- •Глава 1
- •1.2 Характеристики ядерного распада
- •1.2.1 Процессы ядерного распада. Общие сведения
- •1.2.2 Альфа-распад
- •1.2.3 Бета-распад
- •1.3 Образование рентгеновского излучения
- •1.3.1 Модель атома Бора
- •1.3.2 Процессы образования рентгеновского излучения
- •1.4.1 Типичные спектры
- •1.4.2 Основные характеристики гамма-излучения, используемые для анализа ядерных материалов
- •1.4.3 Гамма-излучение продуктов деления
- •1.4.4 Радиационный фон
- •1.5.1 Тормозное излучение
- •Глава 2
- •2.1 Введение
- •2.2 Экспоненциальное ослабление
- •2.2.1 Основной закон ослабления гамма-излучения
- •2.2.2 Массовый коэффициент ослабления
- •2.3 Процессы взаимодействия
- •2.3.1 Фотоэлектрическое поглощение
- •2.3.2 Комптоновское рассеяние
- •2.3.3 Образование пар
- •2.3.4 Полный массовый коэффициент ослабления
- •2.4 Фильтры
- •2.5 Защита
- •Глава 3
- •3.1 Введение
- •3.2 Типы детекторов
- •3.2.1 Газонаполненные детекторы
- •3.2.2 Сцинтилляционные детекторы
- •3.2.3 Твердотельные детекторы
- •3.3 Характеристики регистрируемых спектров
- •3.3.1 Общий отклик детектора
- •3.3.2 Спектральные характеристики
- •3.3.3 Разрешение детектора
- •3.3.4 Эффективность детектора
- •3.4 Выбор детектора
- •Глава 4
- •4.1 Введение
- •4.2 Выбор детектора
- •4.3 Высоковольтные источники напряжения смещения
- •4.4 Предусилитель
- •4.5 Усилитель
- •4.5.1 Схема "полюс-ноль"
- •4.5.2 Цепь восстановления базового уровня
- •4.5.3 Цепь режекции наложений
- •4.5.4 Усовершенствование схемы усилителей
- •4.6 Одноканальный анализатор
- •4.8 Многоканальный анализатор
- •4.8.1 Аналого-цифровой преобразователь
- •4.8.2 Стабилизаторы спектра
- •4.8.3 Память многоканального анализатора, дисплей и анализ данных
- •4.9 Вспомогательное электронное оборудование
- •4.10 Заключительные замечания
- •Глава 5
- •5.1 Энергетическая градуировка и определение положения пика
- •5.1.1 Введение
- •5.1.2 Линейная энергетическая градуировка
- •5.1.3 Определение положения пика (центроиды)
- •5.1.4 Визуальное определение положения пика
- •5.1.5 Графическое определение положения пика
- •5.1.6 Определение положения пика методом первых моментов
- •5.1.7 Определение положения пика с помощью метода пяти каналов
- •5.1.8 Определение положения пика с помощью подгонки линеаризованной функцией Гаусса
- •5.1.9 Определение положения пика с использованием подгонки параболаризованной функцией Гаусса
- •5.1.10 Определение положения пика с помощью сложных программ подгонки спектра
- •5.2 Измерения разрешения детектора
- •5.2.1 Введение
- •5.2.3 Графическое определение ширины пика
- •5.2.4 Определение ширины пика с помощью аналитической интерполяции
- •5.2.5 Определение ширины пика с помощью метода вторых моментов
- •5.2.6 Определение ширины пика с помощью подгонки линеаризованной функцией Гаусса
- •5.2.7 Определение ширины пика с помощью подгонки параболаризованной функцией Гаусса
- •5.3 Определение площади пика полного поглощения
- •5.3.1 Введение
- •5.3.2 Выбор рассматриваемых областей
- •5.3.3 Вычитание линейного комптоновского фона
- •5.3.4 Вычитание сглаженной ступеньки комптоновского фона
- •5.3.5 Вычитание комптоновского фона при использовании единственной рассматриваемой области фона
- •5.3.6 Вычитание комптоновского фона с помощью процедуры двух стандартных образцов
- •5.3.7 Использование сумм числа отсчетов в рассматриваемых областях для измерения площадей пиков
- •5.3.8 Использование простых подгонок функцией Гаусса для измерения площади пика
- •5.3.9 Использование известных параметров формы для измерения площадей пиков в мультиплетах
- •5.3.10 Использование сложных вычислительных программ для измерения площади пика
- •5.4.1 Введение
- •5.4.2 Зависимость просчетов от входной загрузки
- •5.4.3 Пропускная способность спектрометрических систем
- •5.4.4 Методы введения поправок. Общие замечания
- •5.4.6 Введение поправок на мертвое время и наложения импульсов с помощью генератора импульсов
- •5.4.7 Метод образцового источника для введения поправок на мертвое время и наложения
- •5.5 Эффекты закона обратного квадрата
- •5.6 Измерения эффективности детектора
- •5.6.1 Абсолютная эффективность регистрации пика полного поглощения
- •5.6.2 Собственная эффективность регистрации пика полного поглощения энергии
- •5.6.3 Относительная эффективность
- •5.6.5 Эффективность в зависимости от энергии и положения
- •Глава 6
- •6.1 Введение
- •6.2 Процедуры
- •6.2.1 Предварительные замечания
- •6.2.2 Общее описание процедуры анализа
- •6.2.3 Необходимые требования при определении коэффициента поправки на самоослабление
- •6.2.4 Методы определения линейного коэффициента ослабления образца
- •6.3 Формальное определение коэффициента поправки на самоослабление
- •6.3.1 Общее определение
- •6.3.2 Удобные типовые формы образцов
- •6.4 Основные параметры коэффициента поправки на самоослабление
- •6.5 Аналитические зависимости для коэффициента поправки на самоослабление в дальней геометрии
- •6.5.1 Образцы в форме пластины
- •6.5.2 Цилиндрические образцы
- •6.5.3 Образцы сферической формы
- •6.6 Численные расчеты для ближней геометрии
- •6.6.1 Общие положения
- •6.6.2 Одномерная модель
- •6.6.3 Двухмерная модель
- •6.6.4 Трехмерная модель
- •6.6.5 Приближенные формулы и интерполяция
- •6.6.6 Влияние абсолютной и относительной погрешностей при расчете коэффициента поправки на самоослабление
- •6.6.7 Точность определения коэффициента поправки на самоослабление и полной скорректированной скорости счета
- •6.9 Примеры анализа
- •6.9.2 Интерполяция и экстраполяция коэффициента пропускания излучения
- •6.9.4 Анализ раствора плутония-239 в ближней геометрии
- •6.9.5 Сегментное сканирование с поправкой на пропускание излучения
- •7.3.2 Двухкомпонентная задача (уран и материал матрицы)
- •7.4 Методики анализа по отношению пиков
- •7.6 Измерения обогащения по нейтронному излучению
- •7.7 Поправки на ослабление в стенках контейнера
- •7.7.1 Прямое измерение толщины стенки
- •7.8.1 Измерение концентрации
- •7.8.2 Соотношение компонентов в смешанном оксидном топливе
- •8.2 Основные сведения
- •8.2.1 Характеристики распада изотопов плутония
- •8.2.2 Характеристики распада изотопа 241Pu
- •8.2.3 Определение концентрации изотопа 242Pu
- •8.2.4 Спектральная интерференция
- •8.2.5 Практическое применение измерений изотопного состава плутония
- •8.3 Спектральные области, используемые для изотопных измерений
- •8.3.1 Область энергии 40 кэВ
- •8.3.2 Область энергии 100 кэВ
- •8.3.3 Область энергии 125 кэВ
- •8.3.4 Область энергии 148 кэВ
- •8.3.5 Область энергии 160 кэВ
- •8.3.6 Область энергии 208 кэВ
- •8.3.7 Область энергии 332 кэВ
- •8.3.8 Область энергии 375 кэВ
- •8.3.9 Область энергии 640 кэВ
- •8.4 Основы измерений
- •8.4.1 Измерение изотопных отношений
- •8.4.2 Измерение абсолютной массы изотопа
- •8.4.3 Изотопная корреляция 242Pu
- •8.5 Получение данных
- •8.5.1 Электроника
- •8.5.2 Детекторы
- •8.5.3 Фильтры
- •8.5.4 Скорость счета и геометрия образец/детектор
- •8.5.5 Время измерения
- •8.6.1 Суммирование по рассматриваемой области
- •8.6.2 Подгонка пика
- •8.6.3 Анализ по функции соответствия
- •8.7 Приборное оснащение
- •8.7.1 Компания Рокуэлл-Хэнфорд
- •8.7.2 Лос-Аламосская национальная лаборатория
- •8.7.3 Установка Маундской лаборатории
- •8.7.5 Обзор погрешностей измерений
- •Глава 9
- •9.1 Введение
- •9.2 Моноэнергетическая плотнометрия
- •9.2.1 Измерение концентрации и толщины
- •9.2.2 Точность измерений
- •9.3 Многоэнергетическая плотнометрия
- •9.3.1 Анализ двухэнергетического случая
- •9.3.2 Точность измерения
- •9.3.3 Распространение на случай большего числа значений энергий
- •9.4 Плотнометрия по краю поглощения
- •9.4.1 Описание методики измерений
- •9.4.2 Точность измерения
- •9.4.3 Чувствительность измерения
- •9.4.4 Эффекты матрицы
- •9.4.5 Выбор методики измерений
- •9.4.6 Источники излучения
- •9.5 Моноэнергетические плотномеры
- •9.6 Двухэнергетические плотномеры
- •9.7 Плотномеры по краю поглощения
- •Глава 10
- •10.1 Введение
- •10.2 Теория
- •10.2.1 Образование рентгеновского излучения
- •10.2.2 Выход флюоресценции
- •10.2.3 Пропускание фотонов
- •10.2.4 Геометрия измерений
- •10.3 Типы источников
- •10.4 Поправка на ослабление в образце
- •10.4.1 Эффекты ослабления в образце
- •10.4.2 Основное уравнение анализа
- •10.4.3 Методы поправки на ослабление
- •10.5 Области применения и аппаратура
- •Глава 11
- •11.1 Введение
- •11.2 Спонтанное и вынужденное деление ядер
- •11.3 Нейтроны и гамма-кванты деления
- •11.5 Нейтроны других ядерных реакций
- •11.6 Изотопные нейтронные источники
- •11.7 Выводы
- •Глава 12
- •12.1 Введение
- •12.2 Микроскопические взаимодействия
- •12.2.1 Понятие сечения взаимодействия
- •12.2.2 Соотношение энергия-скорость для нейтронов
- •12.2.3 Типы взаимодействий
- •12.2.4 Зависимость сечения взаимодействия от энергии
- •12.3 Макроскопические взаимодействия
- •12.3.1 Макроскопические сечения
- •12.3.2 Длина свободного пробега и скорость реакции
- •12.4 Эффекты замедления в большом объеме вещества
- •12.5 Эффекты размножения в массивных образцах вещества
- •12.6 Защита от нейтронов
- •12.7 Методы расчета переноса нейтронов
- •12.7.1 Метод Монте-Карло
- •12.7.2 Метод дискретных ординат
- •Глава 13
- •13.1 Механизмы регистрации нейтронов
- •13.2 Основные свойства газонаполненных детекторов
- •13.4 Газонаполненные детекторы
- •13.4.3 Камеры деления
- •13.4.4 Детекторы с покрытием из 10B
- •13.5 Пластмассовые и жидкие сцинтилляторы
- •13.5.1 Введение
- •13.5.3 Дискриминация по форме импульса
- •13.6 Другие типы детекторов нейтронов
- •13.7 Измерение энергетических спектров нейтронов
- •13.7.1 Введение
- •13.7.2 Методы измерений
- •Глава 14
- •14.1 Введение
- •14.1.1 Теория регистрации полного потока нейтронов
- •14.1.2 Сравнение методов регистрации полного потока нейтронов и нейтронных совпадений
- •14.2 Источники образования первичных нейтронов
- •14.2.1 Соединения плутония
- •14.2.2 Соединения урана
- •14.2.3 Примеси
- •14.2.4 Эффекты влияния энергетического спектра нейтронов
- •14.2.5 Эффекты тонкой мишени
- •14.3 Перенос нейтронов в образце
- •14.3.1 Умножение нейтронов утечки
- •14.3.2 Спектр нейтронов утечки
- •14.4 Эффективность регистрации нейтронов
- •14.4.1 Расположение гелиевых счетчиков в замедлителе
- •14.4.2 Конструкция замедлителя
- •14.4.3 Влияние энергетического спектра нейтронов
Глaвa 8. Гамма-спектрометрия изотопного состава плутония |
221 |
8.3СПЕКТРАЛЬНЫЕ ОБЛАСТИ, ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ ДЛЯ ИЗОТОПНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ
Âэтом разделе приведены особенности спектров, которые важны для измерения изотопного состава плутония. Описание соответствует методике, используемой в работах Ганнинка с сотрудниками [9] и Лемминга и Рэкела [10], в которых спектр разбивается на несколько различных областей. Спектр гамма-излу- чения плутония сильно зависит от изотопного состава и концентрации 241Am. Спектры двух образцов приведены на рис. 8.3 и 8.4. На рис. 8.3 представлен пример низкого выгорания и малого содержания 241Am; на рис. 8.4 — среднего выгорания и относительно высокого содержания 241Am. Подобные примеры приведены для каждой спектральной области в качестве иллюстрации изменений, которые могут встретиться.
Âтабл. 8.2 приведен перечень большинства гамма-линий, используемых при изотопных измерениях плутония. Этот перечень показывает, что гам- ма-кванты низкой энергии намного интенсивнее, чем при больших энергиях. Однако во многих случаях низкоэнергетические гамма-кванты использовать невозможно.
8.3.1. Область энергии 40 кэВ
Область энергии 40 кэВ используется, главным образом, для анализа свежевыделенных растворов, из которых были удалены 241Am è 237U. Если присутствует много 241Am, его гамма-линия 60 кэВ подавляет все остальные пики в этой области. Обычно область 40 кэВ используется в период времени от 15 до 30 дней после отделения америция и урана. Типичный спектр от раствора регенерированного высоко выгоревшего топлива [11] показан на рис 8.5; в табл. 8.3 приведены энергии пиков и их интенсивности. Область энергии гамма-излучения 40 кэВ — наиболее используемая для измерений 238Pu, 239Pu è 240Pu, когда это технически возможно. Эта область не содержит измеряемых гамма-квантов 241Pu; обычно концентрация 241Pu измеряется по его гамма-линии 148,6 кэВ. Для малых количеств 241Pu è 237U их пики интерферируют с пиком 43,5 кэВ 238Pu, пиком 45,2 кэВ 240Pu и пиком 51,6 кэВ 239Pu.
Несколько экспериментаторов использовали эту область для измерения плутония в растворах: Ганнинк [12] и Руссо [11] измеряли растворы, сразу после разделения на радиохимическом заводе; Умезава [13] и Баберняк [14] использовали такие измерения для образцов, приготовленных в аналитической лаборатории. Лай [15] измерял субмиллиграммовые твердые образцы с незначительным содержанием 241Am. Ганнинк использовал методику абсолютного счета и градуировку на известных стандартных растворах; Умезава — абсолютный счет с помощью предварительно отградуированного детектора. Баберняк проводил градуировку с помощью образцов известного изотопного состава. Руссо и Лай измеряли изотопные отношения без стандартных образцов, как это описано в разделе 8.4.
222
Ðèñ. 8.3. Спектр гамма-излучения от 500 г металлического плутония, измеренный с помощью коаксиального германиевого детектора (при энергии 1332 кэВ: относительная эффективность — 11,7 %, ширина пика на полувысоте — 1,75 кэВ). Изотопный состав (вес. %): 238Pu — 0,012 %; 239Pu — 93,82 %; 240Pu — 5,90 %; 241Pu — 0,240 %; 242Pu — 0,02 %; 241Am — 630 ìêã/ã Pu. Необозна- ченные пики относятся к 239Pu
Сэмпсон .Т
Ðèñ. 8.4. Спектр гамма-излучения от 530 г плутония в виде PuO2, измеренный с помощью коаксиального германиевого детектора (при энергии 1332 кэВ: относительная эффективность — 10,2 %, ширина пика на полувысоте — 1,65 кэВ). Изотопный состав (вес. %): 238Pu — 0,302 %; 239Pu — 82,49 %; 240Pu — 13,75 %; 241Pu — 2,69 %; 242Pu — 0,76 %; 241Am — 11 800 ìêã/ã Pu. Необозначенные пики относятся к 239Pu
плутония состава изотопного спектрометрия-Гамма .8 Глaвa
223
224
Таблица 8.2 — Гамма-линии различных энергетических областей, используемые при измерениях изотопного состава плутония
Область |
|
238Pu |
|
|
239Pu |
|
240Pu |
|
241Pu |
|
|
241Am |
||
энергии, |
Ýíåð- |
Интенсив- |
|
Энергия, |
Интенсив- |
|
Энергия, |
Интенсив- |
|
Энергия, |
Интенсив- |
|
Энергия, Интенсив- |
|
|
|
|
|
|||||||||||
êýÂ |
|
|
|
|
||||||||||
ãèÿ, êýÂ |
ность, |
|
êýÂ |
ность, |
|
êýÂ |
ность, |
|
êýÂ |
ность, |
|
êýÂ |
ность, |
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
квант/с г |
|
|
квант/с г |
|
|
квант/с г |
|
|
квант/с г |
|
|
квант/с г |
40-60 |
43 |
2,49×108 |
51,63 |
6,19×105 |
4 |
3,80×106 |
- |
- |
59,54 |
4,54×1010 |
||||
90-105 |
99,86 |
4,59×107 |
98,78 |
2,80×104 |
104,24 |
5,86×105 |
103,68 |
3,86×106 |
98,95 |
2,57×107 |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
102,97 |
2,47×107 |
|
120-450 |
152,68 |
6,05×106 |
129,29 |
1,44×105 |
160,28 |
3,38×104 |
148,57 |
7,15×106 |
125,29 |
5,16×106 |
||||
|
|
|
203,54 |
1,28×104 |
|
|
|
164,58* |
1,73×106 |
335,40 |
6,28×105 |
|||
|
|
|
345,01 |
1,28×104 |
|
|
|
208,00* |
2,04×107 |
|
|
|
||
|
|
|
375,04 |
3,60×104 |
|
|
|
332,35* |
1,14×106 |
|
|
|
||
|
|
|
413,71 |
3,42×104 |
|
|
|
370,93* |
1,04×105 |
|
|
|
||
450-800 |
766,41 |
1,39×105 |
645,97 |
3,42×102 |
642,48 |
1,05×103 |
- |
- |
662,42 |
4,61×105 |
||||
|
|
|
717,72 |
6,29×101 |
|
|
|
|
|
|
721,99 |
2,48×105 |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
* Дочерний 237U от распада 241Pu при равновесии 241Pu-237U.
Сэмпсон .Т
Глaвa 8. Гамма-спектрометрия изотопного состава плутония |
225 |
Ðèñ. 8.5. Спектр гамма-излучения в области энергии 40 кэВ от раствора свежевыделенного плутония в азотной кислоте, концентрация 185 г/л. Изотопный состав (вес. %):
238Pu — 0,649 %; 239Pu — 67,01 %; 240Pu — 21,80 %; 241Pu — 8,11 %; 242Pu — 2,44 % [11].
Рентгеновская Ka2-линия вольфрама — от защиты, окружающей детектор