- •В.Н. Игумнов физические основы микроэлектроники практикум
- •Оглавление
- •Глава 1 7
- •Глава 2 36
- •Глава 3 163
- •Указания по технике безопасности
- •Предисловие
- •Глава 1 Обработка результатов измерений
- •1.1. Основные понятия и определения метрологии
- •1.2. Погрешности прямых измерений
- •1.2.1. Поправки
- •1.2.2. Случайные погрешности
- •Коэффициенты Стьюдента
- •Обратный ток через p-n-переход
- •1.2.3. Погрешность прибора
- •1.2.4. Погрешность округления. Полная погрешность прямого измерения
- •Э.Д.С. Датчика Холла
- •1.3. Погрешность косвенных измерений
- •1.3.1. Вычисление абсолютной и относительной погрешности
- •Результаты наблюдений
- •1.3.2 Схемы и формулы расчета погрешностей
- •1.3.3. Планирование эксперимента и оценка погрешности
- •1.4. Приближенные вычисления
- •1.5. Единицы измерения физических величин
- •1.6. Оформление результатов измерений
- •Контрольные вопросы:
- •Глава 2 Лабораторные работы
- •2.1. Исследование характеристических параметров полупроводников
- •Зонная структура полупроводников
- •Температурная зависимость электропроводности
- •Измерительная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.2. Исследование полупроводников с помощью эффекта Холла
- •Основные сведения из теории
- •Измерительная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.3. Исследование эффекта поля в полупроводниках на базе полевого транзистора
- •Поверхностные состояния
- •Порядок выполнения работы
- •Величина тока стока
- •Величина тока стока
- •Контрольные вопросы
- •2.4. Определение потенциала Ферми в полупроводниках с помощью коэффициента термоэдс
- •Основные сведения из теории
- •Задание и отчетность
- •Контрольные вопросы
- •2.5. Определение коэффициента Пельтье компенсационным методом
- •Основные сведения из теории
- •Применение эффекта Пельтье для охлаждения радиоаппаратуры
- •Описание установки и порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.6. Контакт металл – полупроводник
- •Основные сведения из теории
- •Теория метода и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.7. Изучение электрофизических процессов вp-nпереходе
- •Основные сведения из теории
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.8. Исследование кинетики формовки оксидных пленок при электрохимическом окислении металлов
- •Основные сведения из теории
- •Плазменно-электролитическое анодирование
- •Состояние теории образования оксидных пленок
- •Свойства оксидных пленок
- •Описание установки и анодирование
- •Измерение динамики роста и свойств оксидной пленки
- •Задания и отчетность
- •Контрольные вопросы
- •2.9. Исследование процессов в полупроводниковом фоторезисторе
- •Фотопроводимость и поглощение света полупроводниками
- •Процессы захвата, заряда, прилипания и рекомбинации носителей заряда
- •Время жизни носителей заряда. Квантовый выход
- •Теория метода и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.10. Полупроводники в сильных электрических полях
- •Теоретическая часть
- •Эффект Ганна
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2.11. Свойства тонких проводящих пленок
- •Свойства тонких пленок
- •Контроль толщины тонких пленок
- •Порядок выполнения работы:
- •Контрольные вопросы:
- •Глава 3 Решение задач
- •3.1. Структура твердых тел Основные справочные формулы
- •Примеры решения задач
- •3.2. Энергетические состояния микрочастиц Основные справочные формулы
- •Примеры решения задач
- •3.3. Электрические свойства твердых тел Основные справочные формулы
- •Примеры решения задач
- •3.4. Свойстваp-nперехода Основные справочные формулы
- •Примеры решения задач
- •Приложения п.1. Фундаментальные физические постоянные
- •П.2. Свойства полупроводников
- •П.3. Некоторые единицы системы си Основные единицы
- •Некоторые производные механические единицы
- •Некоторые производные единицы электрических величин
- •Некоторые производные единицы магнитных величин
- •П.4. Внесистемные единицы, допускаемые к применению
- •П.5. Плотность некоторых твердых тел
- •Библиографический список
- •424000 Йошкар-Ола, пл. Ленина,3
- •424006 Йошкар-Ола, ул. Панфилова,17
1.5. Единицы измерения физических величин
Как уже было сказано, значение физической величины выражается в виде некоторого числа принятых для нее единиц, т.е. отсутствие единицы измерения или ошибка в ее выборе сводит информированность измерения на нет.
Выбор единиц измерения основывается на нескольких требованиях. Во-первых, желательно, чтобы единица измерения была удобной для данного объекта. Например, энергию электрона можно измерять в джоулях, однако, более удобной и наглядной является электрон-вольт. Размеры атома можно измерять в метрах, но более удачным является ангстрем. В то же время длину проводника удобнее измерять не в ангстремах, а в метрах.
Вторая особенность выбора единиц измерения заключается в том, что единицы объединяются в системыединиц или являютсявнесистемными.Работать в конкретной системе единиц гораздо удобнее: единица измерения результата вычислений автоматически предписывается системой.
Наиболее распространенными являются системы, построенные на единицах длины, массы, времени. Одними из таких систем для метрических единиц являются системы МКС (метр, килограмм, секунда) и СГС (сантиметр, грамм, секунда). Раньше широко использовались также системы механических, тепловых, световых и т.д. единиц. Большое число внесистемных единиц, неудобства, возникшие на практике в связи с перерасчетами при переходе от одной системы к другой – все это вызвало необходимость создания универсальной системы единиц. Такой системой стала система интернациональная – СИ (1961 г). В систему СИ вошли системы МКС (механические единицы) и МКСА (электрические единицы).
СИ строится из основных и произвольных единиц.
Основные единицыформируют минимальный набор независимых исходных единиц, апроизводные единицыпредставляют собой различные комбинации основных единиц.
Основные единицы.В основу СИ положены семь основных единиц:
метр (м) – единица длины. Метр равен длине пути, которую проходит свет в вакууме за 1/299792458 долю секунды;
килограмм (кг) – единица массы. Килограмм равен массе международного прототипа килограмм (цилиндр из платиноиридия 39 х 39 мм);
секунда (с) – единица времени. Секунда равна 9192631770 периодам излучения, соответствующего переходу между двумя уровнями цезия – 133;
ампер (А) – единица силы электрического тока. Ампер равен силе неизменяющегося тока, который при прохождении по двум параллельным прямолинейным проводникам бесконечной длины и ничтожно малого поперечного сечения, расположенным в вакууме на расстоянии 1 м один от другого, вызвал бы на участке проводника 1 м силу взаимодействия 2 х 10-7Н;
кельвин (К) – единица термодинамической температуры. Кельвин равен 1/273,16 части термодинамической температуры тройной точки воды;
моль (моль) – единица количества вещества. Моль равен количеству вещества системы, содержащей столько же структурных единиц (атомов, ионов, молекул), сколько содержится атомов в 0,012 кг углерода – 12);
кандела (кд) – единица силы света. Кандела равна силе света в заданном направлении источника, испускающего монохроматическое излучение частотой 540 х 1012Гц, энергетическая сила которого в этом направлении составляет 1/683 Вт/ср.
Кроме основных физических единиц, в систему СИ входят производные единицы, которые определяются с использованием физических законов и зависимостей через основные физические величины или через основные и уже определенные производные единицы. В Приложении 3 приведены производные единицы СИ и их обозначения.
Внесистемные единицы.В практике измерений часто используют внесистемные единицы. Внесистемные (по отношению к СИ) единицы делят на четыре группы:
допускаемые наравне с единицами СИ;
допускаемые к применению в специальных областях;
временно допускаемые;
устаревшие (недопускаемые).
В приложении 4 приведены основные внесистемные единицы, используемые наравне с единицами СИ.
В заключение данного раздела хочется дать совет: проводите все вычисления в системе СИ, а уж полученный результат можно выразить в удобных для данной величины единицах.