Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Техдиагностика.doc
Скачиваний:
437
Добавлен:
11.03.2015
Размер:
6.21 Mб
Скачать

Замена одним элементом состояний группы элементов памяти.

На рис. 25,а показана логическая сеть, в которую помещен триггер, реализованный на элементе И-НЕ. Его состояние заменяет состояние части логической сети и обеспечивает проведение теста для последующей части сети. Подобный же вариант реализации показан на рис. 25,б.В логическую сеть помещается логический элемент, который генерирует сигналы, заменяющие много входных сигналов.

Рассмотренные выше специализированные методы синтеза контролепригодных устройств были разработаны для интегральных схем средней степени интеграции (СИС) ,затем модифицированы . для БИС и СБИС и используются обычно на уровне плат и кристаллов.

Методы улучшения тестируемой бис. Сокращение числа тестовых входов.

Основной проблемой контроля БИС является сложность доступа к наиболее важным в процессе контроля точкам принципиальной схемы,характеризующим основные логические связи внутри ИС. В ИС малой и средней степени интеграции такие контрольные точки могут быть выведены на границы кристалла, а следовательно, и на выходные контакты; в БИС же это практически невозможно, так как один внешний вывод приходится как минимум на 10—20логических вентилей. В значительной степени усложняется процесс контроля БИС, содержащей последовательное соединение вентилей, так как при этомна внешние контакты микросхемы выводятся лишь входные и выходные сигналытакой цепи, что обусловливает значительное увеличение количества тактов контроля.

Сокращения числа тестовых входов можно добитьсяпри использовании одного или нескольких тестовых входов для образования нескольких контрольных точекиспользованием последовательно-параллельного способа обработки контрольной информации (рис. 26,а). Входной сигнал по контрольному входу Твх поступает на счетчик, а затем дешифратором преобразуется вnтестовых сигналов, которые поступают на контрольные точки проверяемой логики.

Для решения проблемы сокращения числа тестовых входов и выходов удобно использовать различные типы мультиплексоров и демультиплексоровсоответственно.Демультиплексор подключают к тестовому входу БИС. Он улучшает управляемость контрольными точками схемы, подключенными к выходам демультиплексора, выполняет как бы размножение тестового сигнала на определенное количество контрольных точек БИС.Для съема информации с нескольких контрольных точек на один тестовый выход используют мультиплексоры, введение которых в схему БИС в этом случае улучшает наблюдаемость соответствующих точек контроля.

На рис. 26,б дан пример использования демультиплексора и мультиплексора для сокращения числа тестовых входов и выходов в БИС программируемой логической матрицы ПЛМ комбинационной логики с однобитными декодерами входных сигналов. Для улучшения наблюдаемости сигналов вертикальных шин ПЛМ введен мультиплексор. Для улучшения управляемости вертикальными шинами ПЛМ — демультиплексор, что способствует разбиению схемы БИС ПЛМ на три части (входной буфер, матрицаИ,матрицаИЛИс выходным буфером) и дает возможность тестироватьБИС ПЛМпо частям короткими тест-наборами.

При подаче сигнала Смультиплексор выбирает один из своих входов (вертикальную шинуПЛМ),адрес которого задается двоичным кодом на адресных входах мультиплексора, подключенных к входам ПЛМ, и передает сигнал с выбранной вертикальной шины на тестовый выход.. Таким образом просматриваются сигналы на всех вертикальных шинахПЛМ(улучшается их наблюдаемость).

Если на вход Dдемультиплексора подать значение логической единицы, то на выбранном в соответствии с адресом, заданным на управляющих входах, подключенных ко входамПЛМ,выходе демультиплексора будет значение логической единицы, на остальных —значение логического нуля. Так как выходы демультиплексора подключены к вертикальным шинамПЛМ,то осуществляется управление значениями сигналов на них. Для обеспечения рабочего режима в приведенной на рис. 26,бсхеме необходимо предусмотреть еще дополнительные средства, которые здесь не приводятся.

Для сокращения числа тестовых входов в схеме БИСможно выделить выход, соединенный не только с выходом элемента, но и со входом хотя бы одного элемента. Тогда возможны два режима работы: выходов (основное назначение) и входов (дополнительное значение) .Примерами таких схем являются счетчики, триггеры, регистры и др. Выходы БИС должны обеспечивать проводное ИЛИ.