
- •1. Элементарная ячейка
- •2. Основные типы кристаллических решеток
- •3. Кристаллографические плоскости и направления
- •4. Индексы Миллера
- •5. Решетка Бравэ
- •6. Кристаллические системы (сингонии)
- •7. Точечные дефекты. Равновесная концентрация вакансий
- •8. Краевые и винтовые дислокации
- •9. Зависимость плотности дислокаций от степени деформации
- •10. Вектор Бюргерса
- •11. Источники Франка-Рида
- •12. Границы зерен (наклона, кручения, специальные)
- •13. Методы определения разориентировок
- •14. Особенности спектра разориентирок в умз материалах
- •15. Объемные дефекты
- •16. Природа рентгеновских лучей (открытие рентгеновских лучей, возможности рса)
- •17. Формула Вульфа-Брэгга
- •18. Свойства рентгеновского излучения (длина волны и энергия рентгеновского излучения)
- •19. Спектр рентгеновского излучения
- •20. Закон Мозли
- •21. Получение рентгеновского излучения (рентгеновские трубки)
- •22. Метод Лауэ
- •23. Метод вращающегося кристалла
- •24. Метод Дебая-Шерера
- •25. Различия в рентгенограммах нанокристаллического и крупнозернистого образцов
- •26. Анализ уширения рентгеновских пиков
- •27. Различие в размере кристаллитов определяемом методами рса и пэм
- •28. Типичные значения окр, микроискажений кристаллической решетки и плотности дислокаций в никеле подвергнутом ипдк и ркуп
- •29. Взаимодействие электронов с веществом
- •30. Длина волны электронов для ускоряющих напряжений 100кВ, 200кВ
- •31. Устройство электромагнитной линзы, количество линз в современных пэм.
- •32. Функции линз в просвечивающем электронном микроскопе.
- •33. Закон Ричардсона
- •34. Устройство электронной пушки (из 33 взять начало)
- •35. Типы катодов применяемых в электронных микроскопах
- •36. Сферическая аберрация
- •37. Хроматическая аберрация
- •38. Астигматизм
- •39. Критерий Рэлея
- •40. Разрешающая способность электронного микроскопа
- •41. Виды изображений в электронном микроскопе
- •42. Толщинные контура экстинкции. Определение толщины фольги.
- •43. Изгибные контура экстинкции
- •44. Муаровы узоры
- •45. Кикучи-линии
- •46. Контраст на изображении дислокаций
- •47. Определение межплоскостных расстояний по электронограмме
- •48. Какую информацию можно извлечь из анализа дифракционных картин
26. Анализ уширения рентгеновских пиков
Анализ уширения рентгеновских пиков дает ценную информацию о величине упругих деформаций и размере зерен-кристаллитов в поликристаллических материалах. Для определения этих величин было развито несколько подходов, наибольшее распространение из которых получили методы Уоррена-Авербаха и Вильямсона-Холла.
Суть метода Уоррена-Авербаха состоит в разделении вкладов размера зерен и упругих деформаций в уширение пиков, основанном на их различной зависимости от порядка отражения. При этом, используется аппроксимация физического профиля рядом Фурье и определяются коэффициенты этого разложения. Метод Уоррена-Авербаха дает усредненный по поверхности размер зерен.
Метод Вильямсона-Холла применяют в тех случаях, когда рентгеновские пики, соответствующие отражениям разного порядка от одного семейства плоскостей, отсутствуют или не обладают формой, благоприятной для разложения в ряд Фурье. Размер зерен получают путем экстраполяции графика зависимости интегральной ширины от величины вектора рассеяния на значение последнего, равное нулю. При этом, получаемый размер зерен усреднен по объему.
В целом компьютерные программы обработки рентгеновских данных, предназначенные для разделения вкладов областей когерентного рассеяния и среднеквадратичного микроискажений кристаллической решетки, основаны на использовании уравнения Шеррера-Вильсона :
bt = p / Dhkl + < ehkl2>1/2 t
где bt равняется bpp cosq /l,
bp - интегральная ширина физического профиля,
t
- вектор рассеяния равный
4p
sinq
/l.
Диаграммы, построенные по методу Вильямсона - Холла для определения величины среднеквадратичных микроискажений кристаллической решетки и размера областей когерентного рассеяния для наноструктурной меди.
27. Различие в размере кристаллитов определяемом методами рса и пэм
Субзеренная или ячеистая микроструктура с малоугловыми границами
Микроструктура с дипольными дислокационными стенками.
Дипольная
дислокационная стенка
28. Типичные значения окр, микроискажений кристаллической решетки и плотности дислокаций в никеле подвергнутом ипдк и ркуп
29. Взаимодействие электронов с веществом
В 1924 году французским физиком де Бройлем было сделано предположение, что все частицы, в том
числе и электроны, обладают волновыми свойствами. Согласно де Бройлю, длина волны электрона l
связана с его импульсом P соотношением:
l= h/Р (1)
где: h – постоянная Планка.
В свою очередь импульс электрона P равен:
P = mv (2)
где: m – масса электрона, v – скорость электрона.
Если электрон поместить в электрическое поле, то его кинетическая энергия mv2/2 будет равна работе,
совершаемой полем по ускорению электрона eU, где e – заряд электронов, U - разность потенциалов
ускоряющего напряжения.
Отсюда получаем соотношение:
mv2/2 = eU (3)
Из уравнений 1, 2, 3 вытекает, что длина волны электрона зависит от ускоряющего напряжения следующим образом:
l0 = h/Ö2meU (4)
Отсюда следует, что чем больше ускоряющее напряжение, тем меньше длина волны электронов.
Более точное выражение должно учитывать релятивисткое изменение массы электрона при скоростях движения близких к скорости света:
m = m0Ö1-(v/c)2 (5)
С учетом релятивисткой поправки длина волны электрона будет равна:
l = l0/Ö1 + eU/2m0c2