
- •Конспект по предмету
- •Раздел 1 Технологический процесс обработки изделий микроэлектроники
- •Устройство для выращивания монокристаллического слитка вытягиванием из расплава:
- •Формирование слоев с заданными свойствами
- •Процессы формирования рисунка методом литографии
- •Формирование рисунка маски из резиста:
- •Последовательность получения оксидной маски на пластине:
- •Последовательность операций при формировании рисунка поликремния:
- •Последовательность получения рисунка алюминиевой коммутации, контактов и затвора в моп-имс:
- •Сборка и монтаж имс
- •Типы и основные характеристики подложек
- •Конструктивно-технологические особенности биполярных имс
- •Структуры биполярной кремниевой имс (а) и интегрального транзистора (б) (все размеры указаны в микрометрах):
- •Структуры конденсаторов для биполярных имс:
- •Электрическая схема (а) и топология (б) логического элемента:
- •1, 5, 7, 8 — Входы; 2 —наиболее положительный потенциал; 3 — выход; 4 — земля
- •Влияние конструктивно-технологических факторов на электрические параметры имс
- •Основные этапы технологии биполярных имс
- •Технологический процесс формирования биполярных полупроводниковых структур
- •Шаблон, используемый для создания области скрытого слоя коллектора, (а) и набор фотошаблонов для фотолитографии (б):
- •Основные конструктивно-технологические варианты мпд-имс
- •Конструкция мдп-транзистора имс:
- •Структура моп-транзистора, используемая для расчета:
- •Влияние физико-технологических факторов на параметры моп-имс
- •Базовый технологический процесс получения моп-имс
- •Технология моп-имс с кремниевым затвором
- •Основные этапы изготовления моп-имс с кремниевыми затворами:
- •Раздел2 Устройство, принцип работы, наладка и регулировки узлов и механизмов специального технологического оборудования
- •Классификация оборудования.
- •Особенности техники безопасности в п/п производстве.
- •2.2 Оборудование для создания и контроля чистых сред. Наладка и регулировка
- •Пылезащитные камеры с вертикальным ламинарным потоком воздуха для выполнения операций без выделения продуктов химических реакций (а) и с выделением их (б):
- •Приборы для измерения параметров атмосферы производственных помещений
- •Гигрометры: а - волосяной, б - пленочный; 1 - груз, 2 -волос, 3 - стрелка, 4 - неравномерная шкала, 5 - пленочная мембрана
- •Анализатор запыленности:
- •Установки для очистки газов и воды
- •Приборы для измерения давления и расхода
- •Пружинный манометр: 1 - стрелка, 2 - триб, 3, 5 – спиральная и трубчатая пружины, 4 - сектор, 6 - поводок, 7 - держатель, 8 - штуцер
- •Термопарный манометрический преобразователь: 1, 2 - стеклянные трубки и баллон. 3 - платиновый подогреватель, 4 - хромель-копелевая термопара, .5 - цоколи 6 - штырьки
- •Ионизационный манометрический преобразователь:
- •Структурная схема ионизационно-термопарного вакуумметра вит-3:
- •2.3 «Оборудование для механической обработки полупроводниковых материалов»
- •Ориентация с помощью метода световых фигур.
- •Установка для световой ориентации монокристаллов:
- •Оптическая система установки световой ориентации монокристаллов:
- •Резка слитков на пластины.
- •«Алмаз 6м»
- •Станок резки слитков "Алмаз-6м":
- •Шпиндель станка "Алмаз-6м":
- •Барабан станка "Алмаз-6м":
- •Привод подачи слитка станка "Алмаз-6м":
- •Станция очистки и перекачки смазочно-охлаждающей жидкости станка "Алмаз-6м":
- •«Шлифовальное оборудование»
- •1 Рельефный слой, 2 трещенковый слой, 3 дислокационный слой, 4 напряженный слой
- •Планетарный механизм для двухстороннего шлифования пластин
- •Кинематическая схема станка двухстороннего шлифования
- •Принципиальная схема автомата снятия фасок
- •Принципиальная схема полуавтомата приклеивания пластин к блоку
- •2.4 Оборудование для химобработки
- •Автомат гидромеханической отмывки
- •Кинематическая схема агрегата (трека) автомата гидромеханической отмывки:
- •Пневмогидравлическая схема установки химической обработки: 1, 4 - ванны, 2 - подогреватель, 3 - насос-эжектор, 5 - поддон, 6 - рассеиватель, 7 - вентили, 8 - электропневматический клапан
- •2.5 Термическое оборудование
- •Схемы реакторов для газовой эпитаксии
- •Реактор установки унэс-2п-ка
- •Система газораспределения эпитаксиальной установки
- •Скруббер установки эпитаксиального наращивания унэс-101
- •Оборудование для диффузии и окисления
- •Камеры загрузки-выгрузки с ламинарным потоком воздуха термической диффузионной установки
- •Нагревательная камера термической диффузионной установки
- •Установка термической диффузии адс-6-100
- •Нагреватель диффузионной установки
- •Функциональная схема автоматической системы регулирования температуры термической диффузионной установки
- •Устройство загрузки-выгрузки подложек в реакционную трубу
- •Программатор время - команда
- •1.2. Основные технические данные.
- •1.3. Устройство пвк
- •1.4. Работа пвк
- •2. Меры безопасности
- •Время-параметр
- •1.2. Основные технические требования
- •1.3. Устройство
- •1.4. Работа
- •2.6 Оборудование для элионной обработки
- •Установки для нанесения тонких пленок в вакууме
- •Метод термического испарения
- •Метод распыления материалов ионной бомбардировкой
- •Испарители
- •Способы ионного распыления для осаждения тонких пленок
- •2.7 Оборудование для контактной фотопечати
- •Компоновочная схема эм-576
- •Блочная схема эм-576
- •Механизм выравнивания поверхности подложки и фотошаблона
- •2.8 Оборудование для проекционной фотопечати
- •Привод подъема стола.
- •Система совмещения.
- •Система автофокусировки.
- •2.9 Оборудование для нанесения и проявления фоторезиста
- •Устройство нанесения фоторезиста:
- •2.10 Сборочное оборудование
- •Установка резки алмазными кругами:
- •Узел крепления алмазного круга:
- •Установка монтажа кристаллов эм-438а
- •Кинематическая схема установки эм-438а
- •Автомат присоединения кристаллов эм-4085
- •Назначение микроскопа мт-2
- •Технические данные
- •Устройство и работа микроскопа
- •Устройство и работа составных частей микроскопа
- •Оборудование для разварки межсоединений эм-4020б
- •Последовательность монтажа проволочных перемычек
- •Механизм микросварки
- •Механизм микросварки
- •Координатный стол микросварочной установки проверка технического coctояhия
- •Возможные неисправности и методы их устранения
- •Оборудование для герметизации интегральных микросхем
- •Способы герметизации металлостеклянных и металлокерамических корпусов ис
- •Функциональная схема герметизации
- •Установка угп-50 для герметизации интегральных микросхем пластмассой
- •Раздел 3 Устройство, принцип работы наладка, регулировка специального технологического оборудования
- •Тема 1. Износ деталей машин.
- •Тема 2. Система планово-предупредительного ремонта (ппр).
- •Виды ппр.
- •Периодичность ремонта и нормы простоя оборудования при ремонте.
- •Организация ремонтного обслуживания цехах, участках и на предприятии.
- •Раздел 4 Ремонт специального технологического оборудования Основы технологии ремонта то
- •Алгоритм диагностики схемы синхронизации
- •Раздел 5 Контрольно-измерительное и испытательное оборудование
- •Контактирующее устройство зондовых установок эм-6010:
- •Устройство зондовой установки эм-6010
Контактирующее устройство зондовых установок эм-6010:
1 - вилка, 2 - кабель, 3 - осветитель, 4, 15 - маркирующий и зондовый наконечники, 5, 16 - коммутирующее и контактирующее устройства, 6, 7 - эксцентрики, 8 - винт, 9 - кольцо, 10 - стойка, 11 - манипулятор, 12 - экран, 13 - зонд-датчик, 14 - баллон
Контактирующее устройство служит для электрической связи контактных площадок структур полупроводниковой пластины с измерителем и состоит из кольца 9 с пазами для установки манипуляторов 11 с зондовыми 15 и маркирующими 4 наконечниками, зондов-датчиков 13, осветителя 3 и устройств коммутации.
В установках ЭМ-6020 и ЭМ-6020-1 для защиты элементов контактирующего устройства от повышенной температуры служит экран, укрепленный к кольцу 9 через стойки 10, в котором имеется трубка {отверстиями для их обдува (охлаждения) сжатым газом. Все манипуляторы с зондовыми наконечниками являются унифицированными элементами контактирующего устройства и служат для создания электрического контакта с контактными площадками структур при усилии 0,07—0,01 Н. Электрическая емкость зондов относительно корпуса должна быть не более 3 пФ, а сопротивление изоляции - не менее 1011 Ом.
В контактирующем устройстве предусмотрена индивидуальная настройка каждого зонда на контактные площадки структур, выполняемая по трем координатам: вдоль оси элемента контактирующего устройства — вращением эксцентрика 7; перпендикулярно оси в горизонтальной плоскости — вращением эксцентрика 6; по высоте — винтом 8.
Зонды-датчики служат для определения краев (формы) полупроводниковой пластины и предотвращают контактирование за ее пределами, а также обеспечивают одинаковые усилия контактирования на всех структурах полупроводниковых пластин. Установка рассчитана на работу не менее чем с двумя зондами-датчиками. Исполнение четырех зондов-датчиков расширяет возможности зондовых установок и позволяет контролировать полупроводниковые пластины любой формы. Наличие зондов-датчиков 13 предупреждает повреждение зондов 15, снижает их износ и исключает попадание маркировочной краски на поверхность предметного столика.
Зондовый маркирующий наконечник 4 служит для нанесения краски на бракованные структуры, устанавливается с помощью кронштейна на манипулятор и состоит из баллона для краски, корпуса, катушки и якоря со стержнем. При подаче импульса напряжения на катушку якорь втягивается в нее, выталкивает стержнем определенный объем краски на бракованную структуру и отходит в исходное положение.
Устройство визуального наблюдения (стереомикроскоп) предназначен для контроля точности совмещения контактных площадок структур микросхем с зондами установки. Механизмом подъема стереомикроскоп может перемещаться для получения необходимой резкости изображения контактируемой микросхемы и смещаться в сторону, когда необходимость в визуальном наблюдении не требуется. Установка ЭМ-6010-1 оснащена оптической головкой ОГ-1, которая выполняет те же функции, что и стереомикроскоп, и, кроме того, с ее помощью проецируют оптическую (тестовую) миру на плоскость контролируемой микросхемы.
Шкаф электрооборудования размещен на тележке, снабжен поворотным устройством и служит для электропитания установки и управления координатным столом по сигналам, подаваемым из блока логики. Рассмотрим, как работает зондовая установка, пользуясь рисунком , на котором ее отдельные элементы для наглядности разнесены.