- •1.1 Організація процесу конструювання засобів вимірювальної техніки
- •1.2 Науково-дослідні роботи
- •1.3 Дослідно-конструкторські роботи
- •1.4 Системний підхід при конструюванні засобів вимірювальної техніки
- •1.5 Види робіт конструктора
- •2.1 Загальні правила виконання схем
- •2.2 Схеми структурні
- •2.3 Схеми функціональні
- •2.4 Схеми електричні принципові
- •2.5 Схеми з’єднань
- •3.1 Методи виготовлення друкованих плат
- •3.2 Правила виконання креслень друкованих плат
- •3.3 Правила виконання складальних креслень друкованих плат
- •4.1 Частотні властивості пасивних компонентів
- •4.2 Вплив частоти на роботу активних компонентів
- •5.1 Рівняння поширення електромагнітного поля у просторі
- •5.2 Перехресні завади у лініях зв’язку
- •5.3 Розбиття та компонування вузлів засобів вимірювальної техніки
- •5.4 Проектування систем заземлення засобів вимірювальної техніки
- •6.1 Розрахунок ефективності екранування плоского суцільного екрану
- •6.2 Розрахунок ефективності екранування плоских екранів з отворами
- •7.1 Способи передачі тепла від поверхні нагрітого елементу
- •7.2 Розрахунок коефіцієнта теплопередачі конвекцією
- •7.3 Розрахунок коефіцієнта теплопередачі випромінюванням
- •7.4 Розрахунок теплових опорів
- •7.5 Розрахунок радіаторів
- •Розрахунок поверхні гольчасто-штиревого радіатора
- •Матеріали для виготовлення радіаторів
- •8.1 Ергономіка, технічна естетика і якість конструкції
- •8.2 Художнє оформлення конструкцій звт
- •8.3 Категорії композиції
- •8.3 Особливості зовнішнього оформлення звт
- •Перелік використаних джерел
- •Додаток а
- •Додаток б
7.4 Розрахунок теплових опорів
Тепловий опір напівпровідникового елементу є кількісною характеристикою, що показує, на скільки градусів підвищується температура напівпровідника в області переходу при збільшенні розсіювальної на нім потужності на 1 Вт.
Рисунок 7.3 – Коефіцієнти опромінення взаємно перпендикулярних прямокутників із спільною гранню
На рис. 7.4 представлена теплова модель транзистора (або будь-якого іншого напівпровідникового приладу), встановленого на радіаторі. Тут tп, tс - температури переходу і середовища; Р - потужність, що виділяється в елементі; , , , - відповідно теплові опори перехіді - корпус, корпус - середовище, корпус - радіатор і радіатор - середовище.
Транзистори, що працюють без тепловідводів, характеризуються тепловим опором між областю електронно-діркового переходу в кристалі напівпровідника і навколишнім середовищем . Цей тепловий опір залежить від конструкції транзистора і може бути розрахований за формулою:
(7.20)
Значення теплового опору деяких типів напівпровідникових елементів наведені в табл. 7.4.
Рисунок 7.4 - Теплова модель напівпровідникового елементу, встановленого на радіаторі
За наявності радіатора теплові опори між корпусом і навколишнім середовищем знаходяться з виразу:
(7.21)
Тепловий опір корпус - радіатор залежить від якості теплового контакту між транзистором і радіатором. При щільному приляганні транзистора до поверхні радіатора тепловий опір є низьким і знаходиться в межах (0,5 -1,0).
При використанні між корпусом напівпровідникового елементу і радіатором ізолюючої прокладки слід враховувати її вплив на тепловий опір . Так, для слюди завтовшки 0,06; 0,14 і 0,41 мм тепловий опір рівний 1,6; 2,0 і 2,7 оС/Вт відповідно. Для лавсанових прокладок величина знаходиться в межах (0,6-1,0) оС/Вт.
Тепловий опір радіатор - навколишнє середовище . залежить головним чином від величини радіатора і якості обробки його поверхні.
Поверхня радіатора практично завжди є значно більшою за поверхню напівпровідникового елементу, тому можна вважати, що . Тоді і загальний тепловий опір між переходом і навколишнім середовищем визначається таким чином:
(7.22)
Теплові опори між поверхнею корпусу елементу або радіатора і навколишнім середовищем визначаються з наступних рівнянь:
, (7.23)
, (7.24)
де - повна поверхня приладу, м2;
- поверхня радіатора, м2;
- коефіцієнт тепловіддачі, Вт/(м2оС).
Залежність температури переходу напівпровідникового елементу, при заданих розсіюваній потужності і температурі навколишнього середовища, від теплових опорів визначається за формулою:
(7.25)
Таблиця 7.4 - Значення теплового опору для деяких напівпровідникових елементів
Тип елемента |
оС/Вт |
|
Тип елемента |
оС/Вт |
КТ947А |
0,75 |
КТ903А-КТ903Б, КТ837А- КТ837Е |
3,33 |
|
П209—П210, ГТ403А, ГТ403Б |
1,0 |
П201М-П203М, П213-П214Г |
4,0 |
Продовження таблиці 7.4
ГТ701А |
1,2 |
|
КТ932А-В |
5,0 |
КТ912А, КТ912Б |
1,42 |
Д235 |
8,0 |
|
Д214, КД213А-КД213Г |
1,5 |
ПЗ02-П306, П701-П701Б, КД212А-КД212Г |
10 |
|
П4А-П4Д, ГТ806А-ГТ806Д, КД210А-КД210Г |
2,0 |
ГТ403В, ГТ403Е |
12 |
|
ВКУ -10 |
2,2 |
П601-П609, ГТ403Г, ГТ403Д, ГТ403Ж, ГТ403И |
15 |
|
П702, П702А, КТ802А, ГТ810А, КД203А-КД203Д |
2,5 |
КТ973А, КТ973Б |
15,6 |
|
ГТ804А-ГТ804В Д238 |
3 |
КТ801А, КТ801Б |
20 |
|
КТ805А-КТ805Б, КТ902АМ |
3,3 |
КТ602А-КТ602Г, КТ604А-КТ604Б, КТ611А-КТ611Г |
40 |