- •1. Элементарная ячейка
- •2. Основные типы кристаллических решеток
- •3. Кристаллографические плоскости и направления
- •4. Индексы Миллера
- •5. Решетка Бравэ
- •6. Кристаллические системы (сингонии)
- •7. Точечные дефекты. Равновесная концентрация вакансий
- •8. Краевые и винтовые дислокации
- •9. Зависимость плотности дислокаций от степени деформации
- •10. Вектор Бюргерса
- •11. Источники Франка-Рида
- •12. Границы зерен (наклона, кручения, специальные)
- •13. Методы определения разориентировок
- •14. Особенности спектра разориентирок в умз материалах
- •15. Объемные дефекты
- •16. Природа рентгеновских лучей (открытие рентгеновских лучей, возможности рса)
- •17. Формула Вульфа-Брэгга
- •18. Свойства рентгеновского излучения (длина волны и энергия рентгеновского излучения)
- •19. Спектр рентгеновского излучения
- •20. Закон Мозли
- •21. Получение рентгеновского излучения (рентгеновские трубки)
- •22. Метод Лауэ
- •23. Метод вращающегося кристалла
- •24. Метод Дебая-Шерера
- •25. Различия в рентгенограммах нанокристаллического и крупнозернистого образцов
- •26. Анализ уширения рентгеновских пиков
- •27. Различие в размере кристаллитов определяемом методами рса и пэм
- •28. Типичные значения окр, микроискажений кристаллической решетки и плотности дислокаций в никеле подвергнутом ипдк и ркуп
- •29. Взаимодействие электронов с веществом
- •30. Длина волны электронов для ускоряющих напряжений 100кВ, 200кВ
- •31. Устройство электромагнитной линзы, количество линз в современных пэм.
- •32. Функции линз в просвечивающем электронном микроскопе.
- •33. Закон Ричардсона
- •34. Устройство электронной пушки (из 33 взять начало)
- •35. Типы катодов применяемых в электронных микроскопах
- •36. Сферическая аберрация
- •37. Хроматическая аберрация
- •38. Астигматизм
- •39. Критерий Рэлея
- •40. Разрешающая способность электронного микроскопа
- •41. Виды изображений в электронном микроскопе
- •42. Толщинные контура экстинкции. Определение толщины фольги.
- •43. Изгибные контура экстинкции
- •44. Муаровы узоры
- •45. Кикучи-линии
- •46. Контраст на изображении дислокаций
- •47. Определение межплоскостных расстояний по электронограмме
- •48. Какую информацию можно извлечь из анализа дифракционных картин
11. Источники Франка-Рида
Пример генерации дислокаций источником Франка-Рида. Линия дислокации лежит в плоскости скольжения, которая совпадает с плоскостью рисунка: (а) – первоначальное положение линии дислокации; (б) - изгиб дислокации под приложенным напряжением; (в) - радиус петли дислокации достигает величины L/2; (г, д) - петля дислокации огибает точки ее крепления; (е,ж) - процесс изгиба новой дислокации.
12. Границы зерен (наклона, кручения, специальные)
Граница зерна это двумерный (поверхностный) дефект, разделяющий два по-разному ориентированных зерна (кристаллита)
Если ось вращения лежит в плоскости границы зерен (субзерен), то такую границу называют границей наклона, а если ось вращения перпендикулярна плоскости границы, то мы имеем дело с границей кручения.
Границы с разориентацией соседних зерен менее ~ 15° относят к малоугловым, а с большей разориентацией — к высокоугловым (большеугловым). Малоугловые границы образованы системами дислокаций.
В реальных металлах атомы на границах не имеют правильного геометрического расположения как это было показано выше на примере идеальной кристаллической решетки
13. Методы определения разориентировок
Дифракция отраженных электронов позволяет сформировать изображение Кикучи-линий, которые используются для определения ориентации исследуемого участка
Картина Кикучи-линии для каждого просканированного участка индицируются программой обработки и составляется пошаговая картина изображения структуры. Минимальный размер шага в современных микроскопах составляет примерно 50 нм
Анализ изображения микроструктуры методом дифракции обратно отраженных электронов дает информацию о распределении по размерам зерен и спектре разориентировок
14. Особенности спектра разориентирок в умз материалах
15. Объемные дефекты
Поры образуются чаще всего в процессе изготовления литых заготовок. Наблюдаются и в УМЗ-материалах.
Видно, что порообразование при сверхпластической деформации снижается при уменьшении размера зерна, снижении скорости деформации и увеличения температуры испытаний.
Зависимость напряжения от истинной деформации для алюминиевого сплава 7075 с различным размером зерна, и, соответственно с различной объемной долей пор образующейся в процессе сверхпластического течения.
Уменьшение порообразования с уменьшением среднего размера зерна можно объяснить тем, что местами зарождения пор являются концентраторами напряжений вблизи тройных стыков, а также межфазных границ между зернами матрицы и частицами выделений. Уменьшение среднего размера зерна способствует развитию зернограничного проскальзывания и межфазного скольжения, ведущих к аккомодации внутренних напряжений возникающих в процессе сверхпластической деформации. Релаксация напряжений в результате зернограничного проскальзывания снижает вероятность зарождения новых пор, что способствует увеличению удлинения до разрушения в процессе сверхпластической деформации