Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Тонкопленочные солнечные элементы

.pdf
Скачиваний:
1006
Добавлен:
07.02.2015
Размер:
6.5 Mб
Скачать

Достоинствами тонкопленочных ФЭПов на основе a-Si: H является бо-

лее высокая проработанность технологии, отсутствие экологических проблем, как в случае CdTe (Cd – токсичный материал), и использование доро-

гих материалов, как в случае Cu (In, Ga) Se2. Кроме того, следует отметить,

что ФЭПы на основе a-Si: H благодаря характеристикам аморфного кремния

(температурный коэффициент и спектральная зависимость коэффициента поглощения) обеспечивают более высокую эффективность преобразования солнечной энергии при температурах 40–60 °С и в условиях облачности.

2.2. Основные элементы фотовольтаических систем

Большинство фотовольтаических систем представляют собой плоские солнечные преобразователи, в которых солнечная энергия собирается непосредственно модулями. Такие системы являются, как правило, статичными с фиксированной ориентацией, но может использоваться и система слежения за солнцем.

Вцелом фотовольтаические системы состоят из модулей, т. е. соединения отдельных солнечных элементов, генерирующих электричество, так называемого баланса системы (balance-of-system – BOS), т. е. части фотовольтаической системы за исключением солнечных элементов, включающей кабельное соединение, опорные конструкции, аккумуляторы, контролер заряда, электронную часть, преобразователь постоянного в переменный ток и др. Некоторые из компонент баланса системы не являются обязательными для фотовольтаических систем. Например, в состав большинства автономных фотовольтаических систем входят аккумуляторы, которые заряжаются в дневное время суток, в то время как солнечные элементы работают и снабжают потребителей электроэнергией в темное время суток. При этом аккумуляторы могут отсутствовать в системах, подключенных к центральной энергетической сети, которая в данном случае является «виртуальным аккумулятором».

Всостав фотовольтаических систем с концентрацией излучения входят системы точного слежения за Солнцем. Причем точность слежения должна повышаться с увеличением концентрации излучения. В этом случае требуется создание специальных опорно-поворотных устройств, оснащенных датчиками положения Солнца и электроприводами. В таких фотовольтаических системах требуется принудительное охлаждение, для чего при невысоких концентрациях излучений используются медные радиаторы. В случае

высоких концентраций требуется уже водяное охлаждение.

11

2.3. Солнечный элемент в отсутствие освещения. Механизмы переноса

Наиболее распространена структура солнечного элемента на основе

полупроводникового p–n-перехода. Схематически простейший солнечный

элемент изображен на рис. 2.2 [12].

 

 

 

 

Темновой ток p–n-перехода при прямом смещении определяется тремя

основными механизмами переноса (рис. 2.3):

 

 

1) инжекционный (диффузионный) ток, обусловленный инжекцией

(диффузией) основных носителей заряда через p–n-переход;

 

 

2 cм

Лицевой

 

2)

рекомбинационный ток, вы-

 

 

званный рекомбинацией электронов и

1 см

 

контакт

 

 

Контактная

 

дырок на уровнях глубоких ловушек

Просветляющее

а

гребенка

 

в областипространственногозаряда;

hν

p–n-переход

3) туннелирование по глубоким

покрытие

 

 

ловушкам в области пространствен-

0,5 мм1Ом∙см,Sip-типа

0,25 мкм

 

 

ного заряда.

 

Тыловой

 

 

 

б

 

В

кремниевых солнечных ба-

 

контакт

 

 

 

тареях на основе p–n-перехода ин-

Рис. 2.2. Схематическое изображение

 

 

жекционный (диффузионный) ток,

кремниевого солнечного элемента

 

с p–n-переходом: а – вид сверху;

 

как правило, является преобладаю-

б – вид сбоку

 

 

щим. Рекомбинационный механизм

 

 

 

 

переноса носителей становится преобладающим в случае, если солнечная

батарея (СБ) изготовлена из материала невысокого качества, например, по-

ликристаллического или аморфного полупроводника. Туннелирование ста-

 

1

EC

новится заметным при использовании

 

 

материала худшего качества в сол-

EFn

 

 

нечных батареях на основе a-Si:H и

2

3

EFp

его сплавов гетероструктур Cu2S/CdS,

1

 

EV

структур металл-диэлектрик-полупро-

 

 

водник.

 

 

Рис. 2.3. Энергетическая диаграмма

 

Темновой ток ID через pn-пе-

pn-перехода, иллюстрирующая

реход солнечной батареи равен сумме

различные механизмы переноса

носителей заряда: 1 – инжекционный

токов,

обусловленных

инжекцией

(диффузионный) механизм;

(диффузией) Id, рекомбинацией Ir и

2 – рекомбинационный механизм;

3 – туннелирование по ловушкам

туннелированием It

 

 

 

ID = Id + Ir + It.

 

 

12

2.3.1. Диффузионный ток

Обусловленный инжекцией дырок из p-области в n-область и электронов из n-области в p-область диффузионный ток может быть найден с по-

мощью известной формулы Шокли, характеризующей вольт-амперную характеристику идеального диода.

При вычислении вольт-амперной характеристики используются следующие допущения [13]:

1)контактная разность потенциалов и приложенное напряжение уравновешены двойным заряженным слоем с резкими границами, вне которых полупроводник считается нейтральным;

2)в обедненной области справедливы распределения Больцмана;

3)плотность инжектированных неосновных носителей мала по сравнению с концентрацией основных носителей;

4)в обедненном слое отсутствуют токи генерации (через него протекают постоянные электронный и дырочный токи).

Согласно соотношению Больцмана в состоянии равновесия

n n exp

 

 

EF Ei

 

 

n exp

e( )

;

(2.1)

 

 

 

 

 

 

i

 

 

kT

 

 

i

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p n exp

 

Ei EF

 

n exp

e( )

,

(2.2)

 

 

 

 

 

i

 

 

kT

 

 

i

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где , — потенциалы, соответствующие середине запрещенной зоны и уровню Ферми ( –Ei /e; –EF /e).

Поскольку в состоянии теплового равновесия справедливы выражения

(2.1) и (2.2), то произведение рn равно ni2. При подаче на переход напряже-

ния по обеим его сторонам происходит изменение концентрации неоснов-

ных носителей и произведение рп уже не равно ni2. При наличии внешнего источника напряжения определим

n n

exp

 

e( n)

 

;

(2.3)

 

i

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

e( p )

 

 

p ni exp

 

 

,

(2.4)

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

где n, p — квазиуровни Ферми для электронов и дырок соответственно

(рис. 2.4).

13

Из выражений (2.1)–(2.4) следует

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

kT

 

 

n

 

 

n

 

 

 

 

 

ln

 

 

 

 

;

 

 

 

 

e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ni

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

p

 

 

p

 

 

 

 

 

ln

 

 

 

 

.

 

 

 

 

e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ni

 

 

Тогда

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

pn n2exp

e

 

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.

(2.5)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

E, эВ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E, эВ

 

 

 

 

 

 

 

EC

 

 

eφn

 

 

 

 

 

 

EF

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

eφp

EV

 

EC

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

EF

 

 

 

 

 

 

EV

 

 

 

 

 

xp 0 xn

 

 

 

 

 

 

 

 

xp 0 xn

x

x

 

а

 

б

 

Рис. 2.4. Зонная диаграмма pn-перехода: а – прямое смещение; б – обратное смещение

При прямом смещении ( p n) > 0 и pn > ni2, а при обратном смеще-

нии ( p n) < 0 и pn < ni2.

Уравнения для плотности электронного и дырочного токов в полупроводнике в общем виде имеют полевую и диффузионные (обусловленную градиентом концентрации) составляющие:

Jn = e nnE + eDn n;

(2.6)

Jp = e ppE eDp p,

 

где n, p — подвижности электронов и дырок; E — электрическое поле;

Dn, Dp — коэффициенты диффузии электронов и дырок.

Из выражений (2.6) и (2.3) с учетом того, что E – , получим

 

kT

 

 

 

Jn e n nE

 

n

 

 

q

 

 

 

 

 

kT en

 

 

e nn e n

 

 

 

n

e nn n.

e

 

 

kT

 

 

14

Аналогично для дырочного тока

Jp e p p p.

Таким образом, плотности электронного и дырочного токов пропорциональны градиентам квазиуровней Ферми для электронов и дырок соот-

ветственно. В состоянии теплового равновесия n = p = const и Jn = Jp = 0.

Из выражения (2.5) можно получить концентрацию электронов на границе обедненного слоя в р-области перехода х = −хр (см. рис. 2.4):

 

 

 

n2

e p n

 

 

e p n

 

n

p

 

i

exp

 

 

n

p0

exp

 

,

(2.7)

 

 

 

 

 

pp

 

kT

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где np0 — равновесная концентрация электронов в р-области.

Аналогично для концентрации дырок на границе обедненного слоя в n-области перехода при х = хn:

p

p

e

 

 

p

 

n

 

 

exp

 

 

 

,

(2.8)

 

 

 

kT

 

n

n0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где pn0 — равновесная концентрация дырок в n-области.

Уравнения (2.7) и (2.8) являются граничными условиями для вычисления вольт-амперной характеристики.

Встационарномсостоянииуравнениянепрерывностизаписываются ввиде

 

 

 

 

n

 

E

 

 

 

2n

 

 

 

 

R

 

E

 

 

n

 

n

 

 

D

 

 

n

0;

 

(2.9)

 

 

 

 

 

x

 

x2

 

 

n

 

 

x

n n

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

p

n

 

 

 

E

 

 

 

2p

 

 

 

 

R pE

 

 

p pn

 

 

Dp

 

 

n

0

,

(2.10)

 

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

x

 

 

 

 

 

x2

 

 

 

 

где R — результирующая скорость рекомбинации.

Поскольку в первом приближении соблюдается зарядовая нейтраль-

ность, то nn nn0 pn – рn0. Умножая уравнение (2.9) на ppn и уравнение

(2.10) на nnn и учитывая соотношение Эйнштейна D = (kT/q) , получим

 

 

 

 

 

 

 

p p

n0

 

 

2p

 

 

n p

 

 

E p

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

D

 

 

 

n

 

 

 

n

n

 

 

 

0,

(2.11)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

n /

 

p /

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

a

 

 

a

 

 

 

p

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

pn pn0

 

 

nn nn0

x

 

 

 

n

n

 

 

 

 

 

где

 

a

 

 

 

 

 

амбиполярное

 

время жизни;

D

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R

 

 

 

 

 

 

R

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

a

 

 

nn pn

 

— коэффициент амбиполярной диффузии,

 

 

 

 

 

nn / Dp pnDn

15

В случае малого уровня инжекции (т. е. при рп << пп пп0 в полупро-

воднике n-типа) уравнение (2.11) упрощается:

 

p

n

p

 

2p

p

 

 

 

n0

Dp

 

n

pE

n

0.

(2.12)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p

x2

x

 

В нейтральной области, где отсутствует электрическое поле, уравнение (2.12) существенно упрощается:

 

2p

p

p

 

 

n

 

n

n0

0.

(2.13)

 

 

 

 

x2

Dp p

 

Решение уравнения (2.13) с граничными условиями, задаваемыми вы-

ражением (2.8), при условии рn(х = ) = рп0 имеет вид

 

 

 

 

e p n

 

 

x x

 

p

p

p

exp

 

1 exp

 

n

,

 

 

 

n

n0

n0

 

 

kT

 

 

L

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где Lp Dp p .

В результате при х = хn плотность дырочного тока

 

p

 

 

 

eDp pn0

 

e p n

 

 

 

 

 

 

Jp eDp

n

 

x

 

 

 

exp

 

1 .

(2.14)

 

 

 

 

 

x

 

n

 

L

p

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Аналогично, рассматривая р-область, получим плотность электронного тока

 

 

 

n

p

 

 

 

eD n

p0

 

e

 

 

p

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

J

n

eD

 

 

 

 

n

exp

 

 

 

1 .

(2.15)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n x

 

xp

 

L

 

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Общий ток через переход равен сумме токов Jp и Jn (см. (2.14) и (2.15)).

Принимая во внимание, что разность электростатических потенциалов на p–n-переходе определяется величиной V = p n, получаем для общего диффузионного тока

 

eV

 

 

 

Jd Jp Jn J01 exp

 

 

1

,

(2.16)

 

 

kT

 

 

 

где ток насыщения

 

 

 

 

 

 

J01

 

eDp pn0

 

eDnnp0

.

(2.17)

Lp

 

 

 

 

Ln

 

16

Из выражения (2.17) можно получить

 

 

 

 

E

g

 

I01 T3exp

 

.

kT

 

 

2.3.2. Рекомбинационный ток

Рекомбинационный ток через p–n-переход солнечной батареи обу-

словлен рекомбинацией электронов и дырок через глубокие уровни в области объемного пространственного заряда. Электроны из n-области не прони-

кают в p-область, а захватываются глубокими уровнями в области объемного заряда p–n-перехода. На эти же уровни попадают и дырки из p-области.

В результате рекомбинации носителей глубокие уровни освобождаются, и процесс может повториться.

Использование статистики Шокли — Рида — Холла позволяет получить следующее выражение для рекомбинационного тока:

 

 

 

 

 

enWA

I = I

 

[exp (eV/mkT) − 1], I

 

 

 

i j

 

,

 

 

 

 

 

r

02

 

02

 

2 n0 p0

где I02 — ток насыщения; W — ширина обедненной области; n0, p0

время жизни неосновных носителей электронов и дырок в p- и n-области соответственно; m — коэффициент идеальности; Aj — площадь поперечно-

го сечения.

Для I02 можно также записать

 

E

g

 

I02 T3/2exp

 

.

 

 

 

2kT

Величина коэффициента m изменяется от 1 до 2 в зависимости от положения глубокого уровня в запрещенной зоне. В частности, m = 2, когда рекомбинация электронно-дырочных пар происходит на уровне в середине запрещенной зоны, и m < 2, когда рекомбинационный центр расположен не в середине запрещенной зоны.

Диффузионный ток в бо́льшей степени зависит от температуры, чем рекомбинационный, поскольку Id ni2eeUkT, а Ir ni eeUkT. Для типич-

ных кремниевых солнечных батарей на основе pn-перехода инжекционный ток находится в диапазоне от 10–8 до 10–12 А/см2, в то время как величина рекомбинационного тока зависит от плотности рекомбинационных центров в области объемного пространственного заряда. Наличие реком-

17

бинационного тока в темновом токе заметно при малых и средних прямых смещениях и уменьшается при высоких прямых смещениях. Для солнечных батарей на основе высококачественных полупроводников рекомбинационным и туннельным токами можно пренебречь.

2.4.Солнечный элемент под освещением

2.4.1.Фотовольтаический эффект в p–n-переходах

На pn-переходах существует контактная разность потенциалов [14]–[16].

Этот потенциальный барьер обусловлен электрическим полем, которое появляется в результате диффузии основных носителей заряда через pn-

переход. При термодинамическом равновесии положение уровня Ферми во всей системе постоянно и энергетическая схема pn-перехода отображена на рис. 2.5. В этом случае токи обусловлены свободными носителями заряда, генерируемыми за счет теплового возбуждения, и в равновесии сум-

марный ток равен 0.

n J(n)

J(p) n

 

 

 

 

n J(n)

J(p) n

 

 

 

 

 

eφk−eU

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

eφk

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Eg

eU

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

hυ

J(n) p

p J(p)

 

 

 

 

 

J(n) p

p J(p)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Jf

 

 

а

 

 

 

б

в

Рис. 2.5. Энергетическая схема pn-перехода и токи носителей заряда при термодинамическом равновесии (а) и освещении (б), (в)

Предположим теперь, что на pn-переход падают фотоны с энергией,

большей, чем ширина запрещенной зоны. В результате поглощения фотона возникает электронно-дырочная пара. Под действием внутреннего поля в p–n-переходе созданные светом носители заряда движутся в противопо-

ложных направлениях: дырки — в p-область, а электроны — в n-область.

Эти перешедшие через pn-переход носители заряда создадут добавочный ток. Так как перешедшие в p-область избыточные дырки уменьшают отри-

цательный объемный заряд, то энергетические уровни в p-области снижа-

ются, в результате чего происходит понижение потенциального барьера.

18

Следовательно, разделение фотогенерированных носителей электрическим полем в приконтактной области p–n-перехода приводит к возникновению разности потенциалов, приложенной к p–n-переходу в прямом направле-

нии, называемой фотоЭДС. Это эквивалентно приложению напряжения U

в прямом направлении к неосвещенному p–n-переходу.

Электроны из n-области и дырки из p-области, преодолевая понижен-

ный потенциальный барьер, будут инжектированы в другую область, где они станут неосновными носителями заряда и рекомбинируют. При этом токи,

обусловленные инжектированными носителями заряда, направлены из p-

в n-область. Стационарное состояние установится тогда, когда число созда-

ваемых светом электронно-дырочных пар сравняется с числом носителей заряда, уходящих через пониженный потенциальный барьер p–n-перехода.

Если p–n-переход соединен с внешней цепью, то можно измерить фотоЭДС.

Следовательно, освещенный p–n-переход действует как фотоэлемент.

Процесс преобразования солнечной энергии в электрическую можно ус-

ловно разбить на четыре стадии: 1) поглощение света; 2) генерация электрон-

но-дырочных пар; 3) разделение носителей заряда pn-переходом; 4) сбор но-

сителей заряда на электродах.

Эти четыре стадии преобразования солнечной энергии можно выделить в работе практически всех существующих солнечных элементов. Непродук-

тивная работа любой из этих стадий приводит к понижению эффективности преобразования энергии солнечного элемента в целом.

2.4.2. Вольт-амперная характеристика

солнечного элемента под освещением

Величину фотоЭДС, которая устанавливается в состоянии равновесия при освещении перехода излучением постоянной интенсивности, можно по-

лучить из уравнения вольт-амперной характеристики (см. уравнение (2.16)). Эквивалентная схема идеального солнечного элемента на основе p–n-пе- рехода представлена на рис. 2.6. Через pn-переход течет ток, который ра-

вен Is eeU/kT 1 . Ток насыщения Is для идеального фотоэлемента опре-

деляется выражением (2.17). Pn-переход шунтируется нагрузкой (сопротивление R), в которую отбирается ток I . Параллельно pn-переходу расположен генератор тока с силой тока Iф, описывающий возбуждение не-

равновесных носителей солнечным излучением.

19

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В темноте

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I

 

 

Под

 

Iph

 

 

Is(eqU/kT−1)

 

 

 

 

 

 

+

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

освещением

 

 

 

 

 

+

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

_

 

 

 

 

R

 

 

Ux. x

U

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

_

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pmax(Im, Um)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Iк. з

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 2.6. Эквивалентная схема солнечного

Рис. 2.7. Вольт-амперные

 

характеристики фотоэлемента на основе

 

 

 

 

элемента

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

pn-перехода

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Вольт-амперная характеристикатакогоприбора представлена выражением

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I = I (eeU/kT − 1) − I .

(2.18)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

s

 

 

 

ф

 

 

 

Величина фототока Iф определяется числом избыточных носителей

заряда, созданных светом и дошедших до pn-перехода, и равна

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Iф = jфS = e SIи/h ,

(2.19)

Iк. з

I, мА

 

 

 

 

 

 

где jф —плотность фототока;S — площадьpn-пе-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

рехода; —доля непрорекомбинировавшихпарно-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pm

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

сителей заряда, пришедших к pn-переходу; —

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

квантовый выход; Iи —интенсивность излучения.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Это выражение справедливо для случая, ко-

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

гда весь падающий на полупроводник свет по-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

глощается.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Из выражения (2.18) следует, что график

0

 

 

0,2U, В

0,4 Ux. x

вольт-амперной характеристики (ВАХ) освещен-

Рис. 2.8. Вольт-амперная

ного p–n-перехода может быть получен путем пе-

 

 

 

 

характеристика

ремещения всей темновой ВАХ вдоль оси токов

 

солнечного элемента

вниз на величинуIф (рис. 2.7).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Уравнение ВАХ остается справедливым при освещении фотоэлемента светом произвольного спектрального состава, изменяется лишь значение фототока Iф.

20