
- •Вступление
- •Основные задачи технической диагностики
- •Системы диагноза технического состояния
- •Диагностические системы управления
- •Объекты диагноза
- •Математические модели объектов диагноза
- •Функциональные схемы систем тестового и функционального диагноза
- •Методы и технические средства диагностирования элементов и устройств вычислительной техники и систем управления Общие сведения
- •Тестовое тестирование узлов, блоков и устройств.
- •Структуры автоматизированных систем.
- •Программное обеспечение процессов диагностирования.
- •Логические анализаторы.
- •Микропроцессорные анализаторы (ма).
- •Способы запуска.
- •Подключающие устройства.
- •Ввод начальных данных.
- •Проверка отдельных триггеров.
- •Проверка содержимого постоянных запоминающих устройств (пзу).
- •Проверка оперативных запоминающих устройств (озу).
- •Проверка работы линии коллективного пользования (лкп).
- •Проверка аналого-цифровых преобразователей (ацп).
- •Проверка печатных плат.
- •Проверка микропроцессорной системы.
- •Сигнатурные анализаторы
- •Процесс формирования сигнатур.
- •Аппаратурная реализация сигнатурного анализатора.
- •Тестовое диагностирование устройств в составе эвм.
- •Диагностирование оборудования процессоров.
- •Способы диагностирования периферийных устройств.
- •Диагностирование упу/пу с помощью процессора.
- •Проверки упу/пу с помощью диагностических приказов.
- •Диагностирование упу/пу с помощью тестеров.
- •Способы тестирования зу.
- •Принципы построения стандартных проверяющих тестов полупроводниковых зу.
- •Аппаратурные средства функционального диагностирования узлов и блоков. Основные принципы построения.
- •Кодовые методы контроля.
- •Контроль передач информации.
- •Контроль по запрещенным комбинациям.
- •Самопроверяемые схемы контроля.
- •Контроль по модулю
- •Организация аппаратурного контроля озу.
- •Организация аппаратурного контроля внешних зу.
- •Средства функционального диагностирования в составе эвм.
- •Контроль методом двойного или многократного счета
- •Экстраполяционная проверка
- •Контроль по методу усеченного алгоритма (алгоритмический контроль).
- •Способ подстановки.
- •Проверка предельных значений или метод "вилок".
- •Проверка с помощью дополнительных связей.
- •Метод избыточных переменных
- •Контроль методом обратного счета.
- •Метод избыточных цифр.
- •Метод контрольного суммирования.
- •Контроль методом счета записи.
- •Контроль по меткам
- •Метод обратной связи
- •Метод проверки наличия формальных признаков (синтаксический метод, метод шаблонов).
- •Метод проверки запрещенных комбинаций.
- •Метод an-кодов
- •Методы на основе циклических кодов и кодов Хэмминга и др.
- •Структурные методы обеспечения контролепригодности дискретных устройств.
- •Введение контрольных точек.
- •Размножение контактов.
- •Использование блокирующей логики.
- •Применение параллельных зависимых проверок
- •Замена одним элементом состояний группы элементов памяти.
- •Методы улучшения тестируемой бис. Сокращение числа тестовых входов.
- •Двухуровневое сканирование.
- •Микропроцессорные встроенные средства самотестирования.
- •Контроль и диагностирование эвм Характеристики систем диагностирования
- •Системы контроля в современных эвм
- •Применение аналоговых сигнатурных анализаторов
- •Работа локализатора неисправностей pfl780 в режиме "Pin by Pin"
- •Работа в режиме Pin by Pin
- •Работа с торцевыми разъемами
- •Среда тестирования
- •Индивидуальное тестирование или режим Pin by Pin?
- •Тестирование специальных устройств
- •Устранение ложных отказов путем использования эталонных сигнатур компонентов от разных производителей
- •Тестирование цифровых компонентов методом asa
- •Вариации сигнатур.
- •Входные цепи защиты
- •Набор альтернативных сигнатур
- •Тестирование подключенных к общей шине компонентов путем их изоляции специальными блокирующими напряжениями.
- •Системы с шинной архитектурой
- •Устройства с тремя логическими состояниями
- •Разрешение работы и блокирование компонентов
- •Применение "блокирующих" напряжений
- •Отключение тактовых импульсов.
- •Отключение шинных буферов.
- •Опция Loop until Pass
- •Локализация дефектных компонентов в системах с шинной архитектурой без их удаления из испытываемой цепи
- •Поиск неисправностей методами asa и ict в системах с шинной архитектурой
- •Сравнение шинных сигнатур
- •Шинные сигнатуры
- •Изоляция устройств.
- •Локализация коротких замыканий шины и неисправностей нагрузки прибором toneohm 950 в режиме расширенного обнаружения неисправностей шины
- •Типы шинных неисправностей
- •Короткие замыкания с низким сопротивлением
- •Измерение протекающего через дорожку тока.
- •Измерение напряжения на дорожке печатной платы
- •Обнаружение кз и чрезмерных токов нагрузки в труднодоступных для тестирования местах
- •Короткие замыкания на платах
- •Обнаружение сложных неисправностей тестируемой платы путем сравнения импедансных характеристик в режиме asa
- •Импедансные сигнатуры
- •Локализация неисправностей методом Аналогового сигнатурного анализа
- •Методы сравнения
- •Основы jtag Boundary Scan архитектуры
- •АрхитектураBoundaryScan
- •Обязательные инструкции
- •Как происходитBoundaryScanтест
- •Простой тест на уровне платы
- •Граф состояний тар – контроллера
- •Мониторинг сети Управление сетью
- •Предупреждение проблем с помощью планирования
- •Утилиты мониторинга сети
- •Специальные средства диагностики сети
- •Источники информации по поддержке сети
- •Искусство диагностики локальных сетей
- •Организация процесса диагностики сети
- •Методика упреждающей диагностики сети
- •Диагностика локальных сетей и Интернет Диагностика локальных сетей
- •Ifconfig le0
- •Сетевая диагностика с применением протокола snmp
- •Диагностика на базеIcmp
- •Применение 6-го режима сетевого адаптера для целей диагностики
- •Причины циклов пакетов и осцилляции маршрутов
- •Конфигурирование сетевых систем
- •Методы тестирования оптических кабелей для локальных сетей.
- •Многомодовый в сравнении с одномодовым
- •Нахождение разрывов
- •Измерение потери мощности
- •Использование тестовOtdRдля одномодовых приложений
- •Источники
- •Словарь терминов а
Размножение контактов.
Для более полного использования имеющихся штырьковИС целесообразно применятьдемультиплексор на входе, мультиплексор — на выходе.В режиме контроля тестовый вход подсоединяется не к обычным элементам схемы, а к испытываемым узлам с помощью демультиплексора. Мультиплексор обеспечивает наблюдаемость внутреннего состояния схемы на ее выходных штырьках.
Кроме того, выходы испытываемых узлов могут просто подключаться к древовидной схеме контроля по четности, выход которой делается наблюдаемым на выходном контакте.Недостатокданного метода связан с возможностью появлениязадержек сигналов.
Использование блокирующей логики.
Блокирующие
вентили используют для разрыва обратных
связей (ОС), особенно
при гонках, для разделения расходящихся
путей и для блокировки триггеров.Обратные связи, как известно, затрудняют
построение
тестов.Их разрыв превращает схему
в достаточно простую с точки зрения
построения для нее тестовых наборов.
Разрыв обратных связей, например, для
схемы, изображенной на рис.
22,а, выполняется физически путем
вывода ее на контакты разъема и исключения
перемычек (рис. 22,в) или
логически с использованием вентиля
(рис. 22,б).
Проблемой при тестировании последовательных схем является установка их в определенное состояние.Реализация осуществляется путем установки в нуль от тестера схемы типа триггера. На рис 22,гпоказана исходная схема. Установка в нуль триггера осуществляется через вентиль И (рис. 22,д),для установки в нуль используетсяRС-цепь (рис.22,е).
Этот
метод требует дополнительных входов,
выходов и модулей, поэтому применение
его оправдано в том случае,
если другие методы проверки
неэффективны.
На практике обычно трудно проверить схему с генератором колебаний из-за невозможности синхронизации с тестером. Блокирующая логика, синхронизируемая от тестера, позволяет выполнить синхронное тестирование всей логической схемы на плате (рис. 23,а).
Наличие магистральной структуры в некоторых микропроцессорах (МП) позволяет без дополнительных затрат разделять и комбинировать части схемы с целью упрощения контроля.
Применение
перемычек дает возможность тестовому
генератору непосредственно управлять
испытываемым устройством и наблюдать
за ним. Применение соединительных
перемычек оправдано в особо ответственных
случаях, например, частовозникает
необходимость согласовать частоту
генератора с частотой работы тестируемого
устройства или просто обеспечить внешнюю
(от тестера) синхронизацию. На рис.
23,a соединение
генератора и логики, на которую он
работает, осуществляется с помощью двух
контактов разъема, на рис.
23,б,в — спомощью одного контакта разъема в
совокупности с блокирующими вентилями.Перемычки позволяют отключать или
включать генератор в опредёленные
моменты времени и фиксировать приход
определенного сигнала.Этот способ
дает возможность
свободно изменять частоту синхронизации,
что облегчает проведение процедур
локализации.
Применение параллельных зависимых проверок
Заключается
в том, что предварительнов структуре
последовательной схемы находятся
цепочки последовательно связанных
элементов памяти.Цепочки разъединяются
с помощью блокирующих вентилей, а для
равенства задержек сигналов к отдельным
цепочкам затем добавляются избыточные
элементы памяти.Для преобразованной
таким образом структурной схемы применяютспособы проверки, разработанные для
счетчиков:
введение параллельного входа в счетчик, например, при котором 16-битовый счетчик устанавливается в определенное состояние с помощью 4входов вместо16,что обеспечивает установку определенных комбинаций (рис. 24,а);
применение связей между группами элементов счетчика(рис. 24,б).
Рассматриваемые способы зависят от уровня локализации неисправностей. При этом следует обеспечить параллельную подачу входных сигналов на все цепочки и их параллельный анализ. Такой способ эффективен для одновременной проверки нескольких микропроцессоров, так как позволяет сократить время проверки и обеспечить ее полноту.