- •Атомная физика
- •© СПбГэту«лэти», 2006 Работа 1 (1.4). Исследование закономерностей теплового излучения нагретого тела
- •1.1. Общие сведения
- •1.2. Исследуемые закономерности
- •1.3. Экспериментальная установка
- •1.4. Задание по подготовке к работе
- •1.5. Указания к выполнению работы
- •1.6. Указания для обработки результатов
- •1.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 2. Исследование спектральной лучеиспускательной способности излучения нагретого тела
- •2.2. Экспериментальная установка
- •2.3. Указания по проведению эксперимента
- •2.4. Указания по обработке результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Работа 3(3.4). Исследование внешнего фотоэффекта
- •3.1. Общие сведения
- •3.2. Исследуемые закономерности
- •3.3. Задание для подготовки к работе
- •2.4. Указания к выполнению работы
- •3.5. Указания по обработке результатов
- •3.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 4 (8.4). Исследование эффекта зеемана методом индуцированных квантовых переходов электронов в атоме
- •4.1. Общие сведения
- •4.2. Исследуемые закономерности
- •4.3. Установка исследования эффекта резонансного поглощения, индуцированного магнитным полем
- •3.4. Задание для подготовки к работе
- •4.5. Указания по выполнению наблюдений
- •4.6. Указания по обработке результатов
- •4.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 5 (16.4). Исследование ядерного магнитного резонанса и определение магнитного момента ядра атома
- •5.1. Общие сведения и исследуемые закономерности
- •5.2. Экспериментальная установка и методика наблюдения ямр
- •5.3. Задание по подготовке к работе
- •5.4. Указания по выполнению наблюдений
- •5.5. Указания по обработке результатов
- •5.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 6 (9.4). Исследование внутреннего фотоэффекта
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Исследуемые закономерности
- •6.3. Экспериментальная установка
- •6.4. Указания по выполнению работы и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 7 (11.4). Исследование туннельного эффекта в вырожденном p–nПереходе
- •7.1. Общие сведения
- •7.2. Исследуемые закономерности
- •7.3. Экспериментальная установка
- •7.4. Указания по подготовке к работе
- •7.5. Указания по выполнению наблюдений
- •7.6. Указания по обработке результатов и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 8. Компьютерное моделирование туннельного эффекта
- •Моделируемые закономерности
- •Задание на подготовку к работе
- •Указания к выполнению работы
- •Указания по обработке результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Содержание
- •Работа 2. Исследование спектральной лучеиспускательной способности излучения нагретого тела
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
6.2. Исследуемые закономерности
Объектом исследования является фотосопротивление(рис. 6.1,а) — тонкий слой1полупроводникового материала, нанесенный на изолирующую пластинку2. На краях слоя расположены электроды3. Вся конструкция монтируется в пластмассовый корпус4.
На рис, 6.1, бприведена схема включения фотосопротивления (ФС). При отсутствии освещения в цепи протекает темповой токIт, зависящий от приложенного напряжения и темнового сопротивления. При освещении токIв цепи больше темнового тока. Разность между током при освещении и темновым током составляет фототокIф.
Характеристиками фотосопротивления являются чувствительность, зависимость чувствительности от длины волны падающего излучения (спектральная характеристика) и от освещенности (световая характеристика), рабочее напряжение, темновое сопротивление.
Чувствительность в общем случае вычисляется как отношение фототока Iфк лучистому потокуФэ:
S= Iф/ Фэ.
Если фотосопротивление используется для регистрации излучения видимой части спектра, чувствительность выражают в амперах (чаше микроамперах) на люмен. Поскольку чувствительность фотосопротивления зависит от спектрального состава падающего излучения, при определении чувствительности необходимо указывать, каким источником создавалось излучение, Для определения чувствительности фотосопротивления в видимой части спектра источником излучения обычно служит лампа накаливания с вольфрамовой нитью при температуре 2840 К.
Рис. 6.1. Устройство фотосопротивления (а) и схема его включения (б)
Величина фототока зависит не только от лучистого потока, но и от приложенного напряжения, поэтому при заданий чувствительности необходимо либо указывать рабочее напряжение U, либо пользоваться понятием удельной чувствительности
Su= Iф/ UФэ.
В работе исследуются:
1) зависимость темнового тока и фототока от напряжения на фотосопротивлении при постоянном световом потоке (вольтамперные характеристики);
2) зависимость фототока от освещенности (световые характеристики);
3) зависимости темнового сопротивления rти относительного изменения сопротивленияΔr/rтпри постоянном напряжении от освещенности.
Зависимость фототока от освещенности фотосопротивления имеет обычно нелинейный характер, так как внутренний фотоэффект сопровождается различными вторичными явлениями (рекомбинацией носителей тока в объеме и на поверхности, захватом носителей, дефектами решетки и др.).
6.3. Экспериментальная установка
Экспериментальная установка для исследования внутреннего фотоэффекта изображена на рис. 6.2, где ФС — фотосопротивление (типа ФС—Al),PU— вольтметр,РА— микроамперметр,R— реостат,SЭ— эталонная лампа накаливания. Фотосопротивление и лампа установлены на оптической скамье.
Рис. 6.2. Схема для исследования внутреннего фотоэффекта
6.4. Указания по выполнению работы и содержанию отчета
1. Прикрыть шторкой фотосопротивление и снять вольтамперную характеристику темнового тока, изменяя напряжение на фотосопротивлении от 0 до 15 В через 3 В.
2. Установить фотосопротивление на расстоянии а= 20 см от лампы, поднять шторку и снять вольтамперную характеристику фототока, изменяя напряжение от 0 до 15 В. Результаты измерений представить в табл. 6.1. Подобные измерения сделать также для расстояния 10 см.
Таблица 6.1. Вольтамперная характеристика фотосопротивления
Ток, мкА |
Напряжение, В | ||||||
0 |
3 |
……………. |
15 | ||||
Темновой, Iт При освещении, I Фототок, Iф |
|
|
|
|
о |
|
|
a= …. см;E= … лк
Построить графики зависимости темнового тока и фототока от напряжения при двух значениях освещенности (три кривые расположить на одном чертеже). Освещенность вычислять по формуле E=J/a2, гдеJ— сила света (указана на приборе),а— расстояние от лампы до фотосопротивления.
3. Снять световые характеристики фотосопротивления при напряжении 10 и 15 В. Для этого, поддерживая напряжение постоянным, изменять расстояние амежду фотосопротивлением и источником света от 10 до 40 см через 5 см и измерять токI; затем вычислитьIф = I – Iт. Результаты измерений записать в табл. 6.2.
Световые характеристики фотосопротивления | ||||||||
Напряжение, В |
|
Расстояние а, см | ||||||
Ток, мкА |
10 |
15 |
20 |
25 |
30 |
35 |
40 | |
10 |
Темновой, Iт При освещении, I Фототок, Iф |
|
|
|
|
|
|
|
15 |
Темновой, Iт При освещении, I Фототок, Iф |
|
|
|
|
|
|
|
Освещенность E, лк |
|
|
|
|
|
|
|
Построить график зависимости фототока Iфот освещенностиEдля двух напряжений (10 и 15 В).
4. Вычислить относительное изменение сопротивления по формуле
при постоянном напряжении и различной освещённости и построить график зависимости, Δr/rтот освещенности для двух напряжений.
5. Вычислить удельную чувствительность фотосопротивления при рабочем напряжении 15 В и освещенности 100 лк.