- •1. Элементарная ячейка
- •2. Основные типы кристаллических решеток
- •3. Кристаллографические плоскости и направления
- •4. Индексы Миллера
- •5. Решетка Бравэ
- •6. Кристаллические системы (сингонии)
- •7. Точечные дефекты. Равновесная концентрация вакансий
- •8. Краевые и винтовые дислокации
- •9. Зависимость плотности дислокаций от степени деформации
- •10. Вектор Бюргерса
- •11. Источники Франка-Рида
- •12. Границы зерен (наклона, кручения, специальные)
- •13. Методы определения разориентировок
- •14. Особенности спектра разориентирок в умз материалах
- •15. Объемные дефекты
- •16. Природа рентгеновских лучей (открытие рентгеновских лучей, возможности рса)
- •17. Формула Вульфа-Брэгга
- •18. Свойства рентгеновского излучения (длина волны и энергия рентгеновского излучения)
- •19. Спектр рентгеновского излучения
- •20. Закон Мозли
- •21. Получение рентгеновского излучения (рентгеновские трубки)
- •22. Метод Лауэ
- •23. Метод вращающегося кристалла
- •24. Метод Дебая-Шерера
- •25. Различия в рентгенограммах нанокристаллического и крупнозернистого образцов
- •26. Анализ уширения рентгеновских пиков
- •27. Различие в размере кристаллитов определяемом методами рса и пэм
- •28. Типичные значения окр, микроискажений кристаллической решетки и плотности дислокаций в никеле подвергнутом ипдк и ркуп
- •29. Взаимодействие электронов с веществом
- •30. Длина волны электронов для ускоряющих напряжений 100кВ, 200кВ
- •31. Устройство электромагнитной линзы, количество линз в современных пэм.
- •32. Функции линз в просвечивающем электронном микроскопе.
- •33. Закон Ричардсона
- •34. Устройство электронной пушки (из 33 взять начало)
- •35. Типы катодов применяемых в электронных микроскопах
- •36. Сферическая аберрация
- •37. Хроматическая аберрация
- •38. Астигматизм
- •39. Критерий Рэлея
- •40. Разрешающая способность электронного микроскопа
- •41. Виды изображений в электронном микроскопе
- •42. Толщинные контура экстинкции. Определение толщины фольги.
- •43. Изгибные контура экстинкции
- •44. Муаровы узоры
- •45. Кикучи-линии
- •46. Контраст на изображении дислокаций
- •47. Определение межплоскостных расстояний по электронограмме
- •48. Какую информацию можно извлечь из анализа дифракционных картин
5. Решетка Бравэ
Решетка Бравэ является математической моделью, отражающей симметрию кристалла, и она может не совпадать с решеткой реального кристалла. Поэтому следует отличать кристаллическую решетку и решетку Бравэ.
В общем случае элементарная ячейка решетки Бравэ имеет вид параллелепипеда, который характеризуется шестью параметрами, трансляциями (переносами) a, b, c, являющими его ребрами и углами между ними a, b, g . Все кристаллические структуры описываемые решетками Бравэ подразделяются на несколько кристаллических систем (сингоний): триклинную, моноклинную, ромбическую, тетрагональную, тригональную, гексагональную и кубическую. Каждая из этих систем имеет свои соотношения между величинами a, b, c и a, b, g .
Все кристаллические структуры описываются 14 решетками Бравэ, которые подразделяются на 7 кристаллических систем (сингоний) различающихся симметрией элементарных ячеек и кристаллографической системой осей координат: триклинную, моноклинную, ромбическую, тетрагональную, тригональную, гексагональную и кубическую. Каждая система имеет свои соотношения между величинами a, b, c и a, b, g (рис. 9).
6. Кристаллические системы (сингонии)
Все кристаллические структуры описываемые решетками Бравэ подразделяются на несколько кристаллических систем (сингоний)
Кристаллическая система |
Характеристики элементарной ячейки |
Кубическая |
а = b = c, α = β = γ = 90o |
Гексагональная |
а = b ¹ c, α = β = 90o ; γ = 120o |
Тетрагональная |
а = b ¹ c, α = β = γ = 90o |
Ромбическая |
а ¹ b ¹ c, α = β = γ = 90o |
Моноклинная |
а ¹ b ¹ c, α = β = 90o ¹ γ |
Триклинная |
а ¹ b ¹ c, α ¹ β ¹ γ ¹ 90o |
Тригональная |
a = b = c, α = β = γ ¹ 90o |
Кубическая система имеет самые симметричные решетки в форме куба. Ячейка кубической системы может быть примитивной, объемно-центрированная и гране-центрированная.
Гексагональная система имеет ячейку в форме прямой призмы с ромбом в основании, причем угол в ромбе равен 60 градусам. Часто рассматривают утроенную ячейку, имеющую вид правильной шестигранной призмы с осью симметрии шестого порядка.
В тетрагональной системе ячейка имеет форму прямоугольного параллелепипеда с квадратным основанием. Ячейка может быть примитивной и объемно-центрированной.
В ромбической системе ячейка имеет форму прямоугольного параллелепипеда с ребрами разной длины. Ячейка имеет все 4 разновидности.
В моноклинной системе ячейка имеет форму прямой призмы с ребрами разной длины. Ячейка может быть с центрированными основаниями прямой призмы и примитивной.
В триклинной системе все углы и все длины сторон не равны друг другу. Данная решетка имеет центр симметрии в центре элементарной ячейки.
В тригональной системе ячейку принято выбирать в виде ромбоэдра, все грани которого - одинаковые ромбы с углом при вершине ¹ 90о.
7. Точечные дефекты. Равновесная концентрация вакансий
К точечным дефектам относятся дефекты, имеющие малый размер во всех трех измерениях, не превышающий нескольких атомных диаметров.
Вакансии представляют собой узлы в кристаллической решетке, свободные от атомов; междоузельные атомы находятся вне узлов кристаллической решетки; примесными атомами называют атомы, которые могут находиться как в междоузлиях (атом внедрения), так и в узлах кристаллической решетки (атом замещения).
При образовании точечных дефектов происходит заметное смещение атомов из положения равновесия, что приводит к возникновению внутренних упругих напряжений. Поэтому основными точечными дефектами в чистых металлах являются вакансии, а концентрация междоузельных атомов по сравнению с концентрацией вакансий невелика.
Концентрация вакансий зависит от температуры, повышение которой ведет к усилению теплового движения атомов вокруг положения равновесия. Для каждой температуры существует своя равновесная концентрация вакансий, которая зависит от температуры как (n/N)~e-E/(kT), где N - общее число атомов в единице объема кристалла, n - число вакансий в том же объеме, k - постоянная Больцмана, равная 8,617х10-5 эВ/К, Е - энергия активации вакансии. Теоретические расчеты показывают, что энергия образования вакансии, например, в чистой меди составляет около 1 эВ, а междоузельного атома - от 2.5 до 3.5 эВ. Вследствие этого, для меди при Т~103 K относительная доля вакансий составляет примерно 10-5, т. е. на каждые 105 узлов решетки приходится по одной вакансии.
Повышенная концентраций вакансий в металлах может образовываться не только при нагреве, но и в процессе больших пластических деформаций. Например, методом позитронной аннигиляции было показано, что в наноструктурной меди чистотой 99,99% со средним размером зерен 150 нм, полученной интенсивной пластической деформации кручением, наблюдается образование вакансионных комплексов, концентрация которых при комнатной температуре также достигает величины примерно 10-5 .