- •Атомная физика
- •© СПбГэту«лэти», 2006 Работа 1 (1.4). Исследование закономерностей теплового излучения нагретого тела
- •1.1. Общие сведения
- •1.2. Исследуемые закономерности
- •1.3. Экспериментальная установка
- •1.4. Задание по подготовке к работе
- •1.5. Указания к выполнению работы
- •1.6. Указания для обработки результатов
- •1.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 2. Исследование спектральной лучеиспускательной способности излучения нагретого тела
- •2.2. Экспериментальная установка
- •2.3. Указания по проведению эксперимента
- •2.4. Указания по обработке результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Работа 3(3.4). Исследование внешнего фотоэффекта
- •3.1. Общие сведения
- •3.2. Исследуемые закономерности
- •3.3. Задание для подготовки к работе
- •2.4. Указания к выполнению работы
- •3.5. Указания по обработке результатов
- •3.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 4 (8.4). Исследование эффекта зеемана методом индуцированных квантовых переходов электронов в атоме
- •4.1. Общие сведения
- •4.2. Исследуемые закономерности
- •4.3. Установка исследования эффекта резонансного поглощения, индуцированного магнитным полем
- •3.4. Задание для подготовки к работе
- •4.5. Указания по выполнению наблюдений
- •4.6. Указания по обработке результатов
- •4.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 5 (16.4). Исследование ядерного магнитного резонанса и определение магнитного момента ядра атома
- •5.1. Общие сведения и исследуемые закономерности
- •5.2. Экспериментальная установка и методика наблюдения ямр
- •5.3. Задание по подготовке к работе
- •5.4. Указания по выполнению наблюдений
- •5.5. Указания по обработке результатов
- •5.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 6 (9.4). Исследование внутреннего фотоэффекта
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Исследуемые закономерности
- •6.3. Экспериментальная установка
- •6.4. Указания по выполнению работы и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 7 (11.4). Исследование туннельного эффекта в вырожденном p–nПереходе
- •7.1. Общие сведения
- •7.2. Исследуемые закономерности
- •7.3. Экспериментальная установка
- •7.4. Указания по подготовке к работе
- •7.5. Указания по выполнению наблюдений
- •7.6. Указания по обработке результатов и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 8. Компьютерное моделирование туннельного эффекта
- •Моделируемые закономерности
- •Задание на подготовку к работе
- •Указания к выполнению работы
- •Указания по обработке результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Содержание
- •Работа 2. Исследование спектральной лучеиспускательной способности излучения нагретого тела
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
3.2. Исследуемые закономерности
Для исследования внешнего фотоэффекта в работе используется вакуумный диод (фотоэлемент СЦВ-4), содержащий два металлических электрода (анод и катод) внутри стеклянной оболочки. При комнатной температуре в вакуумном промежутке между электродами содержится незначительное количество электронов, возникающее за счет эффекта термоэлектронной эмиссии металла. Освещение поверхности катода приводит к увеличению числа свободных электронов в этой области.
Зависимость силы тока Iот напряженияUна фотоэлементе имеет нелинейный характер. Причина нелинейности вольтамперной характеристикиI(U) – неоднородность распределения по скоростям вышедших из катода электронов вследствие их теплового движения. В случае отрицательной полярности подключения внешнего источника к электродам фотоэлемента с ростом напряженияUуменьшается доля электронов, имеющих кинетическую энергию, достаточную для достижения анода и, соответственно, уменьшается токI. При некотором значении обратного напряженияU = Uзполученной при фотоэлектронной эмиссии кинетической энергии электронов оказывается недостаточно, чтобы преодолеть тормозящее действие поля и сила тока, протекающего через фотоэлемент, обращается в ноль I(Uз) = 0. Это условие достигается при равенстве кинетической энергией фотоэлектрона изменению его потенциальной энергии при перемещении от катода к аноду:
. (3.7)
Запирающее напряжение Uзв эксперименте измеряется прямым методом и с точностью до постоянного множителяе(элементарный заряд) совпадает с кинетической энергией фотоэлектрона (3.7). Теория Эйнштейна (3.3) прогнозирует линейную зависимость запирающего напряжения от частотыэлектромагнитного излучения:
, (3.8)
где 0 = A/h– минимальная частота излучения, при которой возможен выход электрона из исследуемого металла. Аппроксимация результатов измеренияUз() линейной функцией (3.8) позволяет найти ее параметры (рис. 3.1): работу выхода электронаA, граничную частотуи отношение константh/e.
Рис. 3.1. Зависимость запирающего напряжения на фотоэлементе от частоты электромагнитного излучения
Сила тока сквозной проводимости фотоэлемента при большом положительном напряжении определяется только током фотоэлектронной эмиссии, величина которого не зависит от приложенного напряжения (3.6) и представляет собой ток насыщения – асимптоту вольтамперной характеристикиI(U) фотоэлемента.
Рис. 3.2 Электрическая схема установки для исследования внешнего
фотоэффекта.
Электрическая схема экспериментальной установки представлена на рис. 3.2. Переключатель S3 предназначен для управления освещенностью Ф фотокатода. Он обеспечивает протекание тока разной величины в нити лампы накаливания Л1. С помощью переключателя S2 обеспечивается прямое или обратное подключение фотоэлемента ФЭ к источнику напряжения. Для изменения прямого и обратного напряжения между электродами ФЭ электрическая схема содержит, соответственно, потенциометры R1 и R2–R3. Сила тока сквозной электропроводности фотоэлемента измеряется микроамперметром PA, а напряжение между его электродами контролируется вольтметром PU.