Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Пузырев В.А. Тонкие ферромагнитные пленки в радиотехнических цепях

.pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
6.97 Mб
Скачать

скольку

затухание

ключа

определяется

в

 

соответствии

с (2.76)

активной

частью

вносимого

сопротивления,

то

з а д а ч а

учета влияния неодиородностей

на

основные, па­

 

 

 

р а м е т р ы

ключа

сводит­

 

 

 

ся к определению

з а в и ­

 

 

 

симости от

п а р а м е т р о в

 

 

 

неодиородностей

 

мни­

 

 

 

мой

части

восприимчи­

 

 

 

вости.

П л е н к а

при

за­

 

 

 

крытом

состоянии

клю ­

 

 

 

ча находится

в

р е ж и м е

 

 

 

ферромагнитного

резо­

 

 

 

нанса,

отсюда

в ы р а ж е ­

 

 

 

ние

дл я активного

вно­

 

 

 

симого

 

сопротивления

 

 

 

[компонента

 

полного

 

 

 

сопротивления

(1.49)]

 

 

 

запишется

в

виде

[22]

Р и с . 2.34

 

4яХэф

Y~

Vev''2[l

- Ф ( K ) ] j ,

(2.77)

 

 

 

 

 

где

V = 4тссоХэ ф /а)2 сд ;

с д среднеквадратическое

о т к л о ­

нение относительной

величины поля

анизотропии;

Ф (V) =

 

v

 

 

 

 

=

— ^ e-l,l2dt — интеграл

вероятности; L — и н д у к т и в -

''" о

ный параметр (1.49).

У б ы в а ю щ а я

функция

от

1/V в

фигурных

скобках,,

р а в н а я

1 при

1 / V = 0 , т.

е. при а д

= 0 , показывает, во

сколько

раз уменьшается

вносимое

пленкой

сопротивле­

ние при наличии разброса

поля анизотропии

по величине-

и при ЛЭф = const. При V >

1, т. е. когда

ширина

по ­

лосы на высоких частотах обусловлена в основном

внут­

ренней релаксацией и влиянием мелкомасштабных

н е о д ­

иородностей, значение множителя

в фигурных

скобках.

120

б л и з ко

к 1 и вносимое сопротивление в закрытом

состоя­

нии

ключа

обратно

пропорционально

ЯЭф

на

частоте

ферромагнитного

резонанса.

Д л я

открытого

состояния

к л ю ч а

в а ж н а зависимость

ослабления

от

с м е щ а ю щ е г о

тюля. Вносимое при этом сопротивление

т а к ж е носит

ак­

тивный

характер, так как для высокодобротного резо­

н а т о р а

вносимое

 

пленкой

 

реактивное

сопротивление

много

меньше его волнового сопротивления рф

[22]

и

имеет

вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

п ( о т к р )

,

 

U 0-2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

А ВЦ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

U

и V

определяются

формулой

 

 

 

 

 

 

z

^

v

+ j

u

~

^

+

 

J

l

h ± '

т

-

\ ,

(2.79)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

°°

 

—/ dt

 

 

 

 

 

— так

называемые

профили

Войта

[22].

 

 

 

 

 

 

Зависимость вносимого

сопротивления

от

поля

опреде ­

ляется

в

основном

суммарной

дисперсией

 

отклонения

намагниченности

от

равновесного

 

положения,

поскольку

зависимость от поля функции Н (V/V2,

UlV2)

более

слабая

и

не

монотонная. Как

правило, макродисперсия

о2

много больше микродисперсии о2 и зависимость её от смещающего поля более резкая — обратно пропорцио­ нальна квадрату поля, в то время как а2 уменьшается

обратно пропорционально

полю в

степени, меньшей еди­

ницы [22].

 

 

 

 

 

 

Экспериментальное исследование влияния неоднород­

ностей пленки на параметры резонансного СВЧ

ключа

проводилось в гигагерцовом диапазоне частот

на

пленках

я з

пермаллоя. По

результатам

измерения

затухания

в

закрытом состоянии

на

рис. 2.35

нанесены

эксперимен­

тальные точки зависимости относительного вносимого •сопротивления / ? в н - р / р ф от эффективной постоянной за­ тухания Х э ф .

121

И з результатов измерений макронеоднородностей и высокочастотной восприимчивости [22] следует, что

Д Я »

Од Я к

на частотах в

районе

1 ГГц, т.

е. V > 1.

При

этом

функция в

фигурных

скобках

в

выражени и

(2.77)

близка к единице и ее можно не учитывать.

Фор ­

мула

(2.77) дает в этом случает

обратно

пропорцио­

нальную

зависимость

от

ЯЭф, которая

построена

на

рис. 2.35

(сплошная л и н и я ) .

 

 

 

 

 

Полученные результаты показывают, что на затуха ­ ние ключа в закрытом состоянии довольно сильное вли­ яние оказывают микронеоднородности, уменьша я зату­

хание

на 6—10

д Б

по сравнению

с однородной

пленкой.

Ослабление ключа

в

открытом

состоянии

определяется

главным образом

крупномасштабными

неоднородностя-

R*nP

 

 

 

мн. На основании аналп -

I v

 

 

за

результатов

измерений

к

 

 

 

установлено

[22],

 

что

 

 

 

влиянием

 

неоднородно-

6

 

 

 

стей

на эффективную

по­

ч \

 

 

 

 

 

 

стоянную

затухания

 

пле­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

нок,

используемых

 

в

 

 

 

 

диапазоне

1

ГГц,

мож ­

 

 

 

 

гц но

пренебречь,

 

если

 

Р и с .

2.35

 

о д # к < 4 0 А / м .

Как

пока­

 

 

зывает практика, пока не­

 

 

 

 

обходим отбор пленок дл я

использования

их

в

радиоустройствах.

Избавиться

от

влияния угловой дисперсии полностью невозможно . На ­ личие ее приводит к необходимости подавать дл я реа­ лизации открытого состояния ключа поля в трудном

направлении

 

много

большего Я„ (в то время как по

однодоменной

теории

достаточно

Я т

=

Нк).

 

Ф о р м у л а

(2.78)

показывает, что вносимое

в открытом

состоянии

ключа

сопротивление

зависит от

относительного поля

( Я / Я к — 1 ) ,

поэтому

для

уменьшения

влияния

угловой

дисперсии необходимо брать пленки с меньшим

Я к .

Рассмотрим

зависимость

коэффициента

о т р а ж е н и я

в открытом

и

з а к р ы т о м

состояниях

от

характеристик

внешней цепи и вносимого

от пленки

сопротивления.

Коэффициент отражения Г ключа можно определить, ис­ пользуя известное в ы р а ж е н и е дл я коэффициента отра ­ жения четырехполюсника, нагруженного на согласован ­ ное сопротивление [37]:

Т = Т21п.

(2.80)

122

П ри выполнении условия Cj = С2 = С будем иметь

T 2 i = - ц - l z i ( z i + z * ) ~ ? г 1 - Z 2 +

+ z1(zlzt-z1-za)].

(2.81)

После соответствующих преобразований выражение д л я

модуля

коэффициента отражения может быть представ ­

л е н о в

форме

1 г

I -

\

[ r

+ 2CYr?

+

«>4L-

 

1

1

1

[/• +

2р — (2£Ср +

C"2 pV)]2 +

 

 

 

 

- 2 Р а С + ш ^ С у ] г

, 9 R „ .

 

 

со2

[L +

2Срг Н- 2 Р

2 С — ^Z . C 2 p 2 ] 2 "

^ . о ^

*

5

П

16

20 р ом

Ри с . 2.36

Воткрытом состоянии ключа после подстановки урав­ нения для рабочей частоты

a»2 =

( 2 / Z C ) - ( l / p 2 C 2 )

 

в выражении (2.82) получаем

 

| Г 0

| = р С г / ( 1 + С Р г ) .

(2.83)

Уравнение для модуля коэффициента отражения в за­

крытом

состоянии | Г 3 ]

можно

получить

из

уравнения

•(2.83),

подставив

вместо

г, г

=

г„ -f- /?в н .

 

 

На

рис. 2.36

показаны

зависимости

| Г 0 |

от

сопротив­

л е н и я

потерь в

индуктивном

отрезке

фильтра

внешней

123

цепи и от волнового сопротивления (кривые I и I I соот­ ветственно).

На этом ж е рисунке приведена зависимость коэффи ­ циента отражения дл я ключа в закрытом состоянии от

волнового сопротивления

фильтра (кривая I I I ) . И з ри­

сунка видно, что при р,р >

8 Ом коэффициент о т р а ж е н и я

в открытом состоянии незначителен, и поэтому не тре ­ буются дополнительные согласующие элементы на входе

ключа. В закрытом состоянии

коэффициент

отражения

возрастает при уменьшении

волнового

сопротивления

фильтра

р ф . Ка к это следует из уравнения

(2.83), коэф­

фициент

отражения закрытого

ключа сильно

зависит от

Р и с . 2.37

величины вносимого сопротивления. Теоретическая и экс­

периментальная зависимости

коэффициента

отражения

закрытого ключа от вносимого сопротивления

п о к а з а н ы

на рис. 2.37.

 

 

 

 

 

 

 

Ф а з а

коэффициента отражения на рабочей частоте

ключа будет определяться

следующим уравнением:

 

 

cP r = a

r

c t

g

r ^ .

(2.84)

И з уравнения (2.84)

видно,

что

фаза коэффициента

от­

р а ж е н и я

в открытом

и закрытом

состояниях

ключа

д л я

рассматриваемого рабочего р е ж и м а не зависит от ствойств ТФП , а определяется п а р а м е т р а м и внешней цепи. Следовательно, стабильность фазовых характери ­ стик ключа определяется точностью изготовления эле­ ментов внешней цепи, стабильностью поля анизотропии и внешнего у п р а в л я ю щ е г о поля.

Так как ослабления в открытом и закрытом состоя­ ниях взаимосвязаны, то обычно работоспособность клю ­ чевого устройства оценивается при помощи так н а з ы в а е -

124

мого п а р а м е т р а

качества,

который в общем случае

опре ­

деляется

уравнением

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

^

/ £ з - 1

 

( 2 . 85>

 

 

 

 

У J?0

- 1

 

 

 

С учетом

уравнений

(2.75)

и

(2.76)

из (2.85)

с л е д у е т :

 

 

K

= \

+

Rwlr.

 

 

(2.86)

Таким образом,

параметр

 

качества

ключа

на

основе

тонкой ферромагнитной пленки зависит от отношения

сопротивления,

вносимого

пленкой,

к

сопротивлению

потерь во внешней цепи. Величину потерь

фильтра

мож ­

но определить

по известным

ф о р м у л а м

для потерь в по-

лосковых

линиях

[37]. И з в ы р а ж е н и я

(2.85) видно,

что

параметр

качества

ключа зависит от физических свойств

пленки

и

конструктивных

размеров

 

внешней

цепи

и пленки. К а к

п о к а з а л и

исследования,

дл я

однослойной

пленки можно получить п а р а м е т р качества,

близкий к

300. Д а л ь н е й ш е е увеличение

параметра качества м о ж н о

получить

 

только

за

счет

применения

многослойных

пленок.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Типичные значения ослабления в закрытом

состоянии

15—20 дБ , в открытом

состоянии

порядка

0,4—0,9

д Б ,

к. с. в. в

закрытом

состоянии

20—30,

а

в

открытом

1,04—1,1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Д л я

увеличения

ослабления в

з а к р ы т о м

состоянии

в полосе

пропускания

можно

воспользоваться

последо­

вательным

соединением

нескольких ключей.

Н а и б о л е е

широкое

 

распространение в

диапазоне

дециметровых

волн получило каскадное соединение ключей, располо­

женных

на

расстоянии

порядка Х/А друг от друга . К а к

показали

исследования,

каскадное

соединение позволяет

существенно

увеличить

ослабление

в закрытом состоя­

нии при меньшем росте потерь в открытом. Пр и этом оптимальное расстояние м е ж д у ключами зависит от па ­ раметров внешней цепи.

2.3.2. П л а в н ы й

ф а з о в р а щ а т е л ь

Ф а з о в р а щ а т е л ь

основан иа использовании зависи ­

мости реактивной составляющей вносимого пленкой со­ противления в полосковую линию от внешнего поля . Получена и исследована математическая модель полоскового тонкопленочного ф а з о в р а щ а т е л я , работающего

125

в гигагерцовом диапазоне частот. Выработаны основные требования к пленкам, используемым для изменения

постоянной распространения линии с

пленкой.

В настоящее время дл я изменения

постоянной рас­

пространения широко используются

ферриты. Однако

•они о б л а д а ю т рядом недостатков, которые ограничивают

их возможности. Основными

недостатками ферритов,

применяемых

для изменения постояной распространения

п е р е д а ю щ и х

трактов, являются

их большая чувствитель­

ность к изменениям температуры о к р у ж а ю щ е й среды и значительные величины полей, необходимых для управле­ ния фазой (полосковые ф а з о в р а щ а т е л и 360°/16-103 А/м — 360772-103 А/м) . Перечисленные недостатки приводят к

температурной нестабильности

ф а з о в р а щ а т е л я

и боль­

ш о м у расходованию мощности,

идущей на

управление.

Н е м а л о в а ж н о е значение при построении электрически

у п р а в л я е м ы х ф а з о в р а щ а т е л е й

имеет т а к ж е их

микро­

миниатюризация . Последние годы вопросу

микроминиа­

тюризации СВ Ч узлов

уделяется большое

внимание.

Тонкие ферромагнитные

пленки

в значительной

степени

лишены перечисленных выше недостатков, присущих ферритам . Исследование статических и динамических характеристик пленок, позволяет сделать заключение о

том, что они могут работать в широком

температурном

д и а п а з о н е (от —100 до + 1 0 0 ° С) . Т Ф П

по сравнению

•с ферритами являются более стойкими к радиационному фону. Техника изготовления пленок позволяет создавать

микроминиатюрные,

технологичные

полосковые

конст­

рукции

фазовращателей .

 

Д л я

управления пленочным

ф а з о в р а щ а т е л е м

требуются

гораздо

меньшие

мощности

при одинаковом с ферритом

быстродействии.

 

 

Д л я

оценки

возможных

параметров

тонкоплеиочного

•фазовращателя

получим

его

математическую

модель .

Фазовая постоянная в полосковой линии может

быть

•определена

как

р =

2«/Хл ,

где Хл — длина

волны

в

линии,

д л я волны

типа

ТЕ М равная Хл = Х/}/е|л;

X — длина вол­

ны в свободном пространстве, когда магнитная пленка не взаимодействует с полосковой линией, а сама линия имеет воздушное заполнение. Фазовая постоянная равна

 

Ро = 2*/Х,

 

(2.87)

т а к как в этом случае

Хл=А..

 

 

При воздействии

на

пленку

внешнего

магнитного

тюля будет изменяться

величина

магнитной

проницае-

126

мости зазора полосковой линии в месте расположения пленки, и ка к следствие этого длина волны на этом участке будет отличаться от длины волны в свободном пространстве и ф а з о в а я постоянная а этом участке из­ менится:

?! = 2фл.

 

 

(2.88)

Н а б е г ф а з ы на участке линии с пленкой

в этом

случае

равен

 

 

 

 

 

Д«Р = I (Pi -

Ро).

 

(2-89)

где / — длина участка полосковой линии,

в которой

р а с ­

полагается пленка.

 

 

 

 

 

 

 

 

4 Z D -

 

-02

•02

10-

 

 

-0Z

Р и с .

2.38

 

 

 

 

При условии /<СА, участок

полосковой

линии

с

плен­

кой может быть представлен эквивалентной схемой, при­

веденной на рис. 2.38, а,

где L 0

— распределенная

индук­

тивность

полосковой

линии,

С о р а с п р е д е л е н н а я

ем ­

кость полосковой линии, Хт1

и Rna—реактивная

и

ак­

тивная

составляющие

вносимого

в полосковую

линию

от пленки полного сопротивления,

компоненты которого

были

определены

выше.

 

 

 

 

 

 

 

Участок полосковой линии с размещенной в ней маг ­

нитной

пленкой

(включение

в виде

неоднородности)

м о ж н о рассматривать ка к П - образный

четырехполюсник

(рис.

2.38,6). М а т р и ц а

передачи

такого

четырехполюс­

ника

имеет вид [37]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 4- yZVZ

Z

 

 

 

(2.90)

 

 

 

+ y*Z

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где у =

у ш С у / 2 ;

Z = J<oL0l +

jXBil

+

RBn.

 

 

 

При соответствующем

коэффициенте

заполнения можно

принять,

что . Y B H

» c o Z 0 / ,

о т к у д а

Z =

jXBtl

+

RBil.

 

- Постоянная передачи gc рассматриваемого четырех­ полюсника соответствует постоянной распространения т/ участка полосковой линии с пленкой:

г / =

gc

= In {Уаиа22

+

Vai2a2l),

где а п , а 1 2 , . а 2 1 ,

а22

элементы

матрицы ( 2 . 9 0 ) . Раскрыв

элементы матрицы,

после несложных

преобразований вы­

ражение для постоянной передачи можно привести к виду

&l

= -£-[C-QBn

+ j +

 

+ V(QB„ -

1 - 2 Q B 1 1 C ) +

2J (С - Q B U ) ] ,

(2 . 91 )

Постоянная распространения является комплексной ве­

личиной Y =

6 + / P , где

б — постоянная затухания, а

Р ф а з о в а я

постоянная.

 

Р а з л о ж и в

по формуле

Эйлера левую часть уравнения

(2 . 91) и приравняв мнимые и действительные компо­

ненты

этого

равенства, получим в ы р а ж е н и я

дл я

компо­

нент постоянной

распространения:

 

 

 

К=

arc t g

 

/ 2

 

 

 

 

 

У

У

{Ql„-l-W™Cf+4(C-QBllY

+

(QlH-l-2QtnC)

 

 

 

 

 

 

 

( 2 . 9 2 )

 

 

 

 

 

•QB„

+

 

 

 

У ( ( ? B H - 1 ^ ( ? O H C ) 2 + 4 ( C - Q B 1 I ) = T - ( Q 2 , 1 - 1 - 2 Q L „ C )

 

1

+

 

 

 

 

 

-

l

/ ] / ( O B H - 1 ^ Q B „ C ) 2 + 4 ( C - Q ^ O M O L - 1 - 2 Q . „ C )

.-)- J/

 

 

_

 

^

 

 

 

 

 

 

 

 

(2 . 93)

В

 

начале

§

2.3 был рассмотрен вопрос влияния по­

т е р ь

на выбор

области работы с

использованием

реак-

128

тивнои составляющей полного вносимого сопротивления. Поэтому, не останавливаясь на исследовании в ы р а ж е н и я д л я постоянной затухания, перейдем к исследованию вы­ ражени я (2.92) — д л я фазовой постоянной.

Не н а р у ш а я общности, рассмотрим случай, когда высокочастотное поле полосковой линии действует вдоль

среднего трудного

направления,

а у п р а в л я ю щ е е

поле

приложено

вдоль

средней

легкой

оси

пленки.

В ы р а ж а я

43

н

о.

ч -

 

 

 

 

 

d-8-103A

\

*

 

 

 

 

 

1= 1,2 см

 

X

\

 

 

 

 

32 f - ЗООО МГц

 

 

V

 

 

 

 

16_

 

 

 

 

 

 

 

 

20

40

60

80

100

120

140

150

h

16

 

 

 

 

 

 

 

 

32

 

 

 

 

 

 

 

 

4S

b \ \

о—-о—Экспериментальная крц&ая

Р и с . 2.39

параметры QD 1 I и С через величины, характеризующие пленку и внешнюю цепь, будем иметь

 

 

QBI. = Qo

(2-94)

где ш0

— частота

Ф М Р ; Q0

— добротность пленки.

Н а

рис. 2.39

показаны

теоретически рассчитанные по

формуле (2.92) и экспериментально снятые зависимости

сдвига ф а з ы от величины смещающего поля Нл

на часто­

те я/2со = 3

ГГц. К а к следует

из уравнения

(2.92),

дл я

реализации

эффективного ф а з о в р а щ а т е л я ,

обеспечиваю­

щего

достаточный

дл я практических целей

 

сдвиг

по

фазе,

необходимо

уменьшать

величину

С

и

увеличи­

вать

QD „.

 

 

 

 

 

 

 

5

Заказ № 247

129

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ