование простых подгонок функцией Гаусса для измерения площади пика
- •5.3.9 Использование известных параметров формы для измерения площадей пиков в мультиплетах
- •5.3.10 Использование сложных вычислительных программ для измерения площади пика
- •5.4.1 Введение
- •5.4.2 Зависимость просчетов от входной загрузки
- •5.4.3 Пропускная способность спектрометрических систем
- •5.4.4 Методы введения поправок. Общие замечания
- •5.4.6 Введение поправок на мертвое время и наложения импульсов с помощью генератора импульсов
- •5.4.7 Метод образцового источника для введения поправок на мертвое время и наложения
- •5.5 Эффекты закона обратного квадрата
- •5.6 Измерения эффективности детектора
- •5.6.1 Абсолютная эффективность регистрации пика полного поглощения
- •5.6.2 Собственная эффективность регистрации пика полного поглощения энергии
- •5.6.3 Относительная эффективность
- •5.6.5 Эффективность в зависимости от энергии и положения
- •Глава 6
- •6.1 Введение
- •6.2 Процедуры
- •6.2.1 Предварительные замечания
- •6.2.2 Общее описание процедуры анализа
- •6.2.3 Необходимые требования при определении коэффициента поправки на самоослабление
- •6.2.4 Методы определения линейного коэффициента ослабления образца
- •6.3 Формальное определение коэффициента поправки на самоослабление
- •6.3.1 Общее определение
- •6.3.2 Удобные типовые формы образцов
- •6.4 Основные параметры коэффициента поправки на самоослабление
- •6.5 Аналитические зависимости для коэффициента поправки на самоослабление в дальней геометрии
- •6.5.1 Образцы в форме пластины
- •6.5.2 Цилиндрические образцы
- •6.5.3 Образцы сферической формы
- •6.6 Численные расчеты для ближней геометрии
- •6.6.1 Общие положения
- •6.6.2 Одномерная модель
- •6.6.3 Двухмерная модель
- •6.6.4 Трехмерная модель
- •6.6.5 Приближенные формулы и интерполяция
- •6.6.6 Влияние абсолютной и относительной погрешностей при расчете коэффициента поправки на самоослабление
- •6.6.7 Точность определения коэффициента поправки на самоослабление и полной скорректированной скорости счета
- •6.9 Примеры анализа
- •6.9.2 Интерполяция и экстраполяция коэффициента пропускания излучения
- •6.9.4 Анализ раствора плутония-239 в ближней геометрии
- •6.9.5 Сегментное сканирование с поправкой на пропускание излучения
- •7.3.2 Двухкомпонентная задача (уран и материал матрицы)
- •7.4 Методики анализа по отношению пиков
- •7.6 Измерения обогащения по нейтронному излучению
- •7.7 Поправки на ослабление в стенках контейнера
- •7.7.1 Прямое измерение толщины стенки
- •7.8.1 Измерение концентрации
- •7.8.2 Соотношение компонентов в смешанном оксидном топливе
- •8.2 Основные сведения
- •8.2.1 Характеристики распада изотопов плутония
- •8.2.2 Характеристики распада изотопа 241Pu
- •8.2.3 Определение концентрации изотопа 242Pu
- •8.2.4 Спектральная интерференция
- •8.2.5 Практическое применение измерений изотопного состава плутония
- •8.3 Спектральные области, используемые для изотопных измерений
- •8.3.1 Область энергии 40 кэВ
- •8.3.2 Область энергии 100 кэВ
- •8.3.3 Область энергии 125 кэВ
- •8.3.4 Область энергии 148 кэВ
- •8.3.5 Область энергии 160 кэВ
- •8.3.6 Область энергии 208 кэВ
- •8.3.7 Область энергии 332 кэВ
- •8.3.8 Область энергии 375 кэВ
- •8.3.9 Область энергии 640 кэВ
- •8.4 Основы измерений
- •8.4.1 Измерение изотопных отношений
- •8.4.2 Измерение абсолютной массы изотопа
- •8.4.3 Изотопная корреляция 242Pu
- •8.5 Получение данных
- •8.5.1 Электроника
- •8.5.2 Детекторы
- •8.5.3 Фильтры
- •8.5.4 Скорость счета и геометрия образец/детектор
- •8.5.5 Время измерения
- •8.6.1 Суммирование по рассматриваемой области
- •8.6.2 Подгонка пика
- •8.6.3 Анализ по функции соответствия
- •8.7 Приборное оснащение
- •8.7.1 Компания Рокуэлл-Хэнфорд
- •8.7.2 Лос-Аламосская национальная лаборатория
- •8.7.3 Установка Маундской лаборатории
- •8.7.5 Обзор погрешностей измерений
- •Глава 9
- •9.1 Введение
- •9.2 Моноэнергетическая плотнометрия
- •9.2.1 Измерение концентрации и толщины
- •9.2.2 Точность измерений
- •9.3 Многоэнергетическая плотнометрия
- •9.3.1 Анализ двухэнергетического случая
- •9.3.2 Точность измерения
- •9.3.3 Распространение на случай большего числа значений энергий
- •9.4 Плотнометрия по краю поглощения
- •9.4.1 Описание методики измерений
- •9.4.2 Точность измерения
- •9.4.3 Чувствительность измерения
- •9.4.4 Эффекты матрицы
- •9.4.5 Выбор методики измерений
- •9.4.6 Источники излучения
- •9.5 Моноэнергетические плотномеры
- •9.6 Двухэнергетические плотномеры
- •9.7 Плотномеры по краю поглощения
- •Глава 10
- •10.1 Введение
- •10.2 Теория
- •10.2.1 Образование рентгеновского излучения
- •10.2.2 Выход флюоресценции
- •10.2.3 Пропускание фотонов
- •10.2.4 Геометрия измерений
- •10.3 Типы источников
- •10.4 Поправка на ослабление в образце
- •10.4.1 Эффекты ослабления в образце
- •10.4.2 Основное уравнение анализа
- •10.4.3 Методы поправки на ослабление
- •10.5 Области применения и аппаратура
- •Глава 11
- •11.1 Введение
- •11.2 Спонтанное и вынужденное деление ядер
- •11.3 Нейтроны и гамма-кванты деления
- •11.5 Нейтроны других ядерных реакций
- •11.6 Изотопные нейтронные источники
- •11.7 Выводы
- •Глава 12
- •12.1 Введение
- •12.2 Микроскопические взаимодействия
- •12.2.1 Понятие сечения взаимодействия
- •12.2.2 Соотношение энергия-скорость для нейтронов
- •12.2.3 Типы взаимодействий
- •12.2.4 Зависимость сечения взаимодействия от энергии
- •12.3 Макроскопические взаимодействия
- •12.3.1 Макроскопические сечения
- •12.3.2 Длина свободного пробега и скорость реакции
- •12.4 Эффекты замедления в большом объеме вещества
- •12.5 Эффекты размножения в массивных образцах вещества
- •12.6 Защита от нейтронов
- •12.7 Методы расчета переноса нейтронов
- •12.7.1 Метод Монте-Карло
- •12.7.2 Метод дискретных ординат
- •Глава 13
- •13.1 Механизмы регистрации нейтронов
- •13.2 Основные свойства газонаполненных детекторов
- •13.4 Газонаполненные детекторы
- •13.4.3 Камеры деления
- •13.4.4 Детекторы с покрытием из 10B
- •13.5 Пластмассовые и жидкие сцинтилляторы
- •13.5.1 Введение
- •13.5.3 Дискриминация по форме импульса
- •13.6 Другие типы детекторов нейтронов
- •13.7 Измерение энергетических спектров нейтронов
- •13.7.1 Введение
- •13.7.2 Методы измерений
- •Глава 14
- •14.1 Введение
- •14.1.1 Теория регистрации полного потока нейтронов
- •14.1.2 Сравнение методов регистрации полного потока нейтронов и нейтронных совпадений
- •14.2 Источники образования первичных нейтронов
- •14.2.1 Соединения плутония
- •14.2.2 Соединения урана
- •14.2.3 Примеси
- •14.2.4 Эффекты влияния энергетического спектра нейтронов
- •14.2.5 Эффекты тонкой мишени
- •14.3 Перенос нейтронов в образце
- •14.3.1 Умножение нейтронов утечки
- •14.3.2 Спектр нейтронов утечки
- •14.4 Эффективность регистрации нейтронов
- •14.4.1 Расположение гелиевых счетчиков в замедлителе
- •14.4.2 Конструкция замедлителя
- •14.4.3 Влияние энергетического спектра нейтронов
268 |
Х. Смит, мл. и Ф. Руссо |
Измеряемыми величинами являются интенсивности падающего и прошедшего излучений. Их отношение I/I0 называется коэффициентом пропускания T материала для рассматриваемой энергии излучения. Если любые две из трех величин в выражении для экспоненты известны из других данных, третья величина может быть определена измерением коэффициента пропускания. Большим преимуществом процедуры, с помощью которой измеряется коэффициент пропускания фотонов, является то, что данные обрабатываются как отношение двух вели- чин, измеренных в одинаковых условиях, тем самым устраняя множество мешающих систематических эффектов, которые часто усложняют измерение абсолютной интенсивности фотонов.
Источником измеряемого электромагнитного излучения может служить искусственный источник рентгеновских квантов, испускающий фотоны с непрерывным энергетическим спектром, или естественный источник гамма-излуче- ния, который испускает гамма-кванты с дискретными энергиями. Материал образца помещается между фотонным источником и фотонным детектором (см. рис. 9.1). Коэффициент пропускания образца определяется путем измерения интенсивности фотонов источника как при наличии (I), так и в отсутствие (I0) материала образца.
Ðèñ. 9.1. Основные составляющие измерения плотности
9.2 МОНОЭНЕРГЕТИЧЕСКАЯ ПЛОТНОМЕТРИЯ
9.2.1 Измерение концентрации и толщины
Если образец состоит из одного типа материала или смеси материалов, состав которых тщательно контролируется, кроме одного из компонентов, то коэффициент пропускания образца при одной энергии гамма-излучения может быть использован для измерения концентрации (плотности ρ) изменяющегося компонента. Обычно используются источники гамма-излучения дискретной энергии. Например, рассмотрим двухкомпонентную систему — раствор урана в азотной кислоте, компоненты которой имеют соответствующие плотности ρ и ρ0 и массовые коэффициенты ослабления µ и µ0 при данной энергии гамма-излучения. Натуральный
Глава 9. Плотнометрия |
269 |
логарифм коэффициента пропускания фотонов при этой энергии дается выражением
lnT = −(µρ + µ0ρ0 )x . |
(9.2) |
||||
Для неизвестной концентрации (плотности ρ) имеем |
|
||||
|
1 |
|
µ0ρ0 . |
|
|
ρ = − |
lnT − |
(9.3) |
|||
|
|||||
|
µx |
µ |
|
Уравнение (9.3) может применяться для измерения концентрации неизвестного количества вещества ρ при известной, тщательно контролируемой концентрации растворителя ρ0.
При измерении концентрации ядерных материалов (урана и плутония) в растворах крайне необходимо, чтобы коэффициенты массового ослабления для растворителя µ0 и ядерного материала µ были определены корректно, и чтобы состав растворителя (ρ0) был хорошо известен и постоянен от образца к образцу. Образцы растворов должны быть защищены от загрязнений, поскольку они вызвали бы изменения в эффективных значениях ρ0 è µ0.
Моноэнергетическое измерение коэффициента пропускания Т может также применяться для определения толщины материалов известного и тщательно контролируемого состава. Непрерывное измерение интенсивности прошедших фотонов одной энергии через металлы и другие твердые вещества при постоянной геометрии измерения является непосредственной мерой толщины этих материалов. Такая информация является полезной для оперативного контроля некоторых промышленных технологических процессов.
9.2.2 Точность измерений
Рассмотрим случай моноэнергетического измерения концентрации, при котором отсутствуют значительные флуктуации в составе растворителя. Точность измерения неизвестной величины ρ определяется статистической дисперсией коэффициента пропускания Т. Относительная погрешность измерения плотности получается путем дифференцирования уравнения (9.3):
σ(ρ) |
|
1 |
σ(T) |
|
||
|
= |
|
|
|
. |
(9.4) |
ρ |
|
T |
||||
lnT |
|
|
Это выражение показывает, что существует диапазон значений коэффициента пропускания, вне которого относительная погрешность измерения плотности больше, чем относительная погрешность измерения коэффициента пропускания (наилучший режим точности: |ln T|>1 или T<0,37). Для больших значений коэффициента пропускания относительная погрешность определения плотности больше, чем относительная погрешность определения коэффициента пропускания, и, соответственно, ухудшается измерение. Отметим, что когда Т приближается к 1, выражение для относительной погрешности расходится из-за коэффициента 1/(ln T). Поскольку материал образца не поглощает падающее излучение, то аналитический сигнал отсутствует.
Диапазон оптимальных значений коэффициента пропускания может также быть отнесен к характеристической концентрации ρc = 1/µx. Когда ln T>1, ρ>ρc ,
270 |
Х. Смит, мл. и Ф. Руссо |
то измерение проходит в подходящем режиме точности; но когда ρ<ρc — аналити- ческий сигнал слишком мал и точность является наихудшей. Путем определения наилучшего рабочего диапазона с точки зрения этой характеристической концентрации, можно выбрать приемлемую толщину образца х, которая задает собственные свойства материала образца (µ), подлежащие измерению, и ожидаемый диапазон концентраций.
Вследствие симметрии ρ и x в уравнениях (9.1) — (9.3), уравнение (9.4) выражает также относительную погрешность измерения толщины. При измерении толщины точность может быть повышена путем разумного выбора энергии фотонов.
Существуют ограничения на то, насколько высоким или низким должен быть коэффициент пропускания образца для оптимальной точности измерений. Поскольку T = I/I0, а интенсивности представляют собой статистически изменяющиеся величины, уравнение (9.4) можно переписать в виде
σ(ρ) |
|
1 |
|
|
1/2 |
|
|
= |
|
T +1 |
. |
(9.5) |
|||
ρ |
|
||||||
|
lnT I0 T |
|
|
График этого соотношения на рис. 9.2 показывает ухудшение точности измерения при высокой и низкой концентрациях. В согласии с определением ρc оптимальный диапазон T находится ниже точки, в которой lnT = 1. Диапазон значений T, выше которого величина σ(ρ)/ρ находится близко к минимуму, определяет характеристики конструкции прибора (толщину образца, диапазон измеряемых концентраций и энергию фотонов). Эти характеристики также важны в более сложных измерениях плотности, описываемых в разделах 9.3 и 9 .4.
Отметим, что вышеприведенное обсуждение связано с погрешностью измерений, определяемой только счетной статистикой. В общем случае дополнительные флуктуации результатов измерений могут вызвать и другие факторы, вклю-
Ðèñ. 9.2. Зависимость погрешности измерения методом моноэнергети ческой плотнометрии от коэффициента пропускания образца для двух значений по лного числа отсчетов падающих фотонов (из уравнения (9.5)). Оптимальным коэффицие нтом пропускания является коэффициент, который дает наименьшую отно сительную погрешность измерения. Он соответствует концентрации, боль шей, чем характеристическая концентрация rñ, при которой lnT = 1. (Обратите внимание, что горизонтальная ось имеет логарифмический масштаб)