
- •2. Приемники оптического излучения (5,0 п. Л.)
- •2.1. Принципы действия приемников излучения
- •2.2. Основные параметры и характеристики приемников излучения
- •2.3. Тепловые приемники излучения
- •2.3.2 Теплопередача в приемниках излучения
- •2.3.3. Устройство основных видов тепловых приемников излучения
- •2.3.4. Термоэлектрические приемники излучения
- •2.3.5.1. Матрицы микроболометров?
- •2.3.6. Пироэлектрические приемники излучения
- •2.3.7. Дилатометрические приемники излучения
- •2.3.7.1. Оценка основных величин, характеризующих работу оап
- •2.4. Фотоэлектрические приемники излучения
- •2.4.1. Фотоэмиссионные приемники излучения
- •2.4.1.1.Основные законы фотоэффекта и закономерности фото-
- •2.4.1.3. Фотоэлементы с внешним фотоэффектом (фэ),
- •2.5. Полупроводниковые приемники излучения
- •2.5.1. Фоточувствительные материалы и их оптические свойства
- •2.5.2. Конструктивная схема чувствительного элемента (чэ) приемника
- •2.5.3. Устройство фоторезисторов и фотодиодов
- •2.5.4. Фоторезисторы
- •2.5.4.1. Спектральная характеристика чувствительности фоторезистора
- •2.5.4.2. Собственные шумы и пороговый поток излучения фоторезистора
- •2.5.4.3. Быстродействующие фоторезисторы
- •2.5.5. Фотогальванические приемники излучения
- •2.5.5.1. Фотодиод с гомогенным p-n – переходом
- •2.5.5.2. Фотодиод Шоттки
- •2.5.5.3. Гетерофотодиод с p-n – переходом
- •2.5.6. Лавинные фотодиоды
- •2.5.6.2. Собственные шумы и пороговый поток
- •2.5.6.3. Фотоэлектрические преобразователи
2.5.5.2. Фотодиод Шоттки
Структура и
энергетическая диаграмма фотодиода
Шоттки [2.41], изображенные на (рис.
2.хх) показывают,
что в принципе такой приемник представляет
собой плоский выпрямляющий
металло-полупроводниковый контакт,
находящийся под действием обратного
напряжения. Излучение направляется в
обедненный слой
полупроводника
(Si)
через тонкий (~10 нм) оптически просветленный
полупрозрачный слой металла (Pt,
Au),
имеющего термоэлектронную работу выхода
.
Поскольку в фотодиоде Шоттки ОПЗ толщиной
5…10 мкм располагается сразу за плоскостью
контакта, то фотоны с энергией
≥Eg
поглощаются и генерируют непосредственно
в ОПЗ пары фотоносителей, которые при
разделении сильным полем в ОПЗ могут
двигаться с дрейфовой скоростью, близкой
к
,
затрачивая на разделение время ~10–10
с. Поэтому
быстродействующие ФД Шоттки с малой
площадью контакта 10–5…10–4
см2
и соответственно малым временем схемной
релаксации
с
могут характеризоваться инерционностью
на уровне нескольких пикосекунд. В таких
приемниках целесообразно использовать
полупроводники с высокой подвижностью
электронов (до 104
см2
В–1с–1
и более), например, GaAs,
InAs
или
их твердые растворы вида
GaInAs.
Недостатком фотодиодов Шоттки является
малая толщина ОПЗ, в которой поглощается
излучение, и отсутствие удобного способа
ее заметного увеличения.
2.5.5.3. Гетерофотодиод с p-n – переходом
Основой гетерофотодиода
(ГФД) [2.35] с
-
переходом является полупроводниковый
гетерогенный переход, сформированный
на границе между двумя полупроводниками
с различными химическими составами. На
практике структура ГФД (рис.
2.хх, а)
представляет собой последовательность
из трех слоев различных полупроводниковых
материалов, отличающихся значениями
ширины запрещенной зоны и имеющих хорошо
согласованные (не хуже 0,1 %) периоды
кристаллических решеток. Последнее
условие необходимо для получения
совершенной гетерограницы, обеспечивающей
низкую скорость рекомбинации [2.42, С.
243] и соответственно малые потери
фотоносителей. Крайние слои гетероструктуры
имеют ширину запрещенных зон
эВ и
эВ, которые больше ширины запрещенной
зоны
эВ
среднего слоя (рис.
2.хх, б). При
облучении перехода перпендикулярно
его плоскости крайние слои ГФД играют
роль широкозонных
окон, не
поглощающих фотонов с энергией
(или
),
но при
,
сильно поглощаемых в среднем узкозонном
слое. Один из крайних слоев, например,
слой 3
(n+-GaSb)
(см. рис. 2.хх, а)
является подложкой, на которой выращиваются
эпитаксиальные слои структуры. Так как
фотоэффект
происходит только в среднем узкозонном
слое, то длинноволновая граница
чувствительности ГФД должна находиться
на длине волны
,
а коротковолновая граница – определяться
границей прозрачности широкозонных
окон: при облучении через слой 1
,
а при облучении через подложку 3
.
Таким образом, ГФД является приемником,
границы области чувствительности
которого определяются выбором как
фоточувствительного узкозонного слоя,
так и контактирующих с ним широкозонных
слоев и в приципе могут даже изменяться
вариацией способа облучения приемника.
Изображенные на рис. 2. ХХ.хх структура
и диаграмма соответствуют реальному
гетерофотодиоду для волоконо-оптических
систем с инерционностью 0,5 нс [2.43].
Чувствительность
и быстродействие ГФД существенно зависят
от рационального выбора толщины и уровня
легирования узкозонного слоя, т.е. слоя
оптического
поглощения.
В соответствии с (2.61) высокая чувствительность
должна достигаться при толщине слоя
поглощения
,
обеспечивающей полное поглощение
излучения, поступающего через входное
окно. Наряду с этим высокое быстродействие
может быть реализовано лишь при дрейфовом
разделении фотоносителей, которые для
этого должны генерироваться только в
пределах ОПЗ, т.е. толщины перехода
,
зависящей от уровня легирования и
приложенного к переходу обратного
напряжения u.
Таким образом, для одновременного
получения высоких чувствительности и
быстродействия ГФД необходимо соблюдать
равенство
.
Естественно, что требование соблюдать
условие
,
связывающее размеры
и
,
которые определяют эффективность
электрических и оптических процессов
в приемнике, неизбежно ограничивает
возможности реализации быстродействующих
высокочувствительных ГФД.
2.5.5.4. p-i-n – фотодиод
Одновременное
достижение фоточувствительности и
быстродействия в гомо- и гетерофотодиодах,
обусловленные сложностью согласования
толщин ОПЗ
и слоя оптического поглощения
,
устраняются в
-фотодиодах.
Структура
-фотодиода
отличается от
-фотодиода
тем, что содержит
слой
нелегированного (или
-слой)
слаболегированного) полупроводника,
который находится между слоями сильнее
легированных полупроводников с различными
типами проводимости. Как и в рассмотренном
ранее ГФД крайние широкозонные слои в
-структуре
являются прозрачными для измеряемого
излучения окнами, в которых генерация
фотоносителей не происходит.
На рис. 2.хх, а схематически изображена типичная гетеропереходная
-структура
меза-ГФД. Толщина
фоточувствительного (т.е. поглощающего)
узкозонного слаболегированного слоя
должна выбираться как из условия
(см. (2.61), соответствующего практически
полному поглощению поступающего в
-слой
излучения, так и исходя из требуемого
времени дрейфа в нем фотоносителей
.
Таким образом, с точки зрения повышения
чувствительности и быстродействия
требования к толщине
слоя как области одновременно и
поглощающей излучение, и разделяющей
фотоносители по-прежнему противоположны.
Поскольку диффузия фотоносителей как
основной рабочий процесс в
-ГФД
отсутствует, то при выполнении условия
,
время дрейфа фотоносителей будет
основным фактором, ограничивающим
быстродействие приемника. В
-ГФД
соблюсти неравенство
по сравнению с
-ФД
заметно легче благодаря уменьшению
барьерной емкости как путем увеличения
толщины
и приложенного к диоду напряжения u,
так и
посредством уменьшения площади перехода
как, например, в диодах мезагеометрии
(см. рис. 2.хх,
а).
Для установления дрейфа фотоносителей
в пределах всей
-области
приложенное к фотодиоду напряжение u
должно быть
не меньше напряжения истощения
-слоя,
т.е.
,
где
- концентрация примеси в
-области.
Примером,
подтверждающим рассмотренные
закономерности, может служить
быстродействующий гетеропереходный
-ГФД
в виде последовательной по ходу лучей
трехслойной изопериодной структуры
,
сформированной методом жидкофазной
эпитаксии. Основные параметры описанного
в [2.44]
-ГФД:
приемная площадка - круг ∅
см2,
рабочее напряжение
В, область фоточувствительности 1…2,4
мкм, максимальная токовая чувствительность
~ 1 А/Вт на длине волны 2,2 мкм, пороговый
поток ~ 1 мкВт, скорость передачи ~ 1
Гбит/с.