Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
umm_2429.pdf
Скачиваний:
933
Добавлен:
18.03.2016
Размер:
546.73 Кб
Скачать

Содержание отчета

1 Наименование и цель работы в каждом опыте.

2Схемы измерений.

3Результаты расчета и проверка правильности определения коэффициен-

тов А, В, С, D четырехполюсника.

4Ответы на контрольные вопросы.

5Выводы по лабораторной работе.

Контрольные вопросы

1 Как определяется аргумент входного сопротивления четырехполюсника?

2 Какой физический смысл имеют коэффициенты четырехполюсника?

3 Как с помощью векторной диаграммы проверить правильность расчета коэффициентов?

4 Как изменятся коэффициенты четырехполюсника, если к его входным зажимам подключить нагрузку, а к выходным – источник?

5 Как определить характеристическое сопротивление и постоянную пе-

редачи из полученных коэффициентов?

Библиографический список

1 Дмитренко И. Е., Устинский А. А., Цыганков В. И. Измерения в устрой-

ствах автоматики, телемеханики и связи на железнодорожном транспорте.

– М . : Транспорт, 1975.

2 Дмитренко И. Е., Сапожников В. В., Дьяков Д. В. Измерения и диагно-

стирование в системах железнодорожной автоматики, телемеханики и связи :

учеб. для вузов ж.-д. транспорта / под ред. И. Е. Дмитренко. – М. : Транспорт, 1994. – 263 с.

35

Лабораторная работа № 4

ДИАГНОСТИКА ЛОГИЧЕСКИХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ЭЛЕМЕНТОВ

Цель работы: изучение методов контроля работоспособного состояния логических элементов и их компонентов.

Возрастание сложности и повышение требований к эффективности дей-

ствия технических систем требуют совершенствования средств их обслужива-

ния. Большую роль при этом играют методы контроля работоспособности и по-

иска неисправности.

Применение полупроводниковых, магнитных и других бесконтактных элементов в логических устройствах значительно усложнило задачу поиска не-

исправностей в них по сравнению с устройствами, построенными на электро-

магнитных реле. Основные трудности при этом связаны с отсутствием визуаль-

ного контроля состояния элементов и наличием большого числа отдельных компонентов, входящих в устройство, которые могут служить источниками от-

казов.

В работе изучаются методы контроля работоспособности логических по-

лупроводниковых элементов.

Работа состоит из двух частей:

1) проверка исправности деталей, из которых собирается логический эле-

мент (диод, транзистор, сопротивление, конденсатор); 2) контроль работоспособности логических элементов.

1 Проверка компонентов логических элементов

При поиске неисправностей в логических схемах достаточно проводить грубую проверку параметров компонентов логических элементов, рассчитан-

36

ную только на определение их исправного или неисправного состояния. Точно-

го определения параметров элементов не требуется, так как логические элемен-

ты рассчитываются на наихудшее сочетание параметров, и поэтому их не сле-

дует подбирать.

При проверке элементов непосредственно в схеме необходимо отключать их от схемы(хотя бы один вывод, к которому подключается измерительный прибор), чтобы избежать шунтирующего влияния других элементов.

Проверку следует проводить при помощи омметра. При этом необходимо выбирать такой предел измерения, чтобы предполагаемый результат лежал в пределах последней трети шкалы прибора.

1.1 Проверка полупроводниковых диодов

Проверка диода осуществляется двумя измерениями сопротивлений -пе рехода в прямом и обратном направлениях в соответствии с рисунком1, где показаны такие пределы, в которых должны лежать эти сопротивления для ис-

правных элементов.

Rпр <10 - 30 Ом

Rобр >100 -1000 кОм

Рисунок 4.1 – Проверка исправности полупроводниковых диодов

З а д а н и е 1 Произвести контроль трех диодов и сделать выводы о их состоянии. Данные записать в таблицу 4.1.

37

Таблица 4.1

№ п/п

Номер диода

Тип диода

Rпр

Rобр

Вывод

 

 

 

 

 

 

1.2 Проверка исправности транзисторов

При испытании транзисторов необходимо проверить состояние всех его переходов: эмиттер – база (Э – Б), база – коллектор (Б – К), эмиттер – коллектор

(Э – К). При определении электродов транзистора можно пользоваться спра-

вочниками, где указывается расположение электродов.

Для транзисторов типов П13, П14, П16, МП42, МП25, МП26, П4, П201,

которые нашли широкое применение для построения логических элементов,

справедливы следующие правила:

а) если электроды расположены в одну линию, то средний является ба-

зой, а конструктивно расположенный ближе к базе – эмиттером;

б) если электроды расположены по окружности, то надо повернуть тран-

зистор таким образом, чтобы электроды образовали букву Э, тогда верхним бу-

дет эмиттер, нижним – коллектор (рисунок 4.2).

Проверку транзистора следует вести в следующем порядке:

1 Измеряются сопротивления переходов Э-Б и Б-К в прямом и обратном направлениях в соответствии со схемами, представленными на рисунке 4.3 (по-

казано для транзисторов типа p - n - p ).

2 Измеряются сопротивления перехода Э– К в прямом и обратном на-

правлениях в соответствии со схемой.

З а д а н и е2 Произвести контроль трех транзисторов и сделать вывод о их состоянии. Данные записать в таблицу 4.2.

38

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]