- •Атомная физика
- •© СПбГэту«лэти», 2006 Работа 1 (1.4). Исследование закономерностей теплового излучения нагретого тела
- •1.1. Общие сведения
- •1.2. Исследуемые закономерности
- •1.3. Экспериментальная установка
- •1.4. Задание по подготовке к работе
- •1.5. Указания к выполнению работы
- •1.6. Указания для обработки результатов
- •1.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 2. Исследование спектральной лучеиспускательной способности излучения нагретого тела
- •2.2. Экспериментальная установка
- •2.3. Указания по проведению эксперимента
- •2.4. Указания по обработке результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Работа 3(3.4). Исследование внешнего фотоэффекта
- •3.1. Общие сведения
- •3.2. Исследуемые закономерности
- •3.3. Задание для подготовки к работе
- •2.4. Указания к выполнению работы
- •3.5. Указания по обработке результатов
- •3.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 4 (8.4). Исследование эффекта зеемана методом индуцированных квантовых переходов электронов в атоме
- •4.1. Общие сведения
- •4.2. Исследуемые закономерности
- •4.3. Установка исследования эффекта резонансного поглощения, индуцированного магнитным полем
- •3.4. Задание для подготовки к работе
- •4.5. Указания по выполнению наблюдений
- •4.6. Указания по обработке результатов
- •4.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 5 (16.4). Исследование ядерного магнитного резонанса и определение магнитного момента ядра атома
- •5.1. Общие сведения и исследуемые закономерности
- •5.2. Экспериментальная установка и методика наблюдения ямр
- •5.3. Задание по подготовке к работе
- •5.4. Указания по выполнению наблюдений
- •5.5. Указания по обработке результатов
- •5.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 6 (9.4). Исследование внутреннего фотоэффекта
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Исследуемые закономерности
- •6.3. Экспериментальная установка
- •6.4. Указания по выполнению работы и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 7 (11.4). Исследование туннельного эффекта в вырожденном p–nПереходе
- •7.1. Общие сведения
- •7.2. Исследуемые закономерности
- •7.3. Экспериментальная установка
- •7.4. Указания по подготовке к работе
- •7.5. Указания по выполнению наблюдений
- •7.6. Указания по обработке результатов и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 8. Компьютерное моделирование туннельного эффекта
- •Моделируемые закономерности
- •Задание на подготовку к работе
- •Указания к выполнению работы
- •Указания по обработке результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Содержание
- •Работа 2. Исследование спектральной лучеиспускательной способности излучения нагретого тела
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
2.2. Экспериментальная установка
Экспериментальное исследование теплового излучения проводится на установке для спектрального анализа частично поляризованного света. Установка (рис. 6.3) состоит из источника естественного светаS(лампа накаливания), диафрагмыD, линзыL, сменных светофильтровС, поляризатораР, анализатораА, фотоэлементаФи микроамперметраРА. Уголмежду главными сечениями поляризатора и анализатора можно изменять вращением анализатора вокруг оси, совпадающей с оптической осью установки. Угловое положение главного сечения анализатора определяется по шкале, находящейся на его оправе.
Рис. 6.3. Установка для анализа частично поляризованного света
Сила тока в цепи фотоэлемента пропорциональна интенсивности света I, падающего на фотоэлемент. Интенсивность света, прошедшего через анализатор, измеряется в условных единицах (делениях шкалы микроамперметра).
2.3. Указания по проведению эксперимента
1. Включить лампу S. Переключатель светофильтров установить в положение без светофильтра. Поворачивая анализатор, найти положения, соответствующие максимальному показанию микроамперметра. Записать показание микроамперметраImax (в делениях шкалы).
3. На пути светового пучка установить один из светофильтров. Поворачивая анализатор, наблюдать показания Iмикроамперметра. Занести в табл. 9.1 максимальноеImax показание микроамперметра (в делениях шкалы). Повторить наблюдения 5 раз.
4. Последовательно заменяя светофильтры, повторить наблюдения п. 3.
Таблица 9.1. Проверка формулы Планка
Светофильтр , нм |
№ изм. |
|
|
|
|
1. << |
1 |
|
|
|
|
|
| ||||
5 |
| ||||
1 |
|
|
|
| |
|
| ||||
5 |
| ||||
... << |
1 |
|
|
|
|
| |||||
5 |
|
5. Выключить лампу. Записать значение «темнового» тока I0фотоэлемента в делениях шкалы микроамперметра. Исключить эту систематическую погрешность из данных табл. 9.1.
2.4. Указания по обработке результатов
1. Для каждого из светофильтров вычислить средние значения и доверительные интервалы . Результаты представить в табл. 9.1.
5. Произвести нормировку величин к их наибольшему значению, определенному из серии измерений по всем длинам волн. Занести отношенияв таблицу.
6. По длине волны светофильтра, соответствующего наибольшему значению определить из закона Вина – Голицина (9.7) соответствующую температуруTннагретого тела (нити лампы накаливания).
7. Считая нить абсолютно черным телом, рассчитать спектральную лучеиспускательную способность на основе формулы Планка (9.5) с учетом (9.2) для длин волн светофильтров и температуры, определенной в предшествующем пункте. Произвести нормировкук ее максимальному значению (9.8). Записать полученные значения в таблицу.
9. Построить график нормированной универсальной функции от длины волны света, на этом же графике нанести экспериментальные точкии диапазоны погрешностей нормированных величин.
10. Сделать вывод о соответствии экспериментальных результатов формуле Планка.