- •Вступление
- •Основные задачи технической диагностики
- •Системы диагноза технического состояния
- •Диагностические системы управления
- •Объекты диагноза
- •Математические модели объектов диагноза
- •Функциональные схемы систем тестового и функционального диагноза
- •Методы и технические средства диагностирования элементов и устройств вычислительной техники и систем управления Общие сведения
- •Тестовое тестирование узлов, блоков и устройств.
- •Структуры автоматизированных систем.
- •Программное обеспечение процессов диагностирования.
- •Логические анализаторы.
- •Микропроцессорные анализаторы (ма).
- •Способы запуска.
- •Подключающие устройства.
- •Ввод начальных данных.
- •Проверка отдельных триггеров.
- •Проверка содержимого постоянных запоминающих устройств (пзу).
- •Проверка оперативных запоминающих устройств (озу).
- •Проверка работы линии коллективного пользования (лкп).
- •Проверка аналого-цифровых преобразователей (ацп).
- •Проверка печатных плат.
- •Проверка микропроцессорной системы.
- •Сигнатурные анализаторы
- •Процесс формирования сигнатур.
- •Аппаратурная реализация сигнатурного анализатора.
- •Тестовое диагностирование устройств в составе эвм.
- •Диагностирование оборудования процессоров.
- •Способы диагностирования периферийных устройств.
- •Диагностирование упу/пу с помощью процессора.
- •Проверки упу/пу с помощью диагностических приказов.
- •Диагностирование упу/пу с помощью тестеров.
- •Способы тестирования зу.
- •Принципы построения стандартных проверяющих тестов полупроводниковых зу.
- •Аппаратурные средства функционального диагностирования узлов и блоков. Основные принципы построения.
- •Кодовые методы контроля.
- •Контроль передач информации.
- •Контроль по запрещенным комбинациям.
- •Самопроверяемые схемы контроля.
- •Контроль по модулю
- •Организация аппаратурного контроля озу.
- •Организация аппаратурного контроля внешних зу.
- •Средства функционального диагностирования в составе эвм.
- •Контроль методом двойного или многократного счета
- •Экстраполяционная проверка
- •Контроль по методу усеченного алгоритма (алгоритмический контроль).
- •Способ подстановки.
- •Проверка предельных значений или метод "вилок".
- •Проверка с помощью дополнительных связей.
- •Метод избыточных переменных
- •Контроль методом обратного счета.
- •Метод избыточных цифр.
- •Метод контрольного суммирования.
- •Контроль методом счета записи.
- •Контроль по меткам
- •Метод обратной связи
- •Метод проверки наличия формальных признаков (синтаксический метод, метод шаблонов).
- •Метод проверки запрещенных комбинаций.
- •Метод an-кодов
- •Методы на основе циклических кодов и кодов Хэмминга и др.
- •Структурные методы обеспечения контролепригодности дискретных устройств.
- •Введение контрольных точек.
- •Размножение контактов.
- •Использование блокирующей логики.
- •Применение параллельных зависимых проверок
- •Замена одним элементом состояний группы элементов памяти.
- •Методы улучшения тестируемой бис. Сокращение числа тестовых входов.
- •Двухуровневое сканирование.
- •Микропроцессорные встроенные средства самотестирования.
- •Контроль и диагностирование эвм Характеристики систем диагностирования
- •Системы контроля в современных эвм
- •Применение аналоговых сигнатурных анализаторов
- •Работа локализатора неисправностей pfl780 в режиме "Pin by Pin"
- •Работа в режиме Pin by Pin
- •Работа с торцевыми разъемами
- •Среда тестирования
- •Индивидуальное тестирование или режим Pin by Pin?
- •Тестирование специальных устройств
- •Устранение ложных отказов путем использования эталонных сигнатур компонентов от разных производителей
- •Тестирование цифровых компонентов методом asa
- •Вариации сигнатур.
- •Входные цепи защиты
- •Набор альтернативных сигнатур
- •Тестирование подключенных к общей шине компонентов путем их изоляции специальными блокирующими напряжениями.
- •Системы с шинной архитектурой
- •Устройства с тремя логическими состояниями
- •Разрешение работы и блокирование компонентов
- •Применение "блокирующих" напряжений
- •Отключение тактовых импульсов.
- •Отключение шинных буферов.
- •Опция Loop until Pass
- •Локализация дефектных компонентов в системах с шинной архитектурой без их удаления из испытываемой цепи
- •Поиск неисправностей методами asa и ict в системах с шинной архитектурой
- •Сравнение шинных сигнатур
- •Шинные сигнатуры
- •Изоляция устройств.
- •Локализация коротких замыканий шины и неисправностей нагрузки прибором toneohm 950 в режиме расширенного обнаружения неисправностей шины
- •Типы шинных неисправностей
- •Короткие замыкания с низким сопротивлением
- •Измерение протекающего через дорожку тока.
- •Измерение напряжения на дорожке печатной платы
- •Обнаружение кз и чрезмерных токов нагрузки в труднодоступных для тестирования местах
- •Короткие замыкания на платах
- •Обнаружение сложных неисправностей тестируемой платы путем сравнения импедансных характеристик в режиме asa
- •Импедансные сигнатуры
- •Локализация неисправностей методом Аналогового сигнатурного анализа
- •Методы сравнения
- •Основы jtag Boundary Scan архитектуры
- •АрхитектураBoundaryScan
- •Обязательные инструкции
- •Как происходитBoundaryScanтест
- •Простой тест на уровне платы
- •Граф состояний тар – контроллера
- •Мониторинг сети Управление сетью
- •Предупреждение проблем с помощью планирования
- •Утилиты мониторинга сети
- •Специальные средства диагностики сети
- •Источники информации по поддержке сети
- •Искусство диагностики локальных сетей
- •Организация процесса диагностики сети
- •Методика упреждающей диагностики сети
- •Диагностика локальных сетей и Интернет Диагностика локальных сетей
- •Ifconfig le0
- •Сетевая диагностика с применением протокола snmp
- •Диагностика на базеIcmp
- •Применение 6-го режима сетевого адаптера для целей диагностики
- •Причины циклов пакетов и осцилляции маршрутов
- •Конфигурирование сетевых систем
- •Методы тестирования оптических кабелей для локальных сетей.
- •Многомодовый в сравнении с одномодовым
- •Нахождение разрывов
- •Измерение потери мощности
- •Использование тестовOtdRдля одномодовых приложений
- •Источники
- •Словарь терминов а
Процесс формирования сигнатур.
Содержимое 16-разрядного сдвигового регистра, соответствующее остатку R(х), отображается в шестнадцатеричном формате. Обычно используются следующие нестандартные шестнадцатеричные символы: 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9,А, С, F, Н, Р, U, которые удобно индицировать с помощью семисегментного индикатора.
На рис. 8 показан процесс формирования сигнатуры для 20-разрядной входной последовательности X= 11111100000111111111. На вход сумматора по модулю 2 подается двоичный кодXи сигналы обратной связи с соответствующих выходов триггеров регистра сдвига. В исходном состоянии регистр содержит все нули. Затем на каждом временном такте на вход сумматора по модулю 2 поступают двоичные сигналы входного кода. Первые семь тактов регистр работает как сдвиговый регистр без включения обратных связей. После 7-го такта единица с седьмого триггера регистра поступает на вход сумматора, складывается с нулевым значениемXна восьмом такте и на выходе сумматора по модулю 2 появляется 1, которая поступает на вход первого разряда регистра. Аналогично формируются сигналы на входе регистра для других временных тактов. После 20 тактов получим шестнадцатеричное число 359Н (сигнатуру), которое соответствует двоичному кодуR(х) = 1100101010011011 (младшие разряды слева).
На рис. 9.1показан процесс формирования сигнатуры для входной последовательности 11111100000111111111,соответствующей «окну» длительностью 20 тактов. На протяжении первых семи тактов по цепям обратной связи поступают 0и в регистр вдвигаются без каких-либо изменений первые 7бит входной последовательности. После седьмого такта по обратной цепи от первого отвода (седьмой разряд регистра) на сумматор по модулю 2поступает 1, которая в восьмом такте заносится в первый разряд регистра (в восьмом разряде входной последовательности стоит0).Аналогичным образом работает анализатор в последующие такты.
После закрытия «окна» (после 20тактов) в регистре образуется 16-битный остаток 1100 1001 0101ОО11 соответствующий сигнатуре Н953.
Метод сигнатурного анализа требует небольшого дополнительного оборудования и достаточно простого универсального переносного сигнатурного анализатора. Тест -программы проверки аппаратуры могут быть записаны в БИС постоянных ЗУ, размещаемых в самом проверяемом оборудовании.
При выполнении диагностической процедуры оператор последовательно просматривает в тестовом режиме сигнатуры на выходах устройства и при обнаружении расхождения с указанными в документации сигнатурами переходит к просмотру сигнатур в точках неисправной цепи, двигаясь от выхода к входу, пока не найдет неисправный элемент.При использовании сигнатурного анализа поиск неисправностей в микропроцессорной аппаратуре становится похожим на обслуживание телевизора, когда мастер, ремонтирующий его, с помощью тестера и щупа сравнивает сигналы в данной цепи с сигналом, указанным на чертеже схемы, и при обнаружении расхождения для определения места неисправности выполняет просмотр сигналов при движении от выхода к входу схемы.
Введение контрольной цифровой информации (сигнатур) в техническую документацию на цифровую аппаратуру очень удобно, так как для этой аппаратуры не представляется возможным документировать признаки правильной работы схем в виде параметров напряжений, токов или даже форм сигналов.