- •Корпускулярно-волновая природа электромагнитного излучения
- •1. Проблемы излучения абсолютно черного тела
- •1.1. Основные определения
- •1.2. Закон Кирхгофа
- •1.3. Законы излучения ачт
- •2. Внешний фотоэффект
- •3. Энергия и импульс световых квантов
- •4. Эффект Комптона
- •29.5. Модель атома Бора – Резерфорда. Опыты Франка и Герца
- •29.6. Спектр атома водорода по Бору
- •Элементы квантовой механики
- •1. Корпускулярно-волновой дуализм
- •2. Соотношение неопределенностей Гейзенберга
- •3. Волновая функция и ее статистический смысл
- •30.4. Уравнение Шредингера
- •5. Решение уравнения Шредингера для микрочастицы, находящейся в бесконечно глубокой потенциальной яме
- •30.6. Квантовый гармонический осциллятор
- •7. Туннельный эффект
- •31. Физика атомов и молекул
- •31.1. Квантово-механическая модель атома водорода
- •31.2. Опыт Штерна и Герлаха. Спин электрона
- •31.3. Принцип Паули. Периодическая система элементов Менделеева
- •31.4. Рентгеновские спектры
- •31.5. Типы межатомных связей и образование молекул
- •31.6. Молекулярные спектры
- •31.7. Комбинационное рассеяние света
- •31.8. Люминесценция
- •32. Элементы квантовой статистики
- •32.1. Классическая и квантовая статистики
- •32.2. Распределения Ферми-Дирака и Бозе-Энштейна
- •33. Физика твердого тела
- •33.1. Элементы зонной теории кристаллов
- •33.2. Диэлектрики
- •33.3. Металлы
- •33.4. Полупроводники
- •33.5. Примесная проводимость полупроводников
- •33.7. Полупроводниковые приборы
- •33.8. Фотопроводимость
- •34. Макроскопические квантовые эффекты
- •34.1 Явление сверхпроводимости
- •34.2. Эффект Джозефсона
- •34.3. Сверхтекучесть
- •35. Основы квантовой электроники
- •35.1. Взаимодействие излучения с веществом
- •35.2. Инверсная заселенность
- •35.3. Лазеры
- •36. Физика атомного ядра
- •36.1. Строение и основные характеристики атомных ядер
- •36.2. Энергия связи ядра. Дефект массы
- •36.3. Свойства ядерных сил
- •36.4. Феноменологические модели ядра
- •36.5. Радиоактивные превращения атомных ядер
- •36.6. Закономерности -распада
- •36.7. Закономерности -распада
- •36.9. Ядерные реакции
- •36.40. Спонтанное деление ядер
- •36.11. Вынужденное деление ядер. Цепная реакция деления
- •36.12. Ядерный реактор
- •36.13. Термоядерные реакции
- •36.14. Дозиметрические единицы
- •37. Элементарные частицы
- •37.1. Фундаментальные взаимодействия
- •37.2. Классы элементарных частиц
- •37.3. Характеристики элементарных частиц
- •37.4. Частицы и античастицы
- •37.5. Лептоны
- •37.6. Адроны
- •37.7. Кварки
- •37.8. Переносчики фундаментальных взаимодействий
33.5. Примесная проводимость полупроводников
Электропроводность полупроводников может быть обусловлена как собственными электронами атомов данного вещества (собственная проводимость), так и электронами примесных атомов (примесная проводимость). Примеси делятся на доноры и акцепторы.
Доноры создают электронную проводимость (проводимость n-типа) и имеют валентность большую, чем валентность основных атомов полупроводника. Типичными примерами доноров являются пятивалентные атомы элементов V группы (P, As, Sb) в кристаллах четырехвалентного германия или кремния. При этом четыре из пяти электронов донора образуют с соседними атомами германия ковалентные связи, а пятый электрон оказывается «лишним» и может легко перейти в зону проводимости.
Рис. 33.9
Акцепторные примеси имеют валентность на единицу меньше, чем атомы кристалла и создают дырочную проводимость (проводимость p-типа). Акцепторами являются атомы третьей группы (B, Al, Ga, In) в германии и кремнии. У акцептора на внешней оболочке размещено три электрона. Захватывая один из электронов соседнего атома германия, атом акцептора дополняет внешнюю оболочку до четырех электронов и образует четыре ковалентные связи с атомами германия. На месте захваченного электрона образуется дырка, которая может легко перейти к другому соседнему атому германия и таким образом перемещаться по кристаллу, становясь носителем электрического тока. В то же время электрон, захваченный акцептором, остается локализованным и в электропроводности не участвует. На зонной схеме такой процесс означает переход электронов из валентной зоны на уровни акцептора, которые расположены вблизи потолка валентной зоны. В валентной зоне образуются дырки, которые и создают проводимость p-типа (рис. 33.10). Заметим, что у примесных полупроводников наряду с основными носителями тока (электронами — у полупроводников n-типа и дырками — у полупроводников p-типа) имеется также небольшое количество неосновных носителей, возникающих за счет переходов электронов из валентной зоны в зону проводимости. У полупроводников n-типа неосновными носителями являются дырки, у полупроводников p-типа — электроны. Вклад неосновных носителей в общую проводимость примесных полупроводников из-за их малой концентрации при комнатных температурах несущественен, но их роль постепенно возрастает по мере повышения температуры.
Рис. 33.10
Рис. 33.11
До приведения полупроводников p- и n-типа в электрический контакт их уровни Ферми были разные (рис. 33.11, а). При образовании контакта электроны из n-полупроводника, где их концентрация выше, диффундируют в область полупроводника p-типа, создавая здесь избыточный отрицательный заряд. И наоборот, дырки из полупроводника p-типа проникают в область полупроводника n-типа, образую здесь избыточный положительный заряд (рис. 33.11, б). На границе полупроводников образуется двойной электрический слой, препятствующий дальнейшему перераспределению зарядов. Равновесие достигается в момент, когда уровни Ферми полупроводников p- и n-типа сравняются. При этом в переходном слое зоны искривляются и возникает потенциальный барьер высотой ek, где k — контактная разность потенциалов, препятствующий переходу основных носителей тока из одного полупроводника в другой.
Концентрация электронов, проникших в p-полупроводник,
,
где n0 — концентрация электронов в n-полупроводнике.
Аналогичным образом может быть найдена концентрация дырок, проникших в полупроводник n-типа.
Поток основных носителей тока через p-n переход представляет собой диффузионный ток Iдиф.
Одновременно с движением основных носителей через p-n переход возникает движение неосновных носителей (электроны переходят из полупроводника p-типа в полупроводник n-типа, а дырки в противоположном направлении). Неосновные носители заряда не встречают потенциального барьера в области p-n перехода, наоборот, если благодаря тепловому движению неосновной носитель тока попадает в область p-n перехода, то электрическое поле в нем способствует его движению из одного полупроводника в другой. Поток неосновных носителей через p-n переход создает дрейфовый ток Iдр. В условиях равновесия дрейфовый ток через p-n переход равен нулю I = Iдиф + Iдр = 0.
Внешнее напряжение, приложенное к p-n переходу, нарушает это равновесие, и, следовательно, результирующий ток в этом случае не будет равен нулю: I0. При этом следует иметь в виду, что равновесие нарушается, прежде всего, за счет диффузионного тока, в то время как дрейфовый ток остается практически без изменений, т.е. не зависит от значения и знака приложенного напряжения. Рассмотрим этот вопрос подробнее.
Пусть к p-n переходу приложено напряжение U в направлении, совпадающем с контактной разностью потенциалов («+» — к n-полупроводнику, «–» — к p-полупроводнику). Такое напряжение называется запирающим. Высота барьера возрастает и становится равной e(k+U) — рис. 33.11, в. В результате концентрация основных носителей в области p-n перехода уменьшается:
,
что приводит к резкому уменьшению диффузионного тока. При увеличении обратного напряжения U диффузионный ток Iдиф0 и через p-n переход протекает только дрейфовый ток. Этот ток при комнатной температуре очень мал, поскольку он обусловлен концентрацией неосновных носителей тока.
Иная ситуация возникает, когда внешнее напряжение направлено навстречу контактной разности потенциалов. В этом случае потенциальный барьер уменьшается и становится равным e(k+U) (рис. 33.11, г). Соответственно концентрация основных носителей тока в переходном слое возрастает:
,
Следовательно, в этом направлении, которое называется прямым, сила тока с ростом напряжения будет расти экспоненциально.
Зависимость силы тока через p-n переход от приложенного напряжения (вольтамперная характеристика) описывается формулой
-
.(33.5)
В запирающем направлении (U<0) I ≈ Iдр, а в пропускном — (U>0) I = Iдрexp[e(U–k)/kT].
Обычно U>>k, и формула (33.5) принимает вид
-
.(33.6)
Рис. 33.12
