- •1. Особенности микроволнового диапазона электромагнитных колебаний. Применение микроволновых приборов:
- •3. Основные уравнения микроволновой электроники – уравнения электродинамики и уравнения движения заряженных частиц в вакууме и твердом теле.
- •В вакууме:
- •В твердом теле:
- •5. Наведённый ток. Теорема Шокли-Рамо. Упрощённое выражение для мощности взаимодействия. Удельная мощность потока с переменным полем.
- •6. Наведённый ток. Время и угол пролёта носителей заряда в пространстве взаимодействия, коэффициент взаимодействия, электронная нагрузка.
- •7. Анализ особенностей движения носителей заряда в вакууме и твердом теле. Сравнение типовых значений скорости носителей и плотности зарядов. Направления совершенствования приборов.
- •9. Понятия о колебательных и волновых явлениях в потоках заряженных частиц (пзч). Плазменные колебания в твердом теле.
- •10. Приборы с квазистатическим управлением. Причины ограничения частотного диапазона приборов данного класса. Характерные конструкции.
- •11. Приборы с динамическим управлением о-типа с кратковременным взаимодействием: клистроны. Скоростная модуляция в высокочастотном зазоре. Коэффициент взаимодействия, электронная нагрузка.
- •Клистроны
- •Принцип действия и схема клистрона:
- •Скоростная модуляция в высокочастотном зазоре.
- •Коэффициент взаимодействия, электронная нагрузка.
- •12. Приборы с динамическим управлением о-типа: лампы бегущей и обратной волны. Скоростная модуляция в замедляющей системе, сопротивление связи.
- •13. Скоростная модуляция в высокочастотном зазоре резонатора и замедляющей системе. Коэффициент взаимодействия, сопротивление связи.
- •Конструкции и параметры приборов.
- •15. Приборы со скрещенными полями (м-типа): - магнетроны, амплитроны и митроны. Принцип действия, коэффициент полезного действия. Основные конструктивные разновидности. Сравнение с приборами о-типа
- •Работа магнетрона в статическом режиме, т.Е. При отсутствии вч поля. (Принцип действия)
- •Амплитрон (платинотрон)
- •16. Гирорезонансные приборы. Гиротрон – источник мощного излучения в мм диапазоне. Принцип действия. Типовые конструкции. Параметры.
- •17. Релятивистские приборы. Лазеры на свободных электронах: принцип действия характеристики.
- •18. Классификация диодов с положительным динамическим сопротивлением. Функциональная роль (на примере типового приемо-передатчика). Омические и барьерные контакты в структурах диодов.
- •20. Диоды с положительным динамическим сопротивлением: смесительные диоды: конструкция, вах, вч параметры, эквивалентная схема. Особенности схемотехнического применения. Принцип действия смесителя.
- •24. Динамическое сопротивление полупроводникового образца. Слоистые структуры. Способы получения отрицательного динамического сопротивления.
- •27. Способы повышения предельной частоты и мощности транзистора. Сравнение материалов для изготовления транзисторов: кремний, арсенид галлия, карбид кремния, нитрид галлия, фосфид индия, алмаз.
- •28. Схемотехнические аспекты применения транзисторов в микроволновом диапазоне. Малошумящий усилитель.
- •29. Природа шумов в птш. Шумовая схема полевого транзистора. Анализ экспериментальных шумовых характеристик и их интерпретация.
- •30. Моделирование транзисторов: локально-полевая модель Шокли, модель двух областей, температурные модели.
- •32. Способы повышения предельной частоты и мощности микроволнового биполярного транзистора. Выбор материалов для изготовления транзисторов.
- •33. Схемотехнические аспекты применения биполярных транзисторов в микроволновом диапазоне. Усилитель мощности.
- •34. Источники шумов в элементах микроволновых цепей. Спектральные и корреляционные характеристики. Математическое описание мощности шума: формула Найквиста, формула Ван-дер-Зила.
- •35. Описание шумов двух и четырехполюсника. Эквивалентное шумовое представление диодов, транзисторов и пассивных элементов. Расчет коэффициента шума каскадного соединения.
- •36. Способы снижения коэффициента шума приборов. Сравнительная характеристика приборов по шумовым параметрам.
6. Наведённый ток. Время и угол пролёта носителей заряда в пространстве взаимодействия, коэффициент взаимодействия, электронная нагрузка.
Наведённый ток (смотри начало 5-го вопроса).
Время и угол пролёта носителей заряда в пространстве взаимодействия.
Время пролёта – время, которое необходимо электрону для преодоления зазора.
Угол пролёта – показывает, какую часть периода происходит взаимодействие электронов с полем или насколько изменится фаза СВЧ-напряжения за время пролёта электрона в зазоре ( ).
Коэффициента взаимодействия – отношение амплитуды наведённого тока к амплитуде конвекционного тока. Для плоского зазора с однородным полем:
Для промежутка с неоднородным электрическим полем реальный зазор шириной d заменяется бесконечно узким зазором, расположенным в середине реального, в котором наводится ток, в М раз меньше амплитуды конвекционного тока.
Рисунок 1. Зависимость коэффициента взаимодействия от угла пролёта
При стремлении угла пролёта к 0, коэффициент взаимодействия стремится к 1, то есть амплитуда наведённого тока стремится к амплитуде конвекционного. При угле пролёта 2π коэффициент взаимодействия обращается в 0. В приборах, использующих взаимодействие в узких зазорах угол пролёта не должен превышать 120◦. При больших углах пролёта коэффициент взаимодействия отрицателен, это означает что наведённый ток во внешней цепи меняет своё направление и течёт навстречу конвекционному.
Электронная нагрузка – некий параметр, с помощью которого можно описать эффект передачи энергии электромагнитного поля зазора, электронному потоку, пролетающему через этот зазор.
Положительное значение электронной проводимости говорит о том, что энергия передаётся от поля электронному потоку, отрицательная – передаче энергии от потока полю зазора.
Активная составляющая проводимости при малых углах пролёта – положительна, следовательно электронный поток отбирает энергию от переменного электрического поля зазора, то есть кинетическая энергия электронов растёт. При углах пролёта от 2π примерно до 2,8π активная проводимость отрицательна. Это говорит о том, что электроны отдают часть своей энергии полю зазора.
Рисунок 2. Зависимости электронной проводимости от угла пролёта (Ge – активная составляющая, Be – реактивная составляющая)
*для самых искушённых
Если к зазору подключен колебательный контур, настроенный на соответствующую этим углам пролета частоту, и если отдаваемая потоком электронов мощность оказывается больше, чем мощность потерь в контуре, в такой системе возникнут автоколебания (монотронный эффект).
Реактивная составляющая электронной проводимости при малых углах пролета (0 < θ < π) положительна (емкостная проводимость), а при больших углах пролета отрицательна. Она сдвигает резонансную частоту резонатора, частью которого является междуэлектродный зазор.
7. Анализ особенностей движения носителей заряда в вакууме и твердом теле. Сравнение типовых значений скорости носителей и плотности зарядов. Направления совершенствования приборов.
Особенности движения носителей заряда в вакууме и твёрдом теле.
Вакуум.
Движение заряженной частицы в вакууме будет определяться:
– импульс
– скорость частицы
– электрическое поле
– магнитное поле
*В правой части уравнения стоит сила, с которой поле действует на ЗЧ (сила Лоренца). Сила Лоренца создается полным полем, действующим на частицу. Это поле является суммой внешнего по отношению к данной частице электромагнитного поля и поля, создаваемого самими частицами. Суммарное поле, воздействуя на частицы, изменяет их положения и скорости, что приводит к изменению поля, излучаемого этими частицами. Таким образом, в электронике необходимо решать так называемую самосогласованную задачу, учитывая взаимное влияние поля и заряженных частиц.
Релятивистское увеличение массы электронов будет играть в мощных и сверхмощных приборах, где прикладываемое ускоряющее напряжение может достигать значений более 30 кВ.
Найдём мощность взаимодействия частицы с полем:
Где dA – работы, совершаемая поле при перемещении частицы на расстояние dl, т. е. , тогда мощность будет равна:
Исходя из полученного уравнения можно сказать, что магнитное не производит работу над частицей, а также мощность взаимодействия может быть положительной (поле отдаёт часть своей энергии частицы) и отрицательной (частица отдаёт энергию полю). Отбор энергии полем у частицы лежит в основе генераторов и усилителей СВЧ-мощности.
В вакууме скорость частицы (с учётом релятивистских факторов) будет подчиняться следующему закону:
Где – релятивистский фактор
Рисунок 1. Зависимость скорости частицы в вакууме от приложенного напряжения
Твёрдое тело.
В полупроводниках заряды двигаются в среде, где существуют ионы и нейтральные атомы. Скорость будет описываться следующими уравнениями:
Если предположить приложенное поле не только статическим, но и однородным, а время его приложения существенно больше, чем время релаксации энергии, то уравнения сводятся к более простым:
В результате, для определения стационарной скорости движения носителей в твердом теле необходимо при заданных j0, E0, T0, и τε(Te) решить уравнение сохранения энергии и определить Te . Далее, используя τp(Te) находится подвижность и искомая скорость.
Рисунок 2. Зависимость скорости от приложенного поля в п/п
В полупроводниках напряжённость поля будет определять не ускоряющую скорость частиц, а дрейфовую. На начальном участке кривой, где электрическое поле ещё не велико, скорость будет меняться линейно, так как в этот момент времени подвижность постоянна. При высоких значениях напряжённости скорость достигает постоянной величины порядка (1…2)*105 м/с для различных полупроводников.
Сравнение скоростей:
В вакууме скорость заряженных частицы может достигать порядка скорости света, что на 3 порядка больше чем в п/п. Также с ростом поля всегда растёт скорость.
С ростом электрического поля в п/п скорость растёт лишь до определённого значения, скорости насыщения. Для кремния это примерно 15 кВ/см.
Сравнение плотности пространственного заряда.
Далее, сравним по порядку величины плотности пространственного заряда в микроволновых приборах одинаковых по мощности, в которых движение происходит в вакууме и полупроводнике. Для вакуумного прибора характерные величины: ускоряющее напряжение 1000В, ток 0,1А, диаметр электронного потока 1мм. Определим объемную плотность электронов по формуле:
Тогда
Подставляя числовые значения в данное уравнение, получаем n~4*1010см-3. Максимальное количество носителей заряда в полупроводниковых приборах 1016 см-3, что на 6 порядков превышает типовую концентрацию электронов в вакуумных приборах.
Увеличению плотности электронов в вакуумных приборах препятствуют силы взаимного расталкивания. В полупроводниках прохождение тока осуществляется в присутствии неподвижного положительного заряда доноров, что приводит к компенсации сил расталкивания. Уравнение Пуассона для полупроводника n-типа запишется в виде:
В то время как для вакуумного прибора правая часть существенна:
Возникающие силы пространственного заряда обуславливают радиальную расходимость электронного потока и изменение осевой скорости, приводя к колебаниям объемной плотности заряда (так называемые «плазменные» колебания).
Направления совершенствования приборов
Вакуумные приборы:
Повышение мощности и КПД в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах.
Улучшение качества сигнала.
Уменьшение стоимости производства и обслуживания.
П/п:
Повышение мощности и КПД.
Продвижение в миллиметровый и субмиллиметровый диапазоны.
Повышение надежности.
8. Методы получения усиления и генерации микроволнового излучения в вакууме и твердом теле: фазировка, модуляция скорости, группировка и сортировка частиц, запаздывание инжекции, отрицательная дифференциальная подвижность, дрейф в тормозящем поле.
Дрейф носителей заряда как в полупроводниках, так и вакууме связан с переносом кинетической энергии. В полупроводниках часть этой энергии носители передают решетке, а часть при соответствующих условиях переменному электромагнитному полю. При этом амплитуда поля возрастает, т.е. происходит явление усиления (или генерации).
Известно, что заряд отдает свою кинетическую энергию, когда движется в тормозящем поле, и приобретает ее в ускоряющем (см. гл.1). Если электрическое поле меняется во времени, то ускорение и торможение чередуются, поэтому за период колебаний необходимо обеспечить преобладание количества заторможенных носителей над ускоренными или обеспечить торможение в более сильном поле, чем ускорение. Рассчитаем баланс удельной мощности взаимодействия носителей заряда с полем в случае протекания тока с плотностью через полупроводниковый образец. В общем случае:
Величина задается произвольно, поэтому положим ее фазу равной нулю, т.е. .
Данное выражение показывает, что знак удельной мощности взаимодействия определяется распределением амплитуды поля вдоль координаты . Если представить графически зависимость от угла пролета (рис. 11.3), то интеграл пропорционален площади, ограниченной осью абсцисс и кривой .
Рисунок 1 - Распределение реальной составляющей электрического поля от угла пролета для разных величин : ;
Из рис. 1 следует, что при угле пролета и отрицательной частоте релаксации мощность отрицательна, для она нулевая, а для всегда положительна.
Таким образом, в образцах с омическим контактом и однородным распределением статических компонент поля и концентрации усиление и генерация возможны только в случае отрицательной дифференциальной подвижности для определенных углов пролета.
Рассмотрим случай не омического контакта, когда . Сопротивление образца в этом случае будет иметь вид:
,
Где - емкость образца на единицу площади поперечного сечения;
S - поперечное сечение образца
– Угол пролёта
Обозначим:
где - сдвиг фаз инжектированного и полного токов; - отношение их амплитуд (коэффициент инжекции). Величины и определяются свойствами контакта.
С учётом всех замен, сопротивление для данного образца будет иметь вид:
Анализируя данное выражение отметим, что при отсутствии запаздывания в инжекции активное сопротивление всегда больше или равно нулю для . Для возможно получение при некоторых углах пролета. На рис. 2 представлены зависимости от угла пролета при трех значениях фазы инжекции: . Запаздывание инжекции возникает за счет различных физических эффектов (лавинный пробой, инжекция с использованием барьера Шоттки).
Рисунок 2 - Зависимость активного сопротивления образца от угла пролета для разных контактов
Фазировкой пучков заряженных частиц называется согласование соответствующих колебаний полей по фазе путем изменения величины управляющего поля и/или изменением частоты электромагнитных полей для разгона частиц до максимально возможных в данном ускорителе энергий.
Как было определено ранее, для достижения максимального коэффициента передачи энергии от электронов к полю необходимо, чтобы максимальное число электронов проходило через выходной резонатор в момент времени, когда амплитуда тормозящего поля максимальна. Для этого необходимо провести модуляцию по скорости или плотности и группировку заряженных частиц.
В двухрезонаторном пролётном клистроне это происходит так: электроны, эмитируемые катодом, ускоряются постоянным напряжением U0 электрода и попадают в узкий зазор между сетками первого резонатора. Между ними имеется продольное высокочастотное электрическое поле, которое периодически ускоряет и замедляет электроны, т. е. модулирует скорость электронов.
В пространстве дрейфа быстрые электроны догоняют медленные, обеспечивая группирование электронов, т. е. преобразование модуляции электронного потока по скорости в модуляцию по плотности. Модулированный электронный поток поступает во второй резонатор и создает в нем наведенный ток, протекающий по внутренней поверхности его стенок. В резонаторе возникают колебания, а между его сетками появляется электрическое высокочастотное поле, которое должно вызывать торможение сгруппированных электронов. В выходном резонаторе кинетическая энергия тормозящихся электронов преобразуется в энергию СВЧ колебаний.