Тонкопленочные солнечные элементы
.pdfДостоинствами тонкопленочных ФЭПов на основе a-Si: H является бо-
лее высокая проработанность технологии, отсутствие экологических проблем, как в случае CdTe (Cd – токсичный материал), и использование доро-
гих материалов, как в случае Cu (In, Ga) Se2. Кроме того, следует отметить,
что ФЭПы на основе a-Si: H благодаря характеристикам аморфного кремния
(температурный коэффициент и спектральная зависимость коэффициента поглощения) обеспечивают более высокую эффективность преобразования солнечной энергии при температурах 40–60 °С и в условиях облачности.
2.2. Основные элементы фотовольтаических систем
Большинство фотовольтаических систем представляют собой плоские солнечные преобразователи, в которых солнечная энергия собирается непосредственно модулями. Такие системы являются, как правило, статичными с фиксированной ориентацией, но может использоваться и система слежения за солнцем.
Вцелом фотовольтаические системы состоят из модулей, т. е. соединения отдельных солнечных элементов, генерирующих электричество, так называемого баланса системы (balance-of-system – BOS), т. е. части фотовольтаической системы за исключением солнечных элементов, включающей кабельное соединение, опорные конструкции, аккумуляторы, контролер заряда, электронную часть, преобразователь постоянного в переменный ток и др. Некоторые из компонент баланса системы не являются обязательными для фотовольтаических систем. Например, в состав большинства автономных фотовольтаических систем входят аккумуляторы, которые заряжаются в дневное время суток, в то время как солнечные элементы работают и снабжают потребителей электроэнергией в темное время суток. При этом аккумуляторы могут отсутствовать в системах, подключенных к центральной энергетической сети, которая в данном случае является «виртуальным аккумулятором».
Всостав фотовольтаических систем с концентрацией излучения входят системы точного слежения за Солнцем. Причем точность слежения должна повышаться с увеличением концентрации излучения. В этом случае требуется создание специальных опорно-поворотных устройств, оснащенных датчиками положения Солнца и электроприводами. В таких фотовольтаических системах требуется принудительное охлаждение, для чего при невысоких концентрациях излучений используются медные радиаторы. В случае
высоких концентраций требуется уже водяное охлаждение.
11
2.3. Солнечный элемент в отсутствие освещения. Механизмы переноса |
|||||||
Наиболее распространена структура солнечного элемента на основе |
|||||||
полупроводникового p–n-перехода. Схематически простейший солнечный |
|||||||
элемент изображен на рис. 2.2 [12]. |
|
|
|
|
|||
Темновой ток p–n-перехода при прямом смещении определяется тремя |
|||||||
основными механизмами переноса (рис. 2.3): |
|
|
|||||
1) инжекционный (диффузионный) ток, обусловленный инжекцией |
|||||||
(диффузией) основных носителей заряда через p–n-переход; |
|
||||||
|
2 cм |
Лицевой |
|
2) |
рекомбинационный ток, вы- |
||
|
|
званный рекомбинацией электронов и |
|||||
1 см |
|
контакт |
|
||||
|
Контактная |
|
дырок на уровнях глубоких ловушек |
||||
Просветляющее |
а |
гребенка |
|
в областипространственногозаряда; |
|||
hν |
p–n-переход |
3) туннелирование по глубоким |
|||||
покрытие |
|||||||
|
|
ловушкам в области пространствен- |
|||||
0,5 мм1Ом∙см,Sip-типа |
0,25 мкм |
|
|||||
|
ного заряда. |
|
|||||
Тыловой |
|
|
|||||
|
б |
|
В |
кремниевых солнечных ба- |
|||
|
контакт |
|
|||||
|
|
тареях на основе p–n-перехода ин- |
|||||
Рис. 2.2. Схематическое изображение |
|
||||||
|
жекционный (диффузионный) ток, |
||||||
кремниевого солнечного элемента |
|
||||||
с p–n-переходом: а – вид сверху; |
|
как правило, является преобладаю- |
|||||
б – вид сбоку |
|
|
щим. Рекомбинационный механизм |
||||
|
|
|
|
||||
переноса носителей становится преобладающим в случае, если солнечная |
|||||||
батарея (СБ) изготовлена из материала невысокого качества, например, по- |
|||||||
ликристаллического или аморфного полупроводника. Туннелирование ста- |
|||||||
|
1 |
EC |
новится заметным при использовании |
||||
|
|
материала худшего качества в сол- |
|||||
EFn |
|
|
нечных батареях на основе a-Si:H и |
||||
2 |
3 |
EFp |
его сплавов гетероструктур Cu2S/CdS, |
||||
1 |
|
EV |
структур металл-диэлектрик-полупро- |
||||
|
|
водник. |
|
|
|||
Рис. 2.3. Энергетическая диаграмма |
|
Темновой ток ID через p–n-пе- |
|||||
p–n-перехода, иллюстрирующая |
реход солнечной батареи равен сумме |
||||||
различные механизмы переноса |
|||||||
носителей заряда: 1 – инжекционный |
токов, |
обусловленных |
инжекцией |
||||
(диффузионный) механизм; |
(диффузией) Id, рекомбинацией Ir и |
||||||
2 – рекомбинационный механизм; |
|||||||
3 – туннелирование по ловушкам |
туннелированием It |
|
|||||
|
|
ID = Id + Ir + It. |
|
|
12
2.3.1. Диффузионный ток
Обусловленный инжекцией дырок из p-области в n-область и электронов из n-области в p-область диффузионный ток может быть найден с по-
мощью известной формулы Шокли, характеризующей вольт-амперную характеристику идеального диода.
При вычислении вольт-амперной характеристики используются следующие допущения [13]:
1)контактная разность потенциалов и приложенное напряжение уравновешены двойным заряженным слоем с резкими границами, вне которых полупроводник считается нейтральным;
2)в обедненной области справедливы распределения Больцмана;
3)плотность инжектированных неосновных носителей мала по сравнению с концентрацией основных носителей;
4)в обедненном слое отсутствуют токи генерации (через него протекают постоянные электронный и дырочный токи).
Согласно соотношению Больцмана в состоянии равновесия
n n exp |
|
|
EF Ei |
|
|
n exp |
e( ) |
; |
(2.1) |
||||
|
|
|
|
|
|
||||||||
i |
|
|
kT |
|
|
i |
kT |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
p n exp |
|
Ei EF |
|
n exp |
e( ) |
, |
(2.2) |
||||||
|
|
|
|
|
|||||||||
i |
|
|
kT |
|
|
i |
kT |
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
где , — потенциалы, соответствующие середине запрещенной зоны и уровню Ферми ( –Ei /e; –EF /e).
Поскольку в состоянии теплового равновесия справедливы выражения
(2.1) и (2.2), то произведение рn равно ni2. При подаче на переход напряже-
ния по обеим его сторонам происходит изменение концентрации неоснов-
ных носителей и произведение рп уже не равно ni2. При наличии внешнего источника напряжения определим
n n |
exp |
|
e( n) |
|
; |
(2.3) |
|
|
|||||||
i |
|
|
kT |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
e( p ) |
|
|
|||
p ni exp |
|
|
, |
(2.4) |
|||
kT |
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
где n, p — квазиуровни Ферми для электронов и дырок соответственно
(рис. 2.4).
13
Из выражений (2.1)–(2.4) следует |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
kT |
|
|
n |
|
|
||||||||
n |
|
|
|
|
|
ln |
|
|
|
|
; |
|
|
||
|
|
e |
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
ni |
|
|
|||||||
|
|
kT |
|
|
|
|
|
p |
|
|
|||||
p |
|
|
|
|
|
ln |
|
|
|
|
. |
|
|
||
|
|
e |
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
ni |
|
|
||||||||
Тогда |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
n |
|
|
pn n2exp |
e |
|
p |
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
. |
(2.5) |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
i |
|
|
|
|
kT |
|
|
|
|
|
|
||||
E, эВ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
E, эВ |
|
|
|
|
|
|
|
EC |
|
|
−eφn |
|
|
|
|
|
|
|
EF |
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
−eφp |
EV |
|
EC |
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
EF |
|
|
|
|
|
|
|
EV |
|
|
|
|
|
xp 0 xn |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
xp 0 xn |
x |
x |
|||
|
а |
|
б |
|
Рис. 2.4. Зонная диаграмма p–n-перехода: а – прямое смещение; б – обратное смещение
При прямом смещении ( p – n) > 0 и pn > ni2, а при обратном смеще-
нии ( p – n) < 0 и pn < ni2.
Уравнения для плотности электронного и дырочного токов в полупроводнике в общем виде имеют полевую и диффузионные (обусловленную градиентом концентрации) составляющие:
Jn = e nnE + eDn n; |
(2.6) |
Jp = e ppE – eDp p, |
|
где n, p — подвижности электронов и дырок; E — электрическое поле;
Dn, Dp — коэффициенты диффузии электронов и дырок.
Из выражений (2.6) и (2.3) с учетом того, что E – , получим
|
kT |
|
|
|
|
Jn e n nE |
|
n |
|
|
|
q |
|||||
|
|
|
|
|
kT en |
|
|
||
e nn e n |
|
|
|
n |
e nn n. |
e |
|
||||
|
kT |
|
|
14
Аналогично для дырочного тока
Jp e p p p.
Таким образом, плотности электронного и дырочного токов пропорциональны градиентам квазиуровней Ферми для электронов и дырок соот-
ветственно. В состоянии теплового равновесия n = p = const и Jn = Jp = 0.
Из выражения (2.5) можно получить концентрацию электронов на границе обедненного слоя в р-области перехода х = −хр (см. рис. 2.4):
|
|
|
n2 |
e p n |
|
|
e p n |
|
||||
n |
p |
|
i |
exp |
|
|
n |
p0 |
exp |
|
, |
(2.7) |
|
|
|
||||||||||
|
|
pp |
|
kT |
|
|
|
kT |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
где np0 — равновесная концентрация электронов в р-области.
Аналогично для концентрации дырок на границе обедненного слоя в n-области перехода при х = хn:
p |
p |
e |
|
|
p |
|
n |
|
|
|
exp |
|
|
|
, |
(2.8) |
|||||
|
|
|
kT |
|
||||||
n |
n0 |
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
где pn0 — равновесная концентрация дырок в n-области.
Уравнения (2.7) и (2.8) являются граничными условиями для вычисления вольт-амперной характеристики.
Встационарномсостоянииуравнениянепрерывностизаписываются ввиде
|
|
|
|
n |
|
E |
|
|
|
2n |
|
|
|
|
||||
R |
|
E |
|
|
n |
|
n |
|
|
D |
|
|
n |
0; |
|
(2.9) |
||
|
|
|
|
|
x |
|
x2 |
|
||||||||||
|
n |
|
|
x |
n n |
|
n |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
p |
n |
|
|
|
E |
|
|
|
2p |
|
|
|
|
||
R pE |
|
|
p pn |
|
|
Dp |
|
|
n |
0 |
, |
(2.10) |
||||||
|
|
|
x |
|
|
|
|
|||||||||||
|
|
|
|
x |
|
|
|
|
|
x2 |
|
|
|
|
где R — результирующая скорость рекомбинации.
Поскольку в первом приближении соблюдается зарядовая нейтраль-
ность, то nn – nn0 pn – рn0. Умножая уравнение (2.9) на ppn и уравнение
(2.10) на nnn и учитывая соотношение Эйнштейна D = (kT/q) , получим
|
|
|
|
|
|
|
p p |
n0 |
|
|
2p |
|
|
n p |
|
|
E p |
n |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
n |
|
D |
|
|
|
n |
|
|
|
n |
n |
|
|
|
0, |
(2.11) |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
n / |
|
p / |
|
|
x |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
a |
|
|
a |
|
|
|
p |
n |
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
pn pn0 |
|
|
nn nn0 |
x |
|
|
|
n |
n |
|
|
|
|
|
|||||||||
где |
|
a |
|
|
|
|
— |
|
амбиполярное |
|
время жизни; |
D |
||||||||||||||||
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
R |
|
|
|
|
|
|
R |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
a |
||||
|
|
nn pn |
|
— коэффициент амбиполярной диффузии, |
|
|||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
nn / Dp pnDn
15
В случае малого уровня инжекции (т. е. при рп << пп пп0 в полупро-
воднике n-типа) уравнение (2.11) упрощается:
|
p |
n |
p |
|
2p |
p |
|
|||
|
|
n0 |
Dp |
|
n |
pE |
n |
0. |
(2.12) |
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
p |
x2 |
x |
|
В нейтральной области, где отсутствует электрическое поле, уравнение (2.12) существенно упрощается:
|
2p |
p |
p |
|
||
|
n |
|
n |
n0 |
0. |
(2.13) |
|
|
|
|
|||
x2 |
Dp p |
|
Решение уравнения (2.13) с граничными условиями, задаваемыми вы-
ражением (2.8), при условии рn(х = ) = рп0 имеет вид
|
|
|
|
e p n |
|
|
x x |
|
||
p |
p |
p |
exp |
|
1 exp |
|
n |
, |
||
|
|
|
||||||||
n |
n0 |
n0 |
|
|
kT |
|
|
L |
p |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
где Lp Dp p .
В результате при х = хn плотность дырочного тока
|
p |
|
|
|
eDp pn0 |
|
e p n |
|
|
|||
|
|
|
|
|||||||||
Jp eDp |
n |
|
x |
|
|
|
exp |
|
1 . |
(2.14) |
||
|
|
|
|
|||||||||
|
x |
|
n |
|
L |
p |
|
|
kT |
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Аналогично, рассматривая р-область, получим плотность электронного тока
|
|
|
n |
p |
|
|
|
eD n |
p0 |
|
e |
|
|
p |
|
n |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||
J |
n |
eD |
|
|
|
|
n |
exp |
|
|
|
1 . |
(2.15) |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
n x |
|
xp |
|
L |
|
|
|
|
|
kT |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
n |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Общий ток через переход равен сумме токов Jp и Jn (см. (2.14) и (2.15)).
Принимая во внимание, что разность электростатических потенциалов на p–n-переходе определяется величиной V = p – n, получаем для общего диффузионного тока
|
eV |
|
|
|
||
Jd Jp Jn J01 exp |
|
|
1 |
, |
(2.16) |
|
|
||||||
|
kT |
|
|
|
где ток насыщения |
|
|
|
|
|
|
J01 |
|
eDp pn0 |
|
eDnnp0 |
. |
(2.17) |
Lp |
|
|||||
|
|
|
Ln |
|
16
Из выражения (2.17) можно получить |
|
|
|
|
|
E |
g |
|
|
I01 T3exp |
|
. |
||
kT |
||||
|
|
2.3.2. Рекомбинационный ток
Рекомбинационный ток через p–n-переход солнечной батареи обу-
словлен рекомбинацией электронов и дырок через глубокие уровни в области объемного пространственного заряда. Электроны из n-области не прони-
кают в p-область, а захватываются глубокими уровнями в области объемного заряда p–n-перехода. На эти же уровни попадают и дырки из p-области.
В результате рекомбинации носителей глубокие уровни освобождаются, и процесс может повториться.
Использование статистики Шокли — Рида — Холла позволяет получить следующее выражение для рекомбинационного тока:
|
|
|
|
|
enWA |
|||
I = I |
|
[exp (eV/mkT) − 1], I |
|
|
|
i j |
|
, |
|
|
|
|
|
||||
r |
02 |
|
02 |
|
2 n0 p0 |
где I02 — ток насыщения; W — ширина обедненной области; n0, p0 —
время жизни неосновных носителей электронов и дырок в p- и n-области соответственно; m — коэффициент идеальности; Aj — площадь поперечно-
го сечения.
Для I02 можно также записать
|
E |
g |
|
I02 T3/2exp |
|
. |
|
|
|
||
|
2kT |
Величина коэффициента m изменяется от 1 до 2 в зависимости от положения глубокого уровня в запрещенной зоне. В частности, m = 2, когда рекомбинация электронно-дырочных пар происходит на уровне в середине запрещенной зоны, и m < 2, когда рекомбинационный центр расположен не в середине запрещенной зоны.
Диффузионный ток в бо́льшей степени зависит от температуры, чем рекомбинационный, поскольку Id ni2eeUkT, а Ir ni eeUkT. Для типич-
ных кремниевых солнечных батарей на основе p–n-перехода инжекционный ток находится в диапазоне от 10–8 до 10–12 А/см2, в то время как величина рекомбинационного тока зависит от плотности рекомбинационных центров в области объемного пространственного заряда. Наличие реком-
17
бинационного тока в темновом токе заметно при малых и средних прямых смещениях и уменьшается при высоких прямых смещениях. Для солнечных батарей на основе высококачественных полупроводников рекомбинационным и туннельным токами можно пренебречь.
2.4.Солнечный элемент под освещением
2.4.1.Фотовольтаический эффект в p–n-переходах
На p–n-переходах существует контактная разность потенциалов [14]–[16].
Этот потенциальный барьер обусловлен электрическим полем, которое появляется в результате диффузии основных носителей заряда через p–n-
переход. При термодинамическом равновесии положение уровня Ферми во всей системе постоянно и энергетическая схема p–n-перехода отображена на рис. 2.5. В этом случае токи обусловлены свободными носителями заряда, генерируемыми за счет теплового возбуждения, и в равновесии сум-
марный ток равен 0.
n J(n) |
J(p) n |
|
|
|
|
n J(n) |
J(p) n |
||
|
|
|
|
|
eφk−eU |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
eφk |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Eg |
eU |
|||
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
hυ |
||||
J(n) p |
p J(p) |
|
|
|
|
|
J(n) p |
p J(p) |
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
Jf |
|
|
а |
|
|
|
б |
в |
Рис. 2.5. Энергетическая схема p–n-перехода и токи носителей заряда при термодинамическом равновесии (а) и освещении (б), (в)
Предположим теперь, что на p–n-переход падают фотоны с энергией,
большей, чем ширина запрещенной зоны. В результате поглощения фотона возникает электронно-дырочная пара. Под действием внутреннего поля в p–n-переходе созданные светом носители заряда движутся в противопо-
ложных направлениях: дырки — в p-область, а электроны — в n-область.
Эти перешедшие через p–n-переход носители заряда создадут добавочный ток. Так как перешедшие в p-область избыточные дырки уменьшают отри-
цательный объемный заряд, то энергетические уровни в p-области снижа-
ются, в результате чего происходит понижение потенциального барьера.
18
Следовательно, разделение фотогенерированных носителей электрическим полем в приконтактной области p–n-перехода приводит к возникновению разности потенциалов, приложенной к p–n-переходу в прямом направле-
нии, называемой фотоЭДС. Это эквивалентно приложению напряжения U
в прямом направлении к неосвещенному p–n-переходу.
Электроны из n-области и дырки из p-области, преодолевая понижен-
ный потенциальный барьер, будут инжектированы в другую область, где они станут неосновными носителями заряда и рекомбинируют. При этом токи,
обусловленные инжектированными носителями заряда, направлены из p-
в n-область. Стационарное состояние установится тогда, когда число созда-
ваемых светом электронно-дырочных пар сравняется с числом носителей заряда, уходящих через пониженный потенциальный барьер p–n-перехода.
Если p–n-переход соединен с внешней цепью, то можно измерить фотоЭДС.
Следовательно, освещенный p–n-переход действует как фотоэлемент.
Процесс преобразования солнечной энергии в электрическую можно ус-
ловно разбить на четыре стадии: 1) поглощение света; 2) генерация электрон-
но-дырочных пар; 3) разделение носителей заряда p–n-переходом; 4) сбор но-
сителей заряда на электродах.
Эти четыре стадии преобразования солнечной энергии можно выделить в работе практически всех существующих солнечных элементов. Непродук-
тивная работа любой из этих стадий приводит к понижению эффективности преобразования энергии солнечного элемента в целом.
2.4.2. Вольт-амперная характеристика
солнечного элемента под освещением
Величину фотоЭДС, которая устанавливается в состоянии равновесия при освещении перехода излучением постоянной интенсивности, можно по-
лучить из уравнения вольт-амперной характеристики (см. уравнение (2.16)). Эквивалентная схема идеального солнечного элемента на основе p–n-пе- рехода представлена на рис. 2.6. Через p–n-переход течет ток, который ра-
вен Is eeU/kT 1 . Ток насыщения Is для идеального фотоэлемента опре-
деляется выражением (2.17). P–n-переход шунтируется нагрузкой (сопротивление R), в которую отбирается ток I . Параллельно p–n-переходу расположен генератор тока с силой тока Iф, описывающий возбуждение не-
равновесных носителей солнечным излучением.
19
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
I |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
В темноте |
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
I |
|
|
Под |
|
|
Iph |
|
|
Is(eqU/kT−1) |
|
|
|
|
|
|
+ |
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
освещением |
|||||||||
|
|
|
|
|
+ |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
_ |
|
|
|
|
R |
|
|
Ux. x |
U |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
_ |
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Pmax(Im, Um) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Iк. з |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Рис. 2.6. Эквивалентная схема солнечного |
Рис. 2.7. Вольт-амперные |
|
|||||||||||||||||
характеристики фотоэлемента на основе |
|||||||||||||||||||
|
|
|
|
элемента |
|
|
|
|
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
p–n-перехода |
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
Вольт-амперная характеристикатакогоприбора представлена выражением |
|||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
I = I (eeU/kT − 1) − I . |
(2.18) |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
s |
|
|
|
ф |
|
|||
|
|
Величина фототока Iф определяется числом избыточных носителей |
|||||||||||||||||
заряда, созданных светом и дошедших до p–n-перехода, и равна |
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Iф = jфS = e SIи/h , |
(2.19) |
|||||||
Iк. з |
I, мА |
|
|
|
|
|
|
где jф —плотность фототока;S — площадьp–n-пе- |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
рехода; —доля непрорекомбинировавшихпарно- |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Pm |
|
||||||||||
20 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
сителей заряда, пришедших к p–n-переходу; — |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
квантовый выход; Iи —интенсивность излучения. |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Это выражение справедливо для случая, ко- |
|||||||
10 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
гда весь падающий на полупроводник свет по- |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
глощается. |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Из выражения (2.18) следует, что график |
|||||||
0 |
|
|
0,2U, В |
0,4 Ux. x |
вольт-амперной характеристики (ВАХ) освещен- |
||||||||||||||
Рис. 2.8. Вольт-амперная |
ного p–n-перехода может быть получен путем пе- |
||||||||||||||||||
|
|
|
|
характеристика |
ремещения всей темновой ВАХ вдоль оси токов |
||||||||||||||
|
солнечного элемента |
вниз на величинуIф (рис. 2.7). |
|
||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Уравнение ВАХ остается справедливым при освещении фотоэлемента светом произвольного спектрального состава, изменяется лишь значение фототока Iф.
20