spez_fiz_pr_zachita
.pdf6.8. ФОРМА ЛИНИИ............................................................................................ |
152 |
7. ТРЕКОВЫЕ ПРИБОРЫ............................................................................... |
157 |
7.1. КАМЕРА ВИЛЬСОНА................................................................................... |
157 |
7.1.1. Принцип действия................................................................................ |
157 |
7.1.2. Устройство камеры Вильсона и некоторые её характеристики.. |
159 |
7.1.3. Граничные пересыщения ..................................................................... |
162 |
7.1.4. Термодинамика образования новой фазы.......................................... |
165 |
7.1.5. Цикл работы камеры Вильсона.......................................................... |
172 |
7.1.6. Диффузионная и конвекционная камеры ........................................... |
174 |
7.1.7. Структура трека ................................................................................ |
176 |
7.1.8. Управляемые камеры........................................................................... |
177 |
7.1.9. Применение камеры Вильсона и диффузионной камеры ................. |
178 |
7.2. ЯДЕРНЫЕ ЭМУЛЬСИИ................................................................................. |
179 |
7.2.1. Фотографический метод регистрации ............................................ |
179 |
7.2.2. Основные представления о фотографическом процессе................ |
180 |
7.2.3. Физико-химические свойства современных ядерных эмульсий ...... |
182 |
7.2.4. Взаимодействие заряженных частиц с веществом ядерной
эмульсии .......................................................................................................... |
185 |
7.2.5. Определение пробега и энергии заряженных частиц ...................... |
186 |
7.2.6. Измерение времени пролета и времени жизни частиц .............. |
188 |
7.2.7. Измерение плотности зерен в треке................................................. |
188 |
7.3. ИСКРОВЫЕ ДЕТЕКТОРЫ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ..................................... |
189 |
7.3.1. История создания искровых детекторов......................................... |
189 |
7.3.2. Принцип действия искровой камеры ................................................. |
190 |
7.3.3. Искровой счетчик с постоянным питанием .................................... |
194 |
7.3.4. Управляемый искровой счетчик......................................................... |
195 |
7.3.5. Искровая камера .................................................................................. |
196 |
7.3.6. Проволочная искровая камера............................................................ |
198 |
7.3.7. Стримерная камера............................................................................. |
199 |
7.3.8. Конструктивные особенности стримерной камеры ...................... |
202 |
7.3.9. Пространственное разрешение ......................................................... |
204 |
7.3.10. Определение первичной и вторичной ионизации ............................ |
205 |
7.3.11. Методы получения информации ...................................................... |
205 |
7.3.12. Применение стримерной камеры..................................................... |
206 |
8. МНОГОДЕТЕКТОРНЫЕ СИСТЕМЫ...................................................... |
207 |
8.1. ТЕЛЕСКОПЫ И ГОДОСКОПЫ ...................................................................... |
207 |
8.2. МНОГОПРОВОЛОЧНЫЕ ПРОПОРЦИОНАЛЬНЫЕ КАМЕРЫ........................ |
210 |
8.3. ПЛОСКИЕ ДРЕЙФОВЫЕ КАМЕРЫ............................................................... |
217 |
8.4. ЦИЛИНДРИЧЕСКИЕ ПРОВОЛОЧНЫЕ КАМЕРЫ .......................................... |
224 |
8.4.1. Цилиндрические пропорциональные и дрейфовые камеры.............. |
225 |
8.4.2. Струйные дрейфовые камеры............................................................ |
231 |
8.5. ПРИМЕНЕНИЕ МНОГОДЕТЕКТОРНЫХ СИСТЕМ ......................................... |
233 |
9. СПЕКТРОМЕТРИЯ ИЗЛУЧЕНИЙ ........................................................... |
234 |
401 |
|
9.1. СЦИНТИЛЛЯЦИОННЫЙ МЕТОД СПЕКТРОМЕТРИИ .................................... |
235 |
9.1.1. Принцип действия сцинтилляционных спектрометров................. |
235 |
9.1.2. Аппаратурная форма линии спектрометра.................................... |
238 |
9.1.3. Физические процессы, приводящие к формированию наиболее характерных участков аппаратурной формы линии -спектрометра..242
9.1.4. Градуировка -спектрометра по энергии ......................................... |
245 |
9.1.5. Образцовые источники для градуировки -спектрометров ........... |
245 |
9.1. 6. Энергетическое разрешение спектрометра ................................... |
247 |
9.1.7. Типы сцинтилляционных -спектрометров...................................... |
248 |
9.2. МАГНИТНЫЕ СПЕКТРОМЕТРЫ................................................................... |
258 |
9.2.1. Принцип действия и основные характеристики спектрометров .258
9.2.2. Спектрометр с полукруговой фокусировкой.................................... |
262 |
9.2.3. Спектрометр с двойной фокусировкой............................................. |
270 |
9.2.4. Спектрометры с секторным полем.................................................. |
275 |
9.3. МАГНИТНЫЕ -СПЕКТРОМЕТРЫ................................................................ |
280 |
9.3.1. Комптоновские магнитные спектрометры..................................... |
281 |
9.3.2. Парный магнитный спектрометр..................................................... |
287 |
10. КРИСТАЛЛ-ДИФРАКЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ |
|
-ИЗЛУЧЕНИЯ ................................................................................................... |
288 |
10.1. ВВОДНЫЕ ЗАМЕЧАНИЯ............................................................................ |
288 |
10.2. ИСТОРИЯ МЕТОДА.................................................................................... |
291 |
10.3. ОСНОВЫ КРИСТАЛЛ-ДИФРАКЦИОННОГО МЕТОДА................................ |
292 |
10.3.1. Дифракция -квантов на плоском кристалле ................................. |
293 |
10.3.2. Спектрометры с изогнутым кристаллом...................................... |
298 |
10.3.3. Дифракционные спектрометры с двумя плоскими кристаллами 303
11. ОБРАБОТКА ОДНОМЕРНЫХ ЛИНЕЙЧАТЫХ СПЕКТРОВ.......... |
305 |
11.1. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ............................................................................. |
305 |
11.2. ОСНОВНЫЕ ЭТАПЫ АНАЛИЗА................................................................. |
306 |
11.3. СГЛАЖИВАНИЕ СПЕКТРА......................................................................... |
307 |
11.4. АВТОМАТИЧЕСКИЙ ПОИСК ПИКОВ.......................................................... |
309 |
11.4.1. Метод максимума.............................................................................. |
310 |
11.4.2. Метод плавающего отрезка............................................................. |
310 |
11.4.3. Метод первой производной............................................................... |
310 |
11.4.4. Метод второй производной.............................................................. |
311 |
11.4.5. Метод сглаживания .......................................................................... |
312 |
11.4.6. Анализ мультиплетов........................................................................ |
313 |
11.5. МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ И ПЛОЩАДИ ПИКА ПОЛНОГО
ПОГЛОЩЕНИЯ..................................................................................................... |
314 |
11.6. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ И ЭНЕРГИЙ ПИКОВ......................... |
318 |
11.7. ГРАДУИРОВОЧНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА СПЕКТРОМЕТРА ПО ЭНЕРГИИ .318
12. ПРИМЕРЫ ПРИМЕНЕНИЯ ДЕТЕКТОРОВ......................................... |
321 |
12.1. ПРИМЕНЕНИЕ В МЕДИЦИНЕ..................................................................... |
322 |
402 |
|
12.2. ТЕРАПИЯ ОПУХОЛЕЙ ТЯЖЕЛЫМИ ЧАСТИЦАМИ .............................. |
324 |
12.3. ПРИМЕНЕНИЕ В ГЕОФИЗИКЕ ................................................................... |
326 |
12.4. ПРИМЕНЕНИЕ В КОСМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ ............................... |
327 |
12.5. ИДЕНТИФИКАЦИЯ ИЗОТОПОВ В РАДИОАКТИВНЫХ ОТХОДАХ..331 |
|
12.6. ПРИМЕНЕНИЕ В ЭКСПЕРИМЕНТЕ С ТЯЖЕЛЫМИ ИОНАМИ..................... |
332 |
12.7. ДЕТЕКТОРЫ ДЛЯ ПОИСКА РАСПАДА ПРОТОНА ..................................... |
333 |
12.8. ДЕТЕКТОР ДЛЯ РЕАКЦИЙ С АДРОНАМИ.................................................. |
337 |
ПРИЛОЖЕНИЕ 1............................................................................................... |
338 |
1. ЗАДАЧИ ДЛЯ ПРАКТИЧЕСКИХ ЗАНЯТИЙ......................................... |
338 |
1.1. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ С ВЕЩЕСТВОМ ..................................... |
338 |
1.2. ИОНИЗАЦИОННЫЕ И СЦИНТИЛЛЯЦИОННЫЕ ДЕТЕКТОРЫ. |
ТРЕКОВЫЕ |
ПРИБОРЫ............................................................................................................ |
339 |
1.3. ЭФФЕКТИВНОСТЬ РЕГИСТРАЦИИ И МЕТОДЫ ЯДЕРНОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ |
|
............................................................................................................................. |
349 |
2. ОТВЕТЫ И РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ ................................................................. |
352 |
2.1. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ С ВЕЩЕСТВОМ ..................................... |
352 |
2.2. ИОНИЗАЦИОННЫЕ И СЦИНТИЛЛЯЦИОННЫЕ ДЕТЕКТОРЫ. |
ТРЕКОВЫЕ |
ПРИБОРЫ............................................................................................................ |
361 |
2.3. ЭФФЕКТИВНОСТЬ РЕГИСТРАЦИИ И МЕТОДЫ ЯДЕРНОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ |
|
............................................................................................................................. |
372 |
ПРИЛОЖЕНИЕ 2............................................................................................... |
386 |
1. ВОПРОСЫ ДЛЯ САМОКОНТРОЛЯ 1............................................................... |
386 |
2. ВОПРОСЫ ДЛЯ САМОКОНТРОЛЯ 2............................................................... |
390 |
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ ................................................................................ |
393 |
403
E# % %
F GF F H F I
!
E# ) %
"#$ % & &'# (
# &J -
- ,. .
%)'* %$ "# %'+, % ' ) +$/ % '% %*' % / )&'# % +'$$: & :$+-/ '%
Подписано к печати 18.11.2010. Формат 60х84/8. Бумага «Классика».
Печать RISO. Усл.печ.л. 46,99. Уч. изд.л. 42,50.
› 1960 10. ! A 100 @.
Национальный исследовательский Томский политехнический университет Система менеджмента качества
Томского политехнического университета сертифицирована NATIONAL QUALITY ASSURANCE по стандарту ISO 9001:2008
. 634050, г. Томск, пр. Ленина, 30.