Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Пузырев В.А. Тонкие ферромагнитные пленки в радиотехнических цепях

.pdf
Скачиваний:
5
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
6.97 Mб
Скачать

Это соответствует емкостной расстройке, т. е. Х011 =

=l/vC B 1 1 .

С учетом того, что Свн > CQ, уравнение для доброт ­

ности

измерительного контура

б у д е т

 

 

 

 

Г)

п

V 1 +

(0.5^лг/^рд)

 

/1 с п \

 

 

У з - У в л

1 + ( Г и н / Г в л )

'

( L 5 y >

где

гал

— сопротивление потерь

в измерительной

обмотке,

QB J I

=

VLBalCQ,irV!l

— добротность резонансного

контура

без

пленки.

 

 

 

 

 

 

Выражая дифференциальные

индуктивные параметры

через смещающие поля, воздействующие на пленку,

уравнение

(1.59) для Л т < 1

приводим

к виду

 

 

V

1 +

^вл

1 - й !

 

 

QBJI

\-П

I i

(1.59а)

 

 

 

 

 

1 +

 

 

 

для Д т >

1:

 

 

^•нл

1

Овл

 

 

(1.596)

 

 

 

 

1

 

 

1

4-

 

( Л , - 1 ) '

 

 

 

 

 

Таким образом, определяя при помощи измерителя добротности r D „ , можно рассчитать С?т . Резонансная частота измерительного контура определяется соотно­ шением

К = V , / V1 + ( 0 , 5 Х Л 2 / £ В Л ) ,

51

г де

vB J I = ( C Q Z B J - 1 / 2 — резонансная

частота

измеритель­

ного контура без пленки.

 

 

 

 

На рис. 1.22 приведена

теоретическая

зависимость

QS/QBSI

от 7 для идеальной

модели

пленки

и

аналогич­

ные экспериментально снятые зависимости д л я

двух раз -

О

 

1

'2,0

 

 

3,0

h

 

 

 

 

 

Р и' с .

1.22

'

т

 

личных

пленок. Д л я

измерения

Gr

может

быть

использо­

вана та

ж е

методика, что и для

измерения

дифферен-

Т а б л и ц а

1.1

ных параметров [23] . Результаты

измерений

Gr

(проводимых

с

Номер

 

 

 

с длинной линией)

д л я

различных

 

G _ ,

мСм

пленок

при

Лт =

0,6

приведены

пленки

 

 

т

 

в табл .

1.1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

1,08

Д л я

повышения точности

из­

 

мерений, проводимых с использо­

2

 

2,213

 

ванием

Q-метра,

измерение

на­

3

 

1,08

4

 

7,9

 

пряжений осуществлялось при по­

мощи выносных вольтметров [23],

1.9.2. Случай высоких частот

В радиотехнических устройствах на основе Т Ф П , работающих в диапазоне С В Ч , как правило, в качестве внешних цепей используются полосковые линии. Это обусловлено технологичностью последних.

52

В процессе изготовления прибора и пленки и полосковые линии могут быть изготовлены за единый технологи­

ческий цикл. Поэтому в качестве внешних

измерительных

цепей

т а к ж е целесообразно использовать

полосковые ли­

нии.

Д л я измерения параметров эквивалентной схемы

пленка может быть помещена или в конец короткозамк-

нутой полосковой линии, или в середину

согласованной

полосковой линии. Н и ж е оба возможных

варианта раз ­

мещения пленки будут рассмотрены раздельно.

При измерении параметров эквивалентной схемы на высоких частотах используется Ф М Р пленок. Резонанс ­ ные колебания намагниченности в пленке легче возбу­ дить при приложении к ней ортогонально направленных постояниосмещающего и переменного полей. При этом постоянное поле направлено вдоль трудного (поперечный резонанс) или вдоль легкого (продольный резонанс) на­ правления пленки.

П о д а ч а постояниосмещающего

поля

вдоль

легкого

или

вдоль

трудного

направления

приводит к тому

(при

соответствующей величине п о л я ) ,

что коэффициенты

тл

или

т т в

уравнении

(1.21) имеют

максимальное

значе­

ние,

равное

единице,

что соответствует

максимальному

моменту между внешним высокочастотным полем и на­

магниченностью

пленки. Д л я получения тл,

равного

еди­

нице, требуются

поля большие,

чем д л я получения

т т ,

т а к ж е

равного единице. Следовательно, проще (энерге­

тически

выгодней) проводить исследования с использо­

ванием

продольного

резонанса.

 

 

 

 

При

продольном

резонансе схема замещения

пленки

имеет

вид,

приведенный на рис. 1.7, а. Связь

пленки

с полосковой

линией

(без учета

воздушной

индуктивно­

сти участка

линии, под которым

помещена

пленка)

мо­

ж е т быть представлена эквивалентными схемами: для случая включения пленки в виде оконечной нагрузки —

рис.

1.23, а и в виде

неоднородной

нагрузки

в

согласо­

ванной полосковой

линии — рис. 1.23,6. Так

к а к

измере­

ния

проводятся

при

амплитудах

переменных

полей,

в значительной

степени

меньших

постоянносмещающих

полей, вносимое в полосковые линии для обоих случаев включения пленки сопротивление может быть представ­ лено' в виде 2 в н = # в п + Д в н -

Активная и реактивная срставляющие вносимого пленкой комплексного сопротивления определяются следующими соотношениями:

53

^

Нагнитосвязан -

j

 

 

 

 

 

мая пленка

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р и с . 1.23

 

 

 

 

 

 

От

((0=

 

2 ..4

 

 

(1.60)

 

 

 

 

 

 

 

 

V ^ T K

 

 

 

 

 

(1.61)

где си2 = со2 /"- ' — частота

ферромагнитного

резонанса;

шк — резонансная

частота

ТФП при

отсутствии

внешних

смещаюших полей. Д л я продольного

резонанса Е'==1 + кЯу

Z T 2 / Z . T I =

' ? ? Т = 1 . В рассматриваемом случае поле

смещения

совпадает с направлением

намагниченности пленки,

поэто­

му берется только знак плюс.

 

 

 

 

Зависимость

активной

составляющей Rnn

носит

резо­

нансный

характер и

представляет

собой

зависимость

активного сопротивления параллельного контура от ча­

стоты. Н а

резонансной

частоте Хт =

0, а / ? В и =

1/GT.

Теперь

перейдем к

рассмотрению

методов

определе ­

ния параметров эквивалентной схемы пленки при различ ­ ных ее включениях. Схема замещения пленки, помещен ­ ной в конец короткозамкнутой полосковой линии, пред­ ставляет собой резонатор. Это обстоятельство позволяет д л я измерений параметров эквивалентной схемы исполь­ зовать методы, которые применяются в радиотехнике д л я измерения параметров двухполюсников [24]. Рассматри ­ ваемый способ размещения пленки в полосковой л и н и и может быть использован для измерения параметров эквивалентной схемы пленки, таких, как добротность, проводимость, емкость и т. д.

54

Один из весьма распространенных способов измере­ ния добротности по методу двухполюсника основывается на измерении зависимости к. с. в. в линии, на конце кото­ рой находится резонатор, от тока смещения. Схема из­ мерительной установки изображена на рис- 1.24, а.

ФиксированИзмерительИсследуемая ный пая пленка

ослабитель линия

18

П

16

15

300 J ,мА

Зависимость

к. с. в. в

линии

от тока смещения

в ка­

тушках

Гельмгольца,

в ы т е к а ю щ а я

из

круговой

диа­

граммы

полных

проводимостей,

 

представлена

на

рис. 1.24,6. Н а и м е н ь ш а я величина

к. с в . ,

обозначенная

через

ро, соответствует

току

£ / ш

р и

равна

либо

G,

либо

1/G,

где

G — активная

проводимость

резонатора

(схемы

з а м е щ е н и я ) ,

в ы р а ж е н н а я

в

относительных

единицах

55

в месте

расположения пленки. Д л я разрешения

неопре­

деленности

межд у

случаями

G = р 0

и G =

10

исполь­

зуется сдвиг фаз ы стоячей волны. Величина

ненагружен -

ной

добротности

определяется

из

соотношения

[24]

Q = (A0/2G) (dB/dX)

| л=Ла.

где В — реактивная

 

прово­

димость

рассматриваемого

резонатора,

в ы р а ж е н н а я

в относительных единицах

и

измеренная по

отношению

к той ж е плоскости

отсчета,

по

отношению

к

которой

определяется активная проводимость G. Величина

В яв ­

ляется компонентой соотношения \/ZBH=G-\-jB

 

 

и при

параллельно

смещающе м поле имеет вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

£ = соСт (1

- O J 2 / V 2

) .

 

 

 

(1.62)

Отсюда

видно, что схема замещения пленки,

приведенная

к входным клеммам, будет представлять собой

 

п а р а л ­

лельное соединение проводимости GT , емкости

С т

и ин­

дуктивности

Ь д т .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Величины Яо и G могут

быть непосредственно

опреде­

лены с

помощью

экспериментально

снятых

графиков

к. с . в . = / ( # с м )

и /.щп = ф( J с м ) ,

где / т щ — р а с с т о я н и е от

выбранной плоскости отсчета до одного из

б л и ж а й ш и х

минимумов

напряжения ;

J C M

— ток в катушках

Гельм -

гольца,

создающий

постоянносмещающее

поле.

 

 

 

Д л я

вычисления

значений

Q необходимо

знать

допол ­

нительную величину

dB/dk

или, в силу линейности

зави ­

симости

В = В (Я)

вблизи

разонанса,

величину | В | / | Д Х | .

С

этой

целью

на

графике к. с. в . = /(

JCM)

определяется

значение к. с. в., не

равное

резонансному,

но

близкое

к нему. Проводятся

на круговой д и а г р а м м е

окружности

р =

const и

G =

const. Точки

пересечения

этих

о к р у ж ­

ностей

определяют

абсолютную

величину

 

реактивной

проводимости

| В |

при

данной

расстройке

|Д?.| =

=

— Ао|. После этого величина

ненагруженной

доброт­

ности определяется

из уравнения

 

 

 

 

 

 

 

Д л я

определения

емкости

эквивалентной

схемы маг-

нитосвязанной пленки

воспользуемся выражением (1.62).

Если

частота

вынужденных

колебаний

v

лишь

незна­

чительно

отличается

от

резонансной

частоты

ш, то>

5vxa =

2 С Т (v — со), откуд а

величина емкости

 

 

Сг

=

0,5 (dBldv)^

=

0,51 В\ 11 v -

ш ] .

(1.64)

Таким образом, емкость С т равна скорости изменения реактивной проводимости контура вблизи его резонанс-

56

ной частоты. Поскольку измерение реактивной проводи­ мости на С В Ч производится достаточно просто, пред­ ставляется вполне оправданным введение в ы р а ж е н и я

(1.64). Погрешность измерения

С т изложенным способом

не превышает

20%.

 

Блок-схема

измерительной

установки (рис. 1.24, а)

состоит из генератора, измерительной линии и отрезка полосковой линии, в которую вставляется пленка. Поле смещения создается при помощи системы катушек Гельмгольца. Сигнал с детектора измерительной линии подается на микроамперметр . Несимметричная полоско-

вая линия

выполнена печатным способом на фольгиро-

ванном

стеклотекстолите.

Ширина шины 0,5 мм.

З а з о р

м е ж д у верхней шиной и земляной платой равняется

при­

мерно

0,5

мм. Измерения проводятся на частоте 1 ГГц.

Из

рис.

1.24, в

видно,

что

при

минимальной

вели­

чине

к.

с.

в. (G =

р0 ) кривая

Д / т , - „ ,

характеризующая

реактивную проводимость, пересекается с прямой, про­

веденной

на

уровне

&l„lin

к з (условный

конец

полосковой

линии, определяемый при ее коротком

замыкании).

Ток

смещения

J C M

(или

поле

л),

при

котором

к. с. в.

рав­

няется

р0 ,

a

Mmln

= U m i n

к з

будет резонансным

J C M

=

= t7C M

р е з

или, что

то ж е

самое,

л =

л р е з .

Д л я

 

опре­

деления

{йВ1йЦ\~х0

устанавливается

резонансное

 

поле

смещения

кл

р е з и

изменяется

частота.

При

этом

 

заме­

ряются значения к. с. в. и Х0 . Используя

круговые

диаграммы

 

проводимости,

определяем

значение

 

\В\

в относительных единицах при данной

расстройке

 

| ^ = ^ 0 1 -

Величина

G определяется

с учетом

того,-что в

корот-

козамкнутой согласованной полоске без образца коэффи ­ циент отражения Г не равняется единице. З а счет несо­ вершенства конструкции происходит поглощение высоко­

частотной

энергии в

переходах,

соединительных ф и ш к а х

и других

элементах.

Так как

поглощение энергии за

счет несовершенства конструкции отдельных узлов неве­ лико и взаимодействием между ними можно пренебречь, то ошибку при измерении к. с. в. за счет поглощения в от­ дельных конструкциях можно учесть простым суммиро­ ванием частичных эффектов .

Таким образом, схема с пленкой, помещенной в конец короткозамкнутой полосковой линии с волновым сопро­ тивлением W, позволяет определять такие параметры эк­ вивалентной схемы, как С т , С?т, Q и со. Кроме того, з н а я

57

резонансную частоту со и величину

смещающего

поля

Л-лрсз. соответствующего

резонансной

частоте со,

м о ж н о

определить

сок. Пр и

известных со,; и С т не

представляет

труда найти

начальную

индуктивность

L T K

п, наконец, по

известной

величине

частоты сок и поля

анизотропии Нк

оценить

величину

намагниченности

насыщения

пленки

Ms. Результаты измерений основных

параметров

схемы

замещения

пленок приведены в табл .

1. 2.

 

 

Номер пленки

1

О

3

4

о

Толщинапод­ ложки,мм

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

1.2

о < ,

 

 

о

и

* - ^

н а:

 

 

I s

 

 

 

 

со"

Т

Q

 

 

б

и

с

1

о

 

 

 

О и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,32

6000

185

0,0784

0,352

196

37-10

3,64

7,5

0,32

6000

208

0,12

0,266

985

3740

0,725

28,4

0,35

8000

128

0,072

0,287

142

2700

9,65

5,3

0,35

2000

240

0,26

0,233

136

3140

7,67

15,8

0,30

2000

280

0,04

0,246

192

3240

5,05

4,3

При включении участка полосковой линии с пленкой в виде неоднородности его можно рассматривать как эле­

мент, который

вносит в линию некоторую, зависящую от

 

 

 

 

 

частоты

 

неоднородность

1 Ri*

 

хв. 1

 

 

(рис. 1.25). Ка к у ж е отмеча-

 

pL

 

лось выше, активная и реак-

 

 

 

R=W\

 

тивная составляющие

вноси-

 

 

 

 

т

мого пленкой

комплексного

0

 

 

1

 

сопротивления

в этом

слу­

 

 

 

 

 

чае т а к ж е

определяются вы-

Р

и е - 1

, 2 5

 

 

р а ж е н и я м и

(1.61), (1.62).

 

 

 

 

 

Частотная

зависимость

мощности

поглощаемой

 

Т Ф П будет определяться

зави ­

симостью

величины

R-aw от частоты. Пр и подаче высоко­

частотной

мощности в

 

такую линию часть ее будет

о т р а ж а т ь с я , о с т а в ш а я с я

часть будет распределяться меж ­

ду следующими составляющими суммарной мощности: мощностью потерь в линии, мощностью, рассеиваемой на нагрузке RH = W, мощностью потерь в стеклянной под­ ложке, на которую напылена пленка, и, наконец, мощ ­ ностью, поглощаемой ТФП .

58

 

П ри

небольших расстройках от частоты Ф М Р

можно

получить уравнение

для определения

добротности:

 

 

 

PjPH

=

K(l-\p\*)~(l+d),

 

 

(1.65)

где

К =

Ядад/Рц коэффициент

передачи линии;

\р\

модуль

коэффициента отражения; Рпая

— мощность

па­

д а ю щ е й

волны;

Рпл

мощность,

поглощаемая пленкой;

Ри

мощность, рассеиваемая на

сопротивлении

нагруз­

ки. Величина d учитывает потери в линии и стеклянной

подложке, на которую напылена ТФП, для

определенной

частоты

Ф М Р .

 

 

 

 

 

Коаксиальный

Катушки

Кааксиальнь>с

 

разъем .

"^^ Гельмеольиа ~~~~~~

/

разъемь!

 

Выносная

Полосновая линии

Выносная

[-L

 

 

головка

Согласо­

головка

 

 

 

 

 

 

дпя измере -

ванная

Эля измере­

 

 

ни я

затуха­

\нагрузка

ния КСВ

Измеряемый

 

ния в

линии

 

 

 

 

 

 

 

 

 

образеи ТФП

 

 

 

 

А втомагпи чес •

 

Стаби ли зирован-

кий

измеритель

мЮ<*

 

ный источник

 

КСВ

 

 

питания

 

 

 

Р и с . 1.26

 

 

 

 

Таким образом, на основании измерений коэффициен­ та передачи К и коэффициента отражения \р\ линии, при небольших расстройках относительно частоты Ф М Р , можно рассчитать и построить резонансную кривую по­ глощения высокочастотной энергии тонкой ферромагнит­ ной пленкой. Значение Q определяется по ширине резо­ нансной кривой на уровне 0,5 от максимального .

Блок-схема установки для измерения добротности Q

пленки

по

вышеизложенной

методике

приведена

на

рис. 1.

26.

Она

состоит

из автоматического

измерителя

к. с. в., позволяющего измерять

коэффициент

стоячей

вол­

ны и коэффициент передачи в линии К

в диапазоне

ча­

стот от

900

до

1500 М Г ц , системы катушек

Гельмгольца

и отрезка

полосковой

линии,

снабженного

переходами

ккоаксиальной линии.

Дл я определения добротности пленки снимается за­ висимость к . с . в . и коэффициента передачи линии от ча­ стоты или, что то ж е самое, от величины напряженности

59

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ