- •Вступление
- •Основные задачи технической диагностики
- •Системы диагноза технического состояния
- •Диагностические системы управления
- •Объекты диагноза
- •Математические модели объектов диагноза
- •Функциональные схемы систем тестового и функционального диагноза
- •Методы и технические средства диагностирования элементов и устройств вычислительной техники и систем управления Общие сведения
- •Тестовое тестирование узлов, блоков и устройств.
- •Структуры автоматизированных систем.
- •Программное обеспечение процессов диагностирования.
- •Логические анализаторы.
- •Микропроцессорные анализаторы (ма).
- •Способы запуска.
- •Подключающие устройства.
- •Ввод начальных данных.
- •Проверка отдельных триггеров.
- •Проверка содержимого постоянных запоминающих устройств (пзу).
- •Проверка оперативных запоминающих устройств (озу).
- •Проверка работы линии коллективного пользования (лкп).
- •Проверка аналого-цифровых преобразователей (ацп).
- •Проверка печатных плат.
- •Проверка микропроцессорной системы.
- •Сигнатурные анализаторы
- •Процесс формирования сигнатур.
- •Аппаратурная реализация сигнатурного анализатора.
- •Тестовое диагностирование устройств в составе эвм.
- •Диагностирование оборудования процессоров.
- •Способы диагностирования периферийных устройств.
- •Диагностирование упу/пу с помощью процессора.
- •Проверки упу/пу с помощью диагностических приказов.
- •Диагностирование упу/пу с помощью тестеров.
- •Способы тестирования зу.
- •Принципы построения стандартных проверяющих тестов полупроводниковых зу.
- •Аппаратурные средства функционального диагностирования узлов и блоков. Основные принципы построения.
- •Кодовые методы контроля.
- •Контроль передач информации.
- •Контроль по запрещенным комбинациям.
- •Самопроверяемые схемы контроля.
- •Контроль по модулю
- •Организация аппаратурного контроля озу.
- •Организация аппаратурного контроля внешних зу.
- •Средства функционального диагностирования в составе эвм.
- •Контроль методом двойного или многократного счета
- •Экстраполяционная проверка
- •Контроль по методу усеченного алгоритма (алгоритмический контроль).
- •Способ подстановки.
- •Проверка предельных значений или метод "вилок".
- •Проверка с помощью дополнительных связей.
- •Метод избыточных переменных
- •Контроль методом обратного счета.
- •Метод избыточных цифр.
- •Метод контрольного суммирования.
- •Контроль методом счета записи.
- •Контроль по меткам
- •Метод обратной связи
- •Метод проверки наличия формальных признаков (синтаксический метод, метод шаблонов).
- •Метод проверки запрещенных комбинаций.
- •Метод an-кодов
- •Методы на основе циклических кодов и кодов Хэмминга и др.
- •Структурные методы обеспечения контролепригодности дискретных устройств.
- •Введение контрольных точек.
- •Размножение контактов.
- •Использование блокирующей логики.
- •Применение параллельных зависимых проверок
- •Замена одним элементом состояний группы элементов памяти.
- •Методы улучшения тестируемой бис. Сокращение числа тестовых входов.
- •Двухуровневое сканирование.
- •Микропроцессорные встроенные средства самотестирования.
- •Контроль и диагностирование эвм Характеристики систем диагностирования
- •Системы контроля в современных эвм
- •Применение аналоговых сигнатурных анализаторов
- •Работа локализатора неисправностей pfl780 в режиме "Pin by Pin"
- •Работа в режиме Pin by Pin
- •Работа с торцевыми разъемами
- •Среда тестирования
- •Индивидуальное тестирование или режим Pin by Pin?
- •Тестирование специальных устройств
- •Устранение ложных отказов путем использования эталонных сигнатур компонентов от разных производителей
- •Тестирование цифровых компонентов методом asa
- •Вариации сигнатур.
- •Входные цепи защиты
- •Набор альтернативных сигнатур
- •Тестирование подключенных к общей шине компонентов путем их изоляции специальными блокирующими напряжениями.
- •Системы с шинной архитектурой
- •Устройства с тремя логическими состояниями
- •Разрешение работы и блокирование компонентов
- •Применение "блокирующих" напряжений
- •Отключение тактовых импульсов.
- •Отключение шинных буферов.
- •Опция Loop until Pass
- •Локализация дефектных компонентов в системах с шинной архитектурой без их удаления из испытываемой цепи
- •Поиск неисправностей методами asa и ict в системах с шинной архитектурой
- •Сравнение шинных сигнатур
- •Шинные сигнатуры
- •Изоляция устройств.
- •Локализация коротких замыканий шины и неисправностей нагрузки прибором toneohm 950 в режиме расширенного обнаружения неисправностей шины
- •Типы шинных неисправностей
- •Короткие замыкания с низким сопротивлением
- •Измерение протекающего через дорожку тока.
- •Измерение напряжения на дорожке печатной платы
- •Обнаружение кз и чрезмерных токов нагрузки в труднодоступных для тестирования местах
- •Короткие замыкания на платах
- •Обнаружение сложных неисправностей тестируемой платы путем сравнения импедансных характеристик в режиме asa
- •Импедансные сигнатуры
- •Локализация неисправностей методом Аналогового сигнатурного анализа
- •Методы сравнения
- •Основы jtag Boundary Scan архитектуры
- •АрхитектураBoundaryScan
- •Обязательные инструкции
- •Как происходитBoundaryScanтест
- •Простой тест на уровне платы
- •Граф состояний тар – контроллера
- •Мониторинг сети Управление сетью
- •Предупреждение проблем с помощью планирования
- •Утилиты мониторинга сети
- •Специальные средства диагностики сети
- •Источники информации по поддержке сети
- •Искусство диагностики локальных сетей
- •Организация процесса диагностики сети
- •Методика упреждающей диагностики сети
- •Диагностика локальных сетей и Интернет Диагностика локальных сетей
- •Ifconfig le0
- •Сетевая диагностика с применением протокола snmp
- •Диагностика на базеIcmp
- •Применение 6-го режима сетевого адаптера для целей диагностики
- •Причины циклов пакетов и осцилляции маршрутов
- •Конфигурирование сетевых систем
- •Методы тестирования оптических кабелей для локальных сетей.
- •Многомодовый в сравнении с одномодовым
- •Нахождение разрывов
- •Измерение потери мощности
- •Использование тестовOtdRдля одномодовых приложений
- •Источники
- •Словарь терминов а
Проверка оперативных запоминающих устройств (озу).
Принципиально проверка содержимого ОЗУ не отличается от проверки содержимого ПЗУ. Используя входы признаков для подачи сигналов "выбор кристалла" и "запись—чтение", можно выбирать требуемую информацию от конкретной интегральной схемы памяти, установленной на плате с большим количеством ИС. Одновременно с этим указанные сигналы разрешают просматривать не только записанную информацию, но и контролировать содержимое информации, поступающей за запись.
Проверка работы линии коллективного пользования (лкп).
При помощи ЛКП производится обмен информацией между отдельными приборами, входящими в информационно-измерительную систему. Обмен информацией сопровождается сигналами синхронизации, которые могут быть использованы в качестве тактовых импульсов для записи информации в память анализатора. Возможны следующие случаи:
если в качестве тактового импульса используется перепад 1/0 сигнала СД — ("сопровождение данных"), то в память анализатора будет записываться информация, выдаваемая передатчиком в линию;
если используется перепад 1/0 сигнала ДП ("данные приняты"), то в память анализатора будет записываться информация, принятая приемником.
Выбирая тот или иной режим работы анализатора ("начало" или "конец"), требуемое запускающее слово и цифровую задержку, возможно наблюдение информации, проходящей по линии.
При отыскании причин, приводящих к сбою, удобен режим "конец". Предположим, что на каком-то такте работы по линии проходит заведомо ложная информация. Например, печатающее устройство печатает знак минус, когда известно, что измеряется положительное напряжение. В этом случае условия запуска устанавливаются по коду знака минус. На индикаторе будет зафиксирована ошибочная информация за несколько тактов до момента сбоя. Анализ полученных данных укажет на причину сбоя.
Если использовать "вход признаков", подключив к нему линию УП ("управление"), то возможна выборка всех универсальных адресных команд. В качестве тактового импульса используется сигнал СД. Если в качестве условия запуска использовать ЗО ("запрос на обслуживание"), то можно просмотреть весь процесс идентификации запроса на обслуживание, т.е. выяснить, какой из передатчиков выдал сигнал и каков его байт состояния.
При работе с ЛКП, которая работает в асинхронном режиме, удобны АВД, которые также работают в асинхронном режиме и позволяют поэтому контролировать весь процесс синхронизации.
Проверка аналого-цифровых преобразователей (ацп).
В качестве тактового импульса используется задний фронт стробирующего сигнала (флага). При проверке АЦП возникают трудности с выбором запускающего слова, так как и входное напряжение, и выходной код имеют некоторый допуск. Поэтому в качестве запускающего слова устанавливают ожидаемый код Для поданного на вход напряжения и за пускают анализатор в любом режиме ("начало", "сдвиг" или "конец"). Наиболее удобен режим "сдвиг", так как он позволяет просмотреть информацию до и после ожидаемого кода.
Если правильный код присутствует на выходе АЦП, то на индикаторе зафиксируются данные, проанализировав которые можно подсчитать допуск по линейности. Если данные на экране не фиксируются, то это говорит об отсутствии правильного кода. В этом случае следует последовательно убирать запуск с самого младшего разряда и повторять измерения. Таким образом можно выявить неправильно работающий разряд АЦП и определить допуски по линейности.
Полную проверку АЦП можно осуществить, используя режим графической индикации. Для этого необходимо подключить выход АЦП к анализатору в следующем порядке. Выходы разбивают на две, желательно одинаковые группы. Например, 8-разрядный АЦП разбивают на группы по четыре. Младшие разряды подключают к каналам 1—6, а старшие — к каналам 8—14. При подаче на вход монотонно изменяющегося напряжения любой формы на индикаторе будет изображение квадрата или прямоугольника, равномерно заполненного точками. Если некоторые точки или ряд точек отсутствуют, то это говорит о том, что АЦП пропускает некоторые коды.