Из множества проверяющих тестов выбирается тест минимальной длины:

Tпmin = 0 Ù1Ù 2;Tп min ={y1 y2 , y1 y2 , y1 y2}.

Неисправности, приведенные в таблице функций неисправности (см. таб-

лицу 4.3), называют константными неисправностями. Такие неисправности

можно интерпретировать как фиксацию в константу[нуль (К ® 0) или едини-

цу (К ®1) ] сигнала на входе или выходе логического элемента(ЛЭ). Указание

полного множества константных неисправностей позволяет абстрагироваться

от конкретной внутренней структуры элемента и получить свойства, позво-

ляющие построить проверяющий тест для любого ЛЭ независимо от его внут-

ренней структуры. Поэтому, используя понятия эквивалентных и импликант-

ных неисправностей, можно существенно сократить процедуру построения проверяющего теста.

В этом случае при построении проверяющего теста в ТФН включаются не все константные неисправности, а лишь их представители, т. е. из множества эквивалентных берется только одна неисправность, а из каждого подмножества импликантных – тоже только одна неисправность.

Правила выбора неисправностей для включения в ТФН приведены в [3].

Неисправность N i находится в отношении импликации к неисправности

Nj (обозначается Ni ® N j ), если на тех входных наборах, на которых равна единице проверяющая функция неисправности N i – ji , равна единице и про-

веряющая функция неисправности Nj – jj (ji ®jj ) [3].

З а д а н и 4е Построить проверяющий тест для одного из логических элементов, приведенных на рисунке 4.6, а – д (по заданию преподавателя).

Содержание отчета

1 Схемы измерения параметров диода и транзистора.

2 Таблицы с результатами измерений.

45

3 Схема логического элемента, перечень его неисправностей, таблица функций неисправностей.

4 Вычисление проверяющего теста для ЛЭ.

5 Ответы на контрольные вопросы.

6 Выводы.

y2

y1

f = ( y1 Ù y2 ) Ú ( y3 Ù y4 )

y2 y3

y4

Рисунок 4.6 – Варианты заданий для построения проверяющих тестов

Контрольные вопросы

1 Какие неисправности характерны для резисторов и конденсаторов?

2 Какие способы и приборы используются для проверки исправности рези-

сторов и конденсаторов?

46

3 Какие неисправности характерны для полупроводниковых приборов, ди-

одов и транзисторов логических элементов?

4 Какие способы и приборы используются для проверки неисправностей диодов и транзисторов?

5 С какой целью вычисляется проверяющая функция?

6 Представить определения эквивалентных и импликантных неисправно-

стей и объяснить с какой целью они определяются?

Библиографический список

1Сапожников В. В., Сапожников Вл. В. Основы технической диагностики :

учеб. пособие для студентов вузов ж.-д. транспорта. – М. : Маршрут, 2004. – 318 с.

2Карибский В. В., Пархоменко И. П., Согомонян Е. С. Техническая диагно-

стика комбинационных устройств // Абстрактная и структурная теория релейных устройств : сб. – М. : Наука, 1966.

3Дмитренко И. Е., Дьяков Д. В., Сапожников В. В. Измерения и диагно-

стирование в системах железнодорожной автоматики, телемеханики и связи. – М. : Транспорт, 1994. – 263 с.

47