Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Радиационно-термическая активация диффузии кислорода в поликристаллических литиевых ферритах

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
07.09.2026
Размер:
1 Мб
Скачать
ГЛАВА4.ВЛИЯНИЕРАДИАЦИОННО‐ТЕРМИЧЕСКОЙИПЛАЗМЕННОЙ
ОБРАБОТКИНАДИФФУЗИОННЫЕПРОЦЕССЫВЛИТИЕВЫХФЕРРИТАХ
Условия протекания процессов диффузии кислорода в поликристал­лических ферритах в условиях радиационно-термического воздействия отличаются от реализуемых при тепловом нагреве. Это отличие связано с вызванным облучением изменением дефектного состояния феррита, вследствие возбуждения электронной и ядерной подсистем решетки. Из общих соображений следует ожидать определенного влияния радиации на эффективность протекания диффузионно-контролируемых окисли тельно-восстановительных процессов в ферритовой керамике.
В поле мощного электронного облучения сильному воздействию подвергается окружающая атмосфера, для которой данное излучение яв­ляется ионизирующим. Ионизация молекул кислорода в воздухе может оказать существенное влияние на активность протекания сорбционных процессов на поверхности феррита. В работе была предпринята попытка качественно оценить влияние этого фактора
на диффузионное проникно­вение кислорода в образец. С этой целью проведены диффузионные от­жиги феррита в ионизованной электронным пучком атмосфере, без непо­средственного участия электронов на образцы. А также были поставлены отдельные эксперименты диффузионных отжигов в среде, ионизованной с помощью тихого электрического разряда, или как он встречается в ли­тературе под
другим названием – барьерного электрического разряда.
Наряду с радиационно-термическим воздействием, реализуемым с помощью пучков ускоренных электронов, в последние годы большой ав­торитет завоевывают методы ионно-плазменной обработки материалов с целью модифицирования различных свойств их приповерхностных слоев. Применительно к оксидным материалам общий интерес представляют ис­следования влияния ионно-плазменной обработки в
различных газовых средах на эффективность протекания диффузионно-контролируемых окислительно-восстановительных процессов.
Учитывая вышеизложенное, в данной главе на примере литий-титан­цинковой ферритовой керамики было изучено воздействие: электронного облучения и ионизованной электронным пучком атмосферы; ионизован­ной с помощью тихого электрического разряда атмосферы; плазмы азота, кислорода и аргона на протекание диффузионно-контролируемых окисли тельно-восстановительных процессов, играющих важную роль в форми­ровании комплекса физических свойств в оксидных материалах.
Радиационные эффекты устанавливались сравнением диффузион­ных профилей радиационно-термически обработанных образцов с дан­ными, полученными при термическом отжиге в печи сопротивления.
-
-
51
4.1. Ускорителиэлектроновдляреализации
радиационно‐термическихнагревов
Результатами исследования взаимодействия электронов, ионов, атомов и их кластеров, плазмы, лазерного и гамма-излучения с твердым телом явилось создание радиационно-пучковых технологий (РПТ), направленных как на получение, так и на модифицирование материалов. Основой их является радиационные нагрев, создание радиационных эффектов, внедрение ионов или атомов в решетку твердого тела.
В зависимости от го фактора РПТ подразделяют на ионно-пучковые, плазменные, ионно­плазменные и технологии, основанные на использовании концентрирован­ных потоков энергии (КПЭ). КПЭ могут создаваться лазерным излучением, мощными электронными пучками, мощными ионными импульсными пуч­ками, потоками высокотемпературной импульсной плазмы.
Среди источников концентрированных потоков энергии особое сто занимают ускорители электронов. Для применения в технологиче­ских процессах получения новых материалов, модифицирования мето­дом радиационно-термического воздействия широко используются ускорители серий ЭЛВ и ИЛУ, разработчиком и производителем кото­рых является ИЯФ СО РАН [48, 49].
Ускорители серии ЭЛВ. Эти ускорители первоначально разрабаты­вались для кабельных заводов и имели весьма скромные ки. В настоящее время ИСЭ СО РАН производит серию ускорителей типа ЭЛВ, которые перекрывают диапазон энергий от 0,2 до 2,5 МэВ, с током выведенного пучка в атмосферу до 200 мА и максимальной мощ­ностью до 160 кВт.
ЭЛВ ускорители прямого действия. В качестве источника ускоряю­щего напряжения в этих ускорителях используется высоковольтный прямитель, а ускорительная трубка располагается внутри колонны выпря­мительных секций. Конструктивные и схемные решения предусматривают длительную непрерывную и круглосуточную работу ускорителей в услови­ях промышленного производства. Конструкция ускорителей максимально унифицирована, что позволяет с минимальными затратами адаптировать их под конкретные требования заказчика по основным параметрам, таким как диапазон энергий, мощность в пускного окна и т. д. Ускорители ЭЛВ отличаются простотой конструкции, удобством в эксплуатации и надежностью в работе.
Большая мощность электронного пучка обеспечивает высокую про­изводительность электронно-лучевой обработки, а высокая эффективность преобразования электрической энергии в энергию ускоренных электронов
вида носителя энергии и с учетом модифицирующе-
ме-
характеристи-
вы-
пучке ускоренных электронов, длина вы-
52
снижает затраты на обработку. Эффективность определяется преобразова­телем частоты и составляет (65–80) процентов в случае стандартного элек­тромашинного преобразователя. При использовании статических преобра­зователей (транзисторных) она возрастает до (85–92) процентов.
Ускорители серии ИЛУ. Импульсные линейные ускорители (ИЛУ) разрабатываются, начиная с 1970 г. Они предназначены для широкого применения в различных технологических процессах и рассчитаны на длительную круглосуточную работу в промышленных условиях. В состав ускорителя входят ускоряющая система с выпускным устройством, ваку­умной системой и ВЧ генератором, импульсный источник питания и си­стема управления. Диапазон энергий 0,6–4,0 МэВ. Мощность электронно­го пучка может достигать 30 кВт при среднем токе пучка до 25 мА.
Базовой моделью является модель ИЛУ-6. При
скромных габаритах этот ускоритель обладает достаточно высокими параметрами и может применяться для широкого спектра технологических процессов. Для его размещения достаточно защищенного помещения с внутренними разме­рами 3×4×5 м. Эта модель получила широкое применение, как в нашей стране, так и за рубежом.
В большинстве современных ускорителей применяется принцип
высоковольтного ускорения, то есть энергия
электронов соответствует напряжению, создаваемому выпрямителем. Промышленные ускорители типа ИЛУ являются исключением из этого правила. В них применен принцип ускорения электронов в зазоре высокочастотного резонатора. Такой ускоритель не содержит деталей, потенциал которых относитель­но корпуса сравним с ускоряющим напряжением.
Таким образом, исключено применение сложных высоковольтных
узлов (ускоряющие трубки, секции выпрямителей и
т. д.), выходящих из строя при пробоях. Нет также необходимости в применении изолирую­щего газа и сосудов под давлением. Использование принципа высокоча­стотного ускорения позволило создать относительно простой по кон­струкции ускоритель со скромными габаритами и весом. Это позволяет размещать его в зале меньших размеров, чем залы для высоковольтных ускорителей с
теми же параметрами. Импульсность пучка ускорителей типа ИЛУ дает возможность направлять его в различные каналы вы­пускного устройства без потерь. Следовательно, появляется возмож­ность создания выпускных устройств, формирующих зону облучения в соответствии с формой облучаемого изделия, что позволяет повысить эффективность использования ускоренного пучка.
Важно отметить, что конструкционные возможности ускорителей
ЭЛВ
и ИЛУ позволяют выводить электронный пучок в атмосферу воз­духа, что позволяет проводить РТ обработку любого вида материалов при атмосферных условиях.
53
4.2. Методикарадиационно‐термическогонагреваферритов пучкомвысокоэнергетическихэлектронов
В работе радиационные эффекты исследовались путем сравнения результатов воздействия на образцы термического и радиационно­термического (РТ) отжигов при одинаковой температуре.
Термические отжиги проводились в лабораторной печи сопротив­ления. Скорость разогрева и охлаждения, изотермическая выдержка об­разцов, поддерживались при помощи терморегулятора ВАРТА ТП 403.
Для радиационно-термического отжига в работе использовался электронный ускоритель ки СО РАН г. Новосибирска. Ускоритель ЭЛВ-6 является одной из мо­дификаций ускорителей непрерывного действия ЭЛВ, предназначенно­го для промышленного применения. Его отличает большая мощность электронного пучка.
Основные параметры ускорителя ЭЛВ-6.
Энергия электронов 1,4 МэВ
Максимальная мощность пучка 40 кВт
Диапазон регулирования тока пучка 0,5–40 мА
КПД ускорителя
Передача энергии твердому телу электронными пучками большой интенсивности существенно отличается от термического нагрева, что вызывает необходимость анализа и учета этой специфики и ее влияние на результаты эксперимента. Особые требования предъявлялись к изме­рению температур радиационно-термического процесса. Необходимость корректного измерения температуры следует из постановки задачи – получение сравнительных данных термических условиях. Так, из температурной зависимости коэффици-
ЭЛВ-6 производства Института ядерной физи-
при максимальной мощности 80 %.
отжига в радиационно-термических и
ента диффузии D = D
exp(–E/kT) следует, что dD/D = E/kTdT/T. То есть,
0
ошибки в определении коэффициентов диффузии за счет температур­ных погрешностей могут быть весьма значительными.
Температура образцов в условиях РТ отжига определялась термопар­ным методом как наиболее надежным и работоспособным в данных усло­виях. Остальные известные методы регистрации
температуры в силу ряда причин были неприемлемы. Однако, свойства электронного пучка, как электропроводящей субстанции, имеющей заряд и высокий электрический потенциал, создают определенные трудности при измерении температур термопарой, связанные с возникновением сильных электрических помех. Поэтому, в экспериментах использовалась трехэлектродная термопара, третий конец которой соединялся с земляным контуром, что обеспечивало эффективный сток заряда
. Применялась термопара марки платина-
54
платинородий, которая отличается химической инертностью, хорошей пластичностью и возможностью измерения температур до 1900 К.
Главная особенность в нагревании образца энергией электронного пучка состоит в неравномерном распределении поглощенной дозы по глубине материала. Вследствие этого, температурное поле в облучае­мом материале характеризуется существенной неоднородностью, обу­словленной как неравномерностью распределения поглощенной дозы по глубине материала
, так и процессами теплоотдачи. При этом область максимального разогрева располагается в объеме образца и определяет­ся местоположением области максимального поглощения энергии излу­чения электронного пучка материалом. То есть, максимальное значение температуры приходится на толщину 0,3 R
, где Rэ – экстраполирован-
э
ный пробег электронов в материале. Изменение температуры в образце по глубине зависит от параметров пучка электронов и условий теплоот­дачи. Если не принимать специальные меры при использовании сверх­мощных высокоэнергетических пучков заряженных частиц для нагрева­ния материала, то выравнивание температуры по его объему не происходит. В этих случаях уже
крайне необходимы знания как о мак­симальной температуре объекта, чтобы не выйти за граничные значения (плавление, рекристаллизация, испарение, разложение, спекание и т. д.), так и о наличии температурных градиентов.
В связи с этим для определения температуры нами был предложен [115] способ измерения максимальной температуры объекта при нагрева­нии его облучением электронным
пучком. Данный способ заключается во введении измерительного спая термопары в контакт с контролируемым объектом на расстоянии l = 0,3 R
от облучаемой поверхности. Со свобод-
э
ных концов термопары регистрируют термоЭДС, по величине которой су­дят о температуре объекта. Введение данной операции позволяет повы­сить точность определения максимальной температуры объекта во время нагревания его излучением электронного пучка.
Распределение температуры изучалось в монокристаллах ионных диэлектриков, облучаемых интенсивными импульсными потоками электронов с энергией 4
МэВ. В этом случае большие размеры обраба­тываемых зон (до десяти и более миллиметров) позволяют осуществ­лять прямые экспериментальные измерения температурных полей.
Расстояние от поверхности образца, где температура максимальна была определена следующим образом. В качестве объекта исследования использовался монокристалл бромистого калия (модельная структура) в форме пластины толщиной 12 мм. По длине кристалла
высверливали отверстия, в которые на всю глубину вставляли измерительные спаи термопар хромель-алюмель (ХА). Расстояние между центрами измери-
55
тельных спаев термопар устанавливали в пределах (0,750,9) мм. Сво­бодные концы термопар подсоединяли к выходу 12-ти точечного потен­циометра КСП-4 с измерительной шкалой, отградуированной для тер­мопар группы ХА.
Кристалл помещали на подложку из шамотного кирпича на расстоя­нии 10 см от выходного окна импульсного ускорителя электронов ЭЛУ-4 перпендикулярно направлению распространения потока
ускоренных
электронов. Параметры пучка электронов: энергия электронов в пучке –
2
4 МэВ; плотность тока пучка – (15) мА/см
; длительность импульса об-
лучения – 5 мкс; частота следования импульсов облучения – 220 Гц.
На рис. 4.1 представлены кривые распределения температур в об­лучаемом образце при различных временах от начала облучения. Рас­пределение температуры по толщине кристалла описывается кривыми с максимумами. Максимальное значение температуры приходится во всех
случаях на толщину кристалла (22,5) мм. Причем, чем
выше темпера-
тура облучаемой поверхности, тем больше разница в значениях темпе­ратур на поверхностях кристалла и на глубине l = (2,02,5) мм.
Т, К
770
4
670
570
470
370
024681012
3
2
1
l, мм
Рис. 4.1. Распределение температуры по толщине
кристалла KBr без применения тепловых экранов при временах после начала
облучения 2 мин. (1), 3,5 мин. (2), 5 мин. (3), 8 мин. (4)
Измерение пробега электронов в облучаемом кристалле бромистого калия производили на микрофотометре МФ-4 по изменению плотности окраски по толщине кристалла. Пробег электронов R с энергией 4 МэВ в
56
бромистом калии составил 8,2 мм. С учетом такого значения пробега электронов максимум температуры в кристалле приходится на глубину l = (0,250,30) R. Т. е. для регистрации максимальной температуры объ- екта, разогреваемого электронным пучком, измерительный спай термо­пары следует располагать на глубине l = (0,250,30) R от облучаемой по­верхности объекта.
На основании данного вывода
при проведении РТ отжигов ферри­товых образцов температура определялась путем измерений температу­ры свидетеля, идентичного контрольному образцу. При этом спай тер­мопары располагался на глубине от верхней поверхности свидетеля на 0,45 мм, что соответствовало 0,3 R При плотности тока пучка (10–25) мкА/см
в исследуемом Li-Ti-Zn феррите.
э
2
достигалась температура
диффузионного отжига (973–1173)К.
Для снижения градиента температур, связанного с потерей тепла в окружающее пространство, ферритовый образец помещали в ячейку (рис. 4.2) из теплоизолированного материала малой плотности – легко­весного шамота с толщиной стенок 15 мм. Со стороны облучения ко­робка накрывалась радиационно-прозрачным протектором массовой
2
толщиной 0,1 г/см
. Потери энергии электронного пучка в такой ячейке
незначительны, в малом объеме конвективные потоки практически от­сутствуют, лучистые потери тепла экранированы.
Аналитические расчеты температурного поля в облучаемом матери­але представляют значительные трудности, особенно в сложных много­компонентных системах, для которых далеко не всегда имеются точные значения теплофизических характеристик. Поэтому, предпочтительнее экспериментальные
данные такого рода.
5
1
2
3
4
Рис. 4.2. Ячейка для РТ отжига:
легковесный шамот, 4 – кожух, 5 – тепловой экран
1 – образец, 2 – термопара, 3 – огнеупорный
Большое внимание по исследованию температурных полей, фор­мируемых в облучаемых порошковых материалах, было уделено в рабо­тах [64, 116, 117]. Конкретный вид температурных полей был установ-
57
лен ими при помощи экспериментов, выполненных на спрессованных порошках оксида кальция. Выбор оксида кальция в качестве материала, исследуемого в этом цикле экспериментов, обусловлен его высокой температурой плавления, фазовой однородностью. В результате иссле­дований показано, что при достаточно больших выдержках изотермиче­ского отжига (более 4–8 минут) при использовании тепловых экранов, наблюдается практически полное
выравнивание температуры по глу­бине образца, особенно в промежутке облучаемая поверхность – поло­жение температурного максимума. Градиент температуры в образце в данном случае не превышает 10 К.
4.3. Методикаионно‐плазменнойобработки
Для изучения роли ионно-плазменной обработки на эффективность протекания диффузионно-контролируемых окислительно-восстановитель­ных процессов в ферритах были проведены их отжиги в плазме газового разряда.
Плазменная обработка проводилась в плазме дугового разряда низ­кого давления с накаленным катодом в Институте сильноточной элек­троники СО РАН (г. Томск) на установке ННВ6.6 сание которой приводится в работе [118].
Вакуумная камера объемом 0,5 м
3
откачивалась до давления 10–3 Па,
затем включался генератор плазмы «ПИНК» (см. рис. 4.3), через который в камеру напускался ионизированный в несамостоятельном дуговом раз­ряде низкого давления газ, расход которого регулировался с помощью автоматизированной системы напуска газа СНА-2.
В плазмогенераторе используется комбинированный катод, состо­ящий из помещенных в продольное магнитное поле цилиндрической полости и расположенного в
ней накаленного катода. Эмитируемые накаленным катодом электроны движутся вдоль силовых линий маг­нитного поля в направлении анода, роль которого выполняют заземлен­ные стенки вакуумной камеры. Напуск рабочего газа производиться в катодную полость, поэтому вблизи накаленного катода создается об­ласть повышенного давления. Наличие потока ускоренных электронов, траектории которых удлиняются за счет магнитного повышенной концентрацией молекул рабочего газа облегчают зажига­ние и горение несамостоятельного дугового разряда при низких давле­ниях. Разряд существует между катодом, которым являются как катод­ная нить, так и соединенная с ней катодная полость, и полым анодом с площадью, равной площади внутренней поверхности вакуумной каме­ры.
Плазма, генерируемая таким разрядом, заполняет анодную полость,
являясь рабочей средой для ионно-плазменной обработки.
И1, подробное опи-
поля, и области с
58
Рис. 4.3. Схема экспериментальной установки для ионно-плазменной
обработки образцов
Параметры плазмы:
концентрация ионизованных частиц составляла (101010  степень ионизации   10  температура электронов в плазме T  4 эВ.
–2
;
11
) см–3;
В качестве рабочего газа использовались азот, кислород или аргон.
Ток разряда составлял 50 А, напряжение горения было равным 40 В при
–1
давлении 310 время ионно-плазменной обработки, U
Па. Напряжение смещения Uсм, подаваемое на образец во
= –400 В. Вблизи поверхности
см
образца возникал слой пространственного заряда, в котором при низком давлении газа ионы, поступающие из плазмы, ускорялись до энергии, со­ответствующей приложенному напряжению. Для поддержания темпера­туры образца во время термического отжига процесс ионной обработки чередовался с электронным нагревом. При этом, нагрев электронами со-
ставлял 23 времени плазменной
обработки. Электронный нагрев осу­ществлялся путем подачи на образец анодного потенциала при этом ток разряда составлял 50 А, напряжение горения разряда 50 В. Такой режим обработки позволял нагревать образец до Т = (9701070) К. Охлаждение образцов происходило в остаточном вакууме.
59
Применение специальной конструкции держателя образца, пока­занной на рис. 4.3, позволило нам за один экспериментальный цикл проводить термический отжиг в плазме и отжиг в атмосфере газа. Изме­нения электрических свойств феррита при проведении термической об­работки затрагивают в основном его приповерхностные слои. Поэтому, диффузионные профили после термической обработки измерялись на одном и
том же образце, одна сторона которого подвергалась воздей­ствию плазмы, а другая сторона – термической обработке в среде не­ионизированного рабочего газа при таком же давлении.
До и после проведения плазменной обработки у образцов контролиро-
вались толщина с помощью ИКВ-3 с разрешением 1 мкм и масса на весах с
–8
точностью до 310
кг с целью исключения эффекта распыления феррита.
4.4. Исследованиедиффузиикислородавусловияхэлектронного облучения
В радиационно-термических экспериментах использовались два ви­да диффузионных отжигов. Первый – радиационно-термический, когда разогрев образцов осуществлялся непосредственно потоком электронов. Второй – термический в присутствии ионизованной атмосферы. Во вто­ром случае разогрев осуществлялся за счет теплового излучения матери­ала конструкции металлической ячейки, предохраняющей образец от прямого воздействия электронов. При этом окружающая образец душная среда испытывала воздействие потока электронов аналогичное воздействию при радиационно-термическом отжиге. Это давало возмож­ность на основании анализа сформированного при этом диффузионного профиля судить о роли ионизации атмосферы в изучаемом процессе.
Из данных, приведенных на рис. 4.4, видно, что профиль Е феррите, полученный в условиях РТ обработки при Т = 973 К имеет сильное отличие от профиля Е
(х), сформированного в процессе терми-
a
ческого отжига в печи сопротивления. Обработка ферритового образца в условиях ионизованной электронным пучком атмосферы также при­водит к увеличению протяженности диффузионного профиля Е нако, это увеличение не столь существенно как в случае отжига в усло­виях мощного электронного облучения. Аналогичные эффекты наблюдается и при температурах 1073 К, 1173К. Полученные результа­ты говорят о том, что основные изменения в перераспределении Е при РТ отжиге по сравнению с термическим связаны с одновременным воздействием на ферритовый материал как электронного пучка, так и ионизованной атмосферы.
воз-
(х) в
a
(х). Од-
a
a
(х)
60
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]