книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов
.pdf254 Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ
определить эмпирически и использовать как «постоянную труб
ки». Сравнение уравнений (6.14) и |
(6.15) показывает, |
что в слу |
|
чае |
диффузии скорость переноса |
пропорциональна |
величине |
\/Р, |
а в случае конвекции — давлению Р. Таким образом, выска |
||
занное нами ранее утверждение о том, что при низком |
давлении |
||
перенос определяется диффузией, |
а при высоком — конвекцией, |
||
подтверждается. Действительно, измерив зависимость скорости
переноса от давления, можно установить, чем определяется |
ско |
|
рость процесса — диффузией, конвекцией |
или комбинацией |
того |
и другого. |
|
|
При выращивании из газовой фазы |
часто оказывается |
про |
блемой контроль за образованием зародышей, особенно когда нужно получить кристаллы больших размеров. Эпитаксиальные пленки обычно выращиваются без особых трудностей с регули рованием образования зародышей. Это объясняется тем, что требуемая толщина пленки невелика, скорость роста может быть небольшой и нет нужды в больших пересыщениях, при которых возможно образование зародышей не только на подложке (за травке). Когда же нужно получать кристаллы больших разме ров, скорости роста должны быть выше (чтобы получить кри сталл нужного объема достаточно быстро), требуется большее пересыщение и становятся проблемой гомогенное образование зародышей и их образование на стенках («спонтанное зародышеобразование»). Шольц и Клюков [36] показали, что при выра
щивании |
кристаллов из газовой фазы такое зародышеобразова- |
|||
ние можно сильно уменьшить путем периодического |
изменения |
|||
температуры в ходе выращивания. Допустим, пары |
переносятся |
|||
из |
зоны |
с температурой Т2 в зону с температурой |
Ти |
причем |
Г 2 |
> 7\. |
В отсутствие затравок разность AT = Г 2 — Л |
должна |
|
быть сначала достаточно большой для зарождения в объеме среды или на стенках кристаллов, на которых происходит даль нейший рост. В идеальном случае для получения кристалла наи больших размеров лучше всего, если образуется только один зародыш. Практически же число растущих зародышей должно быть невелико. При достаточно больших значениях AT, обеспе чивающих нужные на практике скорости роста, часто образуются
дополнительные зародыши. Если же в ходе |
выращивания изме |
|||
нять AT |
со |
временем |
так, что в течение |
некоторого времени |
Т\ > Г2 , |
то |
небольшие |
кристаллики будут |
снова испаряться, в |
результате чего останется несколько больших кристаллов. Если
Тг — Т\> |
Т\ — |
Т'ч, то в среднем за достаточное время пересыще |
ние будет |
все |
еще положительным и будет происходить рост. |
Среднее по времени |
пересыщение |
можно также сделать |
положи |
|
тельным даже при |
условии, что Tz — Т\ ^ |
Т\ —- Та, если |
интер |
|
вал времени, в течение которого |
Т\ > 7г, |
меньше, чем интервал |
||
0. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ |
255 |
времени, в течение которого Т2 > 7Y В статье Шольца и Крю кова [36] описывается различная аппаратура для обеспечения колебаний температуры и указываются температура и длитель ность циклов, которые приводят к значительному увеличению размеров кристалла a-FesCb, выращиваемых из газовой фазы. Такая методика, по-видимому, применима и при других спосо бах выращивания в многокомпонентных системах, особенно при выращивании из раствора в расплаве и гидротермальном выра щивании, где спонтанное образование зародышей доставляет до вольно много хлопот.
Типичные системы
1. Кристаллизация на раскаленной проволоке. Метод обрати мого процесса переноса в замкнутой системе, по-видимому, пра вильно было бы называть методом Ван-Аркеля и Де-Бура [37]. Целью их работы было получение чистых тугоплавких металлов, но их метод часто позволяет получать очень хорошие монокри сталлы. Метод иногда называют кристаллизацией на раскален ной проволоке; его схема изображена на фиг. 6.7 в применении к Zr. Реакция
450 °С |
|
Zr ( s ) + 2 I 2 ( g ) ;|==* Z r l 4 ( g ) |
(6.16) |
смещается вправо при понижении температуры. Проволоку (часто из вольфрама) нагревают до 1200 °С пропусканием тока. Чтобы предотвратить ее окисление и образование Zr02 , из си стемы нужно удалить воздух. Парциальное давление паров 12 и Zrh регулируют, контролируя температуру сосуда. За счет тепло вого излучения проволоки (а также дополнительным нагрева телем, если необходимо) исходный цирконий, которым покрыты стенки реакционного сосуда, нагревается до температуры 450 °С, при которой реакция (6.16) сдвигается вправо. При обычно ис пользуемых давлениях Zrl4 переносится за счет конвекции и диффузии к раскаленной проволоке, где реакция (6.16) смещена влево с выпадением циркония в осадок. Осадок часто поликри сталлический, но всегда чище исходного циркония, причем обыч но образуется несколько больших кристаллов. Подобный >ке про цесс Ван-Аркель и Де-Бур использовали для получения Т1. Ли тература (см., например, [35, 37—41]) по получению чистых ме таллов методом раскаленной проволоки слишком обширна, что бы приводить ее здесь, но нужно указать, что к числу металлов, получаемых таким методом, относятся W, Mo, Zr, Ni, Си, Fe, Hf, Nb, Та, Th, V, Pt, Ir, Au и U[10, 42]. Кристаллы часто получаются небольшими, но улучшение контроля, без сомнения, должно увеличить их размер. Некоторые преимущества может дать при-
256 |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
менение монокристаллической проволоки из нужного материала (полученной, например, методом деформационного отжига), а также тщательный контроль за температурой и давлением газов. Заметные результаты дало бы создание заданных температур ных градиентов вдоль проволоки или такое программирование температуры проволоки, которое обеспечило бы образование одного зародыша для всего последующего роста. Метод не дол жен ограничиваться металлами и может оказаться пригодным для любых обратимых реакций, в которых нужное твердое со единение образуется при более высокой из двух температур.
Квакуумной,
системе
• для U или
Ф и г . 6.7. Кристаллизация на раскаленной проволоке.
Увеличить размеры кристаллов, может быть, поможет перио дическое изменение температуры проволоки [36] (разд. 6.4), при водящее к испарению излишних зародышей.
2. Другие процессы. Выращивание кристаллов путем обра тимой реакции чаще всего проводят в закрытой горизонтальной трубке (фиг. 6.1,а). Если перенос происходит за счет реакции, обеспечивающей рост при более высокой температуре, то зона испарения, естественно, не горячее зоны роста.
Наилучшим примером выращивания кристаллов таким мето дом может служить, по-видимому, выращивание кристаллов со единений I I — V I групп, скажем ZnS и CdS. Сульфид кадмия CdS часто приводят как пример соединения, получаемого субли мацией. Но при переносе значительна диссоциация и потому
6. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ |
257 |
|||
более реальной для процесса |
является |
реакция |
|
|
|
CdS( s ) |
Cd ( g ) + |
S( g ) . |
(6.17) |
Кзизек и Рейнольде [3, 43] указывают следующие |
условия выра |
|||
щивания кристаллов |
CdS: температура |
выращивания — 1000 °С; |
||
атмосфера — пары |
H2 S (<~1 |
атм); |
аппаратура — запаянная |
|
кварцевая трубка и горизонтальная трубчатая печь; длитель
ность реакции — 48-н72ч. |
Исходная порошкообразная шихта |
служит местом образования |
зародышей для роста, так что дви |
жущей силой процесса являются флуктуации температуры и раз ница в размерах тонко измельченного порошкообразного исход ного вещества и больших выросших кристаллов. Как это ни уди вительно, такой метод позволяет без каких-либо особых мер
получать |
кристаллы CdS объемом в 1 см3 [43]. Таким же мето |
|||||||
дом, но при температуре в зоне роста, равной |
1150°С, |
можно |
||||||
получать |
кристаллы ZnS. |
|
|
|
|
|||
Грин |
и др. [44] видоизменили |
метод |
Кзизэка |
и Рейнольдса: |
||||
они |
сначала |
испаряют |
CdS ( ~ 9 |
5 0 ° С ) |
или ZnS |
(~1160°С) в |
||
H2 S, |
а затем |
проводят |
сублимацию в |
вакууме. |
Такая |
двойная |
||
сублимация улучшает чистоту выросших кристаллов. Рост про
исходит в Аг или H2 S |
( ~ 1 атм) при перепаде температуры, рав |
|||
ном |
~ 5 0 ° . Горячая |
зона (испарения) находится |
при темпера |
|
туре |
около 1575 °С, а подложкой |
для образования |
зародышей в |
|
холодной зоне служит пластинка |
из плавленого кварца. |
|||
Кристаллы CdS всегда обладают структурой типа вюрцита. Кристаллы же ZnS представляют собой сфалерит, если они по лучены ниже ~ 1020°С, и вюрцит, если они получены при более высокой температуре. В кристаллах ZnS проблемой являются дефекты упаковки и политипные модификации. Имеется сооб щение, что К О стабилизирует структуру типа сфалерита [45].
Пайпер и Полик [18] получили хорошие результаты по выра щиванию больших кристаллов CdS из газовой фазы с исполь зованием некоторых элементов геометрии, применяемой при вы ращивании из расплава по Бриджмену — Стокбаргеру. Этот ме тод иллюстрируется схемой фиг. 6.8. Здесь указаны условия, использованные Калдисом и Видмером [46], которые применили перенос в парах иода для выращивания кристаллов Cd-jGeSe путем реакции
Cd4 GeS6 ( s ) + |
6 I 2 ( g ) |
4 C d I 2 ( g ) |
+ G e I 4 ( g ) |
+ 6S<g ) . |
(6.18) |
||
Кроме CdS и Cd4 GeS6 в аппаратуре |
с подобной |
геометрией |
|||||
можно выращивать многие другие соединения, в |
том |
числе |
|||||
ZnSe [47]. Преимущество |
конструкции |
состоит в том, что раз |
|||||
ность температур |
между |
исходным |
веществом |
и |
затравкой |
||
остается довольно |
постоянной в ходе |
всего |
процесса роста, и |
||||
в том, что начальное образование зародышей |
происходит в кони- |
||||||
$ Зак. 718
258 |
р. лодиз. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
ческой части у вершины ростовой ампулы. Поэтому, если вначале несколько зародышей образуют несколько мелких кристаллов, то к моменту дорастания фазовой границы до участка ампулы с максимальным диаметром всю межфазную границу почти навер няка займет лишь один из этих кристаллов. В таком случае, по скольку величина Д71 почти постоянна, весьма велика вероят ность того, что далее будет происходить лишь рост образовав шегося монокристалла. Таким методом Калдис и Видмер [46] стабильно выращивали кристаллы ZnSe длиной до 12 мм по средством реакции
ZnSe( s ) + 2 I 2 ( g ) |
Z n l 4 ( g ) + S (g) |
(6.19) |
и кристаллы Cd4 GeS6 длиной до 24 мм. Кристаллы ZnSe с раз мерами 20X15X15 мм выращивались за 36 дней.
15
|
Скорость вытягивания |
|
|
до 0,1мм/ч |
|
|
Область |
|
|
зародышеобразования |
|
10 |
Транспортиру- |
|
|
||
|
\^ющие |
пиры |
|
-1 / г + |
летучие |
иодиды и'другие летучие компоненты
I
Поликристалличес- к.ая шихта (CdfieS^
786788 790 792 794 796 Температура, "С
Ф и г . 6.8. Метод Калдиса и Видмера [47] для выращивания Cd4GeSe
Соединения элементов I I I и V групп часто выращивают по средством обратимых реакций в замкнутых системах, используя
галогены в |
качестве |
транспортирующего агента. Для соедине |
|
ний |
A n i B v |
прямую |
сублимацию обычно не применяют, так как |
они |
разлагаются при температуре плавления и давление паров |
||
элементов V группы значительно больше давления паров эле ментов I I I группы. Вакуумным же напылением с использованием методики трехтемпературной печи были получены тонкие пленки
InSb и GaAs [7]. В более распространенном |
методе выращивания |
||
из газовой фазы |
[7] применяют обратимую |
транспортную |
реак |
цию в закрытой |
реакционной ампуле, используя в качестве |
pea- |
|
6. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ |
259 |
тентов СЬ или Ь. Из газовой фазы удобно выращивать кристал лы фосфидов, поскольку при этом отпадает необходимость в под держании высоких равновесных давлений при температуре плав ления Выбор методов выращивания для соединений А Ш В У определяется тем, нужны ли тонкие пленки или массивные кри сталлы, а также требуемыми электрическими свойствами. От методики выращивания могут очень сильно зависеть электрон ные характеристики кристаллов. В особенности это относится к электролюминесцентным свойствам. Вообще здесь можно исхо дить из того, что в однокомпонентной системе образуются более чистые кристаллы, а выращивание в многокомпонентных систе мах дает преимущество низких температур. Но в действитель ности обычно не удается детально объяснить, почему, например, фосфид галлия, выращенный из раствора, обладает лучшими электролюминесцентными свойствами, нежели полученный дру гими способами.
Транспортная реакция, типичная для соединений A i n B v , за писывается в виде [7]
3InCl ( g ) + 2Asig) |
InCl3 {g) + 2InAs( s ) , T2 > |
(6.20) |
Аналогичные реакции протекают, по-видимому, при кристал лизации большинства других соединений A I n B v , причем хлор может быть заменен иодом, по крайней мере в некоторых систе мах. Типичные условия роста таковы:
Вещество |
|
Температура роста |
|
(транспортирующий |
агент) |
||
|
|||
InAs(Cl) |
|
725 |
|
InAs (I) |
|
650 |
|
GaP (I) |
|
1050 |
При этом указывают, что давление галогена не имеет очень большого значения.
При разработке технологии выращивания кристаллов мето дом обратимых транспортных реакций предварительные опыты лучше проводить с геометрией, приведенной на фиг. 6.1, а после того как такие эксперименты показали, что перенос нужной фазы обеспечивается, можно перейти к геометрии фиг. 6.8.
Если при поисковых исследованиях не хватает термодинами ческих данных, то можно исходить из того, что, как показывает опыт, переносу обычно способствуют более высокие температуры и давления паров иода, а также из того, что величина ДГ должна быть довольно значительной. При этом для первых прикидок
можно рекомендовать |
следующие условия: 7" = |
1 ООО °С |
(заве |
|||
домо ниже |
температуры размягчения |
кварца), а |
концентрация |
|||
1 2 — ~ 5 |
мг на 1 см3 объема ампулы. Соответствующее давление |
|||||
паров 12 |
значительно |
меньше 3 атм, |
так что кварц его легко |
|||
выдержит. |
Подходящее значение AT |
составляет |
~ 1 0 0 ° С |
или |
||
9* |
|
|
|
|
|
|
Кристалл
Ж е л е зо
Медь
Кобальт
Никель
Кремний
Арсенид ггллия
Сапфир А 1 2 0 3
Таблица 6.2
Кристаллы, выращиваемые посредством реакции в газовой фазе [12]
Реакция
Fe( 5 ) |
+ 2 |
Н С 1 |
fe) |
1000 °с |
FeCl |
2 ( f f l |
+ |
H , |
|
|
|
|
|
ТЗО^С |
' 2 |
( g ) |
~Т "2(g) |
||
C u ( s ) |
+ |
2HI, |
|
C u l ( |
f f , + |
H„ |
|||
|
|
|
|
(г) |
~Ш^с ^Ul2{g)-r |
|
"2(g) |
||
|
|
|
|
|
900 °С |
|
|
|
|
Co ( s ) |
+ |
2HBr ( g ) |
|
C o B r 2 ( g ) |
+ |
H 2 ( g ) |
|||
Система ] ) Литература
Замкнутая, про |
[10, |
48] |
точная |
|
|
To ж е |
[10] |
|
|
[10, |
48] |
|
|
|
|
1000 |
°с |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
[Ю, |
48] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Ni(s) |
+ |
2HBr ( g ) |
« |
N i B r 2 ( g ) |
+ H 2 ( |
g ) |
|
|
|
|
Проточная |
|
|
[49, |
50] |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
S i ( s ) + 4 H C l ( g ) |
= ^ = * S i C l 4 ( g ) |
+ 2 H |
2 ( g ) |
|
|
|
|
Замкнутая |
|
|
[51] |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
1400 |
°C |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2GaAsl |
+ |
6H C0l |
|
2AGIaOC l |
>( g |
+ A s |
2 ( g ) |
+ |
3 H |
2 |
( g ) |
Проточная |
(о |
до |
[52] |
|||
( s )w + |
2 |
( (gg )) |
|
|
( g3 |
)+ H 2 ( g ) |
|
|
полнительных |
реак |
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
20 ( ) + 1(Z) |
|
3A10, |
( « ) |
|
|
|
|
|
|
|
циях см. разд. |
6.5) |
[53, |
54] |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
A1 |
3 S |
A |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
1900 °С |
|
|
|
|
|
|
|
|
Замкнутая |
|
|
[55] |
||
А 1 2 0 3 |
„, + |
2 Н 2 |
w , |
^ = |
* A l 2 0 ( g 2 J + |
2 H 2 Q ( g ) |
|
|
|
|
|
|
||||||
Окись |
берил |
|
лия |
BeO |
|
Двуокись |
крем |
|
ния |
S i 0 2 |
|
Фосфид |
галлия |
|
GaP |
|
|
Арсенид галлия GaAs
A l 2 0 3 ( „ + 6 H C l ( g )
BeO( s ) |
+ H 2 ( g ) |
S102 ( s ) + 2CO ( g ) + |
4 H C l ( g ) |
2GaP( s ) + |
H 2 0 ( g ) |
|
3 |
2 G a A s ( s ) + 3 Z n C l ( g )
1150 °G
4 = t
J 500 °C
-
1200 °G
1100 °c
noo°c
1100 °c = ^ = *
2 A l C l 3 ( g ) + 3 H 2 0 ( g )
Be ( g ) + H 2 0 ( g )
S i C l 4 ( g ) + 2 H 2 ( g , + 2 C 0 2 ( g )
G a 2 0 ( g ) + P 2 ( g ) + H 2 ( g )
b(g)
2 G a C l 3 ( g ) + 2As ( g ) + 3Zn ( g )
Точная реакция не известна, может включать в себя реак цию диспропорционирования типа (6.20). Материал может быть активирован катионами в транспортирующем реагенте. В каче стве транспортирующих реагентов используются также H g C l 2 , СаС1 2 , SnCl2 , AICI3, M g C l 2
Проточная |
[56] |
|
Замкнутая |
[57] |
|
|
[58, |
59] |
Проточная |
[60, |
61] |
Замкнутая |
[62, |
63] |
Фосфид галлия |
Подобная реакциям для GaAs |
[62, |
63] |
GaP |
|
|
|
Фосфид-арсенид |
Процессы, подобные процессам для GaAs |
[62, |
63] |
галлия GaP^Asi _ x |
Исходное вещество GaPxrAs!-^ |
|
|
') |
Реакции в замкнутой системе |
обратимы; реакции в проточной системе часто необратимы (см. разд. 4 и 5). |
') |
Стехиометрия летучего окисла |
алюминия точно не известна. |
262 |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
менее. Предварительные опыты удобно проводить в печи с откры той прорезью, позволяющей видеть ампулу во всю длину, и с мощной лампой для освещения. Такая установка позволяет на блюдать за переносом в ходе опыта и при этом измерять темпе ратуру и ДГ. Если нужно начать процесс заново, то в любое время материал можно перегнать обратно. Особенно удобна для прямого наблюдения за процессом роста печь в виде трубки из кварцевого стекла с канавкой для обмотки проволочного нагре вателя сопротивления. Чтобы уменьшить охлаждение такой печи, обусловленное конвекцией, трубку часто помещают внутрь дру гой кварцевой трубы, большего диаметра. Для уменьшения ра диационных потерь наружную трубу иногда частично покрывают (напылением в вакууме) тонкой пленкой золота. Когда опти мальные условия роста определены, дальнейшие опыты лучше проводить в непрозрачных печах без прорезей, чтобы обеспечить однородность температуры по оси печи. В табл. 6.2 указан ряд материалов, в том числе некоторые тройные халькогениды, кото рые Холоньяк, Джилсон и Бивакьюа [62, 63] получили путем; транспорта иодидов. Успехи этих авторов в выращивании хоро ших кристаллов таких сложных соединений свидетельствуют в пользу обратимых газово-транспортных реакций вообще и тран спорта галогенидов в частности. В табл. 6.2 включены соедине ния, полученные посредством обратимых реакций в замкнутой системе, и кристаллы, полученные посредством (обычно) необра тимых реакций в проточной системе (см. разд. 6.5). Ряд других соединений, выращенных посредством переноса иодидов, рас сматривается в работе Нитше [64]1 ).
Удобным реагентом для переноса многих металлов, образую щих летучие карбонилы, может служить окись углерода. На пример, кристаллы никеля можно выращивать посредством реакции
N i ( s ) + 4CO( g ) | = | Ni(CO) 4 ( g ) . |
(6.21) |
Реакция разложения Ni(CO) 4 в проточной системе уже давно
применяется для |
получения |
сверхчистого |
никеля |
(процесс |
Монда — Лангера |
[65]). При |
проведении же |
такой |
реакции в |
замкнутой системе (что вообще рекомендуется для выращива ния кристаллов с применением карбонилов вследствие токсич
ности |
последних) |
тонко |
измельченный |
порошкообразный ни |
кель |
помещают |
в один |
конец ампулы, |
заполненной окисью |
углерода СО, и вводят ее в печь с температурным градиентом. Источник находится при температуре около 80°С, а кристаллы
*) Особенно полные данные об условиях роста, реакциях и кристаллах, выращенных методом химического газовогр дереноса, приводятся в работе Нитще [84].
|
6. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ |
|
263 |
|
образуются |
на стенках трубки или |
на подходящей |
подложке |
|
при температуре около 200°С. Аналогичным образом |
получают |
|||
кристаллы |
«карбонильного» железа. |
|
|
|
Для осуществления переноса часто используют обратимые |
||||
реакции диспропорционирования. Наиболее |
важное |
значение |
||
они имеют, |
пожалуй, при получении |
тонких |
монокристалличе |
|
ских слоев полупроводников Si и Ge на полупроводниковых подложках1 ). Такой метод обычно называют эпитаксиальным
|
Идеализированное |
Идеализированное |
|||
|
распределение |
As |
|
распределение |
|
|
концентрации |
|
концентрации |
В |
|
! |
|
|
|
I |
|
|
|
л |
I |
|
|
Действительная \ |
Действительная |
||||
J |
концентрация |
As |
|
концентрация |
В |
|
|
|
Переход |
|
|
|
|
|
Ф и г . |
6.9. Распределение примесей |
в |
р — «-переходе. |
|
||||
ростом, и он |
дает ряд |
преимуществ, |
характерных |
для |
метода |
|||
выращивания |
из |
газовой фазы. В |
технологии полупроводников |
|||||
часто требуется |
вырастить кристалл |
с |
резким |
(или |
вообще |
|||
каким-либо заданным) |
профилем |
распределения концентрации |
||||||
одной или нескольких примесей в кристалле. Например, в слу
чае р — n-перехода требуется в кристалле обеспечить |
как мож |
но более резкий переход от р - к n-типу с плоской |
границей. |
Так, поскольку активированный бором Si относится к р-типу, а
активированный мышьяком — к |
гг-типу проводимости, жела |
тельно распределение примесей |
в переходе, названное на |
фиг. 6.9 идеализированным. Такой резкий градиент, конечно, не возможно получить, но для большинства существующих приборов
') Не исключено, что перенос галогенидов соединений I I I — V групп, опи сываемый уравнением (6.20), также связан с реакцией диспропорциониро вания.
264 |
"Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
приемлемы профили, названные здесь действительными. Однако для многих устройств желательно иметь профили, более резкие, чем на фиг. G.9. Выращивание из газовой фазы дает следующие преимущества с точки зрения управления профилем:
1.Температура при выращивании может быть достаточно низкой, так что в полученном кристалле профиль не изменится из-за диффузии в твердом состоянии.
2.Концентрацию активаторов в газовой фазе можно резко изменять (если активаторы или их соединения летучи) такими простыми способами, как открывание заслонки или изменение температуры резервуара с активатором.
3.Рост может протекать очень медленно, и за ним можно
наблюдать визуально, что позволяет получать очень тонкие слои. Из-за очень медленного роста приходится даже брать
подложку |
(затравку, |
на которой |
производится |
выращивание |
|
с одновременной активацией), полученную |
другими методами. |
||||
4. При |
помощи |
специальных |
масок |
можно |
выращивать |
слои, по-разному активированные в разных частях подложки; нанося и удаляя маски в разных последовательностях, можно получать сложные трехмерные распределения монокристалли ческого вещества со сложными профилями концентраций. Та
кие методы, при которых во время |
диффузии применяют маски, |
|
играют важнейшую роль в технологии монолитных |
электрон |
|
ных схем. |
|
|
Маринейс [66] описал систему, |
где в запаянной |
кварцевой |
ампуле иод, реагируя с германием, транспортирует его в виде
иодида |
и последний осаждается в |
виде эпитаксиальной |
пленки |
||||||||
в результате |
реакций |
|
диспропорционирования. |
Аналогичными |
|||||||
методами |
выращиваются |
кристаллы |
многих |
полупроводнико |
|||||||
вых материалов, в том |
числе Ge, |
GaAs, GaP |
и сплавов |
GaAs |
|||||||
с GaP |
[реакция (6.20) —типичный пример]. |
|
|
|
|||||||
Эпитаксиальный рост кремния идет по реакции |
|
||||||||||
|
|
|
S i l 4 ( |
g ) + S i ( s ) Щ |
2 S i I 2 ( g ) . |
|
|
(6.22) |
|||
При этом S114 можно получать прямо в системе за счет |
реак |
||||||||||
ции Si с 12- На фиг. 6.10 |
[67] показана |
типичная |
схема экспери |
||||||||
мента. |
Концентрация |
12 |
[4] составляет 12—48 |
мг/см3 1 ). |
При |
||||||
меси переносят с помощью реакций типа |
|
|
|
||||||||
|
|
|
2B ( s ) |
+ 3 I 2 ( g ) |
2 B I 3 ( g ) . |
|
|
(6.23) |
|||
В нормальных |
условиях |
|
величина |
AG0 |
для иодидов В, Р, As и |
||||||
Sb ближе |
к нулю, чем для иодидов Al, In и Ga |
(в том и дру- |
|||||||||
! ) ПРИ ТАКИХ |
ВЫСОКИХ |
ЗАПОЛНЕНИЯХ Ь НУЖНО СОБЛЮДАТЬ ОСТОРОЖНОСТЬ, |
ИБО ЭТИ ДАВЛЕНИЯ |
Ь БЛИЗКИ |
К ПРЕДЕЛУ ПРОЧНОСТИ КВАРЦЕВЫХ АМПУЛ. |
