Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Физика конденсированного состояния. Учебное пособие (практикум)

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
07.09.2026
Размер:
1 Мб
Скачать
☆
МИНИCTEPCTBO НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ
УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ
«СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»
ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННОГО
СОСТОЯНИЯ
(ПРАКТИКУМ)
Направления подготовки 11.03.04
Электроника и наноэлектроника
Направленность (профиль) «Промышленная электроника»
Квалификация выпускника – бакалавр
Ставрополь
2022
УДК 538.9 (075.8) ББК 22.3 я73
Ф 50
Печатается по решению
редакционно-издательского совета
Северо-Кавказского федерального
университета
Рецензенты:
д-р физ.-мат. наук, профессор Л. В. Михнев,
д-р техн. наук, профессор Г. В. Никиенко (СтГАУ)
Ф 50 Физика конденсированного состояния : учебное пособие
(практикум) / сост. : С. В. Лисицын, Р. В. Пигулев. – Ставро­поль : Из-во СКФУ, 2022. – 98 с.
Пособие составлено в соответствии с требованиями ФГОС ВО
и представляет практикум. В нём приведён краткий обзор теорети­ческого материала, необходимого для решения задач, задачи и во­просы для работы на занятии; также представлен список литера­туры, позволяющий студентам более глубоко познакомиться с изу­чаемым предметом, необходимые справочные данные.
Предназначено для подготовки к практическим занятиям сту-
дентов, обучающихся по направлению подготовки 11.03.04 Элек­троника и наноэлектроника.
УДК 538.9 (075.8)
ББК 22.3 я73
канд. физ.-мат. наук, доцент С. В. Лисицын,
канд. техн. наук, доцент Р. В. Пигулев
Составители:
© ФГАОУ ВО «Северо-Кавказский
федеральный университет», 2022
2
СОДЕРЖАНИЕ
Предисловие…………………………………………………...
4
1. Кристаллическая решетка. Трансляции, элементарная ячейка. Индексы Миллера кристаллографической плоско­сти и кристаллографического направления………………….
7
2. Методы исследования кристаллической структуры: внут­ренняя структура твердых тел ………………………………..
20
3. Теплоемкость кристаллов. Закон Дюлонга-Пти. Теория
теплоемкости Эйнштейна. Теория теплоемкости Дебая .......
38
4. Электронный газ в металлах. Статистика электронов и дырок в полупроводниках. Уровень Ферми …………………
52
5. Электропроводность металлов. Подвижность носителей. Вырожденный газ. Удельное сопротивление ……………….
61
6. Электропроводность полупроводников. Подвижность по­лупроводников. Зависимость проводимости полупроводни­ков от температуры …………………………………………...
65
7. Природа носителей тока в полупроводниках. Собствен-
ные полупроводники. Примесные полупроводники. Донор­ная и акцепторная проводимость полупроводников ………..
77
8. Эффект Холла. Холловская разность потенциалов. Сме­шанная проводимость. Постоянная Холла ………………….
83
9. Аудиторная контрольная работа...........................................
92
Литература …………………………………………………….
96
3
ПРЕДИСЛОВИЕ
Настоящее учебное пособие предназначено для подготовки к
практическим занятиям по дисциплине «Физика конденсирован­ного состояния» студентов направления подготовки 11.03.04 Элек­троника и наноэлектроника.
Знания, умения, и владения, приобретаемые студентами по
направлению подготовки 11.03.04 Электроника и наноэлектроника в рамках формируемых компетенций:
ПК-1 – способность строить простейшие физические и матема-
тические модели приборов, схем, устройств и установок электро­ники и наноэлектроники различного функционального назначения, а также использовать стандартные программные средства их ком­пьютерного моделирования.
В результате освоения дисциплины обучающийся должен в
рамках компетенции:
знать: основные электрические, магнитные и оптические свой-
ства твердых тел, механизмы протекания тока; особенности элек­тронных свойств неупорядоченных и аморфных материалов; осо­бенности проявления квантовых эффектов в базовых элементах наноэлектроники, их классификацию;
уметь: оценивать пределы применимости классического под-
хода, роль и важность квантовых эффектов при описании физиче­ских процессов в элементах наноэлектроники; применять знания в области физики конденсированного состояния для решения про­фессиональных задач, связанных с построением физических моде­лей установок электроники;
владеть: навыками физических исследований и построения ма-
тематических моделей, схем и установок электроники; методами квантово-механического описания простейших квантовых систем, входящих в состав элементов электроники и наноэлектроники;
В пособии представлены следующие разделы: «Структура и симметрия твердого тела»; «Тепловые свойства кристаллов»; «Электронная структура кристаллов»; «Электрические свойства твердых тел»; «Полупроводниковая электроника»; «Оптические яв­ления в полупроводниках».
Весь курс пособия разбит на темы, каждую из которых можно прорабатывать независимо от других.
4
В процессе изучения дисциплины студенты решают физиче­ские задачи, что является необходимой практической основой изу­чения дисциплины «Физика конденсированного состояния».
Основной целью выполнения практических заданий является выработка у студентов приемов и навыков решения задач из разных областей физики конденсированного состояния, помогающих сту­дентам решать в дальнейшем инженерные задачи.
Практические занятия несут в себе функцию закрепления, раз­вития и углубленного освоения основных положений теории. Реше­ние задач способствует приобщению студентов к самостоятельной творческой работе. При решении задач студент должен самостоя­тельно осуществить ряд мыслительных операций, опираясь на име­ющиеся у него знания и умения. Практические занятия позволяют проверить степень усвоения студентами основных разделов теоре­тического курса.
Работа начинается с повторения теоретического материала, ука­занного в разделе Теоретическая часть для каждой изучаемой темы. В этом разделе приводятся основные формулы, которые необходимы при решении задач. В этом разделе приводятся также примеры реше­ния задач, что является наиболее важным. Каждая разобранная за­дача сопровождается наводящими вопросами, которые помогают сориентировать студентов в поиске необходимого решения.
При решении задач по физике конденсированного состояния рекомендуется придерживаться определенного плана:
- внимательно прочитать и полностью записать условие за-
дачи;
- представить условие задачи математически, используя об-
щепринятые обозначения;
- перевести все заданные в условии величины в одну систему
единиц;
- выполнить необходимые графики и рисунки;
- проанализировать условие задачи и определить, к какому
типу она относится, прочитав общую формулировку методов реше­ния, попытаться самостоятельно решить задачу соответствующим методом, при этом можно пользоваться ссылками на примеры в ука­занной литературе;
- составить уравнения, связывающие физические величины,
которые характеризуют рассматриваемые явления;
5
- решить эти уравнения относительно неизвестных величин,
получить ответ в общем виде;
- произвести действия с размерностями и убедиться, что ис-
комая величина получается в единицах измерения выбранной си­стемы;
- проанализировать полученный результат, выяснить, как из-
меняется искомая величина при изменении и других величин, функ­цией которых она является, исследовать предельные случаи.
В каждой теме представлены образцы оформления решений не­которых задач в соответствии с этим планом.
После проработки теоретического материала, примеров реше­ния задач, необходимо произвести самоконтроль его усвоения, ис­пользуя вопросы и задачи, приведенные в разделе Вопросы и зада- ния. Большое количество качественных вопросов и задач могут быть использованы не только для работы на практических занятиях, но и для организации самостоятельной работы студентов. В каждой теме представлены также задачи повышенной сложности.
В конце каждой темы имеется список литературы, рекоменду­емый для использования при подготовке к занятию.
6
1. КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА.
V
 
ТРАНСЛЯЦИИ, ЭЛЕМЕНТАРНАЯ ЯЧЕЙКА.
ИНДЕКСЫ МИЛЛЕРА
КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ПЛОСКОСТИ И
КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОГО НАПРАВЛЕНИЯ
Цель ‒ ознакомиться с основными типами элементарных ячеек
кристаллической решетки, рассмотреть основные понятия и физиче­ские принципы строения кристаллической решетки
Знания и умения, приобретаемые студентом в результате осво­ения темы, в рамках формируемых компетенций: ПК-1.
В результате освоения дисциплины обучающийся должен
знать: основные физические законы и принципы, на основе кото-
рых объясняется строение кристаллических тел, индексы узлов, ин­дексы направлений, индексы плоскости, индексы Миллера, понятие элементарной ячейки и её объёма, типы элементарных ячеек и виды упаковки атомов в решетке кристалла, период идентичности, расстоя­ние между соседними плоскостями;
уметь: определять количество атомов, приходящихся на элемен­тарную ячейку, определять коэффициенты упаковки, выражать объём элементарной ячейки для различных сингоний, записывать уравнение плоскости, проходящей через заданные узлы, определять индексы Миллера для плоскостей и направлений, рассчитывать расстояние между плоскостями и отсекаемые ими отрезки на координатных осях;
владеть: методами расчета параметров элементарной ячейки кри­сталла и её объёма для различных типов кристаллических веществ, ме­тодами решения системы уравнений, составленных для плоскостей, проходящих через узлы, заданные индексами Миллера.
Актуальность темы. Рассматриваемая тема является основой для формирования знания об элементарных ячейках кристаллических ве­ществ и типов сингонии, о кристаллических веществах и физических принципов построения пространственных решеток.
Теоретическая часть
Основные формулы
Молярный объем кристалла:
, (1.1)
где µ – молярная масса, ρ – плотность кристалла.
7
Объем элементарной ячейки численно равен смешанному
󰇍
󰇍
эл
V
Z
V
V
Z
Z
n
N
ZA
произведению векторов a, b и c:
или 
 󰇍 



,
 
где   и т. д. – проекции трех векторов , 󰇍, и  на три вза-
имно перпендикулярные координатные оси.
Возведём в квадрат обе части выражения и заменим суммы в определителе скалярным произведением:

󰈑
󰇍
󰇛

󰇛 
 󰇍 
󰇜
 
󰈑
 
 
 
.

 󰇜

Раскрывая определитель, получим:
              . (1.2)
Объем элементарной ячейки в случае кубической сингонии:
Vэл = а3, (1.2а)
где а – параметр решетки.
Число элементарных ячеек в одном моле кристалла:
. (1.3)
Если кристалл состоит из одинаковых атомов, то

, (1.4)
где NА – число Авогадро, n – число одинаковых атомов, приходя­щихся на элементарную ячейку.
Число элементарных ячеек в единице объема кристалла:
. (1.5)
Если кристалл состоит из одинаковых атомов, то
. (1.6)
Параметр решетки, состоящей из одинаковых атомов:


8
. (1.7)

Расстояние между соседними атомами в кубической ре-
3
2
шетке:
а) в простой d = а,
б) в гранецентрированной 
,
в) в объёмно-центрированной d =
а.
Число одинаковых атомов, приходящихся на элементарную ячейку:
а) простая кубическая решетка n = 1,
б) гранецентрированная кубическая решетка n = 4,
в) объемно-центрированная кубическая решетка n = 2.
Период идентичности вдоль прямой, заданной индексами [n1n2n3], в кубической решетке выражается соотношением:
  
 
 
, (1.8)
где а – параметр решетки.
Координаты любого узла решетки записываются в виде:
X = n1a1; Y =n2a2; Z = n3a3 и обозначаются: [[n1n2n3]],
где аi – основные периоды решетки, ni – целые числа, называемые индексами узла и обозначающие число периодов решетки, соот- ветствующих данному узлу, i = 1, 2, 3.
Для описания направления в кристалле выбирают прямую, про- ходящую через начало координат. Ее направление однозначно определяется индексами направления, [n1n2n3], где ni – индексы бли­жайшего к началу координат узла решетки.
Кристаллографические плоскости определяются тремя вза- имно простыми целыми числами (hkl), называемыми индексами Миллера. Они определяют систему бесконечного числа параллель­ных между собой плоскостей, каждая из которых характеризуется
определенным значением числа q = 0, +1, +2, ... . Таким образом,
кристаллографическая плоскость однозначно задается совокупно­стью чисел {(hkl),q}. Для отрицательных индексов над (или под)
буквой ставится знак минус, например
. Индексы [n1n2n3] любого
узла, лежащего в данной плоскости, удовлетворяют соотношению:
n1h + n2k + n3l = q. (1.9)
При q = 0 плоскость проходит через начало координат.
Если плоскость параллельна какой-либо оси координат, то со­ответствующий индекс Миллера равен нулю. Так, плоскость (110) параллельна оси z, а плоскость (100) параллельна плоскости (yz).
9
Расстояние d плоскости от начала координат определяется
2
m
M
V
d
a
Рисунок 1.1
числом q:

, (1.10)
где
b0 = hb1 + kb2 + lb3 (1.11)
вектор обратной решетки, bi (i = 1,2,3) – базисные векторы обратной решетки,
b1 = V
-1
[a2 a3], b2 = V
c
-1
[a3 a1], b3 = V
c
-
1
[a1 a2] (1.12)
c
Vc – объем элементарной ячейки кристалла.
Из формулы (1.11) следует, что расстояние d между соседними плоскостями (∆q = 1) с индексами (hkl) равно:




.
(1.13)
Кристаллические плоскости отсекают на осях координат от- резки, равные:


 

 

. (1.14)
Очевидно, что если q/h, q/k или q/1 – целые числа, то плоскость пересекает соответствующую координатную ось в узловой точке.
Примеры решения задач
Пример 1.1. Расстояние d между соседними атомами кристалла
кальция (решетка кубическая гранецентрированная) равно 0,393 нм. Определить: 1) параметр а решетки;
2) плотности ρ кристалла.
РЕШЕНИЕ
1. Параметр а решетки и расстоя-
ние d между ближайшими соседними атомами связаны простым геометриче­ским соотношением, ясным из рис. 1.1:
a = d2.
Произведем вычисления:
a = 0,39310
-
9
м = 5,5610
-
10
м.
2. Плотность ρ кристалла связана с молярной массой М и мо-
лярным объемом Vm соотношением
ρ =
. (1.1.1)
10
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]