- •Глава 1
- •1.2 Характеристики ядерного распада
- •1.2.1 Процессы ядерного распада. Общие сведения
- •1.2.2 Альфа-распад
- •1.2.3 Бета-распад
- •1.3 Образование рентгеновского излучения
- •1.3.1 Модель атома Бора
- •1.3.2 Процессы образования рентгеновского излучения
- •1.4.1 Типичные спектры
- •1.4.2 Основные характеристики гамма-излучения, используемые для анализа ядерных материалов
- •1.4.3 Гамма-излучение продуктов деления
- •1.4.4 Радиационный фон
- •1.5.1 Тормозное излучение
- •Глава 2
- •2.1 Введение
- •2.2 Экспоненциальное ослабление
- •2.2.1 Основной закон ослабления гамма-излучения
- •2.2.2 Массовый коэффициент ослабления
- •2.3 Процессы взаимодействия
- •2.3.1 Фотоэлектрическое поглощение
- •2.3.2 Комптоновское рассеяние
- •2.3.3 Образование пар
- •2.3.4 Полный массовый коэффициент ослабления
- •2.4 Фильтры
- •2.5 Защита
- •Глава 3
- •3.1 Введение
- •3.2 Типы детекторов
- •3.2.1 Газонаполненные детекторы
- •3.2.2 Сцинтилляционные детекторы
- •3.2.3 Твердотельные детекторы
- •3.3 Характеристики регистрируемых спектров
- •3.3.1 Общий отклик детектора
- •3.3.2 Спектральные характеристики
- •3.3.3 Разрешение детектора
- •3.3.4 Эффективность детектора
- •3.4 Выбор детектора
- •Глава 4
- •4.1 Введение
- •4.2 Выбор детектора
- •4.3 Высоковольтные источники напряжения смещения
- •4.4 Предусилитель
- •4.5 Усилитель
- •4.5.1 Схема "полюс-ноль"
- •4.5.2 Цепь восстановления базового уровня
- •4.5.3 Цепь режекции наложений
- •4.5.4 Усовершенствование схемы усилителей
- •4.6 Одноканальный анализатор
- •4.8 Многоканальный анализатор
- •4.8.1 Аналого-цифровой преобразователь
- •4.8.2 Стабилизаторы спектра
- •4.8.3 Память многоканального анализатора, дисплей и анализ данных
- •4.9 Вспомогательное электронное оборудование
- •4.10 Заключительные замечания
- •Глава 5
- •5.1 Энергетическая градуировка и определение положения пика
- •5.1.1 Введение
- •5.1.2 Линейная энергетическая градуировка
- •5.1.3 Определение положения пика (центроиды)
- •5.1.4 Визуальное определение положения пика
- •5.1.5 Графическое определение положения пика
- •5.1.6 Определение положения пика методом первых моментов
- •5.1.7 Определение положения пика с помощью метода пяти каналов
- •5.1.8 Определение положения пика с помощью подгонки линеаризованной функцией Гаусса
- •5.1.9 Определение положения пика с использованием подгонки параболаризованной функцией Гаусса
- •5.1.10 Определение положения пика с помощью сложных программ подгонки спектра
- •5.2 Измерения разрешения детектора
- •5.2.1 Введение
- •5.2.3 Графическое определение ширины пика
- •5.2.4 Определение ширины пика с помощью аналитической интерполяции
- •5.2.5 Определение ширины пика с помощью метода вторых моментов
- •5.2.6 Определение ширины пика с помощью подгонки линеаризованной функцией Гаусса
- •5.2.7 Определение ширины пика с помощью подгонки параболаризованной функцией Гаусса
- •5.3 Определение площади пика полного поглощения
- •5.3.1 Введение
- •5.3.2 Выбор рассматриваемых областей
- •5.3.3 Вычитание линейного комптоновского фона
- •5.3.4 Вычитание сглаженной ступеньки комптоновского фона
- •5.3.5 Вычитание комптоновского фона при использовании единственной рассматриваемой области фона
- •5.3.6 Вычитание комптоновского фона с помощью процедуры двух стандартных образцов
- •5.3.7 Использование сумм числа отсчетов в рассматриваемых областях для измерения площадей пиков
- •5.3.8 Использование простых подгонок функцией Гаусса для измерения площади пика
- •5.3.9 Использование известных параметров формы для измерения площадей пиков в мультиплетах
- •5.3.10 Использование сложных вычислительных программ для измерения площади пика
- •5.4.1 Введение
- •5.4.2 Зависимость просчетов от входной загрузки
- •5.4.3 Пропускная способность спектрометрических систем
- •5.4.4 Методы введения поправок. Общие замечания
- •5.4.6 Введение поправок на мертвое время и наложения импульсов с помощью генератора импульсов
- •5.4.7 Метод образцового источника для введения поправок на мертвое время и наложения
- •5.5 Эффекты закона обратного квадрата
- •5.6 Измерения эффективности детектора
- •5.6.1 Абсолютная эффективность регистрации пика полного поглощения
- •5.6.2 Собственная эффективность регистрации пика полного поглощения энергии
- •5.6.3 Относительная эффективность
- •5.6.5 Эффективность в зависимости от энергии и положения
- •Глава 6
- •6.1 Введение
- •6.2 Процедуры
- •6.2.1 Предварительные замечания
- •6.2.2 Общее описание процедуры анализа
- •6.2.3 Необходимые требования при определении коэффициента поправки на самоослабление
- •6.2.4 Методы определения линейного коэффициента ослабления образца
- •6.3 Формальное определение коэффициента поправки на самоослабление
- •6.3.1 Общее определение
- •6.3.2 Удобные типовые формы образцов
- •6.4 Основные параметры коэффициента поправки на самоослабление
- •6.5 Аналитические зависимости для коэффициента поправки на самоослабление в дальней геометрии
- •6.5.1 Образцы в форме пластины
- •6.5.2 Цилиндрические образцы
- •6.5.3 Образцы сферической формы
- •6.6 Численные расчеты для ближней геометрии
- •6.6.1 Общие положения
- •6.6.2 Одномерная модель
- •6.6.3 Двухмерная модель
- •6.6.4 Трехмерная модель
- •6.6.5 Приближенные формулы и интерполяция
- •6.6.6 Влияние абсолютной и относительной погрешностей при расчете коэффициента поправки на самоослабление
- •6.6.7 Точность определения коэффициента поправки на самоослабление и полной скорректированной скорости счета
- •6.9 Примеры анализа
- •6.9.2 Интерполяция и экстраполяция коэффициента пропускания излучения
- •6.9.4 Анализ раствора плутония-239 в ближней геометрии
- •6.9.5 Сегментное сканирование с поправкой на пропускание излучения
- •7.3.2 Двухкомпонентная задача (уран и материал матрицы)
- •7.4 Методики анализа по отношению пиков
- •7.6 Измерения обогащения по нейтронному излучению
- •7.7 Поправки на ослабление в стенках контейнера
- •7.7.1 Прямое измерение толщины стенки
- •7.8.1 Измерение концентрации
- •7.8.2 Соотношение компонентов в смешанном оксидном топливе
- •8.2 Основные сведения
- •8.2.1 Характеристики распада изотопов плутония
- •8.2.2 Характеристики распада изотопа 241Pu
- •8.2.3 Определение концентрации изотопа 242Pu
- •8.2.4 Спектральная интерференция
- •8.2.5 Практическое применение измерений изотопного состава плутония
- •8.3 Спектральные области, используемые для изотопных измерений
- •8.3.1 Область энергии 40 кэВ
- •8.3.2 Область энергии 100 кэВ
- •8.3.3 Область энергии 125 кэВ
- •8.3.4 Область энергии 148 кэВ
- •8.3.5 Область энергии 160 кэВ
- •8.3.6 Область энергии 208 кэВ
- •8.3.7 Область энергии 332 кэВ
- •8.3.8 Область энергии 375 кэВ
- •8.3.9 Область энергии 640 кэВ
- •8.4 Основы измерений
- •8.4.1 Измерение изотопных отношений
- •8.4.2 Измерение абсолютной массы изотопа
- •8.4.3 Изотопная корреляция 242Pu
- •8.5 Получение данных
- •8.5.1 Электроника
- •8.5.2 Детекторы
- •8.5.3 Фильтры
- •8.5.4 Скорость счета и геометрия образец/детектор
- •8.5.5 Время измерения
- •8.6.1 Суммирование по рассматриваемой области
- •8.6.2 Подгонка пика
- •8.6.3 Анализ по функции соответствия
- •8.7 Приборное оснащение
- •8.7.1 Компания Рокуэлл-Хэнфорд
- •8.7.2 Лос-Аламосская национальная лаборатория
- •8.7.3 Установка Маундской лаборатории
- •8.7.5 Обзор погрешностей измерений
- •Глава 9
- •9.1 Введение
- •9.2 Моноэнергетическая плотнометрия
- •9.2.1 Измерение концентрации и толщины
- •9.2.2 Точность измерений
- •9.3 Многоэнергетическая плотнометрия
- •9.3.1 Анализ двухэнергетического случая
- •9.3.2 Точность измерения
- •9.3.3 Распространение на случай большего числа значений энергий
- •9.4 Плотнометрия по краю поглощения
- •9.4.1 Описание методики измерений
- •9.4.2 Точность измерения
- •9.4.3 Чувствительность измерения
- •9.4.4 Эффекты матрицы
- •9.4.5 Выбор методики измерений
- •9.4.6 Источники излучения
- •9.5 Моноэнергетические плотномеры
- •9.6 Двухэнергетические плотномеры
- •9.7 Плотномеры по краю поглощения
- •Глава 10
- •10.1 Введение
- •10.2 Теория
- •10.2.1 Образование рентгеновского излучения
- •10.2.2 Выход флюоресценции
- •10.2.3 Пропускание фотонов
- •10.2.4 Геометрия измерений
- •10.3 Типы источников
- •10.4 Поправка на ослабление в образце
- •10.4.1 Эффекты ослабления в образце
- •10.4.2 Основное уравнение анализа
- •10.4.3 Методы поправки на ослабление
- •10.5 Области применения и аппаратура
- •Глава 11
- •11.1 Введение
- •11.2 Спонтанное и вынужденное деление ядер
- •11.3 Нейтроны и гамма-кванты деления
- •11.5 Нейтроны других ядерных реакций
- •11.6 Изотопные нейтронные источники
- •11.7 Выводы
- •Глава 12
- •12.1 Введение
- •12.2 Микроскопические взаимодействия
- •12.2.1 Понятие сечения взаимодействия
- •12.2.2 Соотношение энергия-скорость для нейтронов
- •12.2.3 Типы взаимодействий
- •12.2.4 Зависимость сечения взаимодействия от энергии
- •12.3 Макроскопические взаимодействия
- •12.3.1 Макроскопические сечения
- •12.3.2 Длина свободного пробега и скорость реакции
- •12.4 Эффекты замедления в большом объеме вещества
- •12.5 Эффекты размножения в массивных образцах вещества
- •12.6 Защита от нейтронов
- •12.7 Методы расчета переноса нейтронов
- •12.7.1 Метод Монте-Карло
- •12.7.2 Метод дискретных ординат
- •Глава 13
- •13.1 Механизмы регистрации нейтронов
- •13.2 Основные свойства газонаполненных детекторов
- •13.4 Газонаполненные детекторы
- •13.4.3 Камеры деления
- •13.4.4 Детекторы с покрытием из 10B
- •13.5 Пластмассовые и жидкие сцинтилляторы
- •13.5.1 Введение
- •13.5.3 Дискриминация по форме импульса
- •13.6 Другие типы детекторов нейтронов
- •13.7 Измерение энергетических спектров нейтронов
- •13.7.1 Введение
- •13.7.2 Методы измерений
- •Глава 14
- •14.1 Введение
- •14.1.1 Теория регистрации полного потока нейтронов
- •14.1.2 Сравнение методов регистрации полного потока нейтронов и нейтронных совпадений
- •14.2 Источники образования первичных нейтронов
- •14.2.1 Соединения плутония
- •14.2.2 Соединения урана
- •14.2.3 Примеси
- •14.2.4 Эффекты влияния энергетического спектра нейтронов
- •14.2.5 Эффекты тонкой мишени
- •14.3 Перенос нейтронов в образце
- •14.3.1 Умножение нейтронов утечки
- •14.3.2 Спектр нейтронов утечки
- •14.4 Эффективность регистрации нейтронов
- •14.4.1 Расположение гелиевых счетчиков в замедлителе
- •14.4.2 Конструкция замедлителя
- •14.4.3 Влияние энергетического спектра нейтронов
146 |
Джек Л. Паркер |
гамма-излучением с энергией 59,5 кэВ, но любую возможную проблему можно решить за счет достаточной фильтрации вместе с выбором подходящей интенсивности источника.
Современные методы определения поправок на мертвое время и наложения предполагают, что все пики полного поглощения подвержены одинаковым относительным потерям. Это предположение не совсем верно, главным образом потому, что ширина и форма пика являются функциями и энергии, и скорости счета импульсов. Применяя метод образцового источника, должны быть предприняты меры предосторожности для минимизации числа нарушений этого предположения. Ниже приводятся четыре таких предосторожности, большинство из которых применяются в любом методе определения поправок:
λкогда это возможно, применять процедуру только в узком энергетическом диапазоне;
λподдерживать постоянными, насколько это возможно, ширину пика и форму относительно энергии и скорости счета, даже если это слегка ухудшит разрешение на низких скоростях и при низкой энергии. Правильная регулировка усилителя и режекция наложений могут в этом существенно помочь;
λизбегать выпуклой или вогнутой формы комптоновского фона под важными пиками, особенно под пиком образцового источника. Если возможно, соотношение площади пика образцового источника к площади фона должна быть ≥ 10;
λуделять больше внимания определению площадей пиков. Методы выбора РО могут быть менее чувствительны к небольшим изменениям формы пика, чем методы подгонки спектров.
Экспериментальные результаты показывают, что метод образцового источ- ника может корректировать потери из-за мертвого времени и наложений с погрешностью около 0,1 % в широком диапазоне скорости счета. Такие погрешности могут быть также достигнуты с помощью метода генератора импульсов, особенно при низких скоростях, и с помощью некоторых чисто электронных методов. Однако оборудование, которое требуется для чисто электронных методов, очень сложное.
5.5 ЭФФЕКТЫ ЗАКОНА ОБРАТНОГО КВАДРАТА
Полная эффективность регистрации детектора изменяется приблизительно как обратная величина квадрата расстояния между детектором и источником гамма-излучения. Рассмотрим точечный источник, испускающий I гамма-квант в секунду. Поток F гамма-квантов на расстоянии R определяется как число гам- ма-квантов в секунду, проходящих через единицу площади сферы с радиусом R и центром, совпадающим с положением источника. Так как площадь сферы равна 4πR2, выражение для F имеет следующий вид:
F = |
I |
|
. |
(5.76) |
|
|
|||
4πR |
2 |
|||
|
|
|
|
Скорость счета детектора пропорциональна случайному потоку, и если поверхность детектора может быть аппроксимирована частью сферической поверх-
Глава 5. Основные вопросы пассивного анализа гамма-излучения |
147 |
ности с центром в точке расположения источника, скорость счета имеет аналогич- ную потоку зависимость, т.е. 1/R2. Когда регистрируется низкоинтенсивное излу- чение от образца, желательно уменьшить расстояние образец-детектор и увели- чить скорость счета. К сожалению, когда расстояние образец-детектор настолько мало, что для разных частей образца заметно различие в расстояниях до детектора, то и скорости счета от различных частей образца значительно отличаются. Это различие расстояний может вызвать погрешность в результатах анализа, когда распределение излучающего материала в образце неравном ерно.
Общая скорость счета от образцов конечных размеров не подчиняется простому закону: обычно отклонение менее сильное, чем 1/R2. Несколько простых случаев могут помочь оценить общие скорости счета и неравномерность отклика.
Простейшим примером такого источника является линейный источник, который часто является подходящей моделью трубы, по которой прокачиваются радиоактивные растворы. Рассмотрим идеальный точечный детектор с собственной эффективностью ε, расположенный на расстоянии D от неограниченно длинного источника интенсивности I на единицу длины (рис 5.18). Скорость счета от этого источника может быть выражена как
∞ |
|
|
Iε |
|
|
πIε |
|
|
CR = 2∫ |
|
|
|
dr = |
. |
(5.77) |
||
|
2 |
+D |
2 |
|
||||
0 |
r |
|
|
|
D |
|
В этом идеальном случае зависимость скорости счета скорее 1/R, чем 1/R2. Когда трубы измеряются на расстояниях меньших, чем их длина, изменение скорости счета приблизительно пропорционально 1/R.
Скорость счета от точечного детектора, расположенного на расстоянии R от плоской бесконечной поверхности, совсем не зависит от R. Для детектора, расположенного близко к однородно загрязненной стене перчаточного бокса, скорости счета изменяются очень мало с изменением расстояния стен а-детектор.
Должно быть минимизировано изменение отклика, связанное с изменением распределения материала внутри образца. Расстояние образец-детектор может быть увеличено, но расплатой являются большие потери в скорости счета. Луч- шей стратегией является вращение образца. Рассмотрим поперечное сечение цилиндрического образца с радиусом R, центр которого находится на расстоянии D от детектора (рис. 5.19). Пока D незначительно превышает R, скорости счетов для идентичных источников, расположенных в точках 1, 2, 3 и 4, изменяются заметно. На рисунке показано, что если D = 3R, максимальное отношение скоростей счета CR(2)/CR(4)=4. Отношение отклика при вращении источника по окружности радиуса R к отклику для центра (положение 1 на рис. 5.19) определяется по формуле
CR(R) |
= |
|
1 |
. |
(5.78) |
|
CR(1) |
1+ (R / D)2 |
|||||
|
|
|
Отклик будет тем же самым, что и отклик, полученный для однородного непоглощающего круглого источника с радиусом R, центр которого расположен на расстоянии D от детектора. В табл. 5.6 представлены значения этой функции для нескольких значений R/D, а так же для сравнения CR(2)/CR(1) для невращающегося источника на рис. 5.19. Отклонение отклика даже больше, если принимать
148 |
Дж. Паркер |
Ðèñ. 5.18. Геометрия для расчета отклика точечного детектора при ли нейном источнике
Ðèñ. 5.19. Поперечное сечение цилиндрического образца и точечного детектора. Рисунок показывает изменение скорости счета с изменением положени я источника
во внимание поглощение. Вращение только уменьшает эффекты 1/R2; оно не уничтожает полностью этот эффект.
Вращение уменьшает отклонения отклика, вызванные расположением источника по радиусу, но практически не позволяет компенсировать большие отклонения. Если высота источника не превышает одной трети расстояния обра- зец-детектор, уменьшение в отклике составляет менее 10 % по сравнению с нормальным положением.